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Fターム[5F045DB01]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 半導体層の選択成長 (353) | 絶縁体マスク (266)

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【課題】動作特性に優れた窒化物半導体発光素子を容易に得られる窒化物半導体基板を実現できるようにする。
【解決手段】窒化物半導体基板101は、基板110の主面上に形成された複数の成長阻害領域となるマスク膜120と、基板の主面におけるマスク膜から露出する領域の上に形成された複数の第1の窒化物半導体層111と、各第1の窒化物半導体層111の側面上にのみ成長により形成された複数の第2の窒化物半導体層112と、複数の第1の窒化物半導体層111及び複数の第2の窒化物半導体層112を覆うように成長により形成された第3の窒化物半導体層113とを有している。複数の第2の窒化物半導体層は、成長阻害領域の上において互いに隣り合う半導体層同士が接合しておらず、第3の窒化物半導体層は、第2の窒化物半導体層同士が互いに隣り合う領域において接合している。 (もっと読む)


【課題】結晶欠陥の少ない高品質なエピタキシャル膜を得ることが可能な単結晶炭化シリコン膜の製造方法及び単結晶炭化シリコン膜付き基板の製造方法を提供する。
【解決手段】シリコン基板11上に単結晶炭化シリコン膜14を形成する単結晶炭化シリコン膜14の製造方法であって、シリコン基板11の表面に炭化シリコン膜12を形成する第1の工程と、炭化シリコン膜12の表面にマスク材13を形成する第2の工程と、マスク材13に開口部13hを形成し、炭化シリコン膜12の一部を露出させる第3の工程と、原料ガスを含むガス雰囲気中でシリコン基板11を加熱し、炭化シリコン膜12を基点として単結晶炭化シリコンをエピタキシャル成長させ、炭化シリコン膜12及びマスク材13を覆う単結晶炭化シリコン膜14を形成する第4の工程と、を含み、原料ガスを含むガス雰囲気の圧力は、5.0×10−4Pa以上かつ0.5Pa以下である。 (もっと読む)


【課題】フォトニック結晶構造を含む半導体発光装置を提供する。
【解決手段】n型領域とp型領域の間に配置された発光領域を含むIII族窒化物構造のような半導体構造内にフォトニック結晶を成長させる。フォトニック結晶は、半導体材料の複数の領域とすることができ、これらの領域は、この半導体材料とは屈折率が異なる材料によって分離されている。例えば、フォトニック結晶は、構造内に成長して空隙又はマスク材料の領域によって分離された半導体材料のポストとすることができる。フォトニック結晶を既に成長した半導体層内にエッチングするのではなくフォトニック結晶を成長させることは、効率を低下させることがあるエッチングが原因の損傷を回避し、電気接点がその上に形成される、割り込まれていない平坦な表面を提供する。 (もっと読む)


【課題】結晶欠陥の少ない高品質な単結晶炭化シリコン膜を形成することが可能な半導体基板及び半導体基板の製造方法を提供する。
【解決手段】単結晶シリコン11と、単結晶シリコン11の表面に形成された、開口部12hを有するマスク材12と、単結晶シリコン11の開口部12hから露出した部分に形成された炭化シリコン膜13と、炭化シリコン膜13及びマスク材12を覆って形成された単結晶炭化シリコン膜14と、を含み、マスク材12の粘度が950℃以上1400℃以下の温度範囲において10Pa・s以上1014.5Pa・s以下である。 (もっと読む)


【課題】製造コストを大幅に減少させることができる、新規な半導体製造方法を提供する。
【解決手段】半導体製造方法は、成長基板を提供する工程S11と、前記成長基板に半導体基板を形成する工程S12と、前記成長基板と前記半導体基板との間に複数の溝を有する第一構造を形成する工程S13と、後続の素子の製造を進め、半導体素子を半導体基板に形成する工程S14と、前記成長基板の温度と前記半導体基板を変更する工程S15とを含んでいる。工程S15において、成長基板と半導体基板とは膨張係数が異なるので、応力が集中し、互いに剥離する。このように、レーザ剥離技術によって成長基板を除去する工程を必要としないため、コストを効果的に減少させることができる。 (もっと読む)


【課題】素子形成領域となる素子形成層の高品質化を実現し、また基板の反りを低減させると共に確実な素子分離を図り、信頼性の高い装置構成を得ることができる化合物半導体装置を実現する。
【解決手段】下地層3上に、素子分離領域に相当する部位に開口4aを有する第1のマスク4を形成し、開口4aを埋め込み、第1のマスク4上を覆うようにELO−GaN層5を成長し、ELO−GaN層5上に、素子形成領域に相当する部位に開口6aを有する第2のマスク6を形成し、開口6aを埋め込むように素子形成層7を形成する。 (もっと読む)


【課題】 窒化物上へゲルマニウム・スペーサを選択的に堆積するための構造及び方法を提供すること。
【解決手段】 半導体製造プロセス中でゲルマニウム構造体を選択的に形成する方法は、化学的酸化物除去(COR)プロセスにおいて自然酸化物を除去し、次いで、加熱された窒化物及び酸化物表面を加熱されたゲルマニウム含有ガスに曝して、ゲルマニウムを選択的に窒化物表面上にだけ形成し、酸化物表面上には形成しない。 (もっと読む)


【課題】半導体デバイス製造の多層プロセスにおいて、劣悪な平坦性は、ホトリソグラフィー工程で問題を惹起し得る。特に初期の堆積ステップにおける劣悪な平坦性は、半導体デバイス製造のより高い層を通じて増幅される傾向がある。この点を改良した半導体デバイス製造工程初期のブランケット層の堆積方法を提供する。
【解決手段】ガス状の前駆体混合物を形成するためにシリコンソース、ゲルマニウムソース及びエッチャントを混合することを含み、SiGe膜30をブランケット堆積する方法。本方法はさらに、化学気相成長条件下において、ガス状の前駆体物質を基板10上に流し、パターンの有無に関わらず、基板10上にエピタキシャルSiGeを堆積させる方法に依り、平坦性の優れたブランケット層30を堆積する。 (もっと読む)


【課題】比較的小さい膜厚で結晶性の良いIII族窒化物半導体の結晶を成長させることができるIII族窒化物半導体の成長方法を提供する。
【解決手段】本発明のIII族窒化物半導体の成長方法は、基板(10)上に、III族窒化物半導体の結晶核(40)を島状に形成する第1の工程と、窒素源ガスを供給しながら珪素源ガスとIII族源ガスを交互に供給することにより、前記結晶核(40)を島状に成長させる第2の工程と、該第2の工程後、窒素源ガスとIII族源ガスを供給し、前記島状の結晶核(40)からIII族窒化物半導体を各々成長させ、層状のIII族窒化物半導体(45)を形成する第3の工程と、を具備することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】異種基板上にGaN系半導体を成長させることにより発生する貫通転位を低減し、低転位密度(例えば、10/cm以下)のGaN系半導体をエピタキシャル成長させることができるGaN系半導体エピタキシャル基板の製造方法を提供する。
【解決手段】異種材料からなる成長用基板(例えばNGO基板)上にGaN系半導体をエピタキシャル成長させる際に、成長用基板上に、第1GaN系半導体層をエピタキシャル成長させ(第1工程)、第1GaN系半導体層における転位発生部分にエッチピットを形成し(第2工程)、エッチピットにSi膜を選択的に形成し(第3工程)、Si膜上に第2GaN系半導体層をエピタキシャル成長させる(第4工程)。 (もっと読む)


【課題】Si基板内に形成される低抵抗層の抵抗率が、このGaN系エピタキシャル成長基板を利用して形成されるFETの動作特性に影響を与えることがない程度の大きさに形成されている。
【解決手段】Si基板10の主面とバッファ層60-1との間にストライプ状絶縁膜26が形成されている。このストライプ状絶縁膜が形成されていることによって、Si基板内に形成される低抵抗層11の抵抗率がこのGaN系エピタキシャル成長基板を利用して形成されるFETの動作特性に影響を与えることがない程度の大きさにすることが可能となるという効果が得られる。 (もっと読む)


【課題】保持基板上に成長したIII族窒化物結晶を、結晶品質を劣化させることなく剥離することができる
III族窒化物結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】(a)保持基板20上の表側主面に、第1のIII族窒化物結晶層22を形成する工程と、(b)前記保持基板20裏側主面からレーザ光を照射して、前記第1のIII窒化物結晶層22の裏面側をレーザ加工する工程と、(c)前記第1のIII族窒化物結晶層22の表側主面に第2のIII族窒化物結晶層24を成長する工程と、(d)前記保持基板20と前記第1のIII族窒化物層22の界面から分離する工程とを備え、(e)前記工程(b)において、前記第1のIII族窒化物結晶層22の表側主面にレーザ加工時に発生する分解ガスを放出するガス放出構造体を設ける。これにより、レーザ加工部の基板全体に対する面積を大きくすることができるので、剥離の際の応力による結晶のクラックを低減できる。 (もっと読む)


【課題】特性を向上させることができる窒化物半導体素子、その窒化物半導体素子の製造方法および窒化物半導体発光素子、ならびに結晶性を向上させることができるとともに表面の平坦性に優れた窒化物半導体層の製造方法を提供する。
【解決手段】窒化珪素層上に窒化珪素層の表面に対して傾いた表面を有する第1の窒化物半導体層を積層した後に、第1の窒化物半導体層上に第2の窒化物半導体層を積層する窒化物半導体層の製造方法、その窒化物半導体層を含む窒化物半導体素子および窒化物半導体発光素子ならびにその窒化物半導体素子の製造方法である。 (もっと読む)


発光ダイオードの製造方法であって、シリコン表面(1a)を有するキャリア基板(1)を形成するステップと、シリコン表面(1a)上に、成長方向(R)に一連の層(100)を堆積させるステップと、一連の層(100)上に発光ダイオード構造(16)を堆積させるステップと、を含んでおり、一連の層(100)が、窒化ガリウムを使用して形成されるGaN層(5)を含んでおり、一連の層が、窒化珪素を使用して形成されるマスキング層(12)を含んでおり、成長方向(R)においてGaN層(5)の少なくとも一部分の後ろにマスキング層(12)が続いている、方法、を提供する。 (もっと読む)


【課題】 非極性面上に低抵抗な半導体結晶が形成された半導体を提供する。
【解決手段】 本発明の半導体は、基板101と、前記基板101の主面上に積層されたp型層108および109とを含み、前記基板主面は、非極性面であり、前記p型層108および109は、III族窒化物半導体およびII族酸化物半導体の少なくとも一方から形成され、且つ、前記p型層108および109の上面が、前記基板主面と面方位が異なるファセット面を含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】本発明は、クラックの発生を防止し、表面平坦性が良好な窒化物半導体成長層を形成し、電流リークパスやダメージの無い半導体素子及びその製造方法を提案することを目的とする。
【解決手段】本発明は、凹部からなる掘り込み領域を備えた加工基板において、丘の両端部双方にSiO2壁を形成し、丘表面の上面成長部からマイグレーションにより窒化物半導体薄膜の原料となる原子・分子が掘り込み領域内に移動して窒化物半導体薄膜を形成することを抑制することで、表面平坦性が良好な窒化物半導体成長層が形成でき、歩留まり良く半導体素子を製造できる。 (もっと読む)


【課題】実用的な発光効率を有する緑色発光デバイスを実現可能な立方晶型窒化物半導体ウェハ及びその製造方法、並びに立方晶型窒化物半導体自立基板の製造方法を提供する。
【解決手段】立方晶の種結晶基板1の表面に、窒化物半導体2が成長しにくい材料で覆い且つ周期的に又はランダムに種結晶基板1の表面が露出した開口部4を有するマスク3を形成し、マスク3の開口部4から窒化物半導体2を成長し、種結晶基板1と局所的に接触した連続膜とした窒化物半導体2を形成する。 (もっと読む)


【課題】積層欠陥及び貫通転位の密度が十分に低いダイヤモンド薄膜構造とその製造方法を提供する。
【解決手段】基板101と、基板101の主方位面の一部を覆うマスク材102と、基板101の主方位面の表面からエピタキシャル成長するダイヤモンド薄膜103とで構成されるダイヤモンド薄膜構造であって、ダイヤモンド薄膜103は、マスク材102の上に形成され、ダイヤモンド薄膜103の結晶方位は基板101の結晶方位とそろっている。ダイヤモンド基板101に存在する貫通転位104aは、マスク材102で覆われていない部分のダイヤモンド基板101の主方位面を介してダイヤモンド薄膜103まで貫通するが、貫通転位104bは、マスク材102によってダイヤモンド薄膜103への伝播が遮られるため、ダイヤモンド薄膜103の貫通転位密度は低下し、結晶性が向上する。 (もっと読む)


【課題】窒化物半導体発光素子のクラックの発生を防ぎ、かつ基板の掘り込み領域以外の領域上における窒化物半導体層の組成変動を抑制して、高い歩留まりで窒化物半導体発光素子を得る。
【解決手段】窒化物半導体発光素子は、掘り込み領域(16)が形成された主面を有する窒化物半導体基板(10a)と、掘り込み領域上に形成された結晶成長抑制膜(10b)と、結晶成長抑制膜(10b)および基板(10a)の主面を覆うように堆積された複数の窒化物半導体層(11)を含むことを特徴としている。 (もっと読む)


【課題】化合物半導体と絶縁性材料との界面に形成される界面準位が低減した半導体装置を提供する。
【解決手段】閃亜鉛鉱型の結晶構造を有する3−5族化合物半導体と、3−5族化合物半導体の(111)面、(111)面と等価な面、または、(111)面もしくは(111)面と等価な面から傾いたオフ角を有する面に接する絶縁性材料と、絶縁性材料に接し、金属伝導性材料を含むMIS型電極とを備える半導体装置を提供する。 (もっと読む)


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