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Fターム[5F038AR13]の内容

半導体集積回路 (75,215) | 固定抵抗 (2,429) | 拡散型薄膜型共通 (1,230) | 抵抗体形状 (550) | 角部、長手方向 (220)

Fターム[5F038AR13]に分類される特許

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【課題】半導体記憶装置の面積を縮小する技術を提供する。
【解決手段】高抵抗付加型ラッチ回路(12)と、その高抵抗付加型ラッチ回路(12)に保持されるデータの読み出しと書込みとを制御する選択回路(13)とを具備する半導体記憶装置(11)を構成する。その高抵抗付加型ラッチ回路(12)は、第1駆動トランジスタ(22)と、第2駆動トランジスタ(24)と、第1抵抗(121)と、第2抵抗(123)とを備えることが好ましい。また、その選択回路(13)は、第1選択トランジスタ(31)と、第2選択トランジスタ(32)とを備えることが好ましい。ここにおいて、その第1抵抗(121)と第2抵抗(123)とは、サイドウォール状の導電性材料(21)(23)で形成されるものである。 (もっと読む)


【課題】半導体装置のサイズの大型化を抑制しつつ、ポリシリコン抵抗の抵抗値が設計値からずれた場合に補正できるようにする。
【解決手段】ポリシリコン抵抗の設計方法は、シリサイド領域1bが両端にそれぞれ形成されたポリシリコンにより構成され、シリサイド領域1bがコンタクト3へ接続されるポリシリコン抵抗1の、抵抗値を判定する工程を有する。抵抗値が設計値よりも大きい場合には、コンタクト3の位置とポリシリコン抵抗1の形成範囲とを変更せずに、シリサイドブロック膜の形成範囲を狭める補正を行うことによって、ポリシリコン抵抗1の抵抗値を減少させる工程を行う。抵抗値が設計値よりも小さい場合には、コンタクト3の位置を変更せずに、ポリシリコン(シリサイドブロック領域1a)の幅を狭める補正を行うことによって、ポリシリコン抵抗1の抵抗値を増大させる工程を行う。 (もっと読む)


【課題】 ICまたはLSIの標準電源電圧用のトランジスタ構成部分ないしはプロセス技術を活用して高電圧動作電界効果トランジスタを該IC中に作りこむ。
【解決手段】 電界効果トランジスタの動作電圧を大きくするために、ゲートにドレイン電位に応じて変化する電位分布を設ける手段をとる。 (もっと読む)


【課題】バランス抵抗器の接続されたゲート間伝導領域を有するマルチゲート半導体デバイスにおいて、スイッチ素子として使用した際の低挿入損失と素子サイズを抑えつつ、オフ時の非線形性を改善する。
【解決手段】バランス抵抗器405のゲート間伝導領域への接続点をゲートの2つの両端より内側に設ける。好ましくはメアンダ状ゲートの屈曲領域4061に設ける。 (もっと読む)


【課題】正確な抵抗値を有する抵抗素子を備える半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板と、前記半導体基板上に配置された第1導電体と、第1方向における前記第1導電体の両端の上面に形成されたゲート間絶縁膜と、前記ゲート間絶縁膜が除去された第1接続領域を介して前記第1導電体に接続する第2導電体とを備える第1抵抗素子3−1と、前記半導体基板上に配置された第3導電体と、前記第1方向における前記第3導電体の両端の上面に形成された前記ゲート間絶縁膜と、前記ゲート間絶縁膜が除去された第2接続領域を介して前記第3導電体に接続する第4導電体とを備える第2抵抗素子3−2とを具備し、前記第1方向に沿った前記第2接続領域の長さは、前記第1接続領域の長さよりも長い(LEI2>LEI1)。 (もっと読む)


【課題】フューズ開口部に起因する水分の浸入における長期信頼性の劣化を防止する半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体基板上にフィールド酸化膜を介して抵抗体を設け、抵抗体上に第一の金属配線を設け、第一の金属配線上に吸湿性膜を含む平坦性の良い金属間層間膜を形成する。抵抗体のトリミング用フューズは吸湿性膜を含む金属間層間膜の上に形成することで吸湿性膜の露出を防止する。 (もっと読む)


【課題】サリサイド構造を有するMIS型電界効果トランジスタにおいて、ゲート電極とソース・ドレインコンタクトとの間の短絡を防止する。
【解決手段】ゲート電極175上にはシリサイド層230が形成されている。シリサイド層230の上面は、シリサイド層230の中央から両端に向けて低くなっており、当該両端におけるシリサイド層230の上面の高さは、オフセットスペーサ180の高さ以下である。 (もっと読む)


【課題】多結晶シリコン抵抗の特性バラツキを抑制する。
【解決手段】結晶粒を有する多結晶シリコン膜(2)と、多結晶シリコン膜(2)の上に設けられ、多結晶シリコン膜(2)の第1端部から第1距離(d1)の位置に配置された第1接続領域(3)と、多結晶シリコン膜(2)の上に設けられ、第1端部と異なる第2端部から第2距離(d2)の位置に設けられた第2接続領域(3)とを具備する多結晶シリコン抵抗(1)を構成する。その多結晶シリコン抵抗(1)おいて、多結晶シリコン膜(2)は、第1端部と第1接続領域(3)との間の第1部分(6)と、第2端部と第2接続領域(3)との間の第2部分(7)と、第1接続領域(3)と第2接続領域(3)との間の第3部分(8)とを具備するものとする。そして、第3部分(8)に含まれる結晶粒の結晶粒径は、第1部分(6)または第2部分(7)に含まれる結晶粒の結晶粒径よりも小さい。 (もっと読む)


【課題】半導体集積回路の設計TATの増大を防止する。
【解決手段】レイアウト設計装置は、パッケージに起因して半導体チップに加わるパッケージ応力の応力値の分布を示す応力分布データを読み込む応力分布データ読込み手段3と、半導体チップのチップレイアウトデータから素子レイアウトデータを抽出する素子レイアウトデータ獲得手段7と、半導体チップに搭載される各素子について応力値と素子の特性変動の関係を示した検量線データを保持する検量線データ保持部9と、応力分布データ、素子レイアウトデータ及び検量線データに基づいて各素子についてパッケージ応力による素子特性変動を算出する素子特性変動計算手段11と、素子特性変動を打ち消すように素子レイアウトデータを補正する素子レイアウト補正手段13と、補正後素子レイアウトデータを用いてチップレイアウトデータを補正するチップレイアウト補正手段と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】信号電圧が電源電圧を正負両方向に越えるようなチップ端子に対し適切に動作するESD保護回路を提供する。
【解決手段】ESD保護回路は、端子に一端のP側が接続されグラウンドに他端のN側が接続されるPNPN接合と、グラウンドにP側が接続されるPN接合のN側にソース及びゲートが接続され、前記の端子にドレインが接続されるPMOSトランジスタとを含む。 (もっと読む)


【課題】同一の不純物量の複数のポリシリコン層からなるが、異なる抵抗値を持つ複数の抵抗素子を有する半導体装置を提供すること。
【解決手段】不純物を含んだ第1ポリシリコン層からなる第1抵抗素子10と、第1ポリシリコン層と同一面上に設けられ、第1ポリシリコン層と不純物量が同じ第2ポリシリコン層からなる第2抵抗素子20と、第1抵抗素子10及び第2抵抗素子20を覆って設けられている第1層間絶縁層41と、第1層間絶縁層41上に、第1層間絶縁層41を介して第2抵抗素子20を覆って設けられている第1金属層21と、を備える半導体装置。 (もっと読む)


【課題】使用した配線用マスクを簡単かつ確実に判別でき、確認工数を削減する。
【解決手段】所定の配線パターンと共に両端に端子を備えた抵抗素子の複数41、42、43、を含む抵抗素子領域を形成するための所定配線用マスクを用いたリソグラフィステップと、半導体ウエハ特有の配線パターンと共に特有の配線パターンに応じて抵抗素子の端子間にて直列およびまたは並列接続された接続配線を含む識別領域50を形成するための識別配線51用マスクを用いたリソグラフィステップと、接続配線に接続され露出したパッド19を形成するためのパッド配線用マスクを用いたリソグラフィステップと、を含む。第1配線層および第2配線層の抵抗素子領域および識別領域の組がTEGチップまたはスクライブラインに形成されている。露出したパッドを介して抵抗素子の直列およびまたは並列接続された接続配線の抵抗値を測定するステップを更に含む。 (もっと読む)


【課題】アナログ回路に利用される抵抗素子の配置領域面積を低減し、抵抗素子の相対精度を向上させる半導体装置及び半導体装置のレイアウト設計方法を提供する。
【解決手段】一の方向に並列配置されたトランジスタ素子(トランジスタ素子Q1及びトランジスタ素子Q2)と、トランジスタ素子上に層間絶縁膜(層間絶縁膜14)を介して形成された抵抗素子(抵抗素子R1及び抵抗素子R2)を有し、平面視において抵抗素子の長さ方向はトランジスタ素子のチャネル幅方向に直交する。 (もっと読む)


【課題】複数に分割された接続部とこれらの接続部の間に形成された抵抗体とが、電極パッドにより良好に接続される半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】複数のFET12が化合物半導体基板11上に並列に形成され、ゲートパッド27が複数に分割された半導体装置の製造方法であって、化合物半導体基板11上に抵抗体22を形成する工程と、抵抗体22上にこの抵抗体22を保護する保護パターン23を形成する工程と、複数のFET12、抵抗体22および保護パターン23を含む化合物半導体基板11上に保護膜24を形成する工程と、複数のFET12の各電極13、14、15をそれぞれ接続する電極接続部17、18、21上および保護パターン23上の保護膜24をエッチングにより除去する工程と、エッチングにより除去した位置に電極パッド25、26、27を形成する工程と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】 従来のポリシリコン層を抵抗層とする抵抗素子は、抵抗素子のシート抵抗を例えば10MΩ/□以上に高くしたい場合、所望のシート抵抗が得られない問題があった。この原因は、製造工程中にポリシリコン層上の絶縁膜が帯電することが考えられ、このため設計値より2桁以上も低い値となってしまっていた。また、同一ウエハ内であっても抵抗素子毎に抵抗層のばらつきが大きくなる問題があった。
【解決手段】 ポリシリコン層を抵抗層とする抵抗素子において、抵抗層を被覆する絶縁膜の上に、保護層を設ける。保護層は金属層であり、抵抗素子の配線層や、電極等の金属層と同一金属層で形成できる。保護層は、ポリシリコン層の曲折部が露出するパターンに設ける。また、保護層に固定電位を印加する。固定電位に応じて、異なるシート抵抗が得られる。 (もっと読む)


【課題】ダイオードと電流制限抵抗の配置関係を最適化することにより、半導体集積装置の短辺方向の縮小し、占有面積が狭く製造単価の安い半導体集積装置を実現する。
【解決手段】ダイオードを分割して個々のサイズを小さくし、横方向配置の分割ダイオード1,2間で、かつ横方向配置の分割ダイオード3,4間に電流制限抵抗6を横方向に配置することにより、半導体集積装置の短辺方向の寸法縮小が可能となる静電気保護回路10のレイアウトを得ることができる。 (もっと読む)


【課題】所定レベルの電圧を早期に生成するとともに、回路規模の増大を防ぐことが可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置101は、第1の電源電圧が供給される第1電源ノードと第1の電源電圧よりも低い第2の電源電圧が供給される第2電源ノードとの間に接続され、第1電源ノードからキャパシタCが電気的に接続されるべき基準ノードへ電流を流すことにより、キャパシタCを充電し、基準ノードの電位を所定電圧レベルにするための基準電圧生成回路11と、第1電源ノードと基準ノードとの間に直列接続された抵抗およびスイッチ、または第1電源ノードと基準ノードとの間に接続されたトランジスタを含み、第1電源ノードから基準ノード経由でキャパシタCへ電流を流すことにより、基準電圧生成回路11よりも速くキャパシタCを充電することが可能な充電加速回路10とを備える。 (もっと読む)


【課題】振動子が外付けされて発振回路を実現する半導体集積回路において、振動子が外付けされるパッドと内部回路間の配線による浮遊容量の影響を小さくする。
【解決手段】半導体集積回路は、半導体基板と、第1のパッドP1に第1の抵抗及R1及び第1のコンデンサCACを介して接続の入力端子、及び、第2のパッドP2に第2の抵抗R2及び第3の抵抗Rを介して接続の出力端子を有するインバータ32と、インバータ入力端子と第2の抵抗R2及び第3の抵抗Rの接続点との間に接続され、インバータと共に発振ブロックを構成する帰還素子33と、第1の抵抗R1及び第1のコンデンサの接続点と基板電位との間に接続され、第1のパッドと発振ブロックとの間に配置された第2のコンデンサCと、第2の抵抗R2及び第3の抵抗Rの接続点と基板電位との間に接続され、第2のパッドP2と発振ブロック間に配置された第3のコンデンサCとを具備する。 (もっと読む)


【課題】静電破壊対策においてペレットサイズに影響を与えず、かつレイアウトに影響されない構成とする。
【解決手段】FET領域200に形成されたFETと、周囲領域202において、基体表面に形成された第1の不純物拡散領域106aと、それぞれ第1の不純物拡散領域106aの一端107aおよび他端107b上に形成された第1のオーミックメタル端子114aおよび第2のオーミックメタル端子114dとを含むゲート抵抗107と、平面視において、ゲート抵抗107の一端107aとゲート電極122との間には、ドレイン不純物拡散領域106bおよびドレイン電極114bの組合せ、またはソース不純物拡散領域106cおよびソース電極114cの組合せの一方が存在し、当該組合せの一方は、ゲート抵抗107の一端107aと他端107bとを結ぶ直線を遮るように、FET領域200から延在して形成された遮断部134を含む。 (もっと読む)


【課題】SoCにおけるRF・アナログ集積回路のプロトタイピングにおいて,チップ毎に柔軟かつ簡便に短TATで素子パラメータを調整する手段を提供する。
【解決手段】本発明によれば,製造プロセス終了後にダイシングされた集積回路チップの最上部に,単一あるいは小数の金属層,絶縁層などの機能層を積層・パターニングし,インダクタンスや容量素子,抵抗素子,伝送線路などを構成して下地回路と結合したり,あらかじめ下地集積回路中に形成しておいた受動素子等を金属配線層でプログラミングすることにより,下地集積回路のRF・アナログ回路の特性を実チップ上でチップ毎に柔軟に,低コストかつ短TATで調整することができる。 (もっと読む)


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