【課題】 化学的機械的研磨プロセスで研磨した後でほぼ擦り傷なしの表面が得られるような、その最上部表面の硬度が改善された軟金属導体を提供する。
【解決手段】 その後の化学的機械的研磨ステップで研磨後にほぼ擦り傷なしの表面が得られるように、十分大きい粒子サイズを有する粒子から構成される最上部層を有する、半導体素子に使用するための軟金属導体７８である。導電性軟金属構造の最上部層に軟金属構造の厚さの約２０％以上の粒子サイズを有する金属粒子を付着する。 （もっと読む）

【課題】低電気抵抗化および高信頼性化可能なコンタクトを備え、高速伝送が可能で信頼性の高い半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】 コンタクト２０、２３を、ＣＶＤ法を用いて、シリサイド膜１９、２２、シリコン窒化膜１５ａおよび第１層間絶縁膜１５ｂの内壁に接する表面に、表面からコンタクト内部方向への距離に応じて窒素含有量が減少する組成勾配を有する窒化タングステン部２４を形成し、その内側にタングステンが充填されたタングステン部２５を形成する。窒化タングステン部２４とタングステン部２５との界面の酸化や汚染を防止する。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、特性にばらつきが生じることを抑制して歩留まりを向上させることができる半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 半導体基板上に層間絶縁膜を形成するステップと、層間絶縁膜の所望の領域を除去し、当該除去した領域を埋め込むように、半導体基板及び層間絶縁膜上に導電性材料を堆積して膜を形成するステップと、層間絶縁膜と略同一の高さを有するように膜を平坦化することにより、導電性材料を埋め込んで第１の導電層を形成するステップと、埋め込まれた第１の導電層の上面に希釈コリン水溶液を用いた処理を行うステップとを備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】不純物の除去力を向上させながらも、金属層の損傷を最小化することができる半導体基板洗浄用組成物を用いた半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】
半導体装置の製造方法において、半導体基板上に金属を含む構造物パターン形成し酸性水溶液７８ないし９９．９８質量％、第１キレート剤０．０１ないし１１質量％を含む半導体基板洗浄用組成物を、半導体基板に適用して構造物パターンの不純物が覆っていない第１表面部位上に第１腐食抑制膜を形成し、構造物パターンの不純物が覆っている第２表面部位上の不純物を除去する。 （もっと読む）

【課題】ポリシリコンプラグ上のプラグコンタクトの抵抗ばらつきを低減する。
【解決手段】半導体基板上の第１の絶縁膜１２中にポリシリコンよりなるプラグ１３を形成する工程と、ポリシリコンよりなるプラグの上に、酸化物層１４を形成する工程と、ポリシリコンよりなるプラグと第１の絶縁膜の上に、第２の絶縁膜１６を形成する工程と、第２の絶縁膜の上に、所定の形状にパターニングされたレジストを形成する工程と、パターニングされたレジストをマスクとして第２の絶縁膜の中に、コンタクト孔１７ｂを設ける工程と、酸化物層を、ポリシリコンよりなるプラグの上に残した状態で、コンタクト孔の内部を洗浄する工程と、酸化物層を除去した後に、コンタクト孔の内部を導電性金属１９で埋め込むことにより導電性金属よりなるプラグを形成する工程とを有する。 （もっと読む）

【課題】高アスペクト比の筒状コンデンサにおいては、筒状コンデンサホール垂直方向の下側の直径寸法は小さく、ＨＳＧシリコンの凝集により、狭窄化された空間ができる。狭窄化された空間には反応ガスが導入されないため局所的な容量絶縁膜の薄膜化となり、薄膜化に伴いリーク電流が発生する。筒状コンデンサにおける局所的な膜厚のバラツキをなくし、容量絶縁膜の信頼性を向上させることで信頼性の高い半導体装置、及びその製造方法を提供する。
【解決手段】筒状電極の直径寸法が小さい下部部分において不純物を高濃度としＨＳＧグレインサイズを小さく、又はＨＳＧ化しないことで、ＨＳＧの凝集を抑制する。ＨＳＧの凝集を抑制することで反応ガスが導入され、局所的な膜厚のバラツキをなくし、容量絶縁膜の信頼性を向上させることで信頼性の高い半導体装置、及びその製造方法が得られる。 （もっと読む）

【課題】 多層配線構造における上層配線の下層配線に対する接続部の形成にあたり、その接続導体の接続部の清浄化処理において問題となる特性劣化を確実に回避する。
【解決手段】 下層配線溝(第１配線溝)１１ｇ内の埋込み配線（第１埋込み配線）１１ｂに上層配線(第２埋込み配線)１２ｂが接続導体１２ｃを介して接続される構成において、接続導体１２ｃの形成時の第１埋込み配線１１ｂ表面の水素ラジカルないしは水素ブラズマによる清浄化に耐性を有する保護膜７を、この清浄化の雰囲気にさらされ侵食される第２埋込み配線１２ｂが埋め込まれる配線溝１２ｇ、接続導体１２ｃが充填される配線接続孔１２ｈの内表面に形成することによって、上述した清浄化に際して絶縁層が侵食されることを回避し、充分な洗浄を行うことができるようにして特性劣化の改善を図る。 （もっと読む）

少なくとも一種のカルボン酸からなる溶媒中に溶解した少なくとも一種の酸性フッ化物供給源化合物の生成物を含有し、更に約（０．５）〜約（３）溶液重量％のフッ化水素酸と約（１）〜約（５）溶液重量％の水とを含む酸化ケイ素エッチング溶液であって、ここで酸性フッ化物供給源化合物の総濃度は、溶媒１キログラム当たり約（１．２５）〜約（５．０）モルである、前記酸化ケイ素エッチング溶液。金属表面から酸化ケイ素と金属のケイ酸塩とを選択的に除去する方法も開示する。 （もっと読む）

【課題】低抵抗の導電物質からなる信号線を用いることにより、良好な接触特性を備える接触構造およびその製造方法を提供する。
【解決手段】接触部形成方法は、基板上に第１配線を形成する段階と、第１配線を覆い、第１配線の一部分を露出させるコンタクトホールを有する絶縁膜を形成する段階と、コンタクトホールによって露出する第１配線の表面に接触層を形成する段階と、接触層を介して第１配線と接続される第２配線を形成する段階とを含み、第１配線は、アルミニウムまたはアルミニウム合金で形成し、第２配線は、ＩＴＯまたはＩＺＯで形成する。 （もっと読む）

【課題】
【解決手段】露出された導電材料を不動態化するシステムおよび方法は、処理チャンバ内に基板を配置する工程と、処理チャンバ内に水素種を注入する工程とを備える。処理チャンバ内で、水素種のプラズマが形成される。基板の上面から、表面層の種が還元される。還元された表面層の種は、処理チャンバから取り除かれる。 （もっと読む）

残渣有機物や自然酸化物を十分に除去でき、且つ、ビアホールの側壁絶縁膜にダメージを与えることなく、ｋ値に悪影響を与えることがない半導体基板導電層表面の清浄化方法を提供する。
半導体基板の導電層１表面上に絶縁膜２，３が形成され、絶縁膜３には
導電層１の一部を露出するビアホール４が形成された半導体装置を反応容器内に搬入し、反応容器内に水素を含むプラズマを発生させて、ビアホール４底部の導電層１上を清浄化し、アッシングにより残渣有機物６を分解除去し、導電層１表面上の銅酸化膜７をＣｕに還元する。 （もっと読む）

一形態によれば、半導体ダイに位置するシリサイド層(214)上にコンタクトを形成する方法は、コンタクトホール(208)の各側壁(206、207)、及び、コンタクトホール(208)の底部に位置する自然酸化物層(210)に、バリア層(202)を堆積するステップを含み、各側壁(206、207)は、絶縁層(204)のコンタクトホールによって形成される。コンタクトホール(208)の各側壁(206、207)、及び、酸化物層(210)にバリア層(202)を堆積する(150)ステップにおいて、バリア層(202)の厚さを、コンタクトホール(208)の上部が、コンタクトホール(208)の底部よりも厚くなるよう最適化してもよい。この形態によれば、バリア層(202)の一部分(219)及びコンタクトホール(208)の底部に位置する酸化物層(210)を除去し、シリサイド層(214)を露出させるステップを含む方法も提供される。
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基板、基板上の導電パッド、および基板上の絶縁層を含む電子デバイスを形成する方法であって、上記絶縁層は導電パッドの一部を露出するバイアホールを有する。詳細には、絶縁層上であり導電パッドの露出部分上に導電構造体を形成できる。導電構造体は、チタン・タングステン（ＴｉＷ）のベース層と、アルミニウムおよび／または銅のうちの少なくとも１つの導電層とを含みうる。さらに、導電構造体のベース層を、導電層と絶縁層との間に形成できる。関連デバイスについても説明する。

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窒化タンタル／タンタルバリア層を堆積させるための方法および装置が、集積処理ツールでの使用のために提供される。遠隔発生プラズマによる洗浄ステップの後、窒化タンタルは原子層堆積法で堆積され、タンタルはＰＶＤで堆積される。窒化タンタル／タンタルは、堆積された窒化タンタルの下の導電性材料を露呈するために、誘電体層の部材の底部から除去される。場合によって、さらなるタンタル層が、除去ステップの後に物理気相堆積法で堆積されてもよい。場合によって、窒化タンタル堆積およびタンタル堆積は同一の処理チャンバで生じてもよい。シード層が最後に堆積される。 （もっと読む）

【課題】バリアメタル膜の表面に形成される自然酸化膜の膜厚を薄くし、ボイドの発生を防止した多層配線構造の製造方法を提供する。
【解決手段】埋め込み型の多層配線構造の製造方法において、絶縁層に孔部４を形成する工程と、少なくとも孔部の内壁を覆うように、タンタルと窒素を主成分とするバリアメタル膜５を形成する工程と、バリアメタル膜の表面に形成された酸化膜６を除去する工程と、銅を含むめっき液にバリアメタル膜を浸漬してバリアメタル膜上に無電解銅めっき膜７を形成する工程とを含み、バリアメタル膜に含まれる窒素とタンタルの元素組成比（Ｎ／Ｔａ）を、０．３以上で、かつ１．５以下とする。 （もっと読む）

【課題】低抵抗且つ高バリア性を有するバリアメタルを提供する。
【解決手段】バリアメタル２０₁ が、配線溝１６の底面及び側壁の表面に沿って形成された膜厚１６ｎｍのＴａＮ_0.87膜３１と、ＴａＮ_0.87膜上に形成され、配線溝１６に埋め込み形成されたＣｕダマシン配線１７に接する膜厚４ｎｍのＴａＮ_1.19膜３２とから構成されている。 （もっと読む）

半導体ウェーハ処理装置（１０）のチャンバ（１６）と、清掃されるべき表面にバイアス電圧を掛けることなくガス混合物中に高密度プラズマを生成するためのみのＩＣＰ電源と、に供給される、水素及び不活性ガスから成る清掃ガス混合物、例えば、水素含有量が体積で２０％から８０％の間にある混合物を使用する清掃方法が提供される。本発明の実施形態では、Ｓｉ及びＳｉＯ_２汚染物質又はＣＦｘ汚染物質は引き続く金属被着に先立ってシリコン・コンタクト（４６）から清掃される。本発明の別の実施形態では、基準酸化物エッチング速度を回復するために酸化物をエッチングする以前にシリコン残留物は内部チャンバ表面から清掃される。

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【課題】銅配線の寿命を増大させ、同時に、密着性を高め、ストレスマイグレーション耐性を向上させる。
【解決手段】Ｃｕ１６とバリアメタル１２、あるいはＣｕ１６とキャップ層１９との界面近傍に、不純物１５を固溶させる、不純物１５を析出させる、非晶質Ｃｕ１４を存在させるまたはＣｕとの化合物を形成することにより、界面近傍の空孔を減らし、Ｃｕのエレクトロマイグレーション（ＥＭ）に対する界面拡散の寄与を減少させ、寿命を増大させ、同時に、密着性を高め、ストレスマイグレーション耐性を向上させた。 （もっと読む）

【課題】 低コストにて歩留まり，信頼性，電気的特性の高い半導体装置を作製する。
【解決手段】 絶縁膜６０上の下層絶縁膜６１に銅の下層配線６２を形成（Ｓ６１）した後、プラズマＣＶＤ法により層間絶縁膜６３，ストッパ膜６４を順次形成し、ストッパ膜６４における下層配線６２上に孔６４ａを形成してから、ドライエッチングして層間絶縁膜６３にコンタクトホール６３ａを形成する（Ｓ６２）。その後、上層絶縁膜６５を形成しマスク６６を介してドライエッチングすることにより、上層絶縁膜６５に溝部６５ａを形成すると共に、コンタクトホール６３ａ中の上層絶縁膜６５を除去する（Ｓ６３）。そして、バリア膜６７を形成（Ｓ６４）した後、Ｃｕ−Ｎｉ膜，Ｃｕ−Ｚｎ膜，Ｃｕ−Ｚｎ−Ｎｉ膜のうち何れかを堆積してシード膜６８を形成する（Ｓ６５）。 （もっと読む）

【課題】 エレクトロマイグレーション耐性と、ストレスマイグレーション耐性を同時に向上させる多層配線構造及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 ＡｌＣｕ膜１０３Ｃと、厚みが０〜１５ｎｍのＴｉ膜との反応によりＡｌ₃ Ｔｉ層１０３ＤをＡｌＣｕ膜とＴｉＮ膜の界面に形成することにより、界面拡散を抑制し、かつＡｌ₃ Ｔｉ層形成時に発生する引張り応力を低減し、ＥＭ耐性を向上させる。その後のＦＳＧ膜１０４ＡをＨＤＰ−ＣＶＤ法で成膜する際に、ウェハ裏面に不活性ガスを流してウェハを冷却し、ウェハ温度を４５０℃以下にすることにより、ＦＳＧとＡｌＣｕの熱膨張率差に起因するＡｌＣｕ膜の残留引張り応力の発生を低減し、ＳＭ耐性及びＥＭ耐性を向上させる。さらに、ＦＳＧ膜の上にＳｉＯＮ膜を設けることにより、ＦＳＧ膜の遊離フッ素の上方への拡散を阻止して、上層配線の剥がれを防止する。 （もっと読む）