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Fターム[5F033QQ27]の内容

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【課題】良好な形状制御性を確保しつつ、銅配線層の酸化および銅の拡散を抑制できる配線を提供する。
【解決手段】金属拡散防止膜51上に形成したシード層52を、レジストを用いて選択的に除去する。レジストを除去した後、シード層52を覆って無電解めっき法により銅配線層53と、銅配線層53上に位置するメタルマスク層54とを形成する。メタルマスク層54を用いて金属拡散防止膜51を選択的に除去する。良好な形状制御性を確保しつつ、金属拡散防止膜51の形成時のエッチングなどによる銅配線層53の表面荒れなどを防止して、銅配線層53の酸化および銅の拡散を抑制できる。 (もっと読む)


【課題】信頼性の高い半導体装置を効率良く製造できるようにする。
【解決手段】シリコン基板1上に強誘電体キャパシタ37を形成する際、下部電極膜25の上に、アモルファス又は微結晶の酸化導電膜26を形成する。酸化導電膜26を熱処理により結晶化した後、強誘電体膜27の初期層27Aの形成時に酸化導電膜26を還元することにより、結晶粒が小さく且つ配向が整った第2の導電膜26Aを形成する。強誘電体膜27は、MOCVD法により形成し、その初期層27Aは第2の導電膜26Aの結晶配向に倣って成長する。これにより、強誘電体膜27の表面モフォロジが良好になる。 (もっと読む)


【課題】ポリマー残渣の発生と、エッチングプロセスの変動を抑制することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】Low−k膜II2の上面に、パターニングされたハードマスク層HMが形成される。ハードマスク層HMをマスクとしてLow−k膜II2にエッチングが施されてLow−k膜II2に配線用溝TRが形成される。配線用溝TR形成のためのエッチングを行なったチャンバーと同じチャンバー内でハードマスク層HMが除去されてLow−k膜II2の上面が露出される。 (もっと読む)


【課題】多様な幅を有するパターンを同時に形成しつつ、一部領域ではダブルパターニング技術によりパターン密度を増加させることができる半導体素子のパターン形成方法を提供する。
【解決手段】基板300上のデュアルマスク層をパターニングして第1領域Aには第1マスクパターン320Aを形成し、第2領域Bには第1マスクパターン320Aより幅広である第2マスクパターン320Bを形成する。第1マスクパターン320Aの両側壁を覆う第1スペーサ350Aと第2マスクパターン320Bの両側壁を覆う第2スペーサ350Bとを同時に形成する。第1マスクパターン320Aを除去した後、第1領域Aでは、第1スペーサ350Aをエッチングマスクとして利用し、第2領域Bでは第2マスクパターン320B及び第2スペーサ350Bをエッチングマスクとして利用して第1領域A及び第2領域Bで同時に基板300をエッチングする。 (もっと読む)


【課題】側壁転写プロセスにおいて側壁パターンの曲がりを抑制する。
【解決手段】側壁パターンをマスクとする下地絶縁膜の加工を、フルオロカーボン系のガスを用いたドライエッチングにより行い、その際に、側壁をなすシリコン膜の膜厚をxnmとすると、Vdc<46x−890の関係式を満たす自己バイアス電圧Vdcを基板に印加する。 (もっと読む)


【課題】簡単な工程で画素電極とコンタクトホールとを形成するTFTアレイ基板の製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁膜を成膜する工程と、絶縁膜の上に導電膜を成膜する工程と、導電膜をパターニングして開口が設けられた画素電極を形成する工程と、開口が設けられた画素電極をエッチングマスクとしてエッチング法により絶縁膜に開口と連通するコンタクトホールを形成する工程と、を有することを特徴とするTFTアレイ基板の製造方法。 (もっと読む)


【課題】無駄を省いた状態で、所望とする微細なパターンに電着による膜が形成できるようにする。
【解決手段】まず、容器151内に電着液152を収容し、電着液152の中で、白金からなる対向電極153に基板101の金属パターン104形成面を対向させて配置する。この状態で、定電圧源154により、対向電極153に正電圧を印加し、シード層102に負電圧を印加する。ここで、金属パターン105に必要な配線を接続することで、シード層102に対する負電圧の印加を行う。このようなカチオン電着により、金属パターン104および金属パターン105の露出している面(上面)に、電着液152中の電着成分が付着(析出)し、電着絶縁膜106が形成される。 (もっと読む)


【課題】有機金属材料で構成された導電性の有機金属膜を、容易にパターニングすることができ、所望の形状の有機金属膜を効率よく安価に形成可能な有機金属膜のパターニング方法、有機金属膜を介して基材と被着体とを部分的に効率よく接合可能な接合方法、この接合方法により接合された接合体、および、前記有機金属膜をマスクとして、基材の所望の領域を選択的にエッチングするエッチング方法を提供すること。
【解決手段】第1の基材21上に有機金属膜3を形成する工程と、有機金属膜3の一部に設定した加圧領域310を圧子4により膜厚方向に加圧する工程と、有機金属膜3にエッチング処理を施す工程とを有する。加圧領域310の有機金属膜3には、加圧に伴い、加圧されない非加圧領域311との間に疎密差が生じる。この疎密差は有機金属膜3におけるエッチング速度に反映されるため、これにより有機金属膜3をパターニングすることができる。 (もっと読む)


【課題】多層配線構造における硼窒化ジルコニウム膜のパーティクルレベルを低減させて、また当該硼窒化ジルコニウム膜の耐酸化性や抵抗選択性を向上させることで半導体装置の信頼性を向上させた半導体装置の製造装置及び半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】窒素ガスにマイクロ波を照射することで生成した窒素ラジカルと成膜流量のZr(BHとを成膜室31Sへ供給して成膜温度下にある基板Sの表面に硼窒化ジルコニウム膜を成膜するに際し、成膜装置は、成膜流量のZr(BHが熱分解により形成する膜の成膜速度に関して成膜温度の増加に対するその成膜速度の増加率を基準増加率とすると、硼窒化ジルコニウム膜の成膜速度に関しては成膜温度の増加に対するその成膜速度の増加率を前記基準増加率にする。 (もっと読む)


【課題】微細なラインアンドスペースパターンを含むパターンを形成することのできる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様に係る半導体装置の製造方法は、被加工材上に、第1の芯材、および前記第1の芯材下に位置し、前記第1の芯材よりも幅の大きい第2の芯材を形成する工程と、前記第1および第2の芯材の側面を覆うように被覆膜を形成する工程と、前記被覆膜を前記第1および第2の芯材の側面に位置する部分を残して除去し、側壁マスクに加工する工程と、前記側壁マスクをマスクとして前記第1および第2の芯材にエッチングを施し、前記第1の芯材、および前記第2の芯材の前記側壁マスクに上面を覆われていない部分を除去して、前記側壁マスク、および前記側壁マスクの直下に残った前記第2の芯材を含むエッチングマスクを形成する工程と、前記エッチングマスクをマスクとして前記被加工材にエッチングを施し、前記被加工材をパターン加工する工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】電位を印加した溶液中の化学物質の測定の際、リーク電流が半導体基板に流れない膜厚のシリコン酸化膜にてゲート絶縁膜が形成され、容易にシランカップリングによるアミノ酸基の導入が行え、かつ溶液と配線間に流れるリーク電流を抑える溶液測定用半導体センサチップを提供する。
【解決手段】本発明の溶液測定用半導体センサチップは、ゲート絶縁膜が露出されたMOSトランジスタからなり、電位の印加された溶液中に浸して化学物質の検出を、MOSトランジスタに流れる電流変化を検出することで行うものであり、半導体基板上に形成されたMOSトランジスタのゲート絶縁膜上に固定された有機単分子層と、MOSトランジスタのソース及びドレインに接続された配線と、有機単分子層部分が露出する開口部を有するパッシベーション膜とを有し、ゲート絶縁膜の最表層がシリコン酸化膜で形成され、このゲート絶縁膜が30nm以上の厚さにて形成されている。 (もっと読む)


【課題】 下部電極となるTiN膜の表面のラフネスを低減させるために、化学機械研磨、Arによるスパッタリング、Ta膜の堆積等の工程が必要になる。
【解決手段】 半導体基板(10)の上に薄膜キャパシタが配置されている。この薄膜キャパシタは、少なくとも表層部が非晶質または微結晶の金属で形成された下部電極(21a,22a)、該下部電極の上に配置された誘電体膜(23a)、及び該誘電体膜の上に配置された上部電極(24a)を含む。 (もっと読む)


【課題】半導体素子の形成方法、及びメモリシステムの製造方法を提供する。
【解決手段】基板400上にパターン形成対象層430を形成し、パターン形成対象層430上に、マスク層432を形成する。半導体素子の第1領域でマスク層432の一部を除去し、マスク層432を半導体素子の第2領域に残留させる。第1領域ではパターン形成対象層430上に、第2領域ではマスク層432上にモールドマスクパターン450を形成する。第1領域及び第2領域で、モールドマスクパターン450上にスペーサ層460を形成する。モールドマスクパターン450のパターン構造物の側壁に複数のスペーサが残留するようにスペーサ層460をエッチングし、第2領域でマスク層432をエッチングする。 (もっと読む)


【課題】チップ裏面に貫通電極および裏面配線を形成すると、貫通電極の一部である裏面配線パッドおよび裏面配線によって、チップ裏面に凸部が形成される。これが原因で、チップ吸着時に空気のリークが起こりチップ吸着力の低下が起きる。
【解決手段】裏面配線パッド4dおよび裏面配線4eを形成する領域に、あらかじめ凹部100を形成する。この凹部100内部に裏面配線パッド4dおよび裏面配線4eを設ける。これにより、裏面配線パッド4dおよび裏面配線4e厚さのため生じる凸部によって、チップ1C裏面の平坦性が確保され、チップ1Cを取り扱う際の吸着力の低下が起きない。 (もっと読む)


【課題】リソグラフィの露光解像限界を超えた寸法を有するパターンの形成において、工程数の削減が可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】この半導体装置の製造方法は、半導体基板上に形成された被加工膜上に第1のマスク材膜を形成し、前記第1のマスク材膜上にレジストパターンを形成し、前記レジストパターンを覆うように前記第1のマスク材膜上に所定の膜厚の第2のマスク材膜を形成し、前記第2のマスク材膜をエッチバックして前記レジストパターン及び前記第1のマスク材膜を露出させ、エッチバックされた前記第2のマスク材膜を残したまま、露出した前記レジストパターン及び前記第1のマスク材膜を同時に加工し、前記第1のマスク材膜下に露出する前記被加工膜部を加工する。 (もっと読む)


【課題】 ビア開口の下部分を多層ライナで内側を覆うことにより強化したエレクトロマイグレーション耐性を有する相互接続構造体を提供する。
【解決手段】 多層ライナは、誘電体材料のパターン付けされた表面から外側に、拡散障壁、マルチ材料層、及び金属含有ハード・マスクを含む。マルチ材料層は、下層の誘電体キャッピング層からの残留物からなる第1材料層と、下層の金属キャッピング層からの残留物からなる第2材料層とを含む。本発明はまた、誘電体材料内に形成されたビア開口の下部分内に多層ライナを含む相互接続構造体を形成する方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】ビアホールの形成に関連する歩留まりの低下を抑制し、また、スループットを向上することができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁性基板1上にGaN層2及びn型AlGaN層3を形成し、その後、ゲート電極4g、ソース電極4s及びドレイン電極4dを形成する。次に、ソース電極4s、GaN層2及びn型AlGaN層3に、少なくとも絶縁性基板1の表面まで到達する開口部6を形成する。次いで、開口部6内にNi層8を形成する。その後、Ni層8をエッチングストッパとするドライエッチングを高速で行うことにより、絶縁性基板1に、その裏面側からNi層8まで到達するビアホール1sを、冷却等によりその側壁に化合物膜19を堆積させながら形成する。そして、ビアホール1s内から絶縁性基板1の裏面にわたってビア配線16を形成する。 (もっと読む)


【課題】膜パターンが倒れないように半導体装置を製造する方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、基板上にSiO膜の膜パターンを形成する工程と、SiO膜の膜パターンを両側面から挟むように複数のSi膜の膜パターンを形成する工程と、SiO膜の膜パターンの上面と、複数のSi膜の膜パターンの上面と露出した側面とを被覆するようにレジスト膜を形成する工程と、SiO膜の膜パターンの上面が露出するまでレジスト膜の一部を除去する工程と、レジスト膜が除去された後に、露出したSiO膜の膜パターンをウェット処理により除去する工程と、SiO膜の膜パターンが除去された後に、レジスト膜の残部をドライ処理により除去する工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】 比誘電率が約1の層間絶縁層を備える半導体装置において、配線を良好な形状で形成すること、及びエアギャップ形成後においても配線の変質を抑制することの少なくともいずれか一方を実現できる半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】 比誘電率が約1の層間絶縁層を備える半導体装置の製造方法であって、配線6間を絶縁する層間絶縁膜2にエアギャップ7を形成する前に、層間絶縁膜2を疎水改質処理する工程、及び配線6間を絶縁する層間絶縁膜2にエアギャップ7を形成した後に、配線6を疎水改質処理する工程の少なくともいずれか一方を具備する。 (もっと読む)


【課題】簡単な工程で絶縁膜、半導体膜、導電膜等の膜パターンを有する基板を作製する方法を提供する。また、層間絶縁膜、平坦化膜、ゲート絶縁膜等の絶縁膜、配線、電極、端子等の導電膜、半導体膜等の半導体素子の各部位の膜を形成する方法を提供する。また、低コストで、スループットや歩留まりの高い半導体装置の作製方法を提供する。
【解決手段】ガリウムと亜鉛を含む液滴を吐出して、基板上に膜パターンを形成する。または、印刷法により、基板上にガリウムと亜鉛を含む材料を用いて膜パターンを形成する。 (もっと読む)


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