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Fターム[2H096HA30]の内容

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Fターム[2H096HA30]に分類される特許

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【課題】版品質の均等化と向上、作業員の労力負荷の低減化、生産効率の向上、人的コストと製版コストとの低減化を図る。
【解決手段】液状版感光性樹脂凸版2を吊り下げた状態で未硬化樹脂を除去する樹脂回収装置3であって、液状版感光性樹脂凸版2に沿って昇降する未硬化樹脂回収部材305と未硬化樹脂回収部材支持部306とを具備している樹脂回収装置3を提供する。 (もっと読む)


【課題】高密度に金属粒子が存在し、且つ、支持体に対する密着性に優れた画像様の金属膜を備えた薄層金属膜材料を提供すること。
【解決手段】本発明の薄層金属膜材料は、支持体と、該支持体上に重合性基を有するカップリング剤を用いて形成された中間層と、該中間層に対し、架橋性基を有する化合物を含む組成物を接触させた後、該組成物に画像様にエネルギーを付与して生成した、該中間層表面に直接結合してなるポリマーからなる画像様のポリマー層と、該画像様のポリマー層中に含有される金属粒子と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】第一のレジスト組成物としてポジ型レジスト組成物を用い、第二のレジスト組成物としてネガ型レジスト組成物を用いるダブルパターニングプロセスにおいて、ネガ型レジスト組成物を塗布した際の影響の少ないレジストパターンを形成できるポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法の提供。
【解決手段】支持体上に第一のレジスト膜を形成し、露光、現像して第一のレジストパターンを形成し、該レジストパターン上にネガ型レジスト組成物を塗布して第二のレジスト膜を形成し、露光、現像するレジストパターン形成方法において第一のレジスト膜を形成するために用いられ、酸解離性溶解抑制基を含む(α−置換)アクリル酸エステルから誘導される構成単位(a1)と、ラクトン含有単環式基を含む(α−置換)アクリル酸エステルから誘導される構成単位(a2)とを有する樹脂成分(A)および酸発生剤成分(B)を含むポジ型レジスト組成物。 (もっと読む)


【課題】ホールパターンを高密度に形成するパターン形成方法を提供する。
【解決手段】被加工膜1上に複数の柱状の構造物を形成する工程と、複数の構造物に包囲された領域に窪み部が形成されるように、複数の構造物の側壁に側壁膜を形成する工程と、複数の構造物の上、及び窪み部の底部の側壁膜をエッチングして除去する工程と、側壁膜を残し、複数の構造物を選択的にエッチングする工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】本発明は、半導体素子の微細パターン形成方法に関する。
【解決手段】より具体的には被食刻層が備えられた基板上に第1〜第3のマスクパターンからなる積層パターンを形成する段階と、前記第3のマスク膜を食刻バリアに利用して第2のマスクパターンを側面食刻する段階と、前記第3のマスクパターンを除去する段階と、前記第2のマスクパターンの上部を露出するスピンオンカーボン層を形成する段階と、前記スピンオンカーボン層を食刻バリアに利用して被食刻層を露出させる段階と、前記スピンオンカーボン層を除去する段階とを含む半導体素子の微細パターン形成方法に関する。 (もっと読む)


【課題】露光量を厳密に制御せずとも、フォトレジストの層厚精度を高く維持することのできるレジストパターンの形成方法を提供する。
【解決手段】露光装置からの露光光を遮断する遮光領域61と、露光光を完全に透過させる透過領域62と、露光光を部分的に透過させる半透過領域63とを有するハーフトーンマスク60を通して、露光光の吸収係数が高いフォトレジストP1に露光光を照射し、現像処理する。露光光はフォトレジストP1で吸収されるため、ハーフトーンマスク60を通過した露光光は多結晶半導体層12まで届かず、多結晶半導体層12近傍では未露光の状態で残る。そのため、現像条件が過剰となった場合は、未露光部分の現像速度は遅く、過小となった場合は既露光部分の現像速度は速いため、現像条件のばらつきに対してレジストパターンの層厚は安定する。 (もっと読む)


【課題】感光性樹脂組成物を用いたフォトリソグラフィーにより、工程が簡便で、工程歩留まりが高く、高精度な中空構造を有する成形体を安価に作成する方法を確立すること。
【解決手段】基板上に、波長が400nm以上の光に感光しない第1の感光性樹脂層を形成し、第1のマスクを介して波長が400nm未満の光を照射する工程、現像処理を施すこと無く、前記工程により感光処理された第1の感光性樹脂層の上に、波長が400nm以上の光に感光する固形分90重量%以上の固形又は半固形の第2の感光性樹脂層を形成し、第2のマスクを介して波長が400nm以上の光を照射する工程、前記第1及び第2の感光性樹脂層に一括で加熱処理を施す工程、及び前記第1及び第2の感光性樹脂層の未感光部を一括で現像する工程を有する、中空構造を有する成形体の製造法。 (もっと読む)


【課題】インクジェット法において有用である、除去可能な撥液性層を容易に形成することができる感光性樹脂組成物を提供すること。
【解決手段】パーフルオロアルキル基含有重合性不飽和モノマーと、ターシャリーブチル基で保護されたカルボキシル基を有する重合性不飽和モノマーおよび/またはターシャリーブチルオキシカルボニル基で保護されたフェノール基を有する重合性不飽和モノマーと、を少なくとも共重合することにより得られる、パーフルオロアルキル基含有樹脂(A);および、露光により酸を生じる光活性剤(B);を含む、感光性樹脂組成物。 (もっと読む)


【課題】インクの残渣が発生しにくい隔壁と、インクの濡れ性に優れたドットを形成しうる含ケイ素重合体を含む感光性組成物の提供。
【解決手段】エチレン性二重結合を有する単量体の2種以上の共重合体であって、ケイ素原子含有基を有する側鎖と、側鎖1つにエチレン性二重結合を2つ以上有する側鎖とを有する含ケイ素重合体(A)と、1分子内に酸性基とエチレン性二重結合とを有する感光性樹脂(B)と、光重合開始剤(C)とを含有する組成物であって、組成物の全固形分における含ケイ素重合体(A)の割合が0.1〜25質量%である感光性組成物。 (もっと読む)


【課題】レジストをエッチングマスクとして用いず、またリフトオフ法を用いることなくパターン形成が可能となるパターンの形成方法等を提供する。
【解決手段】パターンの形成方法であって、
母材上の薄膜の表面に、レジストによるパターンを形成する工程と、
レジストによるパターンの上に、反転層を形成する工程と、
反転層を前記レジストの表面が露出するまで除去した後に、レジストを除去することにより、レジストによるパターンと相補的な前記反転層による反転パターン形成する工程と、
反転層による反転パターンをマスクとして前記薄膜をエッチングし、該薄膜上に反転層を有する該薄膜によるハードマスク層を形成し、該ハードマスク層をマスクとして、または薄膜上の前記反転層を除去したハードマスク層をマスクとして、母材をエッチングする工程と、を有する構成とする。 (もっと読む)


【課題】基板に形成されたレジストパターンとミキシングすることがなく、且つこのパターン間に良好に埋め込むことができると共に、酸素アッシング耐性及び保存安定性に優れるパターン反転用樹脂組成物及び反転パターン形成方法を提供する。
【解決手段】本反転パターン形成方法は、基板上にレジストパターンを形成する工程と、パターン間にパターン反転用樹脂組成物を埋め込む工程と、レジストパターンを除去し、反転パターンを形成する工程と、を備えるものであって、パターン反転用樹脂組成物は、ポリシロキサン及び有機溶剤を含有し、且つポリシロキサンは、[RSiX4−a](Rは炭素数1〜3のアルキル基、Xは塩素原子又は−OR、Rは炭素数1〜4のアルキル基、aは1〜3の整数である)で表される1種又は2種以上の化合物を加水分解及び/又は縮合させて得られたものである。 (もっと読む)


【課題】ダブルパターニング法における工程数を低減できる新規なパターン形成方法を提供する。
【解決手段】支持体1上に第一の化学増幅型レジスト組成物を塗布して第一のレジスト膜2を形成し、第一のレジスト膜2を選択的に露光し、現像して複数のレジストパターン3を形成し、レジストパターン3の表面にそれぞれ金属酸化物膜からなる被覆膜4を形成して複数の被覆パターン5を形成し、該被覆パターン5が形成された支持体1表面をアルカリ処理し、該被覆パターン5が形成された支持体1上に第二の化学増幅型レジスト組成物を塗布して第二のレジスト膜6を形成し、第二のレジスト膜6を選択的に露光し、現像することにより、複数の被覆パターン5と、第二のレジスト膜6に形成されたレジストパターン7とからなるパターンを支持体上に形成する。 (もっと読む)


【課題】ダブルパターニング法における工程数を低減できる新規なパターン形成方法を提供する。
【解決手段】支持体1上に第一の化学増幅型レジスト組成物を塗布して第一のレジスト膜2を形成し、第一のレジスト膜2を選択的に露光し、現像して複数のレジストパターン3を形成し、レジストパターン3の表面にそれぞれ金属酸化物膜からなる被覆膜4を形成して複数の被覆パターン5を形成し、該被覆パターン5に対して200℃以上の温度でベーク処理を施し、該被覆パターン5が形成された支持体1上に第二の化学増幅型レジスト組成物を塗布して第二のレジスト膜6を形成し、第二のレジスト膜6を選択的に露光し、現像することにより、複数の被覆パターン5と、第二のレジスト膜6に形成されたレジストパターン7とからなるパターンを支持体上に形成する。 (もっと読む)


【課題】第一のレジスト膜上に第一のレジストパターンを形成した後、第一のレジストパターンの上に第二のレジスト膜を形成し第二のレジストパターンを形成するために、第一のレジストパターンに対して化学的な処理を行って第二のレジスト液に溶解しないように性状を変化させるフリージングプロセスにおいて、第一のレジストパターンが第二のレジスト液に溶解せず、第一のレジストパターンの寸法が変化しない、更には、第一のレジストパターンと第二のレジストパターンのドライエッチング耐性が同じであるという要件を満たすように、第一のレジストパターンに対して化学的な処理を行う為のフリージングプロセス用の表面処理剤及びそれを用いたパターン形成方法を提供する。
【解決手段】ヘテロ原子を骨格に有する環状構造を有する特定の化合物を含有するパターン形成用表面処理剤、及び、当該表面処理剤を用いたパターン形成方法。 (もっと読む)


【課題】第一のレジスト膜上に第一のレジストパターンを形成した後、第一のレジストパターンの上に第二のレジスト膜を形成し第二のレジストパターンを形成するために、第一のレジストパターンに対して化学的な処理を行って第二のレジスト液に溶解しないように性状を変化させるフリージングプロセスにおいて、第一のレジストパターンが第二のレジスト液に溶解せず、第一のレジストパターンの寸法が変化しない、更には、第一のレジストパターンと第二のレジストパターンのドライエッチング耐性が同じであるという要件を満たすように、第一のレジストパターンに対して化学的な処理を行う為のフリージングプロセス用の表面処理剤及びそれを用いたパターン形成方法を提供する。
【解決手段】アミノ基および芳香族環を有する特定の化合物を含有するパターン形成用表面処理剤、及び、当該表面処理剤を用いたパターン形成方法。 (もっと読む)


【課題】認識マークの脱落を確実に防止することができるとともに、箔物に対しても容易に認識マークを形成することができるメタルマスクを得る。
【解決手段】半田ペースト等をプリント配線板に塗布形成するための開口パターンが形成されたメタルマスク1の一面上に、薄膜状のレジスト2を形成する第1の工程と、メタルマスク1の一面上から、認識マークを形成する部分のレジスト2を除去する第2の工程と、メタルマスク1の認識マークを形成する部分と電極4とを電解液5に浸して、メタルマスク1と電極4とを交流電源6に接続することにより、メタルマスク1の一面の所定位置に、電解処理によって、他の部分よりも濃い色の皮膜1bを形成する第3の工程と、皮膜を形成した後、メタルマスク1の一面上からレジスト2を除去する第4の工程とによって、メタルマスク1を製造する。 (もっと読む)


【課題】ダブルパターニングの解像度を最大限に発揮し得るパターン形成方法を提供することにある。
【解決手段】基板101上に下層膜102、中間層膜103、及び第1のレジスト膜104を形成した後、1回目の露光を行い、第1のレジストパターン104aを形成する。その後、第1のレジストパターン104aを中間層膜103に転写して、第1の中間層パターン103aを形成した後、その上に第2のレジスト膜107を形成し、2回目の露光を行い、第2のレジストパターン107aを形成する。その後、第2のレジストパターン107aを中間層膜103に転写して、第2の中間層パターン103bを形成する。第2のレジスト膜107を除去後、第2の中間層パターン103bをマスクに下層膜102をエッチングして、下層膜パターン102bを形成する。 (もっと読む)


【課題】
カラーフィルタの特性低下を防止したカラーフィルタの製造方法を提供すること。
【解決手段】
第1の着色層塗布工程と、所望の大きさよりも大きく第1の着色層20を形成する第1の着色層形成工程と、第2の着色層塗布工程と、フォトレジスト層形成工程と、フォトレジスト層22を第3の着色層23を形成するパターン様に除去する画像形成工程と、エッチング工程と、フォトレジスト層除去工程と、3の着色層塗布工程と、第1の着色層20が露出するまで平坦化する平坦化工程とによりカラーフィルタを製造する。 (もっと読む)


【課題】 凹部の均一な形状、凹部エッジの真直性、凹部深さの精度が得やすく、さらに、耐久性に優れる凹版とその製造法を提供する。
【解決手段】 少なくとも表面にダイヤモンドライクカーボン又は無機材料を有し、その表面に転写物を保持するための凹部が形成されており、しかも、その凹部が開口方向に向かって幅広に形成されている凹版であり、(A)凹版用基材の表面に、除去可能な凸状のパターンを形成する工程、(B)除去可能な凸状のパターンが形成されている凹版用基材の表面に、ダイヤモンドライクカーボン又は無機材料からなる膜を形成する工程及び(C)凸状のパターンを除去する工程を含む方法により製造することができる。 (もっと読む)


【課題】良好な形状を有する微細なパターンを得ることのできるダブルパターニングを用いたパターン形成方法を提供することにある。
【解決手段】基板101上に下層膜102、中間層膜103を形成した後、第1のレジスト膜104を用いた1回目のパターン露光、及び第2のレジスト膜107を用いた2回目のパターン露光で形成されたレジストパターンを中間層膜103に転写し、さらに中間層パターン103bをマスクに下層膜102下層膜102をエッチングして下層膜パターン102bを形成する。ここで、第1及び第2のレジスト膜104、107は、化学増幅型のレジスト膜であり、第2のレジスト膜107は、第1のレジスト膜104よりも、レジストの感度を向上させる添加物、若しくはレジスト露光部のアルカリ溶解性を向上させる添加物を多く含んでいる。 (もっと読む)


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