【課題】さまざまな装置条件下で、標本に照射する光のパターンやその照射位置を、高い光の利用効率で任意に変更する顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】顕微鏡装置１は、チタンサファイアレーザ２から射出されたレーザ光のビーム径をビーム径可変光学系３で可変して、位相変調型ＳＬＭ５に照射する。さらに、顕微鏡装置１は、対物レンズ１３の瞳共役位置に配置された位相変調型ＳＬＭ５でレーザ光の位相を変調して、対物レンズ１３を介して標本面ＳＰ上にレーザ光を照射する。 （もっと読む）

【課題】スーパーコンティニュームレーザパルスの様々なスペクトル色のパルス合成器を提供する。
【解決手段】顕微鏡（４０）の照明装置（２０）は、少なくとも１つの広帯域レーザ光パルス（３０）を生成するレーザユニット（２４）を有し、上記広帯域レーザ光パルス（３０）の異なる波長の光成分（７１、７２、７３、７４、７５、７６）は、互いに時間的にずらされる。広帯域レーザ光パルス（３０）の経路に配置された補正ユニット（３６）が、光成分（７１、７２、７３、７４、７５、７６）が補正ユニット（３６）を同時に、または略同時に出るように、広帯域レーザ光パルス（３０）の光成分（７１、７２、７３、７４、７５、７６）を時間的にずらす。 （もっと読む）

【課題】その配置が簡素であり、各誘導ビーム経路用の光学素子の数を削減することができるような試料照射装置を提供する。
【解決手段】本発明は、好ましくは共焦点蛍光走査型顕微鏡法において、１つの光源（３）の１つの照射ビーム経路（２）およびさらに別の光源（５）の少なくとも１つのさらに別の照射ビーム経路（４）を有する試料（１）を照射する装置に関する。照射ビーム経路における配置を簡素にし、光学素子を削減するために、少なくとも１つの光学素子（７）が照射ビーム経路（２，４）の少なくとも一方に配置され、光学素子（７）が光を変性するようになっている。 （もっと読む）

【課題】検出手段を保護して光量オーバーによるオーバーロードを防ぎ、好適なデータを取得できる共焦点顕微鏡を提供する。
【解決手段】試料を照明するための照明光学系と、前記試料からの光をピンホールの開口に集光するための集光レンズと、前記ピンホールの開口を介して前記試料からの光を受光する検出手段と、前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段と、前記照明光学系と前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段とを制御する制御手段とを有する共焦点顕微鏡であって、前記制御手段は、前記照明光学系を用いた前記試料への刺激と前記試料の画像取得のシーケンスを制御し、前記試料への刺激開始時から前記試料の画像取得開始時までの間に前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを制御して、前記検出手段への光の入射を阻害する。 （もっと読む）

【課題】小型で軽量なＸＹガルバノミラーペアを有する走査型顕微鏡を提供する。
【解決手段】走査型顕微鏡は、照明光であるレーザ光を射出する光源であるレーザユニットと、このレーザ光を集光して標本１６に照射する対物レンズと、レーザユニットと対物レンズとの間に配置され、レーザ光により標本１６の面を走査するための走査部である制御型及び共振型ガルバノスキャナ１１，１２と、を有する。そして、制御型及び共振型ガルバノスキャナ１１，１２は、第１ミラーであるＸミラー１１Ｘ，１２Ｘと、第２のミラーであるＹミラー１１Ｙ，１２Ｙと、を有し、Ｘミラー１１Ｘ，１２Ｘ及びＹミラー１１Ｙ，１２Ｙを、レーザ光の入射角が４５°より小さくなるように配置する。 （もっと読む）

【課題】 背景領域のみの情報を別途取得することなく、処理対象の画像から背景領域での輝度ムラを精度良く求める。
【解決手段】 画像処理装置は、観察対象を撮像した画像を取得する取得部と、画像のうちで観察対象の領域を除いた背景領域での輝度分布を推定する推定部とを備える。推定部は、背景領域の残差に対して観察対象の残差よりも大きな重みを付与した状態で最小二乗法の演算を行って、背景領域での輝度分布を推定する。 （もっと読む）

【課題】一方向のみの電荷の受け渡しに対応した撮像素子を用いた場合において撮像を短時間で行うことができる、観察装置を提供する。
【解決手段】被検物を保持するステージと、タイム・ディレイ・インテグレーション方式により被検物を撮像可能な撮像部と、被検物と撮像部とを相対移動させる移動機構と、被検物からの戻り光による像を回転可能な回転機構と、を備える。 （もっと読む）

【課題】ボケの無い信頼性の高い検出結果を得ることができる顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】光応答性物質を含む被検体が配置可能なウェルが複数形成された基板を保持する基板ステージと、複数の画素を有し、ウェルの光応答性物質の各々から発生する光を、タイム・ディレイ・インテグレーション方式により検出する検出部と、光応答性物質からの光が隣り合う画素間を遷移する期間は、光応答性物質からの光が検出部の前記画素へ入射しない状態を形成する機構と、を備える顕微鏡装置である。 （もっと読む）

【課題】使用者が初期設定に煩わされることがない高い利便性を有する顕微鏡システムを提供すること。
【解決手段】顕微鏡本体３と、複数の電動ユニットと、複数の電動ユニットを制御する制御部５とを備え、各電動ユニットで共通化されたコネクタにより、複数の電動ユニットが光路に沿って連結されると共に、複数の電動ユニットの回路と制御部の回路が接続されており、各電動ユニットは、制御する電動ユニットを選択するために制御部５から出力される選択信号を伝送するための複数の伝送路を有し、前記コネクタは、伝送路に選択信号を取り入れるための複数のピンを有する第１コネクタと、伝送路から選択信号を取り出すための複数のピンを有する第２コネクタとを含み、各電動ユニットの伝送路は、第１コネクタのピンアサインと第２コネクタのピンアサインとをずらすように配設されている顕微鏡システム１。 （もっと読む）

【課題】 タイムラプス観察において、励起光を観察試料に照射する時間を短くする倒立顕微鏡システムを提供すること。
【解決手段】 タイムラプス観察において、オートフォーカスを行なっている間は、励起光を観察試料に対して照射しない状態とし、オートフォーカスが完了した後、観察試料の撮影を行うときに、励起光を観察試料に対して照射する状態とし、さらに撮影が完了した後は、励起光を観察試料に再び照射しない状態にすることを特徴とする倒立顕微鏡システム。 （もっと読む）

【課題】 共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡による光計測を用いた走査分子計数法に於いて、観測されるべき試料溶液毎に光学調整を行う必要のない構成を提供すること。
【解決手段】本発明の発光粒子からの光を検出し分析する技術は、顕微鏡の対物レンズのレンズ表面に試料溶液を載置し、顕微鏡の光学系の光路を変更することにより試料溶液内に於いて光学系の光検出領域の位置を移動させながら、試料溶液内の発光粒子からの光を検出し、これにより、光検出領域内を横切る発光粒子を個別に検出し、発光粒子のカウンティングや発光粒子の濃度又は数密度に関する情報の取得を可能にする。 （もっと読む）

【課題】標本に照射する刺激光を所望の照射領域に容易に設定する。
【解決手段】標本Ｓの画像を取得する観察光学系１０と、標本Ｓに刺激光を照射して刺激する刺激光学系３０と、観察光学系１０により取得された画像上に、刺激光学系３０により刺激される標本ＳのＲＯＩを表示する制御部５１と、制御部５１により画像上に表示されたＲＯＩの大きさおよび／または位置を操作させる操作部５５とを備え、制御部５１が、ＲＯＩに一致するように刺激光の照射領域を調節する顕微鏡装置１００を提供する。 （もっと読む）

【課題】蛍光観察に用いる光学フィルタの透過波長帯域を迅速に変更する。
【解決手段】試料２に照射する励起光を照明光から抽出するための励起フィルタ１３内には、チューナブルバンドパスフィルタ２１ａ，２１ｂが光軸に沿って並べられている。チューナブルバンドパスフィルタ２１ａ，２１ｂは、光の入射角により透過波長帯域の幅をほぼ一定に保ったまま中心波長が変化する。チューナブルバンドパスフィルタ２１ａ，２１ｂは、光軸に対する角度を個別に調整することが可能である。本発明は、例えば、蛍光顕微鏡に適用できる。 （もっと読む）

【課題】 干渉を使用することで従来の光学系より高分解能画像を得ることが可能な光学系において、安定した信号を得る。
【解決手段】 物体から出射する応答光の特定の偏光状態の光を選択し、これを二つのビームに分離する。分離された二つのビームを異なる偏光状態にし、一方のビームを像反転させた後、両者を集光かつ干渉させる。干渉光を複数に分離し、それぞれに異なる偏光フィルタを挿入し、検出する。それぞれの信号を組み合わせた処理をすることで、両ビームの位相差に影響されない安定な振幅情報を得る。 （もっと読む）

【課題】高速イメージングや、複数波長の蛍光観察の連続撮像において、ターレット駆動方式のユニットの切換え時間を短縮することが可能な顕微鏡制御装置および顕微鏡制御方法を提供すること。
【解決手段】Ｎ（Ｎは３以上の整数）個の光学素子が装着可能な円盤状のターレットと、ターレットを周方向に回転駆動するターレット駆動手段とを備える光学顕微鏡を制御する顕微鏡制御装置であって、光路上に順に設置する３個以上Ｍ（ＭはＮ以下の整数）個以下の光学素子を、Ｎ個の光学素子から選択し、選択された３個以上Ｍ個以下の光学素子を、ターレット駆動手段によって回転駆動する合計駆動時間が最短となるように、光路上に設置するための順序を決定し、決定された順序に従って、ターレットを回転駆動するようにターレット駆動手段を制御する。 （もっと読む）

【課題】走査顕微鏡により試料を画像化する方法および装置を提供する。
【解決手段】走査顕微鏡により試料（２８）を画像化する方法と装置を開示する。複数の試料点を走査ビーム（１４）により連続する走査時間区間で走査し、それぞれに走査された試料点からの発光の強度を、関連する走査時間区間内に繰り返し感知し、それぞれに走査された試料点から感知された強度から強度平均値を平均値画像点信号として求め、平均値画像点信号を合成して平均値ラスタ画像を生成するようになされている。さらに、それに加えて、それぞれに走査された試料点において感知された強度から強度分散値を分散画像点信号として求め、分散画像点信号を合成して分散ラスタ画像信号を生成するようになされている。 （もっと読む）

【課題】共焦点走査型顕微鏡の走査ユニットを操作するために走査座標値又は補正した走査座標値を見つけ出すための方法、又は、単純な手法で特に画像エッジにおいて試料の正確な画像を創り出すことができる、走査型顕微鏡を用いて試料の画像を創り出す方法、を提供する。
【解決手段】試料３２の創出すべき画像の画像点のデカルト画像座標値（Ｘ_ｎ，Ｙ_ｎ）について、当該デカルト画像座標値の球座標系への座標変換を用いて球走査座標値（φ_ｎ，θ_ｎ）を見つけ出し、共焦点走査型顕微鏡２０の走査ユニット２８を走査するための走査座標値（φ_ｎ，θ_ｎ）を算出し、当該走査ユニット２８は、当該球走査座標値（φ_ｎ，θ_ｎ）にしたがって走査する。 （もっと読む）

【課題】光軸に沿ったその広がりが使用される顕微鏡対物レンズの焦点深度より大きい三次元物体をも検査及び操作すること。（その際三次元物体のあらゆる位置における物体操作が可能とする。）
【解決手段】（ａ）顕微鏡（２）；（ｂ）照明光線路（５）を規定し、物体（１）を照明するための少なくとも１つの第一光源（３、４）；（ｃ）検出光線路（７）を規定し、物体（１）からの戻り光を検出するための検出器（６）；（ｄ）操作光線路（９）を規定し、物体（１）を操作するための第二光源（８）を有する顕微鏡用物体の検査及び操作用の装置及びその操作方法において、
前記顕微鏡（２）は、共焦点走査型顕微鏡であり、第一光線偏向装置（１２）が、前記照明光線路（５）に、第二光線偏向装置（１６）が、前記操作光線路（９）に夫々配されているとともに、該照明光線路（５）における光の偏向は、該操作光線路（９）における光の偏向と独立に行われることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】対物レンズの切り替えに対応可能な共焦点光スキャナを提供する。
【解決手段】ピンホールが形成されたピンホールディスク２１と、ピンホールディスク２１を回転させる回転手段と、対物レンズ５Ａ、５Ｂと、を備え、ピンホールディスク２１を回転手段により回転させることにより照明光を走査するとともに、ピンホールを通過する、照明光に基づく戻り光を結像させることで共焦点画像を得る共焦点光スキャナにおいて、ピンホールディスク２１は、その回転軸からの距離に応じた複数の領域に区画され、各領域には対物レンズの倍率に応じた径のピンホールが形成され、対物レンズの倍率に応じて、使用されるピンホールディスク２１の領域が切り替えられる。 （もっと読む）

【課題】測定対象物に対して、可視観察のみならず、近赤外観察や蛍光観察といった特殊観察を行うことを可能とした光学式測定装置を提供する。
【解決手段】白色光を出射する白色光源と、白色光源と測定対象物との間に配され、白色光源から出射された白色光と、測定対象物からの戻り光と、を通過させる第１対物レンズと、第１対物レンズを通過した戻り光を所定の倍率に変倍する複数のチューブレンズと、複数のチューブレンズのうち戻り光上に配置させる一のチューブレンズを選択的に切り替え可能なレンズ切替機構と、を備える可視観察部と、特殊光を出射する特殊光源と、特殊光源と測定対象物との間に配され、特殊光源から出射された特殊光と、測定対象物からの戻り光と、を通過させる第２対物レンズと、を備える特殊観察部と、を備える。 （もっと読む）