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Fターム[5F045BB14]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 目的 (9,309) | 汚染防止・不純物濃度の低減 (1,385)

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【課題】反応生成物の付着を抑制し得る真空ポンプの運転方法及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】吸気口30と排気口34とを有するケーシング22と、吸気口と排気口との間のケーシングの内部空間36内に設けられたロータ38と、ロータを回転させるモータ44とを有する真空ポンプ22の運転方法であって、加熱されたパージガスを、内部空間に達する孔46を介して内部空間内に導入しながら運転を行う。 (もっと読む)


【課題】チャンバ構成部品のような加工片の表面にテクスチャを設ける方法及びシステムを提供する。
【解決手段】本方法は、加工片をテクスチャ化チャンバへ供給するステップと、加工片の表面を横切って電磁エネルギのビームを走査させて該表面上に複数のフィーチャを形成させるステップとを含む。形成されたフィーチャは、一般的には凹み、突起、及びそれらの組合わせである。プロセスチャンバ内の汚染を減少させる方法も提供される。この方法は、1またはそれ以上のプロセスチャンバ構成部品の表面を横切って電磁エネルギのビームを走査させて該表面上に複数のフィーチャを形成させるステップと、1またはそれ以上のチャンバ構成部品をプロセスチャンバ内に位置決めするステップと、プロセスチャンバ内においてプロセスシーケンスを開始するステップとを含む。 (もっと読む)


【課題】P型、N型(I型)結晶を別々に形成する2チャンバ方式により、Mgのドーピングに伴う遅延効果およびメモリ効果を抑制し、エピタキシャル成長時間を短縮したMOCVD装置およびその成長方法、上記のMOCVD装置を適用して形成した半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】水冷機構を備えるコールドウォール構造を備え、ガスの流れはウェハ8の表面に対して水平方向であり、P型層成長とN型(I型)層成長ではそれぞれ別のN型(I型)層成長用チャンバ14・P型層成長用チャンバ16で成長するように構成され、ウェハ8を保持するサセプタも別々のN型層成長用サセプタ3・P型層成長用サセプタ5を使用するMOCVD装置およびその成長方法、上記のMOCVD装置を適用して形成した半導体装置およびその製造方法。 (もっと読む)


【課題】基体ホルダー外周面に残留したダストが円筒状補助基体と円筒状基体の端面間の隙間から飛散することを防ぐことができる真空処理方法を提供し、画像欠陥の原因となる電子写真感光体の球状突起を低減することにある。
【解決手段】真空処理方法であって、チャッキング部材の一部と円筒状補助基体の円筒状基体とは反対側の端面とが接触することによりチャッキング部材が円筒状補助基体を加圧し、円筒状補助基体が円筒状基体を押圧して両者の端面同士を密着させる工程と、円筒状基体と円筒状補助基体の端面同士が密着した状態で、搬送容器内を真空排気する排気工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】ゲルマニウムを含む薄膜の成膜処理をした後に、ゲルマニウムが汚染物質となる薄膜を成膜処理する場合に、後の成膜処理におけるゲルマニウム汚染を抑える熱処理装置の運転方法を提供する。
【解決手段】被処理体Wを保持具25に保持させて反応容器2内に搬入し、熱処理を行う熱処理装置1の運転方法において、反応容器2内に処理ガスを供給すると共に反応容器2内を加熱して、被処理体Wにゲルマニウムを含む薄膜を成膜する工程と、反応容器2内に被処理体Wが搬入されていない状態クリーニングガスを供給して前記反応容器2内に成膜された薄膜を除去する工程と、酸化ガスと、水素ガスとを反応容器2内に供給すると共に加熱して活性化されたガスにより反応容器2内に存在するゲルマニウムを除去する工程と、反応容器2内に被処理体Wを搬入して処理ガスを供給すると共に加熱して、被処理体にゲルマニウムが汚染物質となる薄膜を成膜する工程、とを含む。 (もっと読む)


【課題】装置底側に配置した光透過性部材上に異物が載ることを防止した真空処理装置を提供することを課題とする。
【解決手段】本発明に係る真空処理装置は、減圧雰囲気の下で基板に加熱処理を行う減圧加熱処理室12と、減圧加熱処理室12内に設けられ、上面側に基板Pが載置される基板ホルダー20と、減圧加熱処理室12の底側に設けられ、基板ホルダー20から斜め下方Dに放射された放射熱線Lを、放射熱線透過性の窓材32を介して減圧加熱処理室12の外部に透過させる透過部60と、透過部60を透過した放射熱線Lを減圧加熱処理室12の外部で計測する放射温度計38と、減圧加熱処理室12内に設けられ、窓材32への異物の落下を防止する防塵パイプ34と、を備えている。防塵パイプ34は、放射温度計38で温度計測する上で必要な放射熱線Lの透過量を確保しつつ、窓材32の上方を覆う。 (もっと読む)


【課題】プロセスガスから発生する材料層を基板ウェハ上に堆積するための装置および方法を提供する。
【解決手段】プロセスガスから発生する材料層を基板ウェハ上に堆積するための装置は、上方ドームと下方ドームと側壁とによって画定されるリアクタチャンバと、材料層の堆積の際に基板ウェハを保持するためのサセプタと、サセプタを取囲む予熱リングと、ライナーとを備え、その上に、予熱リングが、均一幅の隙間が予熱リングとサセプタとの間に存在するように中央位置に支持され、さらにライナーと予熱リングとの間に作用するスペーサを備え、当該スペーサは、予熱リングを中央位置に保ち、かつ予熱リングとライナーとの間に距離Δを発生する。 (もっと読む)


【課題】プラズマ処理装置のチャンバ開放時に、チャンバ内に残留するガスを確実に排気して安全性を確保する。
【解決手段】ドライエッチング装置1のロードロック室6a内を以下の手順で排気する。窒素ガスバルブ29aの開弁による窒素ガス源28からの導入と、それに続く排気バルブ14aの開弁によるドライポンプ12aでの排気とを予め定められた回数繰り返す。次に、大気導入バルブ26aの開弁による大気の導入と、それに続く排気バルブ14aの開弁によるドライポンプ12aでの排気とを予め定められた回数繰り返す。その後、大気導入バルブ26aとダクト排気バルブ24aの両方を開弁する。 (もっと読む)


【課題】新たな不純物を発生させることなく、製膜室の内部にダメージを生じさせずにクリーニング処理時に残留した反応生成物の影響を除外し、良好な物性の薄膜を製造することができる薄膜製造装置を得ること。
【解決手段】製膜室11と、ステージ12と、製膜室11内に原料ガスを供給する原料ガス供給手段と、被膜の形成によって製膜室11内に付着した堆積物と反応して反応生成物を生成するクリーニングガスを製膜室11内に供給するクリーニングガス供給手段と、反応生成物の構成元素と反応して気体を生成する元素を含む反応生成物除去ガスを製膜室11内に供給する反応生成物除去ガス供給手段と、ステージ12に対向して配置されるシャワーヘッド14と、反応生成物および反応生成物除去ガスを解離可能なエネルギを有する光を放射する光源19a〜19cと、を備え、光源19a〜19cは堆積物が付着する製膜室11内の領域が照射されるように配置される。 (もっと読む)


【課題】製造されるエピタキシャルウェーハのパーティクルレベルの悪化を十分に抑制しながら、汚染レベルを低減し、低コストで安定して製造を行うことができるシリコンエピタキシャルウェーハの製造方法を提供する。
【解決手段】リフトピン5を通過させるためのリフトピン貫通孔6を有するサセプタ3のウェーハ載置面上に、原料ガスを供給することによってポリシリコン膜を成長させる工程と、前記ウェーハ載置面上にポリシリコン膜が形成されたサセプタ上にウェーハWを載置し、原料ガスを供給しながら前記ウェーハW上にエピタキシャル層を気相成長させる工程と、を有するシリコンエピタキシャルウェーハの製造方法であって、前記ポリシリコン膜成長中に、少なくとも1回以上前記リフトピン5とサセプタ3を相対的に上下動させることを特徴とするシリコンエピタキシャルウェーハの製造方法。 (もっと読む)


【課題】珪素水素化物ガスを使用する装置に不純物が混入していない珪素水素化物ガスを確実に供給することができる珪素水素化物ガスの供給方法を提供する。
【解決手段】珪素水素化物ガス使用装置に供給する珪素水素化物ガス、例えばモノシラン中の酸素含有化合物、例えばジシロキサンの濃度を測定し、測定した酸素含有化合物の濃度があらかじめ設定された濃度を下回ったときに珪素水素化物ガス使用装置への珪素水素化物ガスを開始する。 (もっと読む)


【課題】残留物よりも下にポリマーコーティングを有する基板処理構成部品の表面から、残留物を除去する。
【解決手段】一変形例においては、構成部品表面を有機溶媒と接触させて、ポリマーコーティングに損傷を与えることなく、またはポリマーコーティングを除去することなく残留物を除去する。残留物はプロセス残留物でも可能であり、または接着剤残留物でも可能である。この洗浄プロセスは、改装プロセスの一部として行うことができる。別の変更形態においては、構成部品表面にわたってレーザを走査させることによって、残留物をアブレーションする。さらに別の変形例においては、ことによって、構成部品の表面にわたってプラズマ切断機を走査させることによって、残留物を蒸発させる。 (もっと読む)


【課題】装置内部に付着した付着物に対するエッチングレートを高くすることができる薄膜形成装置の洗浄方法等を提供する。
【解決手段】制御部100は、昇温用ヒータ16を制御して反応管2内を所定の温度に加熱した状態で、処理ガス導入管17から反応管2内にフッ素ガスとフッ化水素ガスと塩素ガスとを含むクリーニングガスを供給する。供給されたクリーニングガスは反応管2内で活性化され、薄膜形成装置1の内部に付着した付着物を除去して薄膜形成装置1の内部を洗浄する。 (もっと読む)


【課題】効率的に薄膜形成装置を洗浄することができる薄膜形成装置の洗浄方法等を提供する。
【解決手段】まず、反応管2にフッ化水素を含むクリーニングガスを供給して、装置内部に付着した付着物を除去する。次に、反応管2に酸素ラジカルを供給して装置内部に付着した珪フッ化物を酸化する酸化工程を実行する。続いて、反応管2にフッ化水素を含むクリーニングガスを供給して酸化された珪フッ化物を除去する酸化物除去工程を実行する。そして、この酸化工程と酸化物除去工程とを複数回繰り返す。これにより、効率的に薄膜形成装置1が洗浄される。 (もっと読む)


【課題】床面側に設けた凹部内に基板保持具の下端部を収容できるようにし、実質的な高さを抑制することが可能なローディングユニットを提供する。
【解決手段】基板Wに熱処理を施す処理ユニットの下方に設けられて、基板が保持された基板保持具58を処理ユニットに対してロード及びアンロードさせると共に基板保持具に対して基板の移載を行うローディングユニットにおいて、処理ユニットに連設されて全体を囲むようになされたローディング用筐体72と、基板保持具の下部を保持する保持アーム82を有すると共に基板保持具58を処理ユニット内に対して昇降させる昇降エレベータ機構68と、基板保持具に対して基板の移載を行う基板移載機構74と、基板保持具の下方に対応するローディング用筐体の底部に設けられて、基板保持具の下端部を収容できるようにするために下方へ突出させて形成された基板保持具収容凹部90とを備える。 (もっと読む)


【課題】結晶性の高い微結晶シリコン薄膜を安定して基板上に成膜することができる薄膜形成装置を提供する。
【解決手段】基板上に薄膜を形成する薄膜形成装置であって、成膜容器と、薄膜の原料であるシランガスを成膜容器に供給するシランガス供給部と、シランガスを希釈する希釈ガスを成膜容器に供給する希釈ガス供給部と、成膜容器の内部にプラズマを発生させるプラズマ発生部と、成膜容器の内部に配置されるシリコン基材と、シランガス供給部がシランガスを供給するタイミング、及び、希釈ガス供給部が希釈ガスを供給するタイミングを制御する制御部と、を備えることを特徴とする薄膜形成装置。 (もっと読む)


【課題】 低温領域において、膜中の塩素濃度が低く、フッ化水素に対する耐性の高いシリコン窒化膜を形成する。
【解決手段】 処理室内の基板に対してモノクロロシランガスを供給する工程と、処理室内の基板に対してプラズマ励起させた水素含有ガスを供給する工程と、処理室内の基板に対してプラズマ励起または熱励起させた窒素含有ガスを供給する工程と、処理室内の基板に対してプラズマ励起させた窒素ガスおよびプラズマ励起させた希ガスのうち少なくともいずれかを供給する工程と、を含むサイクルを所定回数行うことで、基板上にシリコン窒化膜を形成する工程を有する。 (もっと読む)


【課題】堆積プロセスの効率が低下しない、真空コーティング装置の動作方法を提供する。
【解決手段】フェーズIでは、コーティングチャンバ11がフッ素を含むガスによって洗浄された後、残留物13がチャンバ壁に付着している。フェーズIIでは、PECVD法を用いて基板なしで堆積ステップが行われ、コーティングチャンバ11の内壁全体に拡散防止層15が形成される。拡散防止層15は、フェーズIで残った残留物13の全てを覆い、当該の残留物13がチャンバ内へ拡散することを阻止する。フェーズIIIでは、拡散防止層15によって完全に覆われたコーティングチャンバ11に、ソーラーセルを製造するための基板17が配置され、従来のコーティングステップが開始される。Siを含む層を1回または複数回析出した後、再び、フッ素を含むガスによる洗浄ステップが行われ、その際に拡散防止層15が除去され、初期の状態(フェーズI)が達成される。 (もっと読む)


【課題】下部DBR反射鏡等を構成するAl組成の高いAlGaAs、AlAs等の層の側面からの酸化を防ぐ構造を有する面発光型レーザ技術の提供。
【解決手段】半導体基板の表面上に、下部反射鏡と活性層と電流狭窄層と上部反射鏡とをエピタキシャル成長により形成する半導体層形成工程(ステップS101)と、半導体層形成工程により形成された半導体膜の一部をエッチングすることによりメサ構造を形成するメサ構造形成工程(ステップS102)と、半導体層形成工程により形成された半導体膜を半導体基板の表面までエッチングすることにより素子分離溝を形成する素子分離溝形成工程(ステップS103)と、素子分離溝の壁面、メサ構造の上面および側面に半導体材料からなる再成長層を形成する再成長層形成工程(ステップS104)と、再成長層上に、絶縁体からなる保護膜を形成する保護膜形成工程(ステップS105)とを有する。 (もっと読む)


【課題】長期間使用しても均一な薄膜の形成を維持することができ、さらに、形成される薄膜に薄膜の特性を低下するような不純物が含まれ難い薄膜形成装置を提供する。
【解決手段】薄膜形成装置は、成膜容器と、前記成膜容器の成膜空間内に薄膜形成に用いるガスを導入するガス導入部と、前記成膜空間内の基板を載置する載置台の上部に、電流が一方の端面から他方の端面に流れ、主面が前記成膜空間に向くプラズマ生成用電極板が設けられ、前記成膜空間内の前記ガスを用いて前記成膜空間内でプラズマを生成させるプラズマ電極部と、前記成膜空間に向く前記電極板の面の一部を遮蔽する第1の誘電体板と、前記電極板の面の残りの部分を遮蔽する交換可能な第2の誘電体板と、を含む電極板遮蔽部と、を有する。前記第2の誘電体板は、前記電極板の電流が流れる端面間の経路長の中央の位置に対して少なくとも上流側に位置する領域に設けられる。 (もっと読む)


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