説明

Fターム[5F031KA06]の内容

ウエハ等の容器、移送、固着、位置決め等 (111,051) | 位置決め (4,282) | ステージ等の載置部ごと動かすもの (1,981) | 水平(X−Y)方向 (832)

Fターム[5F031KA06]に分類される特許

101 - 120 / 832


【課題】基板の反り量が大きい場合等であっても適切な露光を行うことができ、好ましくは基板内のチップ等の損傷を回避することもできる露光装置及び露光方法を提供する。
【解決手段】露光装置には、ステージ3上に載置された基板12に光を照射する光源1と、光源1側から基板12をステージ3に押圧する押圧部材2と、基板12の押圧部材2により押圧されている領域の平坦度を測定するセンサ4と、センサ4により測定された平坦度に応じて押圧部材2が基板12を押圧する力を制御する制御部5と、が設けられている。 (もっと読む)


【課題】リソグラフィ装置において基板テーブルからウェーハをリリースするためのさらに信頼性の高い基板テーブルを提供する。
【解決手段】リソグラフィ装置が、放射ビームを調整する照明システムと、パターニングデバイスを支持するサポートとを備える。パターニングデバイスは、放射ビームの断面にパターンを与えてパターン付き放射ビームを形成することが可能である。また、この装置は、基板を保持する基板テーブルと、基板のターゲット部分上にパターン付き放射ビームを投影する投影システムとを備える。基板テーブルは、ウェーハの下部表面の対応する部分を支持する複数の突起部を有するチャックを備える。突起部の少なくとも1つの頂部表面が、基板と突起部の頂部表面との間に縮小された接触面を画定する複数のエレメントを備える。 (もっと読む)


【課題】専用のプリアライメント装置を設けることなく、短時間で且つ精度良く基板を基板ステージに搭載して、タクトタイムを短縮することができる露光ユニットを提供する。
【解決手段】露光ユニット1は、露光装置PEと、ロボット87と、制御部88と、処理ユニット84に供給された基板Wの位置情報を検出するセンサ100a,100b,100cと、を備える。制御部88は、センサ100a,100b,100cの検出結果と所定の基準位置とのズレ量を算出し、当該ズレ量に基づいてロボット87のアーム部90を処理ユニット84から基板ステージ20に移動しながら、基板Wを基準位置にプリアライメントする。 (もっと読む)


【課題】基板搬送途中に発生する基板の位置ずれを補正する。
【解決手段】基板の外形を観察することにより基板の位置を把握する外形観察部と、基板に設けられた指標を観察することにより、基板の位置を外形観察部よりも詳細に把握する指標観察部と、外形観察部から指標観察部へ基板を搬送する搬送部と、外形観察部から指標観察部への搬送経路上に配され、搬送中の基板の位置ずれを補正する位置補正部とを備える基板搬送装置が提供される。 (もっと読む)


【課題】周辺露光処理後の基板の検査を適切に行いつつ、当該検査を含む基板処理のスループットを向上させる。
【解決手段】ウェハ処理装置42は、ウェハWを保持する保持部120と、保持部120を回転させると共に、受渡位置P1と周辺露光位置P2との間で保持部120を移動させる駆動部121と、周辺露光位置P2においてウェハWの周縁部を露光する露光部140と、露光部140の上方に設けられ、ウェハWを撮像する撮像部150と、保持部120に保持されたウェハWと撮像部150との間で形成される光路の方向を変更させる方向変換部153とを有している。方向変換部153は、第1の反射鏡154、第2の反射鏡155及び第3の反射鏡156を有し、第2の反射鏡155及び第3の反射鏡156によってウェハWと撮像部150との間で形成される光路が折り返される。 (もっと読む)


【課題】基板重ね合わせ装置のスループットを向上させる。
【解決手段】基板重ね合わせ装置は、第1基板を保持する第1テーブルと、第1基板に対向する向きに第2基板を保持する第2テーブルと、第1テーブルと第2テーブルの少なくとも一方を移動する移動部と、移動部を制御する制御部とを備え、制御部は、対向する向きである対向方向および対向方向に直交する面方向に第1基板および第2基板がずれた初期位置と、第1基板および第2基板が互いに重なり合う位置との間で、対向方向に対して交差する交差パスを含む搬送パスを生成する。 (もっと読む)


【課題】リソグラフィ装置の処理能力を大きく損なうことなく、重ね合わせ精度を向上させる方法及び装置を提供する。
【解決手段】露光条件を最適化するために基板の露光時に基板上の位置合わせ標識を検査する。基板10が露光及び位置合わせユニット15の真下で走査を受けるとき、基板のそれぞれの部分が最初に検出器ユニット16の下方を通過し、次いで露光ユニット17の下方を通過する。したがって、基板10のそれぞれの部分に関して検査器ユニット16によって測定された、直線位置、配向、及び膨張に関する情報が露光ユニット17に伝達可能であり、基板が露光ユニット17の真下を通過しながら基板が露光されるとき、基板の当該部分に関する露光条件を最適化することができる。 (もっと読む)


【課題】比較的軽量で、加速度を受けても変形が少ない搬送部材を提供する。
【解決手段】対象物を搬送するための搬送用部材であって、前記対象物が載置される一方主面12Aを備える、セラミックスを主成分とする板状部12と、該板状部12の他方主面に接合された、前記板状部12と略同一のヤング率を有する肋材部14と、前記板状部12の前記他方主面12Bと前記肋材部14とを接合する接合層とを有しており、該接合層の厚さをT、前記接合層のヤング率をY1、前記板状部12および前記肋材部14のヤング率をY2としたとき、Y1≦Y2であり、下記式(1)で表すαが、0<α≦1.16を満たすことを特徴とする搬送用部材を提供する。
(もっと読む)


【課題】流出した液体による被害の拡大を防止し、露光処理及び計測処理を良好に行うことができる露光装置を提供する。
【解決手段】露光装置(EX)は、移動可能なテーブル(PT)と、テーブル(PT)の移動を案内する上面(41A)を有するベース部材(41)と、ベース部材(41)の上面(41A)に液体(LQ)が有るか否かを検出する検出装置(60)とを備えている。 (もっと読む)


【課題】改良されたリソグラフィ装置、特にオーバーレイおよび結像の性能を改善したリソグラフィ装置を提供することが望ましい。
【解決手段】リソグラフィ装置は、放射ビームを調節する照明システムと、放射ビームの断面にパターンを付与してパターン付与された放射ビームを形成可能なパターニングデバイス、を支持するよう構成されたサポートと、基板を保持するよう構成された基板テーブルと、基板テーブルを基準構造に対して位置決めするためのステージシステムと、パターン付与された放射ビームを基板のターゲット部分に投影する投影システムと、センサ部と光学部とを有する光学測定システムと、を備える。光学部は、パターン付与された放射ビームと光学的に相互作用し、その相互作用の結果を出力としてセンサ部に送信する。光学部は基板テーブルに設けられ、センサ部はステージシステムまたは基準構造に設けられる。 (もっと読む)


【課題】可動テーブルの重量を増加させることなく、ステージ停止時における十分な制動力を発生するブレーキ機構を有するステージ装置を構成する。
【解決手段】ステージ機構1は、Xベース120の上に固定されるX方向の案内機構としてのXガイド121と、これに拘束されてX方向に移動可能なXテーブル122と、これに可動部を固定されたXアクチュエータ123と、Xベース120の上に固定されたXテーブル122の制動機構であるXブレーキ124などから構成される。制御装置2は、ステージ停止時にXブレーキ124をXテーブル122の下面に押し付けて制動力を発生させ、ステージ停止後にはXアクチュエータをサーボ制御をオフにする位置決め制御を行う。 (もっと読む)


【課題】加工不良や剥離不良をより抑制可能な態様で保護テープを半導体ウエハに貼り付けることが可能な技術を提供する。
【解決手段】円周状に伸びる外周縁を有する半導体ウエハ50に、円周状に伸びる外周縁を有する保護テープ60を貼り付けて半導体装置を製造する製造方法であって、半導体ウエハ50の端部50bの位置を検出する端部検出工程と、検出した位置を用いて位置合わせして、半導体ウエハ50の表面に保護テープ60を貼り付ける貼付工程を有する。 (もっと読む)


【課題】所定の処理を円滑に実行できるプレート部材を提供する。
【解決手段】プレート部材は、基板を保持する基板保持部を有し、露光液体を介して露光光で基板を露光する露光装置において、基板保持部に保持されて使用される。プレート部材は、基材と、表面の少なくとも一部を形成し、液体に対して撥液性の第1膜と、基材と第1膜との間の少なくとも一部に配置され、基材と異なる色相を発現する第2膜と、を備える。 (もっと読む)


【課題】流出した液体に起因する不都合の発生を防止できる露光装置を提供する。
【解決手段】流出した液体に起因する不都合の発生を防止できる露光装置を提供する。露光装置は、周壁部(33)と周壁部(33)の内側に配置された支持部(34)とを有し、周壁部(33)に囲まれた空間(31)を負圧にすることによって基板(P)を支持部(34)で支持する基板ホルダ(PH)と、周壁部(33)の内側に設けられた回収口(61)と回収口(61)に接続する真空系(63)とを有する回収機構と備え、周壁部(33)の上面(33A)と基板(P)の裏面(Pb)とが第1距離だけ離れた状態で、基板(P)の外周から浸入した液体(LQ)を吸引回収する。 (もっと読む)


【課題】等速移動中のステージに保持された基板の高さを正確に計測することが可能な露光装置を提供する。
【解決手段】基板4を走査する第1方向および前記投影光学系の光軸に沿う第2方向に前記ステージを位置決めする位置決め機構25と、前記第1方向に沿って間隔を置いて位置する複数の計測点で前記基板の高さを計測する計測器16と、制御器26とを備え、前記計測器により第1計測点で前記基板の高さを計測し、前記第1計測点で計測された高さに基づいて前記位置決め機構により前記ステージ5を前記第2方向に位置決めしながら前記基板を露光する。 (もっと読む)


【課題】アライメントマークの位置を計測する時間の短さの点で有利な位置計測装置の提供。
【解決手段】位置計測装置の制御部は、撮像系のテレセントリシティに関する情報を予め記憶し、基板に形成された複数のアライメントマークのうち少なくとも1つに関して、ステージの位置制御により撮像系に対するフォーカス調整を行って撮像系に撮像を行わせ、撮像によるアライメントマークの信号に基づいてX−Y平面に平行な面における位置を求め、フォーカス調整のなされた少なくとも1つのアライメントマークに関して、基板表面の第1の位置を検出系に検出させ、他のアライメントマークに関して、フォーカス調整を行わずに、撮像系に撮像を行わせ、かつ基板表面の第2の位置を検出系に検出させ、撮像によるアライメントマークの信号と第1の位置と第2の位置とテレセントリシティに関する情報とに基づいて、X−Y平面に平行な面における位置を求める。 (もっと読む)


【課題】外縁位置や方位マークの検出を確実に精度良く行うことができるようにすること。
【解決手段】ウエハWのオリフラOFやVノッチN、外縁位置を検出し、その位置データを出力するカメラ18と、ウエハWの外縁全域からはみ出す大きさに設けられるとともに、当該ウエハWを支持可能な支持面20を有する支持手段15と、支持面20内で支持手段15を回転させる回転手段16と、カメラ18の検出領域ARに向かって発光する発光手段19とを備えて位置検出装置11が構成されている。支持手段15は、発光手段19の光を透過可能な素材によって支持面20を形成する。発光手段19は、支持面20を平面視したときに当該支持面20からはみ出さない位置に設けられている。 (もっと読む)


【課題】ストッパにより移動が制限された移動体をストッパから離間させる。
【解決手段】 ステージ復帰装置70は、ステージ装置20をストッパ50から離間させる方向に駆動するエアジャッキ72を有している。エアジャッキ72に供給されるエアの制御は、メカニカルバルブ73のスプール78bの操作により行われる。スプール78bは、X粗動ステージ23Xが有するカムフォロア90a、90bに機械的に係合可能なカム89a、89bを有するレバー86を含むバルブ操作機構74により操作される。これにより、例えばX粗動ステージ23Xの位置を検出するための電気的なセンサ類、メカニカルバルブ73を操作するための電動アクチュエータ、上記センサ類、電動アクチュエータなどを制御するための制御系などを必要としない。従って、構成が簡単で低コストである。 (もっと読む)


【課題】基板支持装置上に載置された基板の位置を修正する。
【解決手段】 基板Pは、基板トレイ90上に載置された状態で基板搬入装置80により搬送される。基板搬入装置80は、搬送時における基板Pの移動経路上に基板PのX軸方向、Y軸方向、及びθz方向に関する位置情報を計測する基板位置検出装置を有し、その計測結果に基づいて押圧装置88a、89a、88b、89bを用いて基板トレイ90上で基板Pの位置調整(アライメント)を行う。この際、基板トレイ90は、基板Pの下面に対して加圧気体を噴出し、該基板Pを浮上支持する。 (もっと読む)


【課題】基板位置合せ過程の時間を短縮する。
【解決手段】一の基板を保持する第1のテーブルと、他の基板を保持する第2のテーブルと、第1のテーブルに保持された一の基板の表面に設けられた指標を観察する第1の顕微鏡と、第2のテーブルに保持された他の基板の表面に設けられた指標を観察する第2の顕微鏡と、一の基板における複数の指標のうちの最初の指標から最後の指標を観察するまでの観察時間と、他の基板における複数の指標のうちの最初の指標から最後の指標までの観察時間とが少なくとも一部重なるように制御し、第1の顕微鏡による一の基板の指標の観察結果および第2の顕微鏡による他の基板の指標の観察結果に基づいて、一の基板と他の基板とを位置合わせする制御部とを備える基板位置合せ装置が提供される。 (もっと読む)


101 - 120 / 832