説明

Fターム[5F031HA53]の内容

ウエハ等の容器、移送、固着、位置決め等 (111,051) | 処理時の固着、保持 (16,861) | ステージ、チャック、サセプタ (15,090) | 動作 (3,584) | 微動テーブル(精密位置決め) (1,086)

Fターム[5F031HA53]の下位に属するFターム

Fターム[5F031HA53]に分類される特許

41 - 60 / 941


【課題】ワークローダから基板ステージに搬送される基板Wの歪みを低減して、基板をワークチャックに載置することができる露光装置及び露光方法を提供する。
【解決手段】基板ステージ11のワークチャック31には、該ワークチャック31の表面から進出可能な複数の吸着ピン70が直線状に複数列で設けられており、制御部4は、基板ステージ11がワークローダ3から基板Wを受け取る際、吸着ピン70の吸着の有無を制御する。 (もっと読む)


【課題】 4軸制御の原点復帰動作を駆動軸同士の機械的な姿勢の相互干渉を抑えた状態で可能にする。
【解決手段】 XYθガイドとボールねじ直動機構からなる駆動ユニットを4台備えた4軸アライメントステージにて、各駆動ユニットに仮の原点位置を設定して(S1)、それを基準に4軸制御による原点復帰動作を行う(S3)。次いで、全軸同時サーボオフを行い(S4)、その直後に生じる各駆動ユニットのガイドブロックの移動量を計測し(S5)記憶させる(S6)。その後、移動量の計測値を補正量として各駆動ユニットの仮の原点位置を補正し(S7)、補正後の仮の原点位置を基準とする原点復帰動作と、全軸同時サーボオフ直後の移動量の計測及び記憶と、移動量の計測値を補正量とする仮の原点位置の補正を繰り返し、全軸同時サーボオフ直後の移動量が収束したときの仮の原点位置を、4軸制御による実際の原点復帰動作用の原点位置に設定する。 (もっと読む)


【課題】基板ステージ上の基板の搬出を迅速に行う。
【解決手段】 基板ホルダ30aには、基板Pの搬送に用いられる基板トレイ40aを収容するX溝31xが形成されている。また、X溝31x内には、基板トレイ40aを押圧して基板トレイ40aと共に基板Pを移動させる基板搬出装置70aが設けられている。このため、基板Pに対する露光処理が終了した後、基板Pの交換のために基板ステージ20aを基板交換位置に位置させる前に基板Pの搬出動作を開始することができる。 (もっと読む)


【課題】基板ステージ上の基板の交換を迅速に行う。
【解決手段】基板ステージ20aは、基板ホルダ30aから加圧気体を噴出して基板Pを浮上させ、基板搬出装置93は、基板ホルダ30aの上面(基板載置面)をガイド面として基板Pを水平面に沿って移動させることにより基板ホルダ30aから搬出する。次に露光予定の別の基板Pは、基板Pの搬出動作が行われる際、基板ホルダ30aの上方に待機しており、基板Pの搬出動作完了後に基板ステージ20aが有する数の基板リフト装置46aに受け渡される。 (もっと読む)


【課題】基板ステージ上の基板の交換を迅速に行う。
【解決手段】 基板ステージ20aは、基板ホルダ30aから加圧気体を噴出して基板Pを浮上させ、基板ホルダ30aに内蔵された基板搬出装置70aを用いて、基板ホルダ30aの上面(基板載置面)をガイド面として基板Pを水平面に沿って移動させることにより基板ホルダ30aから搬出する。このため、基板Pに対する露光処理が終了した後、基板交換のために基板ステージ20aを基板交換位置に位置させる前に基板Pの搬出動作を開始することができる。次に露光予定の別の基板Pは、基板Pの搬出動作が行われる際、基板ホルダ30aの上方に待機しており、基板Pの搬出動作完了後に基板ステージ20aが有する数の基板リフト装置46aに受け渡される。 (もっと読む)


【課題】運動性能の向上した基板ステージ装置を提供する。
【解決手段】 基板ステージ20は、X軸方向に関する位置を個別に制御可能であってY軸方向に関して互いに分離して配置される第1Xテーブル24aと第2Xテーブル24bとを含み、X軸方向に沿って移動するX粗動ステージ23xと、基板Pを保持し、X粗動ステージ23xに誘導されて少なくともX軸方向に沿って移動する微動ステージ30と、Y軸方向に関して第1Xテーブル24aと第2Xテーブル24bとの間に配置され、微動ステージ30を下方から支持し、微動ステージ30と共に少なくともX軸方向に沿って移動可能な重量キャンセル装置50と、を備える。 (もっと読む)


【課題】電磁石と吸引ターゲットとの間のギャップの大きさの変動による位置決め精度の低下を防止する。
【解決手段】位置決め装置は、第1部材と第2部材との相対位置を制御するように構成され、前記第1部材に固定された電磁石と、前記電磁石によって吸引されるように前記第2部材に固定された吸引ターゲットと、前記電磁石が発生する磁束値を検出する磁束センサと、前記電磁石と前記吸引ターゲットとの間のギャップの大きさに応じて磁束指令値を補正することによって得られた補正磁束指令値と前記磁束センサによって検出された磁束値との偏差に応じて前記電磁石を駆動する駆動部とを備える。 (もっと読む)


【課題】コイルユニットの収容部に生じる温度分布を抑制できるモータ装置を提供する。
【解決手段】固定子11と可動子12との一方にコイルユニットCUが設けられ、固定子と可動子との他方に発磁ユニット13,15が設けられる。収容部材31に囲まれた収容空間32にコイルユニットを収容する収容部30と、収容部材の外側に設けられ収容部材との間に気体流動空間40、41を形成する空間形成部35、36と、気体流動空間に気体を流動させる気体流動装置FLとを備える。 (もっと読む)


【課題】マスクをプリアライメントする際に、マスクとマスクが接する面との間の摩擦によってマスクが損傷するのを防止することが可能な露光装置を提供する。
【解決手段】基板Wに対してマスクMを介して露光用光ELを照射し、基板WにマスクMのパターンPを露光する近接スキャン露光装置1は、マスクチェンジャー120のマスクトレー部121は、マスクMの下面にエアを供給して、マスクMを浮上させるエア供給機構125と、浮上したマスクMの端面と当接して、マスクMを位置決めするマスク用位置決めピン196と、浮上したマスクMの端面をマスク用位置決めピン196に向けて押圧する押圧機構198と、を有する。 (もっと読む)


【課題】 次世代リソグラフィの半導体デバイス製造への導入を可能とするオーバーレイ制御方法を提供すること。
【解決手段】 実施形態のオーバーレイ制御は、基板上の第1の層の第1のパターンと、前記基板上の第2の層の第2のパターンとの間の合わせずれを、前記第2の層にて測定することを含む。ここで、前記第1の層は前記第2の層としてよりも低い層である。実施形態のオーバーレイ制御は、さらに、前記第2の層から前記第1の層にフィードバック情報を提供することを含む。ここで、前記フィードバック情報は、前記測定した合わせずれと前記第2の層に関連した許容範囲とを含み、前記許容範囲は、前記第2の層にて補正可能な合わせずれの程度を示す。 (もっと読む)


【課題】基材支持の装置及び方法を開示する。
【解決手段】ステージミラーに対する基材チャックの変位を感知し、ステージミラーへ結合されているZステージアクチュエータ及びXYステージアクチュエータのうちの一方又は両方を有する1つ以上のフィードバックループにおける変位に比例する信号を結合することによって、ステージミラーに対する基材チャックの運動が動的に補償される。これに代えて、基材支持装置は、Zステージプレート、ステージミラー、Zステージプレートへ取り付けられている1つ以上のアクチュエータ、及びステージミラーへ取り付けられている基材チャックを含み得る。基材チャックは基材チャックの6つの運動自由度に対する拘束を有する。アクチュエータはZステージプレートがZ方向に垂直な平面において走査されるとき、ZステージをZ方向へ運動させる。 (もっと読む)


【課題】安定してY軸移動体を移動させることができるステージ装置を提供すること。
【解決手段】ステージ装置1Aは、X軸移動体6と、X軸固定子51、及びX軸可動子52を有するX軸シャフトモータ5と、Y軸移動体4と、Y軸固定子、及びY軸可動子を有するY軸シャフトモータ3とを備え、X軸固定子51の一端部51aが第1Y軸移動体4aに固定され、X軸固定子51の他端部51bが第2Y軸移動体4bにX軸固定子51のX軸方向の伸長を許容するように連結されている。これにより、X軸移動体6の駆動に伴いX軸固定子51が熱膨張した場合に、X軸固定子51の伸長が他端部51b側で解放される。 (もっと読む)


【課題】作業時間の増大や製品制度の低下を招くことなく、平坦な状態で対象ワークを保持することのできる吸着ステージを提供する。
【解決手段】露光光が結像されて所定のマスクパターンが露光される対象ワーク22を平坦な載置面40b上で保持する吸着ステージ(40)であって、載置面40bに対する対象ワーク22の姿勢を固定すべく対象ワーク22を吸着可能な固定吸着機構60と、載置面40bと面当接させるべく対象ワーク22を吸着可能な平面吸着機構70と、を備え、平面吸着機構70は、載置面40bを開口する複数の平面吸着孔71を有し、載置面40b上における任意の一点から外縁へ向けて順に各平面吸着孔71による吸着動作を開始する。 (もっと読む)


【課題】基板テーブルを保持するように構築されたチャックを含むリソグラフィ装置、オブジェクトを配置するステージ装置、及びデバイス製造方法を提供する。
【解決手段】リソグラフィ装置は、放射ビームを調整するように構成された照明システムILと、放射ビームの断面にパターンを与えて、パターン付き放射ビームを生成することができるパターニングデバイスMAを支持するように構築された支持体MTと、基板Wを保持するように構築された基板テーブルWTと、パターン付き放射ビームを基板のターゲット部分に投影するように構成された投影システムPSと、基板Wを保持するように構築されたチャックと、使用時にチャックを変位する位置決めデバイスと、位置決めデバイスを制御するように構成された制御ユニットとを備え、制御ユニットはチャックの変形を可能にする実質的に動的な力によってチャックを励起するように構成される。 (もっと読む)


【課題】処理装置内における基板の位置ズレを、処理装置の改造や機能追加なしに、低コストで実現する基板検査システム、プログラム及びコンピュータ可読記憶媒体を提供すること。
【解決手段】基板検査システムに、処理装置21で処理が施された基板の基板表面を撮影する撮影装置11と、撮像装置11で撮像された基板Wの表面の基板画像に関して上記処理が施された処理領域のエッジを抽出する画像処理部12と、基板画像のエッジに基づいて、処理装置21のあらかじめ定められた基板位置に対する基板Wの位置の位置ズレを測定する位置ズレ測定部13と、位置ズレ測定部13の出力に基づいて将来の位置ズレを予測する位置ズレ予測部14と、位置ズレ測定部13が測定した位置ズレを処理装置21の処理履歴と関連付けて時系列として出力する出力部15とを形成する。 (もっと読む)


【課題】ミラー表面の外乱を補償する。
【解決手段】リソグラフィ装置は、基板テーブルWT内で横ミラー66、68を使用して、基板テーブルWTの位置測定に対する基板テーブルWTの熱歪みの影響を補償するシステムを備えている。様々な基板テーブルスキャン軌跡、および基板テーブルWT内の横ミラー66、68の局所位置および回転の測定を使用してリソグラフィ装置をキャリブレーションする方法が、提示されている。基板テーブルWTが測定ステーションにある場合に、横ミラー66、68の幾何形状を測定するように露光ステーションでのみ使用される横ミラー66、68の幾何形状を規定するアライメントマークを備えたデュアルステージリソグラフィ装置。 (もっと読む)


【課題】液浸領域の液体に接触する部材の汚染に起因する露光精度及び計測精度の劣化を防止できる露光装置を提供する。
【解決手段】露光装置EXSは、投影光学系PLの像面側に液体LQの液浸領域AR2を形成し、投影光学系PLと液浸領域AR2の液体LQとを介して基板Pを露光するものであって、液浸領域AR2を形成するための液体LQに接触する基板ステージPSTの上面31などに対して、光洗浄効果を有する所定の照射光Luを照射する光洗浄装置80を備えている。 (もっと読む)


【課題】基板テーブルの移動を駆動するより効率的な方法を提供する。
【解決手段】キャリアと、直交軸X及びYを基準にして画定された平面でキャリアを投影システムに対して移動させる駆動システムとを備え、駆動システムは、Y軸に平行に移動するように構築され、配置されたシャトルと、シャトルをキャリアに接続するシャトルコネクタであって、シャトルに対してX軸に平行な方向にキャリアを移動させることができるようなシャトルコネクタと、Y軸に平行なシャトルの移動を駆動するシャトルドライバとを備え、シャトルはX軸に平行な方向のキャリアの片側だけに位置し、シャトルの1つだけがキャリアに接続され、シャトルドライバ及びシャトルコネクタは、駆動システムによってキャリアに加えられる力のY成分の少なくとも10%を供給するように構成される。 (もっと読む)


【課題】例えば、リソグラフィ装置において物体を熱的に調整するための装置を提供する。
【解決手段】リソグラフィ装置は、パターニングデバイスから基板にパターンを転写するよう構成されている。リソグラフィ装置は、第1の物体と、第2の物体への又は第2の物体からの熱移動を改善するために第1の物体に搭載されている平面部材と、を有する。 (もっと読む)


【課題】磁性体を一部に含む磁性体部と、該磁性体部をほぼ取り囲んだ状態で形成された空所部とを有する物体を簡単に加工する。
【解決手段】 加工装置は、磁性体を一部に含む磁性体部と、該磁性体部をほぼ取り囲んだ状態で形成された空所部とを有する物体Mを保持可能な保持面を有し、複数のマイクロコイルMCを有する電磁チャック20と、電磁チャック20を前記保持面と交差する方向に移動させる移動装置と、を備えている。移動装置が、該電磁チャック20の複数のマイクロコイルMCにより物体Mの前記磁性体部が磁気吸着され、かつ前記空所部が磁気吸着されない状態で、電磁チャック20を前記保持面と交差する方向に移動させることにより、磁性体部及びこれに連結された部分を電磁チャック20の移動方向に応じて変形させることが可能となる。 (もっと読む)


41 - 60 / 941