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Fターム[2G065BC33]の内容

測光及び光パルスの特性測定 (19,875) | 電気系、システム (3,432) | 記憶、メモリー回路 (324)

Fターム[2G065BC33]に分類される特許

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【課題】二次元センサからなる測光センサを用いてフリッカが生じている被写体照明環境条件にあるか否かを検知させ、その検知結果に基づいて、二次元センサからなる測距センサのフレームレート、シャッタースピード等の露光条件を変更することにより、露光ムラの発生を防止し、正確に測距できる測光・測距装置を提供する。
【解決手段】本発明の測光・測距装置は、二次元センサからなる測距センサCCD1012、1011と、二次元センサからなる測光センサCCD1013と、測距センサCCD1012、1011に対応させて設けられかつ測距センサに被写体像を結像させる測距レンズ11a、11bと、測光センサCCD1013に被写体像を結像させる測光レンズ11cと、測光センサを用いて被写体の照明環境を測光し、かつ、測距センサと測光センサのそれぞれの露光状態を設定し、しかも、測距センサにより測距を行うプロセッサ105を有し、プロセッサ105は、測光結果に応じて測距センサの露光状態を変更する。 (もっと読む)


【課題】太陽電池の照射光量に対する分光感度の非線形性を補償する。
【解決手段】太陽電池評価装置1におけるソーラシミュレータ(照明光源)3の光量校正を行う光源評価装置10において、分光放射計13によってソーラシミュレータ3の照射光を取込み、その分光放射照度L(λ)を求める。一方、分光感度測定装置5では、白色バイアス光の強度を複数i段階に変化させ、都度、分光光源から輝線照射を行うDSR法によって、太陽電池2の分光感度Pi(λ)=P(λ,Ib)=P(λ,∫L(λ)dλ)を求める。そして演算部14は、2つの分光放射照度S(λ)および分光放射照度L(λ)と分光感度Pi(λ)とから、基準太陽光で規定の短絡電流Istcとなるときの照射光エネルギーEssおよび実際にソーラシミュレータ3による照射光エネルギーEssを求め、両者が一致するようにソーラシミュレータ3の光量をフィードバック制御する。 (もっと読む)


【課題】 多層構造体に生じる応力による基板の反りを低減すること。
【解決手段】 多層構造体は、基板20と、基板の第1主面上に形成された多層配線構造(30,40,50)と、多層配線構造における、少なくとも最上層の一部に設けられた空洞部102と、空洞部を含む多層配線構造上に形成される素子構造体(210,200)と、基板の、第1主面とは反対側の第2主面上に形成された、基板の第1主面側に生じる応力を緩和するための、少なくとも一層の応力緩和層10と、を含む。 (もっと読む)


【課題】空間の背景温度と異なる温度をもつ熱源を検出し、その熱源が人であるかどうかを識別し、人と判断した熱源の位置座標、発熱体の大きさ、平均温度、最大温度、最小温度、熱源周辺の背景温度を出力する。
【解決手段】2次元に配置された赤外線検出素子を用い空間の温度分布を計測し、その背景温度と異なる温度をもつ発熱体が空間に存在した場合、その発熱体の重心を求め、重心の位置座標を記憶していき、順次検出した発熱体の重心座標を中心とする設定エリア内に記憶された重心座標の数が設定値を超えたとき、その発熱体は人である情報と共に、発熱体の位置座標、大きさ、平均温度、最大温度、最小温度、熱源周辺の背景温度を出力する。 (もっと読む)


【課題】非冷却赤外線センサに用いるためのシステムおよび方法を提供する。
【解決手段】システムおよび方法は、温度補償された性能アルゴリズムを含み、これを使用して温度補償された応答およびオフセット補正係数を提供し、これを赤外線センサのビデオ信号に与え、センサの温度変化によって起こるビデオ信号の変動を補正する。 (もっと読む)


【課題】 外光の光源の発光特性に応じてバックライトの光量を調整する液晶表示装置を提供する。
【解決手段】この発明によれば,画像を表示する液晶表示部と、前記液晶表示部の背面から光を照射するバックライト部と、前記液晶表示部の前面の可視光線強度及び紫外線強度を検出する可視光線センサ及び紫外線センサと、前記可視光線センサ及び前記紫外線センサで検出された可視光線強度及び紫外線強度を用いて可視光線強度に対する紫外線強度の割合を演算し、演算されたその割合が大きい程、前記バックライト部が照射する光の量を小さくする制御部とを備えることを特徴とする液晶表示装置が提供される。 (もっと読む)


【課題】紫外線の強度をより正確に測定することができる。
【解決手段】紫外線センサ104は、紫外線受光面に照射される紫外線の紫外線強度を測定する。CPU101は、紫外線センサ104の紫外線受光面が所定の方向に向いた場合に紫外線強度を測定するように制御する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、例えば蓄光標識等の残留輝度をより高精度に測定し得る残留輝度測定システムおよび該方法を提供する。
【解決手段】本発明の残留輝度測定システムSは、りん光を放射可能な蓄光部材(蓄光標識MK)を遮光するための遮光ユニット1Aと、遮光ユニット1Aによって遮光された遮光域における所定の領域を測定域として前記測定域から放射されるりん光の強度を測定する測定ユニット2と、遮光ユニット1Aによる前記蓄光部材の遮光後に計時を行う計時部と、前記計時部によって計時された経過時間が所定の第1時間に達した場合に、前記所定の第1時間が経過した旨を外部に提示する提示部と、測定ユニット2によって測定された前記測定域からのりん光強度の測定結果に基づいて前記測定域の前記りん光による残留輝度を求める残留輝度演算部とを備える収集処理ユニット3とを備える。 (もっと読む)


【課題】積分動作におけるチャージインジェクションによる検出信号の劣化を高精度に補償し、微弱光を高S/Nで検出する。
【解決手段】光の光量に応じた大きさの電流信号を出力するPD1と、PD1とにより出力された電流信号に応じた電荷を蓄積するコンデンサ13を含み、電流信号を積分してコンデンサ13に蓄積されている電荷の量に応じた積分値を出力する積分回路3と、コンデンサ13による電荷の蓄積と蓄積された電荷の放電とを切り替えるリセットスイッチ15と、積分回路3から出力された電流信号の積分値のうち、積分期間の略開始時の電流信号の積分値と略終了時の電流信号の積分値との差分を演算して出力する差分演算部7とを備える光検出回路10を提供する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、迷光による誤差を補正することによって、より精度よく残留輝度を測定し得る残留輝度測定装置および該システムを提供する。
【解決手段】本発明の残留輝度測定システム(残留輝度測定装置)Sは、遮光された蓄光標識MKの残留輝度を測定するものであって、蓄光標識MKを遮光する遮光部1Aと、遮光部1Aによって遮光された遮光域における所定の領域を測定域として前記測定域からの放射光を受光する測定部1Bと、遮光開始から互いに異なる複数の第1時間経過後に測定部1Bでそれぞれ受光された前記測定域からの放射光の複数の強度に基づいて、前記放射光に含まれる迷光の強度を迷光補正値として求め、測定部1Bで受光された前記測定域からの放射光の強度を前記迷光補正値で補正して、遮光開始から第2時間経過後における前記測定域の前記残留輝度を求める収集処理ユニット3とを備える。 (もっと読む)


【課題】 熱型光検出器の小型化を、無理なく実現すること。
【解決手段】 熱型光検出器は、基板BSと、光吸収膜5を含む熱型光検出素子90と、熱型光検出素子を搭載する搭載部56と、一端が搭載部の一端に連結され、他端が基板の一端に支持される第1アーム部52と、一端が搭載部の他端に連結され、他端が基板の他端に支持される第2アーム部54と、を有する支持部材と、を含み、第1アーム部52には、熱型光検出素子90に電気的に接続される複数本の配線43a,43bが設けられ、第2アーム部54には、熱型光検出素子90に電気的に接続される配線が設けられず、かつ、前記第2アーム部54の長さは、第1アーム部52の長さよりも短く設定される。 (もっと読む)


【課題】外乱赤外線をより適切に遮断することができ、画像劣化を抑制することができる赤外線撮像装置を提供する。
【解決手段】半導体基板1の表面には、空洞部1aの開口を覆うように面状に遮蔽膜7及び反射膜8が形成されている。即ち、遮蔽膜7は、半導体基板1における光学系150と対向する面に、機械的でかつ熱的に接続されている。反射膜8は、遮蔽膜7の表面の全体を覆うように形成されている。撮像画素開口101aは、遮蔽膜7及び反射膜8に空けられている。遮蔽膜7及び反射膜8は、撮像画素開口101aで、光学系通過赤外線152のみを空洞部1a内の温度検出部5へ通す。遮蔽膜7及び反射膜8は、これらの面全体における撮像画素開口101a以外の箇所で、外乱赤外線を遮断・反射する。 (もっと読む)


【課題】操作者の負担の小さい残留輝度測定装置および残留輝度測定システムを提供する。
【解決手段】遮光された蓄光標識100の測定域の残留輝度を測定する残留輝度測定装置Sは、蓄光標識100の測定域からの放射光を受光するSPD21と、SPD21を制御し、測定開始から所定時間経過後までの測定域からの放射光をSPD21で測定するとともに、SPD21で測定された測定値を記憶する処理回路22と、SPD21と処理回路22とを納める測定ユニット20および遮光ユニット10を備えるハウジングとを備え、前記ハウジングは、SPD21が蓄光標識100の測定域に対向し、前記測定域が周囲光から遮光されるように、蓄光標識100に脱着可能に固定するための固定手段を装着する固定部としての領域1Aを有する。 (もっと読む)


【課題】1個の光学素子の発光量だけではなく、従来のような識別ID回路を用いずに複数個の光学素子の発光量をも容易かつ正確に測定して検査すると共に、光学素子発光の指向性やごみ付着不良についても容易かつ正確に測定して検査する。
【解決手段】LEDの発光状態を撮像する複数の受光部のうちから、一または複数の受光部をアドレス指定するアドレス指定手段41と、アドレス指定手段41で指定した一または複数の受光部からの撮像信号の値と基準値を比較して、撮像信号の値が基準値よりも低い場合に光量不良と判定し、撮像信号の値が基準値以上の場合に光量良好と判定する光量判定手段42と、アドレス指定手段41で指定した一または複数の受光部からの撮像信号の値と基準値を比較して、LEDの発光の指向性の良否を判定する指向性判定手段43とを有する。 (もっと読む)


【課題】表示素子を有する多光軸光電センサの小型化を図る。
【解決手段】多光軸光電センサは、対向配置される投光器10及び受光器20を有する。受光器20は、複数の受光素子22a〜22lと、複数の表示灯31a〜31dと、受光用シフトレジスタ26a〜26cと、投受光駆動信号SI0と表示駆動信号SIa〜SIdとクロック信号SCとを出力する受光制御回路23と、クロック信号SCを受光用シフトレジスタ26a〜26cとに入力するためのクロック信号線28bと、駆動信号SI0,SIa〜SIdを受光用シフトレジスタ26a〜26cに入力するための駆動信号線27aとを備える。表示灯31a〜31dが接続される表示用シフトレジスタ33は、クロック信号線28b及び駆動信号線27aに分岐接続される。受光制御回路23は、受光素子22a〜22lに表示駆動信号SIa〜SIdが転送されるタイミングでの受光信号S1〜S3を無効化する。 (もっと読む)


【課題】製造ばらつきに起因する測定結果のずれを、高精度に調整可能なセンサ装置を実現する。
【解決手段】本発明に係るセンサ装置10は、外部からの光を受光して当該光の強さに応じた電流を発生するフォトダイオードPD1と、前記電流を電気信号に変換する受光検出回路2と、受光検出回路2の受光感度を調整するための調整信号V1を出力するトリミング調整回路6とを備えている。 (もっと読む)


【課題】1つの焦電素子で安定して静止発熱体を検知できる静止検知パッシブセンサを提供する。
【解決手段】焦電素子2と、焦電素子の検知範囲内において焦電素子に対して焦点を合わせるレンズ3と、底部に回転軸5を有しレンズと共に回転する回転体4と、回転軸の一端に接続された回転板6と、回転板を駆動させるモータ7と、レンズの位置を検知するセンサ8と、レンズから焦電素子への入射光量をレンズの位置に応じて調整する絞り機構14とを具備する。 (もっと読む)


【課題】 熱型光検出素子を空洞部の上方にて支持する支持部材の反りを抑制できる熱型光検出器、熱型光検出装置及び電子機器を提供することにある。
【解決手段】 熱型光検出器200は、熱型検出素子220と、空洞部102と面する第1面と対向する第2面に熱型検出素子を搭載して支持する支持部材210と、少なくとも熱型検出素子と対向する位置に空洞部を形成して支持部材を支持する固定部100とを有する。支持部材は、第2面側に配置され、第1方向に向う残留応力CSを有する第1層部材212と、第1面側にて第1層部材に積層され、第1方向とは逆向きの第2方向に向う残留応力TSを有する第2層部材214とを有する。第1層部材212は第2層部材214よりも熱コンダクタンスが小さい。 (もっと読む)


【課題】 環境によって紫外線の照り返し量が異なる場合においても、より最適な日焼け防止策を提示することができる。
【解決手段】 スイッチ104には、環境特定情報と、紫外線の照射を受ける照射時間とが入力される。紫外線センサー105は紫外線強度を測定する。ROM109は、環境に応じた紫外線の照り返し量を特定するための照り返し量特定情報を環境毎に記憶する。CPU101は、スイッチ104に入力された環境特定情報で特定される環境の照り返し量特定情報をROM109から読み出し、照り返し量特定情報と紫外線センサー105が測定した紫外線強度とに基づいて、照り返しを含む紫外線強度を算出する。また、CPU101は、スイッチ104に入力された照射時間と、算出した照り返しを含む紫外線強度とに基づいて、照射時間中の日焼けを防止する防止策を特定する。LCD108は、CPU101が特定した防止策を表示する。 (もっと読む)


【課題】低コストで製造でき、複数の波長領域の光強度を個別に検出し、その検出結果に基づいて制御対象空間の環境情報を取得する環境情報取得装置を提供する。
【解決手段】波長選択フィルタ112には、複数の波長領域にそれぞれ対応する複数のフィルタ部が設けられている。光検出部111は、波長選択フィルタ112のフィルタ部を透過した光を検出し、光強度検出部122は、光検出部111が検出した光の強度を検出する。波長選択フィルタ同期制御部121は、波長選択フィルタ112を駆動させると共に、光検出部111が何れかのフィルタ部を透過した光を検出しているか否かを判定し、検出していると判定した場合には、その旨を示す同期信号を出力する。環境情報生成部123は、波長選択フィルタ同期制御部121により同期信号が出力されると、光強度検出部122が検出した光の強度に基づいて、所定のエリアの環境に関する環境情報を生成する。 (もっと読む)


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