【課題】同一の観察対象物に対して放射線観察と可視光観察とを切り替えて行うことができる簡易かつ低コストの放射線観察装置を提供する。
【解決手段】観察対象物Ａを載置するステージ２と、該ステージ２の下方に配置され、放射線を出射する放射線源３と、該放射線源３から出射された放射線を可視光に変換する波長変換手段４と、該波長変換手段４により変換された可視光を撮像する撮像手段６とを備え、波長変換手段４が、ステージ２と撮像手段６との間に挿脱可能に設けられている放射線観察装置１を提供する。 （もっと読む）

【課題】荷電粒子ビームの軌道の調整作業を容易化して調整精度を向上させることができる軌道位置ずれ検出装置，組成分析装置及び荷電粒子ビームの軌道調整方法を提供すること。また，エネルギー分解能や散乱粒子の取得効率を容易に変更することができる組成分析装置を提供すること。
【解決手段】絞り部３１と超音波モータ３２と駆動軸３３とを備えて構成された開口状態変更装置３０により，基準ビーム軸上の所定の位置に配置され荷電粒子ビームを通過させる開口部３１ａの開口径（開口状態）を変更可能とする。
また，上記開口部３１ａを通過した或いは該開口部３１ａから外れた上記荷電粒子ビームの強度を測定し，該荷電粒子ビームの強度に基づいて上記荷電粒子ビームの軌道と上記基準ビーム軸との位置ずれの有無を検出する。 （もっと読む）

【課題】搬送状態にある被検体内部の異物を検出するのに好適な装置を提供する。
【解決手段】被検体１２を搬送するコンベア１１と、コンベア１１で搬送される被検体１２にＸ線を照射するＸ線源１と、Ｘ線源１から照射されたＸ線の被検体１２を透過する透過量を検出し、かつ互いに異なる検出感度を有する第１検出部及び第２検出部を備えるＸ線検出器４と、Ｘ線検出器４の第１検出部で検出されたＸ線の透過量に基づく第１画像、及びＸ線検出器４の第２検出部で検出されたＸ線の透過量に基づく第２画像を、同一の被検体１２について取得するＸ線画像取得制御装置３と、第１画像及び第２画像を記憶する第１、第２画像記憶装置６、７と、第１画像及び第２画像について減算処理を行う演算処理装置８と、を備える異物検出装置１００。 （もっと読む）

【課題】 検出Ｘ線の波長によってフローガスの切換えやフローガスの減圧などの手間や窓の破損がなく、安価で、長波長Ｘ線に対し高感度でＳ／Ｎ比のよいＸ線用ガスフロー型比例計数管などを提供する。
【解決手段】 Ｘ線検出用フローガスとしてアルゴンガス、ヘリウムガスおよびメタンガスを所定の体積割合で混合した混合ガスを流すように構成されたＸ線用ガスフロー型比例計数管１０。 （もっと読む）

【課題】 低温初段増幅器で発生する熱の影響による超電導放射線検出器やそれらを接続する超電導配線の温度上昇を抑え、超電導放射線検出器や低温初段増幅器に対して液体ヘリウムシールド層など外部からの輻射熱の影響を低減しつつ磁気ノイズの影響を減少させることなど、外部からの熱や磁場環境の影響によるノイズを低減して高精度の放射線検出測定が可能な超電導放射線検出装置とそれを用いた放射線分析装置を提供するものである。
【解決手段】 放射線を検出する超電導放射線検出器１と、超電導放射線検出器1で検出した信号を増幅する低温初段増幅器２とを、冷却ヘッド１０４に固定し、超電導放射線検出器１及び低温初段増幅器２の上方に熱シールド板６が配し、少なくとも低温初段増幅器２と熱シールド板６の間に熱シールド板６の温度による冷却効果により超電導状態となる材料からなる超電導シールド膜７を備えた。 （もっと読む）

【課題】 異なる電圧印加状態においても荷電粒子の飛行軌跡を所望の状態に維持できるよう電界パターンを調整した荷電粒子検出装置を提供する。
【解決手段】 ＭＣＰ群２をＩＮ電極１とＯＵＴ電極３とで挟み込み、ＯＵＴ電極３に対向してアノード基板４０を配置し、アノード端子４１からコンデンサ６２を介して出力信号部であるＢＮＣ端子６に接続されている。ここで、ＩＮ電極１とアノード基板４０を後方から覆う後方カバー５との間に配置される各構成部材は、径方向においてＩＮ電極１の側壁から外側へと突出しないように配置されている。 （もっと読む）

【課題】性能劣化を回避しつつアノード電極およびカソード電極のセルを高密度に配することが可能な放射線検出パネルの製造方法および放射線検出パネルを提供すること。
【解決手段】第１の金属および第２の金属の２層構造を有しかつほぼ円形のアノード電極パターンと、同じく２層構造を有しかつアノード電極パターンを取り囲むカソード電極パターンとを、第２の金属をそれぞれ外側の層として金属板上に形成する工程と、金属板のこの面上に絶縁板を介して金属箔を積層し一体化する工程と、積層・一体化された金属箔を、アノード電極パターンに位置対応してほぼ円形の除去部位ができるようにエッチング加工する工程と、この金属箔をマスクに絶縁板を加工し、アノード電極パターンの第２の金属に達するようにビアホールを形成する工程と、形成されたビアホール内を満たすようにめっき層を形成する工程と、金属板をエッチング除去する工程とを具備する。 （もっと読む）

荷電粒子ビームシステム、特に直接書込みリソグラフィシステムの多量の荷電粒子ビームの特性を測定するリソグラフィシステム、センサ、方法において、荷電粒子ビームは変換器素子を使用して光ビームへ変換され前記光ビームを検出するために前記変換器素子と並んで配置されたダイオード、ＣＣＤまたはＣＭＯＳ装置のような感光検出器のアレイを使用し、前記光ビームによる露出後、前記検出器からの結果的な信号を電子的に読み出して１以上のビーム特性の値を決定し、それによって自動化された電子計算器を使用するため前記信号を使用し、前記計算された特性値に基づいて、全ての数又は複数の前記荷電粒子ビームの仕様範囲値から各１以上の特性を補正するように荷電粒子システムを電子的に適合することにより行われる。 （もっと読む）

【課題】
中性子を用いた簡易な軽元素分析装置を提供する。
【解決手段】
α線検出器を備えた中性子発生管と、軽元素の飛行方向とエネルギーを同定可能な軽元素検出器を用い、それぞれの検出器からの信号を同時計数することにより、加速器等の大型の装置を用いることなく、簡便な装置で試料中の水素及び重水素等の軽元素分布を非破壊で計測することができる。 （もっと読む）

方法は、動体の動きの経路に関連する第１時間間隔中、動体の複数の画像に関連する画像データを受け取ることを含む。複数の画像は、第１位置においてガーメントに結合された第１マーカの位置と、第２位置においてガーメントに結合された第２マーカの位置と、の表示を含む。ガーメントは動体に結合される。第２時間間隔中、動体に対する第１位置特定要素の位置と実質的に同じである第１マーカの位置と、動体に対する第２位置特定要素の位置と実質的に同じである第２マーカの位置と、を含む画像が、複数の画像から自動的に識別される。
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【課題】
従来の有害元素分析法では、たとえばＸＲＦは、その精度（誤差３０％〜５０％）に問題があり、判定が困難な場合がある。また、Ｘ線のエネルギーが低いことから、その測定領域は固体試料表面の数十μｍに限定されることが問題である。それを解消するために試料を冷凍，粉砕等により一様化し、粉体状態で測定することがなされているが、その時点で非破壊の状態ではなくなる。また時間もそれだけかかる。
【解決手段】
本発明はＤＴ中性子発生管内に、二次元的に配列されたα線検出器アレイを備え、中性子発生管外部に、二次元的あるいは三次元的に複数の区画に分けられた試料収納部を備え、さらにα線・γ線同時計数回路，データ収集装置を備えている。α線検出器アレイのそれぞれの個別検出器は試料収納部の各区画と１対１に対応するように配置されている。 （もっと読む）

地下、容器内、壁、隔壁等の背後に隠された物体をリアルタイムで安全に検出する凝視コンプトン後方散乱Ｘ線用の、独特なロブスターアイ（ＬＥ）構造、Ｘ線発生器、シンチレータベースの検出器、および冷却ＣＣＤ（すなわち増感ＣＣＤ）に基づいたロブスターアイＸ線画像処理システム。既存の走査型ペンシルビームシステムとは対照的に、ロブスターアイＸ線画像処理システムの真の焦点が調整されたＸ線光学系は、１つまたは２以上のＸ線発生器からの広いオープンコーンビームによって照射されたシーン全体から、弾道コンプトン後方散乱光子（ＣＢＰ）を同時に得る。ロブスターアイＸ線画像処理システムは、４０から１２０ｋｅＶの範囲（すなわち波長λ＝０．３１から０．１オングストローム）において、現在の後方散乱画像処理センサ（ＢＩＳ）よりも何千倍も多い後方散乱硬Ｘ線を収集する（焦点に集める）ので、高感度で高信号対雑音比（ＳＮＲ）であり、地面、金属、壁等を貫通する能力を提供する。ロブスターアイＸ線画像処理システムの収集効率を最適化して、放射されるＸ線パワーを低減し、装置を小型化する。該装置は、Ｘ線ベースの検査システムに特に好都合であり、該Ｘ線ベースの検査システムの要件、すなわち、地面、金属、および他の隠蔽材料を通したＸ線の貫通、安全性、および人による可搬性の要件を満たしている。ここに開示された先進技術は、医療診断や、地雷探知、手荷物検査等のような軍事的応用にも適用可能である。 （もっと読む）

【課題】伝送体を必要としないで、X線、ガンマー線、荷電粒子線のビームの形状測定及び放射線到達位置検出が可能となる。
【解決手段】放射線到達位置検出装置において、シンチレータを含有する発光部Ｈとレンズ部Ｌとを有し、該レンズ部は一方側にレンズ面を形成し、該発光部Hと該レンズ部Lとの体積は、該発光部Ｈの体積をＶ_Ｈとし、該レンズ部の体積をＶ_Ｌとしたとき、Ｖ_Ｈ>Ｖ_Ｌの関係に形成するとともに、該発光部Ｈと該レンズ部Ｌのレンズ面の反対側との間にくびれ部Ｒを形成し、該発光部Hの光軸とレンズ部Lの光軸が平行になるように放射装置を構成するとともに、該放射装置の複数個をレンズ面が平面上に並列するように配列したアレーを構成し、シンチレータの発光強度の空間分布をイメージとして測定することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 特定のセリウム付活珪酸塩化合物の単結晶、特にＬｎとしてイオン半径がＴｂよりも小さいＤｙ、Ｈｏ、Ｅｒ、Ｔｍ、Ｙｂ、Ｌｕ、Ｙ及びＳｃからなる群より選ばれる少なくとも１種の元素を用いた単結晶であって、蛍光特性に十分優れたシンチレータ用単結晶を提供する。
【解決手段】 特定のセリウム付活珪酸塩化合物の単結晶であって、周期表２族に属する元素からなる群より選択される１種以上の元素を前記単結晶の全質量に対して０．００００５〜０．１質量％含有するシンチレータ用単結晶。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線光子線束率による飽和のない直接変換エネルギー弁別式ＣＴ検出器を提供する。
【解決手段】コンピュータ断層検出器モジュール（６８）は上側側面及び底側側面を有するサブストレート（７０）と、該サブストレート（７０）の上側側面上でサブストレート（７０）と実質的に直角な方向に配置させた複数の検出器層（７２）を含み、該複数の検出器層（７２）のそれぞれは放射線を吸収するように構成された直接変換材料を備えており、かつ該複数の検出器層（７２）のそれぞれは第１の側面及び第２の側面を備えている。さらに検出器モジュール（６８）は、複数の検出器層（７２）のそれぞれの第１の側面上に配置させた複数の画素分解陽極接点（７６）を含む。さらに検出器モジュール（６８）は、複数の検出器層（７２）のそれぞれの第２の側面上に配置させた共通陰極接点（７８）を含む。 （もっと読む）

【課題】 イオンビームのｙ方向の角度偏差、発散角及びビーム寸法の内の少なくとも一つを簡単な構成によって計測する。
【解決手段】 前段シャッター駆動装置３６によって前段ビーム制限シャッター３２をｙ方向に駆動しつつ、シャッター３２の一辺３４の外側を通過して前段多点ファラデー２４に入射するイオンビーム４のビーム電流の変化を計測して、シャッター３２の位置でのイオンビーム４のｙ方向のビーム電流密度分布を計測する。後段シャッター駆動装置４６によって後段ビーム制限シャッター４２をｙ方向に駆動しつつ、シャッター４２の一辺４４の外側を通過して後段多点ファラデー２８に入射するイオンビーム４のビーム電流の変化を計測して、シャッター４２の位置でのイオンビーム４のｙ方向のビーム電流密度分布を計測する。これらの計測結果を用いて、イオンビーム４のｙ方向の角度偏差、発散角及びビーム寸法の内の少なくとも一つを計測する。 （もっと読む）

いくつかの実施例において、宇宙線検出器は、第１先端部を備えるカンチレバーを含む。検出器はまた、第２先端部と、第１先端部と第２先端部との間の距離を示す信号を、宇宙線相互作用事象によって引き起こされた場合に与えるための回路と、を含む。その他の実施例が記載かつ請求される。 （もっと読む）

【課題】エネルギー線の種類を弁別するためのエネルギー線検出素子において、空乏層の厚みを精度良く調整できるようにすると共に暗電流の増加を抑制できるようにすること。
【解決手段】第１の表面Ｓ１及び第２の表面Ｓ２を有している第１導電型の第１半導体基板２と、第１の表面Ｓ１に貼着されており第１半導体基板２と異なる面方位を有すると共に第１半導体基板２よりも厚い第１導電型の第２半導体基板３と、表面Ｓ２に貼着されており第２半導体基板３よりも厚い第１導電型の第３半導体基板４と、第１半導体基板２に電気的に接続されたカソード電極１０と、素子の二つの表面に設けられたアノード電極９，１４及びカソード電極１５とを備える。 （もっと読む）

【課題】 高感度で小型化が容易であり、しかも放射線損傷が少ない一次元イメージセンサを提供する。
【解決手段】 基本構成として、被検体（不図示）を透過した放射線１（電磁波あるいは放射線）の入射する方向に延在するシンチレータ２を備えている。そして、放射線１の入射する方向に対しほぼ直交する方向であって上記シンチレータ２の下部に配置された光学素子３と、該光学素子３の更に下部に配置された二次元受光素子４とを有する。これ等は、好ましくはスリット状の開口部５を有する遮蔽体６に覆われている。上記開口部５の所定の箇所にはシンチレータ２で発生するシンチレーション光の遮光膜７が取り付けられる。そして、二次元受光素子４の光電変換で生成した電気信号の出力を外部に伝送するケーブル８、電気回路９が取り付けられる。 （もっと読む）

選択的に放射線を検出する装置は、中性子放射物、例えばプルトニウム等の検出を容易にする中性子検出器と、ガンマ線源、例えばウラニウム等の検出を容易にするガンマ線検出器と、および／または放射線源を遮蔽することのできる材料、例えば鉛等の検出を容易にする蛍光Ｘ線分析器とを含む。
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