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Fターム[2G088EE30]の内容

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Fターム[2G088EE30]に分類される特許

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【課題】放射線の検出効率を向上することができる電子増幅器及びこれを使用した放射線検出器を提供する。
【解決手段】入射電極101と検出部102との間に、板状絶縁層12とこの板状絶縁層12の両面に形成された平面状の導体層14,16とで構成された電子増幅板10が配置されている。この電子増幅板10には、電場を集束させるための貫通孔18が複数形成されている。また、入射電極101には、電子増幅板10に対向する面から上記貫通孔18に向けて伸長する柱状突起24が形成されている。さらに、これらの構成要素を収容するチャンバ104内には検出用ガスが充填されている。電極101に入射した放射線は、柱状突起24から一次電子を発生させ、発生した一次電子は、当該一次電子を発生させた放射線の入射位置に対応する位置に配置された貫通孔18に進入し、増幅される。 (もっと読む)


【課題】最表面2〜3原子層における元素と原子層とを選別した磁気構造解析を行う方法とその装置を提供する。
【解決手段】試料から散乱した散乱イオン強度を入射イオン種のスピン別に計測し、その計測データにより試料表面の磁気構造を解析する。 スピン偏極イオンを発生させるスピン偏極イオン発生部と、前記スピン偏極イオン発生部からのスピン偏極イオンを所望のエネルギーで試料表面に入射させるスピン偏極イオンビームラインと、試料を保持する真空槽と、前記真空槽内に位置して、前記試料に照射されて散乱したスピン偏極イオンを計測する計測器よりなる。 (もっと読む)


【課題】 雑音の影響をできるだけ受けず波高値の測定精度を向上させたデジタルフィルタを提供する。
【解決手段】 入力信号を遅延させる遅延手段2Aと、遅延手段2Aからの前記入力信号に係数を乗ずる乗算手段3Aと、前記入力信号と乗算手段3Aからの出力信号とを減算処理する減算手段4Aとを有する第1段の差分処理手段1Aを備え、差分処理手段1Aからの出力信号を差分処理手段1Aと同じ構成の次段以降の差分処理手段1B,1Cにおける遅延手段2B,2Cの入力信号とすることを、少なくとも2回(段)以上繰り返すデジタルフィルタにおいて、各段の差分処理手段1A,1B,1Cにおける遅延手段2A,2B,2Cの遅延時間L,M,Nは、互いに異なる値である。特に、3段の差分フィルタの場合は、2つの段の遅延時間の和が残りの1つの段の遅延時間に等しい。 (もっと読む)


【課題】測定によって得られるスペクトルプロファイルのテーリングを抑制し、バックグラウンドを低減させて、高感度、高精度で分析することができるX線分析装置を提供する。
【解決手段】全反射蛍光X線分析装置1は、X線管11によって1次X線14が照射された試料Sから発生する2次X線15の強度を検出する半導体検出器16と、半導体検出器16にバイアス電圧を供給するバイアス電源17と、バイアス電源17を制御して半導体検出器16に供給するバイアス電圧を所定のスケジュールにしたがって切断する制御装置20とを備える。 (もっと読む)


【課題】画像化用検査装置の付属部品を考慮することを可能にする。
【解決手段】磁気共鳴装置の少なくとも1つの付属部品を検出し、かつ画像化測定法により付属部品の位置および/または向きを検出するステップ、
検出された付属部品をデータバンクのデータと比較するステップ、
検出された付属部品に、データバンクに含まれ減弱値を有する減弱マップを割り付け、かつ減弱マップを付属部品の検出された位置および/または向きにマッチングさせるステップが実行される。 (もっと読む)


【課題】
放射線源の存在位置を高い精度にて検出するための放射線源位置検出システム、及び放射線源位置検出用プローブを提供すること。
本発明は、例えば原子力開発分野、医療分野等において利用され、放射線源の存在位置を検出するための放射線源位置検出システム、及び放射線源位置検出用プローブに関する。
【解決手段】
3つの放射線検出器20a、20b、20cを異なる位置に配置する。各放射線検出器20a、20b、20cが入射した放射線に基づいて、放射線源の曲面Ma、Mb、Mcを計算する。各曲面Ma、Mb、Mcの方程式を連立して解くことで、放射線源位置を検出するものである。 (もっと読む)


【課題】横方向で識別すべき発光位置の数より数が少ない複数の受光素子を有し、発光素子に入射した放射線による横方向の発光位置を、受光素子出力の重心演算により求めるようにした放射線位置検出器の位置分解能を向上する。
【解決手段】発光素子(12、13)の受光素子(10A、10B、22A、22B)側面の間の一部に、横方向に反射材20を挿入することにより、発光の横方向への拡散を促進するための反射特性を持たせる。積層された発光素子(13A、13B、13C)の間の一部にも、発光の横方向への拡散を促進するための反射特性を持たせることができる。 (もっと読む)


【課題】ワイヤーロッドをイオンビームの検出に用いることで、簡単な構成によって、容易かつ正確にイオンビームを評価することができるイオンビームの評価測定方法及びイオンビームの評価測定装置を実現する。
【解決手段】導電性のワイヤーロッド4は、全体形状は互いに直交する第1ロッド8及び第2ロッド9からL型に形成されており、該第1ロッド8を、該第1ロッド8に直交する第1の方向に移動して前記イオンビーム12を横切るように移動しながら、該ワイヤーロッド4を流れるビーム電流を測定することにより、イオンビーム12のビーム密度分布を検出し、同様に、第2ロッド9に直交する第2の方向に移動して前記イオンビーム12を横切ることでイオンビーム12の該第2の方向のビーム密度分布を測定する (もっと読む)


【課題】不使用時保管中の特性劣化を防止する。
【解決手段】気体引抜管(17)を真空ポンプに連結し、バルブ(18)を開状態にし、内槽(12)の内部空間(12b)から空気を引き抜く。この真空引きが終わると、バルブ(18)を閉状態にする。
【効果】内槽(12)の内部空間(12b)に空気が存在しなくなるため、中空管(13)のFRP壁を透過して真空空間(14)に水蒸気が侵入することがなくなり、不使用時保管が長期間になっても、真空空間(14)の真空度を高く維持することが出来る。 (もっと読む)


【課題】挿入光源の永久磁石列に接触する電子ビームのハロー部の強度を高い応答速度で高感度に検出することができる電子ビーム検出器を備えた挿入光源装置を提供する。
【解決手段】本発明の挿入光源装置は、ギャップ空間を介して対向配置された一対の永久磁石列を備え前記永久磁石列間に挿入された電子ビームに蛇行運動させることによってシンクロトロン光を発生させる挿入光源と、前記電子ビームの強度を検出する電子ビーム検出器を備え、前記電子ビーム検出器は、半導体板と、前記半導体板を挟んで配置され且つ前記電子ビームの入射側から見て互いに重なる重なり部分を有する第1及び第2電極を備え、前記重なり部分は、前記永久磁石列の前記ギャップ空間側の面を含む平面の近傍に配置されることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】小角X線散乱と広角X線散乱とを同時に測定できると共に、広角X線散乱の測定精度を向上できる小角広角X線測定装置を提供する。
【解決手段】X線源Fから出たX線を試料Sに照射し試料Sから発生する散乱線を小角度領域内で検出器26によって検出する小角X線光学系と、試料Sと検出器26との間に設けられており試料Sから発生する散乱線を広角度領域内で検出する広角X線光学系7とを有する小角広角X線測定装置である。広角X線光学系7は、試料Sと検出器7との間のX線光路上に設けられており、X線像を可視光像に変換する蛍光体38と、蛍光板38上に形成された可視光像を反射する光反射体42と、光反射体42で反射した可視光像を検出する光検出器47とを有する。X線光路と交わる部分の蛍光体38及び光反射体42のそれぞれにX線用開口39,42が設けられ、その開口39,42は小角度領域の最大角度値を見込む開口径を有する。 (もっと読む)


【課題】 本発明においては、単一の植物体内における炭素の動態を経時的に追跡する方法を開発し、光合成における生理学的機能パラメータを明らかにすることを課題とする。
【解決手段】 本発明の発明者らは、11C標識化トレーサー動態に基づいて、試験をした葉の内部および外部の炭素化合物の交換を解析し、そして光合成プロセスにおける炭酸同化およびショ糖送り出し速度定数を、動態解析を用いて推定した。本発明の発明者らは、ポジトロン検出装置と炭素-11-標識化二酸化炭素(11CO2)とを使用することにより、植物の葉における光合成の間の炭素の移動を経時的に画像化することができ、そして11C動態により、その光合成プロセスにおける生理学的機能パラメータを推定することができることを見いだし、本発明を完成するに至った。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成で高放射線場の設置物の腐食を低減すること。
【解決手段】
高放射線場(6)に設置された放射線場設置物(7)と、前記高放射線場(6)内で前記放射線場設置物(7)に沿って設けられ気体が移送される気体流路(Ya)と、前記気体流路(Ya)から外れた位置に形成され気体が滞留する気体滞留空間(V1〜V3)と、前記気体滞留空間(V1〜V3)に配置され、放射線により発生する腐食性ガスを吸着する腐食性ガス吸着材(21)と、を備えた高放射線施設(1)。 (もっと読む)


【課題】飽和特性を向上させたフォトン計数及びエネルギーデータを提供できるCT検出器モジュールを提供する。
【解決手段】CT撮像システム(10)向けの検出器モジュール(20)は、X線(16)を光学フォトンに変換するためのシンチレータ(58)を含む。シンチレータ(58)は、光学フォトンを受け取りこれを対応する電気信号出力に変換するために内部ゲインを有する半導体式光電子増倍器(53)と光学的に結合させている。本発明の一態様では、CT撮像システムは、その内部を通過して並進させる患者を受け入れるように設計されたボアをその中を貫通して有するガントリと、ガントリ内に配置されると共に患者に向けてX線を放出するように構成されたX線源と、患者によって減衰を受けたX線を受け取るためにガントリ内に配置された上述の検出器モジュールと、を含む。 (もっと読む)


【課題】検出器モジュールとアンプ基板の接続を容易にした放射線検出器及びX線CT装置を提供する。
【解決手段】放射線源からの放射線を検知する放射線検出器であって、複数の放射線検出素子アレイを含む検出器モジュールをチャンネル方向に複数個、スライス方向に2列に並べて配置した多列モジュールと、スライス方向に隣接する一対の検出器モジュールに対してそれぞれ1枚ずつ直交して配置した複数の回路基板と、スライス方向の奥側に位置する検出器モジュールと回路基板間とを検出器モジュールに直交する第1の方向から電気的に結合する第1のコネクタ群と、スライス方向の手前側に位置する検出器モジュールと回路基板間とを電気的に結合する第2のコネクタ群とを具備して成る。 (もっと読む)


【課題】処置室内において任意の位置まで容易に移動させることができて、取扱いやすい放射性薬剤自動分注投与装置を提供する。
【解決手段】移動するための移動手段を備えた筐体11内に、放射性薬剤Xを密封した容器22を受け取る容器受取手段と、容器受取手段で受け取った容器22を保持する容器保持手段と、容器保持手段で保持された容器22からノズル41によって放射性薬剤Xを取り出して保持する薬剤取出保持手段4と、薬剤取出保持手段4で取り出した放射性薬剤Xを被検体Hに投与する投与手段5と、ノズル41を洗浄液Wで洗浄する洗浄手段6と、洗浄手段6で用いた洗浄液Wを廃液容器71に廃棄する廃棄手段7と、容器22を前記筐体外へ取り出す容器取出手段と、を備え、容器受取手段、容器保持手段、ノズル41、保持部44、洗浄手段6、および廃液容器71を、放射線を遮蔽する放射線遮蔽体12内に設けている。 (もっと読む)


【課題】真菌や細菌を特異的に画像化し得るトレーサーおよびそれを用いた真菌および細菌の画像化/検出方法を提供すること。
【解決手段】UDP-N-アセチル-D-グルコサミンもしくはN-アセチルグルコサミンまたはそれを経路内に含む真菌もしくは細菌の細胞壁構成成分の代謝経路内に含まれる他のいずれかの化合物あるいはその誘導体をトレーサーとして含有してなる、真菌および/または細菌の検出用試薬。前記トレーサーを該被験体に接触させる工程および該トレーサーの該被験体内への取り込みを検出する工程を含む、被験体における真菌および/または細菌の存在の有無を検定する方法。 (もっと読む)


【課題】占積率の高い放射センサ素子を提供する。
【解決手段】少なくとも1つの給電線構造が基板とセンサ構造との間の第2の平面に配置されている。 (もっと読む)


【課題】より短時間で半価層を計測可能とする付加フィルタ及びこの付加フィルタを用いた半価層測定装置並びに半価層測定方法を提供する。
【解決手段】X線源から照射されたX線の線量を検出する線量検出手段のX線源側に配置する半価層測定用の付加フィルタに、X線の透過方向を厚み方向として、厚み寸法をそれぞれ異ならせた複数の領域を備えたゲージ部を設ける。この付加フィルタを線量検出手段のX線源側に配置するステップと、線量検出手段にX線を照射して線量を検出し、線量が所定の減衰率となる半価層測定用の付加フィルタの厚みを半価層の厚さとするステップとによりX線の半価層の厚さを測定する。 (もっと読む)


【課題】高精度かつ省スペースで、製作コストが削減された粒子加速器のビーム位置モニタの提供。
【解決手段】ビームダクトD内の電極11A〜11Dからの電極信号aの模擬信号である基準信号bを発生する基準信号発生部12を備え、通常は電極信号aを入力信号とするが基準信号発生部12が基準信号bを発生している場合には入力信号を基準信号bへ切り替える入力信号切替部13と、増幅・検波部14と、アナログ・ディジタル変換部15とを、各々の電極11A〜11Bに対して備えるとともに、基準信号bを用いて各々の増幅・検波部14の回路特性を求める制御部18と、制御部18で求められた回路特性により、各々の増幅・検波部14で検波された電極信号aを補正して、この補正された各々の電極信号aを用いてビームダクトD内のビームBの中心位置を計算する演算部16とを備えた。 (もっと読む)


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