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Fターム[2G088FF03]の内容

放射線の測定 (34,480) | 測定量 (4,792) | 放射線の種類 (4,057) | X線 (1,743) | 特性X線 (54)

Fターム[2G088FF03]に分類される特許

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【課題】 エネルギー分散型X線検出器において、試料上への電子線照射により発生したX線の検出効率を上げるとともに、S/Nの良いX線信号検出することを目的とする。
【解決手段】X線を検出する半導体検出素子と、前記半導体検出素子を収容し、真空雰囲気に保持するための検出器チャンバと、検出器チャンバのX線導入するための開口部を封止するように配置されるX線を透過する薄膜と、前記薄膜を検出器チャンバ内側から支持する補強部材からなる検出器において、前記補強部材は、間隔を置いて平行配置された複数のリブ状部材から構成される間隙を持つと共に、前期複数のリブ状部材に永久磁石を組み込むことにより、又はリブ状部材を永久磁石で構成することにより前記複数のリブ状部材間に磁場を発生させるようにしたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】冷却装置の振動に起因するマイクロフォニック雑音の出力信号での発生が低減されたX線検出装置を提供する。
【解決手段】X線を検出する半導体X線検出素子11を有する検出部10と、半導体X線検出素子11を冷却する冷却装置20と、冷却動作により冷却装置20で発生する機械的振動と同一周期且つ同一方向に検出部10が振動するように、検出部10と冷却装置20とを剛性的に接続する接続装置30とを備える。 (もっと読む)


【課題】被測定試料中に含まれる元素および放射性物質をそれぞれ特定することができる、蛍光X線分析装置を提供する。
【解決手段】
本発明の蛍光X線分析装置は、X線領域(1keV〜50keV)を計測する蛍光X線検出器と、γ線領域(50keV〜1.5MeV)を計測するγ線検出器と、分析処理手段とを備える。励起X線管が、被測定試料に対してX線を照射する。蛍光X線検出器は被測定試料に含まれる元素固有の蛍光X線を検出し、γ線検出器は核種固有のγ線を検出する。分析処理手段が、蛍光X線のスペクトルとγ線のスペクトルとを求める。
必要に応じて、分析処理手段は、蛍光X線のスペクトルに基づいて試料に含まれる元素を特定してその含有量を求め、γ線のスペクトルに基づいて試料に含まれる放射性物質の核種を特定してその含有量を求める。 (もっと読む)


【課題】信頼性の高い放射線検出装置を提供する。
【解決手段】放射線検出装置100は、半導体検出素子10と、冷却素子20と、第1温度監視部30と、第2温度監視部40と、制御部50と、を含み、制御部50は、設定温度を第1温度に設定し、検出素子温度情報I10に基づいて半導体検出素子10が第1温度に維持されるように冷却素子20を制御する第1温度維持処理と、冷却素子温度情報I20に基づいて、冷却素子20の温度が第1閾値よりも高いか否かを判定する第1閾値判定処理と、第1温度維持処理の実行中に、第1閾値判定処理において冷却素子20の温度を第1閾値よりも高いと判定した場合、設定温度を第1温度から第1温度よりも高い第2温度に変更し、検出素子温度情報I10に基づいて半導体検出素子10が第2温度に維持されるように冷却素子20を制御する第2温度維持処理と、を行う。 (もっと読む)


【課題】コールドフィンガーからの不純線による測定精度の低下が防止され、且つ分解能の低下が抑制された半導体X線検出装置を提供する。
【解決手段】X線を検出する半導体X線検出素子10と、半導体X線検出素子10と直結され、半導体X線検出素子10の出力信号を受信する初段FET回路20と、半導体X線検出素子10と初段FET回路20を囲むようにして支持する、アルミニウムからなる基体31の表面にアルミニウムよりも軽い元素を材料とする皮膜32が形成された構造のコールドフィンガー30とを備える。 (もっと読む)


【課題】
多元素同時分析を可能とし、運転に必要とされる洗浄作業や消耗品交換の保守作業を低減し、測定データをオンライン伝送する水質管理システムにも好適な蛍光X線水質計を提供する。
【解決手段】
測定試料の一部は脱泡槽14の下部からノズル13に導かれ、大気中に噴出することでセル等を用いずに流束を形成し、X線発生素子5からX線を投影する。陰極電圧可変用電源装置6はX線発生素子5が発生するX線のエネルギーが測定目的の元素に固有の蛍光X線エネルギーより大きくなるように調整され、流束から放射される固有の蛍光X線を半導体X線検出素子7で検出し、信号処理装置9で処理することで測定試料中に含まれる複数の元素を同時に測定し、その測定データを管理センターに伝送することで水質管理システムを構成する。 (もっと読む)


【課題】定量性のある情報を出力することを課題とする。
【解決手段】実施の形態に係るX線CT装置は、重粒子線をターゲットに照射することでX線を発生させる。例えば、X線CT装置は、重粒子線源と、重粒子引出部と、高圧電源と、ターゲットとを含む。重粒子線源は、重粒子イオンを発生する。重粒子引出部は、重粒子イオンを加速管に引き出す。高圧電源は、重粒子イオンを加速管にて加速するための高電圧を加速管に対して印加する。ターゲットは、加速管にて加速された重粒子イオンの入射を受けてX線を発生する。 (もっと読む)


【課題】真空引きや大気圧への開放(リーク)に対して破損しにくく丈夫なX線検出器及びそれを備えた表面分析装置を提供する。
【解決手段】開口部11aとガス導入口11bとガス排出口11cとを有する検出器筐体11と、開口部14aを有する窓枠14と、検出器筐体11と窓枠14とで挟持されることにより、検出器筐体11の開口部11aと窓枠14の開口部14aとの間に配置され、特性X線を透過する樹脂製の平板形状の窓材12と、検出器筐体11の内部に配置され、電流を測定する芯線13とを備え、真空引きと大気圧への開放とが可能な試料分析室の内部に配置されるX線検出器10であって、特性X線を透過しない金属製の第一メッシュ17a、第二メッシュ17bとを備え、検出器筐体11の開口部11aと窓枠14の開口部14aとの間には、第一メッシュ17aと窓材12と第二メッシュ17bとをこの順で挟持されるように配置する。 (もっと読む)


【課題】極低温マイクロカロリーメータの持つ高い検出効率、低いバックグランドを活用し、数十μm〜cmオーダーの厚みの試料に対して高い精度の放射能測定方法を提供する。
【解決手段】放射線発生測定試料に、放射線吸収材でなる放射線吸収層を成層したり、放射線吸収材を混合して、測定試料より放出される放射線のエネルギーの一部または全部を測定試料中に付与できる構造を形成する。放射線吸収層があったり、内部に放射線吸収材が含まれる放射線発生試料100を極低温マイクロカロリーメータまたは吸収体付極低温マイクロカロリーメータの放射線吸収体112に熱的に接触させることで、測定試料中の放射性核種が崩壊したときに、非常に高い確率で放出される放射線のエネルギーの一部または全部を、極低温マイクロカロリーメータに熱的に接触した放射線吸収体112や極低温マイクロカロリーメータに熱として伝熱させる。 (もっと読む)


【課題】既存のASICを用いて安価に広いエネルギー範囲のX線検出に対応できる減衰回路を提供する。
【解決手段】X線分析による検出信号を減衰する減衰回路30であって、入射X線を検出する多チャンネル型の半導体検出器10と入射X線の検出信号を増幅する増幅用集積回路(ASIC)50との間に接続され、各チャンネルに1個ずつ設けられた複数の第1コンデンサを備える。これにより、既存のASIC50を用いて安価に広いエネルギー範囲のX線検出に対応できる。その結果、異なる用途に対して、ASIC50を設計し直して莫大な費用を浪費することがなくなる。また、使い慣れたASIC50を使うことによって、開発期間を短縮できる。また、半導体検出器10および第1コンデンサを接続する接続点とグランドとの間に接続された第2コンデンサを備えることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】i層(1)を厚くしても、リング状肩部(5a)にまでi層(1)が広がらないようにする。
【解決手段】円柱状のp型半導体タブレット(30)の一方の底面の中央部分に円柱状の凹部(9)を設け、その凹部(9)の底面の中央部分にn+層(2)およびn面電極(3)を設ける。
【効果】リング状肩部(5a)は、p型半導体タブレット(30)の他方の底面からn面電極(3)よりも段差をもって離れているため、i層(1)を厚くしてi層(1)がp型半導体タブレット(30)の半径方向へ広がっても、リング状肩部(5a)にまではi層(1)が広がらなくなる。 (もっと読む)


【課題】外来電磁ノイズ(N)が真空断熱容器(2)の内部に侵入することを防止する。
【解決手段】真空断熱容器(2)の開口(2a)を着脱可能に塞ぐ蓋板(3)と真空断熱容器(2)の間に挟まって真空断熱容器(2)の内部を気密に封止する真空封止用リング(4)を設けると共に、真空断熱容器(2)と蓋板(3)の間に挟まって外来電磁ノイズが真空断熱容器(2)の内部に侵入するのを防止する外来電磁ノイズ遮蔽用リング(7)を設ける。
【効果】外来電磁ノイズが真空断熱容器(2)の内部に侵入して正常なX線検出が妨げられることを防止できる。 (もっと読む)


【課題】核医学撮像システムを較正するための較正線源及び較正方法を提供する。
【解決手段】核医学(NM)撮像システムに用いられる放射線検出器のエネルギーを較正するための較正線源20は、少なくとも1つのエネルギーピークを有する放射線を放出する同位体線源22と、該同位体線源22から放出された放射線によって蛍光X線が発生可能な蛍光層24を隣接配置し、その蛍光X線によって、較正すべきエネルギースペクトル内に少なくとも1つの追加的なエネルギーピークを生成することで、複数エネルギーピークでエネルギー較正が可能となる。 (もっと読む)


本発明は、放射線検出器用の低干渉センサヘッド(30)及び低干渉センサヘッドを備えた放射線検出器に関する。本発明の放射線検出器は、好ましくは、X線検出器である。本発明はまた、低干渉センサヘッドの使用又は荷電粒子のための光学系を用いた顕微鏡検査法における放射線分析、特に(エネルギー分散)X線分析のための放射線検出器、特にX線検出器の使用に関する。
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【課題】低コストで除染能力の評価を行う。
【解決手段】この模擬試料10は、母材11上に、Co層12、酸化鉄層13が順次積層されて構成される。酸化鉄層13は、マグネタイト(四酸化三鉄)層131、ヘマタイト(三酸化二鉄)層132が順次積層されて構成される。Co層12は、放射性同位元素である60Co等の付着層を模しており、酸化鉄層13はその上に付着した錆を模している。除染処理をこの模擬試料10に対して行い、Coの蛍光X線がどの箇所からも許容レベル以下となるまで適宜繰り返すことができ、それまでに要した除染処理量あるいはこれに要した時間の総計の長短によって除染能力を評価することができる。 (もっと読む)


【課題】超ウラン元素のLX線計測を行い、高精度で且つ非破壊でプルトニウム測定可能とする。エネルギー弁別によりプルトニウム同位体とAm−241の識別分離を行うことができるようにする。
【解決手段】超伝導相転移端温度計型マイクロカロリーメータを用いて、物質中の超ウラン元素からα線崩壊に伴い放射されるLX線を検出し、エネルギー弁別を行うことによりプルトニウム同位体の直接測定を行うことを特徴とする物質中の超ウラン元素の分析方法である。例えば、10〜20keVのLX線を、100eV以下の分解能で測定することにより、プルトニウム同位体とAm−241の識別分離を行う。 (もっと読む)


【課題】X線検出器を冷却するペルチエ素子の放熱面からの放熱の異常を、大きなコスト増加をもたらすことなく検知する。
【解決手段】温度制御が開始されてから時間t1が経過した時点において、ペルチエ素子への印加電圧とペルチエ素子の駆動電流との関係からペルチエ素子の異常を検知する(S1〜S8)。その後、時間t2が経過した時点で、t1→t2までの期間中の温度低下量(温度差)ΔTを求め、ΔTから冷却速度Θを計算する(S9〜S12)。そして、冷却速度Θが最高使用温度条件の下で予め求めておいた閾値Θ1未満であれば(S13でNo)、放熱の異常であると判断して異常報知を行う(S15)。 (もっと読む)


【課題】 エネルギー分散型X線分光器に用いられるシリコンドリフト型検出器においてバックグランドを低減する。
【解決手段】 X線検出素子1と電気接続するための電極端子板2とペルチェ素子3との間にペルチェ素子3を構成する材料の平均原子番号よりも原子番号の小さな元素を主成分とする第1遮蔽体5と、ペルチェ素子3を構成する材料よりも原子番号の大きな元素を主成分とする第2遮蔽体6を備えることにより、X線検出素子1を透過したX線によってペルチェ素子3から発生する二次X線がX線検出素子1に入射する量を減少させる。 (もっと読む)


【課題】 電子線照射により試料から発生するX線を検出する分析方法において、試料が電子線照射により損傷を受ける前に測定を自動的に停止させる。
【解決手段】 電子線照射により試料から発生したX線、二次電子等をそれぞれX線検出器24、電子検出器23で検出し経過時間情報、座標位置とともに時系列的に組み合わせた時系列データとして記憶部34に格納する。測定しながら、測定開始から一定の時間間隔で記憶部34からX線信号を抽出しX線スペクトルを再生する。スペクトル全体又は任意に指定したエネルギー範囲のX線強度の時間経過に伴う変動をモニタし、異常を検知したら手動又は自動的に測定を中止する。 (もっと読む)


【課題】微量の元素の分析を効率よく行う。
【解決手段】X線検出器11〜1Nの出力パルスは、それぞれパルス時刻検出回路(時刻検出部)21〜2Nに入力される。パルス時刻検出回路21〜2Nは共通のクロックで動作し、それぞれX線検出器11〜1Nの出力パルスが入力された到着時刻をそれぞれ認識する(出力A〜A)。N個のX線検出器11〜1Nからの独立した出力パルスにおいて、ほぼ同時、すなわち、到着(出力)時刻の時間差が予め設定されたある一定の短い間隔(例えば100ns)内である2つの出力パルスが出力パルス組として取り出される。この出力パルス組の抽出は、OR回路、時間差判定回路、抽出回路からなるパルス組抽出部でなされる。 (もっと読む)


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