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Fターム[2H092NA28]の内容

液晶−電極、アクティブマトリックス (131,435) | 目的 (17,448) | その他 (8,438) | 電極の低抵抗化 (551)

Fターム[2H092NA28]に分類される特許

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【課題】Cu系材料の特徴である低電気抵抗を維持しつつ、絶縁膜を構成するSiN膜や半導体膜におけるSiN層との密着性に優れると共に、エッチング時に良好にテーパ状にエッチングできるCu合金膜を提供する。
【解決手段】絶縁膜および/または半導体膜と直接接触する表示装置用Cu合金膜であって、該Cu合金膜は、上記SiN膜やSiN層と直接接触する第一層と、該第一層上に形成される第二層とを含み、前記第一層は、窒素を0.4原子%以上5.0原子%未満含むと共に、Ni、Al、Zn、MnおよびFeよりなる群から選択される1種以上の元素(X元素)を0.1〜0.5原子%、および/または、Ge、Hf、Nb、MoおよびWよりなる群から選択される1種以上の元素(Z元素)を0.1〜0.3原子%含み、かつ前記第一層の膜厚が2〜100nmである表示装置用Cu合金膜。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体層を用いた薄膜トランジスタにおいて、酸化物半導体層とソース電極層又はドレイン電極層との間のコンタクト抵抗を低減し、電気特性を安定させた薄膜トランジスタを提供する。また、該薄膜トランジスタの作製方法を提供する。
【解決手段】酸化物半導体層を用いた薄膜トランジスタにおいて、酸化物半導体層より導電率の高いバッファ層を形成し、酸化物半導体層とソース電極層又はドレイン電極層とがバッファ層を介して電気的に接続されるように薄膜トランジスタを形成する。また、バッファ層に逆スパッタ処理及び窒素雰囲気下での熱処理を行うことにより、酸化物半導体層より導電率の高いバッファ層を形成する。 (もっと読む)


【課題】画質を改善できる映像表示装置が提供される。
【解決手段】映像表示装置において、表示パネルは、1つ以上の駆動チップから駆動信号を受信して映像を表示する。各駆動チップは、駆動信号を発生するドライバー、ドライバーから提供された駆動信号を出力する多数の出力端子、及びドライバーと多数の出力端子を電気的に連結させる多数の内部連結配線を含む。内部連結配線は、位置によって相異なる長さを有し、他の抵抗値を有する2つ以上の物質で各々なされた2つ以上のグループに分割される。したがって、駆動信号の遅延偏差を実質的に除去でき、その結果映像表示装置の画質を改善することができる。 (もっと読む)


【課題】基板上に形成される補助容量の容量を大きく、かつ、その変動を防止する。
【解決手段】TFT4と補助容量5を有するTFT基板1の半導体層13、17を形成するときに、インジウム、ガリウム、亜鉛および酸素を主成分とするIGZOを使用する。TFT基板1を製造するときには、補助容量半導体層17を低抵抗化する処理として、パシベーション層20を形成した後で絵素電極21を形成する前にプラズマ処理を行う。これにより、補助容量半導体層17を導体化し、補助容量5の容量を大きくすると共に、補助容量5の容量変動を防止する。 (もっと読む)


【課題】Al合金膜とTFTの半導体層との間のバリアメタル層を省略可能な新規のSiダイレクトコンタクト技術を提供する。詳細には、Al合金膜をTFTの半導体層と直接接続しても、AlとSiの相互拡散を防止でき、良好なTFT特性が得られると共に、TFTの製造工程でAl合金膜に約100〜300℃の熱履歴が加わった場合でも、低い電気抵抗と優れた耐熱性が得られる新規なSiダイレクトコンタクト技術を提供する。
【解決手段】本発明の表示装置用Al合金膜は、表示装置の基板上で、薄膜トランジスタの半導体層と直接接続されるAl合金膜であって、上記Al合金膜は、Geを0.1〜4原子%;La、GdおよびNdよりなる群から選ばれる少なくとも1種を0.1〜1原子%;並びにTa、Nb、Re、ZrおよびTiよりなる群から選ばれる少なくとも1種を含有する。 (もっと読む)


【課題】配線抵抗の低い半導体装置を提供すること、透過率の高い半導体装置を提供すること、または開口率の高い半導体装置を提供することを課題とする。
【解決手段】ゲート電極、半導体層、ソース電極又はドレイン電極を透光性を有する材料を用いて形成し、ゲート配線又はソース配線等の配線を透光性を有する材料より抵抗率が低い材料で設ける。また、ソース配線及び/又はゲート配線を、透光性を有する材料と当該透光性を有する材料より抵抗率が低い材料を積層させて設ける。これにより、配線抵抗が低く、透過率の高い半導体装置を提供することができる。 (もっと読む)


【課題】低コストで形成可能であると共に低抵抗の導電体基板、導電体基板の製造方法、デバイス及び電子機器を提供すること。
【解決手段】基板と、前記基板上に設けられ、結晶成長を制御するシード層と、前記シード層上に設けられ、酸化スズ系透明導電体の結晶からなる導電層とを備える。 (もっと読む)


【課題】低抵抗なAl配線材料を用いて、生産コストの低下および生産性の向上を図ることができる薄膜トランジスタの製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の薄膜トランジスタの製造方法は、Arガスを用いたスパッタリングによって純AlまたはAl合金を第1層として成膜する工程と、前記第1層の上層に、Ar+N2混合ガスまたはAr+NH3混合ガスを用いたスパッタリングによって、前記第1層の材料に加えて窒化アルミニウムも部分的に含む第2層を成膜する工程と、別途形成するコンタクトホールを介して透明膜電極と第1電極の前記第2層とを電気的に接続する工程を含むものである。 (もっと読む)


【課題】開口率の高い半導体装置又はその作製方法を提供することを目的の一とする。また、消費電力の低い半導体装置又はその作製方法を提供することを目的の一とする。
【解決手段】絶縁表面を有する基板上に設けられた半導体層と、半導体層を覆うゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜上に設けられた第1の導電層と第2の導電層とで積層されたゲート電極を含むゲート配線と、半導体層と前記ゲート電極を含む前記ゲート配線を覆う絶縁膜と、絶縁膜上に設けられ、半導体層と電気的に接続され、第3の導電層と第4の導電層とで積層されたソース電極を含むソース配線と、を有し、ゲート電極は、第1の導電層で形成され、ゲート配線は、第1の導電層と第2の導電層で形成され、ソース電極は、第3の導電層で形成され、ソース配線は、第3の導電層と第4の導電層で形成されている。 (もっと読む)


【課題】表示装置の薄膜トランジスタ基板において、窒化ケイ素膜上への銅の微細配線を、より簡易に行う。
【解決手段】微細配線がされたTFT基板は、無アルカリガラスからなるガラス基板101と、インジウム錫酸化物からなる透明導電膜102と、アルミニウムを4原子%含有し銅を主成分とする合金からなる第一の導電層103及び109と、99.99%純度の純銅からなる銅配線である第二の導電層104及び110と、窒化ケイ素からなるゲート絶縁膜106と、非晶質ケイ素からなる半導体層107と、n+型非晶質ケイ素からなるコンタクト層108と、透明導電膜102と第一の導電層103との界面の金属酸化物層105と、を備える。 (もっと読む)


【課題】高い表示品位を達成することができる液晶表示装置を提供する。
【解決手段】駆動素子接続端子8が設けられかつ一方方向に延びる一方電極群を有した第1基板2と、他方方向に延びる他方電極群を有した第2基板3とを、前記両電極群が直交するように対向させて、第1基板2または第2基板3の周囲で複数の導電性粒子14を含有するシール部材7を介して貼り合わせ、シール部材7の内側に液晶を充填してなる液晶表示装置Aであって、第1導通接続部12の一部は、第1他方電極群と第2他方電極群との境界がなす境界線17を超えて位置しており、第2導通接続部13の一部は、第1他方電極群と第2他方電極群との境界がなす境界線17を超えて位置している。 (もっと読む)


【課題】表層がTiからなる金属配線の表面に形成される絶縁膜としてプラズマCVD法
により形成された窒化ケイ素膜を用いても、金属配線と導電部材との間の接触抵抗が抑制
された電気光学装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】少なくとも表層がTiからなる金属配線17、18の表面に、プラズマCV
D法によって、第1の絶縁膜37aないし38aを形成した後に窒化ケイ素からなる第2
の絶縁膜37bないし38bを形成し、第2の絶縁膜37bないし38b及び第1の絶縁
膜37aないし38aにプラズマエッチング法によってコンタクトホール51、52を形
成して前記Tiからなる金属配線17、18の表面を露出させる工程を備える電気光学装
置の製造方法であって、前記第1の絶縁膜37aないし38aを、前記窒化ケイ素からな
る第2の絶縁膜37bないし38bの形成時にボール状窒化ケイ素が形成しない材料で形
成する。 (もっと読む)


【課題】金属酸化物を主とした透明導電膜、該透明導電膜の製造方法、および該透明導電膜を含むデバイスを提供すること。
【解決手段】本発明の透明導電膜16は、基材12上に成膜された、添加金属元素を含む金属酸化物の非晶質の前駆体膜14に対し、高周波電界中で希ガスを主として含むガスのプラズマに暴露し、かつ還元条件下での改質処理を施すことにより得られる。
本発明では、非晶質の前駆体膜14をプラズマに暴露させた後、還元雰囲気下でアニール処理を施すことによって還元条件下での改質処理を行うことができる。本発明では、上記金属酸化物は、チタンを主とする金属元素とし、ニオブを前記添加金属元素とする酸化物とすることができる。 (もっと読む)


【課題】共通配線の低抵抗および高開口率を維持しつつ、外光の映り込みがない横電界方式の液晶表示装置及びそれを用いた電子機器の提供。
【解決手段】第1の基板と第2の基板と、該2枚の基板に狭持された液晶層とを有し、該第1の基板には2次元的にマトリクス状に画素が配置され、各画素には少なくとも薄膜トランジスタと画素電極と共通電極とを有し、該マトリクスは複数の映像信号線と複数の走査信号線が交差して形成された横電界方式の液晶表示装置であって、該映像信号線および該走査信号線上には透明絶縁膜が設けられ、該透明絶縁膜上に画素電極と共通電極と共通配線とが設けられ、該共通配線は格子状に形成され、その一方向は金属よりも可視光の反射率が小さい第1の導体からなり、他の一方向は金属層を含む第2の導体からなる。 (もっと読む)


【課題】ガラス基板への密着性が高いと共に、Siを含んだ層へのCuの拡散を抑制し、配線とSiを含んだ層とのコンタクト抵抗を低くすることができる配線を提供することができ、また、当該配線材料を用いた回路基板と、当該配線材料用のターゲット材とを提供する。
【解決手段】本発明に係る回路基板用の配線材料は、Cuよりも優先的にSiとの間でシリサイドを形成するシリサイド形成材と、Siの酸化物生成自由エネルギーよりも酸化物生成自由エネルギーが低い少なくとも1種類の添加物とが添加され、残部がCu及び不可避的不純物からなる。 (もっと読む)


【課題】表示欠陥を完全にリペアすることができ、開口率の低下を伴わない液晶表示装置の製造方法を提供する。
【解決手段】紫外線の照射によって高導電率化されたIn、Ga及びZnを含むアモルファス酸化物のソース領域及びドレイン領域を有する主TFT及び冗長TFTを備え、冗長TFTの透明なドレイン領域を画素電極と重なり合うようにして信号線に設けられたリペア領域にまで延ばして形成する。リペア領域と冗長TFTのドレイン領域の端部とは絶縁層によって絶縁されている。表示欠陥の生じた画素部に対して、主TFTを画素電極から切り離すとともに、冗長TFTのドレイン領域の端部と信号線とをリペア領域において溶着させる。これにより、冗長TFTがスイッチング素子として機能し表示欠陥が完全にリペアされる。 (もっと読む)


【課題】表示パネルに設けられた配線の微細化、低抵抗化
【解決手段】画素領域の周縁部には複数の集積回路212、222が配置されている。また、画素領域の周縁部に沿って複数の配線241〜243が形成されている。かかる複数の配線241〜243は、集積回路212、222を接続している。また、複数の配線241〜243は絶縁層280によって覆われている。また、配線241〜243の長さ方向には、部分的に、配線241〜243の幅方向の断面を大きくした断面拡大部261〜266を備えている。断面拡大部261〜266は、配線241〜243からガラス基板121の厚さ方向に延びた柱部261a〜266aと、他の配線との間に絶縁層280を介在させた状態で、柱部261a〜266aから配線241〜243の幅方向に広がった拡大部261b〜266bとを備えている。 (もっと読む)


【課題】Al合金膜の腐食を抑制でき、透明導電膜との接触電気抵抗も低減された表示デバイスを製造する。
【解決手段】下記(1)〜(4)の工程によってAl合金膜を透明導電膜と直接接触させる。(1)Alよりも貴な金属元素を含むAl合金膜を形成する第1の工程、(2)フォトリソグラフィおよびドライエッチングによってコンタクトホールを形成する第2の工程、(3)フォトリソグラフィで生成したフォトレジストの剥離を行なう第3の工程、(4)透明導電膜を形成する第4の工程と、をこの順序で包含し、第2の工程は、オーバーエッチングにおけるガスの流量比を、SF6/(SF6+O2)の比率で30%以下に制御して前記Al合金膜の表面をAlの酸化物で覆う工程を含み、第3の工程は、pH10.5以上のアルカリ溶液に接触させて前記Alの酸化物を除去する工程を含む。 (もっと読む)


【課題】表示領域内に補助ラインを設けることなく、共通電極を表示領域の外周に設けた電源配線と接続する構成において、透光性を有し、表示領域の全域で抵抗値に差が生じにくい共通電極を備えた液晶表示装置が望まれていた。
【解決手段】共通電極13は、2層構造を有している。すなわち、層間膜18側、およびコンタクトホールCH2において電源配線131と接する側に位置する層は、アルミニウム合金材料層13aである。そして、このアルミニウム合金材料層13aの層間膜18と反対側となる配向膜側には、透明導電材料層13bが積層形成されている。アルミニウム合金材料層13aは、アルミニウムとニッケルの合金、またはアルミニウムとコバルトの合金を材料とする層である。 (もっと読む)


【課題】金属配線と金属酸化物を有する層を形成する際、電蝕といわれる腐食の発生をおさえることにより、半導体装置の動作特性および信頼性を向上させ、歩留まりの向上を実現することを目的とする。
【解決手段】配線は、耐酸化性金属からなる第1の層と、その上に形成されたアルミニウムもしくはアルミニウムを主成分とする第2の層と、その上に形成された耐酸化性金属からなる第3の層からなる3層構造とし、前記配線と電気的に接続する金属酸化物を有する層を有する。また、第2の層の上面及び下面は第1及び第3の層と接し、側面は酸素とアルミニウムを含む酸化層と接する。 (もっと読む)


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