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Fターム[5F044RR19]の内容

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Fターム[5F044RR19]に分類される特許

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【課題】電子機器や電子部品に搭載される電子デバイスを実装した実装基板であって、薄厚化を実現するとともにフレキシブル性を有して曲げに対する耐性も強い実装基板を提供する。
【解決手段】本発明の回路基板10FDは、一面側がパッド7を具備した端子形成面2aとされた半導体チップ2をフレキシブル基板1上に実装してなる実装基板であって、前記パッド7が、前記フレキシブル基板1上に形成された金属配線4に対して電気的に接続されており、前記半導体チップ2の端子形成面2aが、当該実装基板10FDの厚さ方向における中立面npに略一致して配置されている。 (もっと読む)


【課題】ボンディング工程時に搭載部品にかかる熱負荷を軽減する。接続部へのストレスの軽減。実装コストの削減。LSIチップのスタンドオフを一定に確保する。
【解決手段】LSIチップ1は、基板2上に搭載されている。基板2上には配線(図示なし)と該配線に連なるパッド3が形成されている外、配線とは接続されていないダミーパッド3aが、LSIチップ1の四隅に対応する位置に形成されている。LSIチップ1の電極パッド(図示なし)と基板上のパッド3とは導電性接着剤4を介して接続されている。ダミーパッド3a上には、ボールスペーサ5と導電性接着剤4とが形成されており、ボールスペーサ5によりLSIチップ1と基板2との距離が一定に保持されている。 (もっと読む)


【課題】超音波の印加、加熱などを行わなくても、小さい圧力のみで基板同士を接続できる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の半導体装置の製造方法は、複数の第1の電極を備えた第1の基板と、複数の第2の電極を備えた第2の基板とを準備し、前記第1の電極に第1のバンプをワイヤボンディング法で形成し、前記第2の電極に第2のバンプをめっき法で形成し、前記第1のバンプの弾性率と前記第2のバンプの弾性率との差が、500kgf/mm2以下となるように弾性率の調整を行い、前記第1の基板と前記第2の基板とを、前記第1のバンプと前記第2のバンプとが対向して接するように配置し、前記第1のバンプと前記第2のバンプとが電気的に接続されるように、加圧を行うことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】実装基板と電子部品との間の空間部が樹脂で充填される電子装置を製造するに際し、樹脂の充填時にボイドの巻き込みを低減させるとともに、充填時に樹脂内に巻き込まれたボイドを上方に向けて抜け易くすることが可能な樹脂充填装置、充填方法および該電子装置の製造方法を提供することを目的とする。また、それにより、巻き込みボイドを著しく低減させた電子装置を製造し、該電子装置の不良品率を低下させて、品質を高度に保つことを目的とする。
【解決手段】本発明に係る樹脂充填装置は、基板と、該基板に実装された電子部品との間の空間部に樹脂を充填する樹脂充填装置において、前記基板を傾斜状態で保持するステージと、該基板の傾斜下側から前記空間部に樹脂を充填する塗布ヘッドとを備える。 (もっと読む)


【課題】はんだ付け不良を低減する。
【解決手段】絶縁性基板1上に耐熱性及び電気絶縁性を有するフィルム4を、絶縁性基板1のパッド2を避けるように形成し、パッド2上にはんだバンプ3を形成して電子部品の実装基板を得る。実装基板上に電子部品を載せて、この電子部品の電極をはんだバンプ上に重ね合わせ、はんだバンプを溶融させてパッドと電子部品の電極とをはんだによって接合する。 (もっと読む)


【課題】半田からなる金属バンプを有する半導体チップを配線基板上にフリップチップ実装して、半導体チップと配線基板との間隙にアンダーフィル樹脂を充填する際に、アンダーフィル樹脂内に発生する気泡を抑制することができる半導体チップの電極構造を提供する。
【解決手段】半導体チップ11の表面の電極パッド13の近傍部分と金属バンプ17の根元部分とがなす角度θを鈍角にする。 (もっと読む)


過酷な環境のための発光ダイオードは、実質的に透光性の基板と、基板の底面上に配置されている半導体層と、半導体層に結合され、基板の底面上に形成されている数個の接合パッドと、各接合パッド上に形成され、発光ダイオードをプリント回路ボードに電気的に接続するマイクロ・ポストとを含む。基板の底面とプリント回路ボードの上面との間に、発光ダイオード基板下における水浸透を低減するために、アンダーフィル層を設けてもよい。加えて、上面を通って放出される光を拡散させるために、発光ダイオードの上面にディフューザを取り付けてもよい。 (もっと読む)


【課題】導電性に優れた銀(Ag)を含有する導電性接着剤を用いて配線基板の電極と半導体素子の外部接続端子とを接合して半導体素子を配線基板にフリップチップ実装すると共に、前記銀(Ag)のイオンマイグレーションを防止することができる半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体素子12の外部接続端子13と配線基板11の電極14とが導電性接着剤20を介して接合された半導体装置は、前記導電性接着剤20は、第1導電性接着剤20−1と、前記第1導電性接着剤20−1を被覆する第2導電性接着剤20−2とを含み、前記第1導電性接着剤20−1は、銀(Ag)を含む導電性フィラーを含有し、前記第2導電性接着剤20−2は、錫(Sn)、亜鉛(Zn)、コバルト(Co)、鉄(Fe)、パラジウム(Pd)、及び白金(Pt)から構成される群から選択される金属を含む導電性フィラーを含有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】Cuを主体とする金属層と絶縁性樹脂層との密着性に優れた、実装信頼性の高い半導体パッケージ基板とその製造方法を提供すること。
【解決手段】外部部品と電気的に接続される突起状電極部6を有する、Cuを主体とする金属層4bと、金属層4b上の、突起状電極部6の外部部品との接続面を除いた領域に形成され、且つ、突起状電極部の側面を覆う絶縁性樹脂層2と、金属層4bと絶縁性樹脂層2との間に形成されたNi合金層4aと、金属層4bの、Ni合金層4aが形成された面と反対の面上に形成され、半導体素子が接着される接着層とを有する。 (もっと読む)


【課題】本発明はアンダーフィル剤が配設される電子部品に対する観察装置及び電子装置の製造方法に関し、チップを実装する工程におけるアンダーフィル剤の流動状態、即ちボイドの挙動の可視化を可能とすることを課題とする。
【解決手段】ガラス基板5にガラスチップ4をアンダーフィル剤12を介在させてフリップチップ実装する際に、アンダーフィル剤12に発生するボイド13の発生を観察する観察装置であって、ガラスチップ4をガラス基板5に実装するための実装手段(吸着ヘッド8、搭載ステージ10、ヘッド移動機構27、加圧力調整機構30、及びステージ移動装置40)と、実装処理中におけるアンダーフィル剤12の挙動を観察する観察手段(撮像カメラ23,レンズユニット24)とを有する。 (もっと読む)


【課題】コアレス基板を用いた半導体装置の信頼性を損なうことなく、より簡便に半導体装置を製造する。
【解決手段】ベースとなる金属基板100の上に多層配線基板20を構築し、多層配線基板20の複数の領域上にそれぞれ半導体チップ30をフリップチップ実装する。複数の半導体チップ30を封止樹脂層40を用いて封止した後、金属基板100を除去する。この後、多層配線基板20の下面にはんだボール等を搭載し、半導体装置を個片化する。 (もっと読む)


【課題】アンダーフィル樹脂内のボイドの発生を抑制することができる半導体装置及びその製造方法並びに半導体装置の製造装置を提供する。
【解決手段】基板12上に溶融した樹脂32を配置する工程と、溶融した樹脂32上に半導体チップ20を配置する工程と、半導体チップ20に圧力を加え、半導体チップ20を基板12にフリップチップ実装する工程と、溶融した樹脂32に流体圧力を加えた状態で溶融した樹脂32を硬化させ、アンダーフィル樹脂を形成する工程と、を有する半導体装置及びその製造方法並びに半導体装置の製造装置。 (もっと読む)


【課題】半導体チップ搭載装置を用いた加熱押圧により、半導体チップを半導体チップ実装部材に接合剤層を介して接合する際に、溶融した接合剤の半導体チップ搭載装置への付着を防止することでき、かつ半導体チップの汚染や損傷を抑制し得る半導体装置の製造方法、及び該半導体装置の製造方法に用いられる半導体装置加工用耐熱シートを提供する。
【解決手段】半導体チップ搭載装置21を用いた半導体装置の製造方法であって、半導体チップ11の上面11aと、半導体チップ搭載装置21との間に、耐熱性基材シート層2と、半導体保護シート層3とを有する半導体装置加工用耐熱シート1を介在させて、半導体チップ11の上面11aを半導体チップ搭載装置21により加熱し、押圧することにより、接合剤14を溶融し、半導体チップ11を基板12に接合する工程を備える、半導体装置の製造方法。 (もっと読む)


【課題】使用材料の種類や部品点数が増加してコストアップを招くことなく、製造工程数を増加することなく、しかも絶縁基板の熱収縮を小さく保持して接続精度を確保しながら、半導体の放熱効果を高めた半導体装置、および半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】可撓性絶縁基板26の表面に、プリント配線技術によって形成した導体パターン30に接続し、フリップチップ実装して絶縁基板上に半導体42を搭載する半導体装置47である。そのような半導体装置において、半導体の搭載位置における絶縁基板の裏面に、熱伝導性ペーストを塗布して硬化させることにより放熱体37を形成してなり、半導体の搭載位置に絶縁基板の表裏を貫通する貫通孔38を有し、その貫通孔に注入して、半導体を封止するとともに、その半導体を放熱体に連結する高熱伝導性の封止樹脂46を設けてなる。 (もっと読む)


【課題】蓋体部を備えた貫通孔を有するベアチップをフリップチップ接続によって実装する際に、ベアチップ内部の貫通孔にアンダーフィルを容易に充填することができる実装構造を提供する。
【解決手段】回路基板6上に半導体回路を形成したベアチップ1をはんだバンプ5を介して搭載し、前記回路基板とベアチップ間にアンダーフィル7を充填してなるフリップチップ実装構造において、前記ベアチップは、半導体基板の表面に形成した半導体回路と前記半導体基板の裏面に形成した電極パッド間をその内面に形成した導電層を介して接続する貫通孔2と、該貫通孔の前記基板表面側開口部に形成した導電層からなる蓋体部3と、前記基板の裏面に形成した電極パッド上に形成したはんだバンプを備え、前記蓋体部には前記アンダーフィル充填時におけるガスを排出するガス排出用の貫通孔8を設けた。 (もっと読む)


【課題】電極面積を小さくした場合であっても、導電性粒子を増やすことなく、電極同士で安定した電気的接続を可能とする電極接続装置及び電極接続方法を提供する。
【解決手段】圧着ヘッド42またはLSI配置ツール(図示せず。)には、LSI3が保持される部位に、LSI3の電極(LSIバンプ)を磁化させるバンプ磁化手段421が設けられ、バンプ磁化手段421が、LSI3を熱圧着させる前に、LSIバンプが位置する領域に水平方向(パネル搭載面に対し水平方向の)の磁場または電場を発生させることによって、LSIバンプを磁化させる。 (もっと読む)


【課題】フリップチップ実装タイプの半導体装置において、良好な接続信頼性を保ちつつ、ソルダーレジストのクラック故障のない半導体装置を提供する。
【解決手段】封止樹脂5の端面の配線基板1側の端部5a〜5dと第1の樹脂層(ソルダーレジスト)6との間に、第1の樹脂層6よりも柔らかい材質の第2の樹脂層7を介在させる。 (もっと読む)


【課題】従来のCOF型の半導体装置用のテープキャリアと比較して、エッチング後の配線パターンの形状を良好にすることができると共に、配線パターンと半導体素子との接続状態を良好にすることができ、非接続部の配線パターンの機械的強度をも従来と比較して同等に向上させることが可能となるフレキシブル配線基板、及びそれを用いた半導体装置および電子機器を提供する。
【解決手段】絶縁テープ6と、絶縁テープ6上に形成された配線パターン57とを備えたフレキシブル配線基板において、配線パターン57は、所定のパターンに形成されていると共に、半導体素子2を接続および搭載する搭載領域内に、半導体素子2と接続するための接続部を有しており、上記接続部のみの配線パターン57の厚さだけが、非接続部における配線層の厚さよりも薄い。 (もっと読む)


【課題】積層型半導体装置において、半導体装置の反りを抑制し、信頼性に優れた半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置は、基板11上にフリップチップ接続された半導体素子12を有し、基板11と半導体素子12の間にはアンダーフィル樹脂13が充填されている。半導体素子の外周部には接合ランド14が設けられ、基板11全域が樹脂15により封止されている。また、樹脂15上面から接合ランド14に至る開口部16か形成されている。 (もっと読む)


【課題】ノーフローアンダーフィルによるフリップチップ実装方法において、基板のパッド電極にバンプを確実に接触させ、信頼性高くリフローはんだ付けできるようにする。
【解決手段】基板52へ樹脂54を先塗りし、その後に、バンプ付き半導体50を基板52へ搭載して、基板52のパッド電極53とバンプ51とを接合するノーフローアンダーフィルによるフリップチップ実装方法において、リフロー治具10の基台11上面に基板52を載置し、基板52へフィラー55が高充填されている樹脂54を塗布し、基板52の所定位置にバンプ付き半導体50を搭載するとともに、半導体50の上部に基板52の製品外形寸法よりも大きい押さえ板21を載置し、かつ、押さえ板21の下面と基台11上面との間にスペーサ13を介装して押さえ板21の押圧量を規制するとともに、基台11上面に立設された位置決め用のガイドピン15にて押さえ板21の水平移動を規制する。 (もっと読む)


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