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Fターム[5F048BB03]の内容

MOSIC、バイポーラ・MOSIC (97,815) | ゲート (19,021) | 形状 (2,378) | ゲート長(幅)の異なる複数MOS (639)

Fターム[5F048BB03]に分類される特許

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【課題】小面積、低電力動作、高速動作を並立する論理ゲートを含む半導体装置の構成を提供する。
【解決手段】本発明に係る半導体装置は、基板上にゲート絶縁膜を介してゲート電極と半導体層が配置され、半導体層に接続してソース電極とドレイン電極とが配置される薄膜トランジスタを2つ以上含む論理ゲートで構成される。少なくとも第一の薄膜トランジスタは、そのゲート電極が電気的に浮遊状態にあり、かつ、その半導体層は基板面に対して垂直方向について、ゲート電極とソース電極により挟まれる第1の重なり領域とゲート電極とドレイン電極により挟まれる第2の重なり領域を有する。また、少なくとも第二の薄膜トランジスタは、そのゲート電極が入力端子に接続され、かつ、そのチャネル層は基板面に対して垂直方向について、ゲート電極とソース電極により挟まれる第1の重なり領域とゲート電極とドレイン電極により挟まれる第2の重なり領域を有する。 (もっと読む)


【課題】集積回路を作製する新規なタイプの方法を提供する。
【解決手段】少なくとも第3の層がその間に配置された、少なくとも半導体の第1および第2の層を備える基板を作製するステップと、少なくとも第1のMOSデバイスを作製するステップであって、その活性領域が半導体の第1の層の少なくとも一部に形成される、ステップと、少なくとも第2のMOSデバイスを作製するステップであって、その活性領域が半導体の第2の層の少なくとも一部に形成され、第2のMOSデバイスの活性領域が第2のMOSデバイスのゲートと第1のMOSデバイスの活性領域との間に配置される、ステップとを少なくとも含む、集積電子回路を作製する方法。 (もっと読む)


【課題】ランダムノイズの低減が図られた固体撮像装置を提供することを目的とする。また、その固体撮像装置を備えることにより、画質の向上が図られた電子機器を提供することを目的とする。
【解決手段】増幅トランジスタTraのドレイン側では、高濃度不純物領域28のみでドレイン領域38を構成し、ソース側では、増幅ゲート電極22側に形成され、ドレイン領域38を構成する高濃度不純物領域28よりも不純物濃度が低い低濃度不純物領域29からなるソース領域32を構成する。ドレイン領域38において、低濃度不純物領域を形成しないことで、実効ゲート長Leffを長くできる。また、増幅ゲート電極22のソース側では、増幅ゲート電極22側に低濃度不純物領域29が形成されるため、基板表面のポテンシャル変動を抑えることができる。 (もっと読む)


【課題】開口率を向上することができるEL表示装置である。
【解決手段】薄膜トランジスタと、容量と、発光素子と、発光素子へ電流を供給することができる機能を有する配線と有するEL表示装置である。発光素子は、陰極と、陽極と、陰極と陽極との間に設けられたEL材料とを有し、容量は、第2の領域と、第2の領域上に第1の絶縁膜を介して設けられる第3の領域とを有する。第1の絶縁膜は、薄膜トランジスタのゲート絶縁膜となり、さらに容量の絶縁膜となることができる。 (もっと読む)


【課題】FinFETの特性が均一な集積回路装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態に係る集積回路装置は、半導体基板の上面に形成され、第1方向に延びる複数本のフィンと、前記フィン間に配置された素子分離絶縁膜と、前記第1方向に対して交差した第2方向に延び、前記素子分離絶縁膜上に設けられたゲート電極と、前記フィンを前記ゲート電極から絶縁する絶縁膜と、を備える。そして、連続して配列された複数本の前記フィンが配置された第1領域においては、前記素子分離絶縁膜の上面は前記フィンの上端よりも下方の第1の位置に位置し、前記第1領域から見て前記第2方向に位置する第2領域においては、前記素子分離絶縁膜の上面は前記フィンの上端よりも上方の第2の位置に位置する。また、前記第2領域においては、前記素子分離絶縁膜が前記フィンの側面の全体を覆っている。 (もっと読む)


【課題】消費電力の増加を招くことなくオフの状態を実現することのできる半導体装置を
提供する。
【解決手段】ゲートに電圧が印加されていない状態でオン状態であるパワー素子と、パワ
ー素子のゲートに第1の電圧を印加するためのスイッチング用の電界効果トランジスタと
、パワー素子のゲートに第1の電圧より低い電圧を印加するためのスイッチング用の電界
効果トランジスタと、を有し、上記スイッチング用の電界効果トランジスタはオフ電流が
小さい半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】低電圧で動作するMISトランジスタと高電圧で動作するMISトランジスタや抵抗素子等の素子とを混載した半導体装置において、不純物の導入による素子の特性のばらつきを抑える。
【解決手段】半導体装置は、第1のゲート絶縁膜4aと、第1のゲート電極6aと、第1のゲート電極6aの両側方に形成された第1のLDD領域7aと、第1のLDD領域7aの外側に位置する第1のソース/ドレイン領域13aとを有する第1のトランジスタ30を備える。第1のトランジスタ30は、第1のゲート電極6aの上面上及び側面上から第1のLDD領域7aの少なくとも一方上に亘って設けられた絶縁膜を有しており、前記絶縁膜のうち前記第1のゲート電極の側面上に設けられた部分の膜厚は、前記絶縁膜のうち前記第1のLDD領域の少なくとも一方上で最も薄い部分の膜厚よりも大きい。 (もっと読む)


【課題】良好な特性を維持しつつ微細化を達成した半導体装置の提供と、さらに、これらの微細化を達成した半導体装置の良好な特性を維持しつつ、3次元高集積化を図る。
【解決手段】絶縁層中に埋め込まれた配線と、絶縁層上の酸化物半導体層と、酸化物半導体層と電気的に接続するソース電極及びドレイン電極と、酸化物半導体層と重畳して設けられたゲート電極と、酸化物半導体層と、ゲート電極との間に設けられたゲート絶縁層と、を有し、絶縁層は、配線の上面の一部を露出するように形成され、配線は、その上面の一部が絶縁層の表面の一部より高い位置に存在し、且つ、絶縁層から露出した領域において、ソース電極またはドレイン電極と電気的に接続し、絶縁層表面の一部であって、酸化物半導体層と接する領域は、その二乗平均平方根粗さが1nm以下である半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】ゲート電極の一部にメタルゲート電極を有するMISEFTにおいて、メタルゲート電極を構成するグレインの配向性のばらつきに起因するMISFETのしきい値電圧のばらつきを小さくする。
【解決手段】メタルゲート電極4a、4bに炭素(C)を導入することにより、メタルゲート電極4a、4b内のグレインの粒径が大きくなることを防ぎ、メタルゲート電極4a、4bの中に多数の小さいグレインを形成することにより、グレインの配向性を均一化し、ゲート電極の仕事関数のばらつきを低減する。 (もっと読む)


【課題】フィンがバルク半導体上に形成されている場合においても、電流駆動力増大を図りつつ、オフリーク電流を低減させる。
【解決手段】フィン型半導体層1の両側面には、チャネル領域7のポテンシャルを制御するゲート電極4が配置され、チャネル領域7には、フィン型半導体層1のソース層2側から根元BM側にかけてポテンシャルバリアPB1、PB2が形成されている。 (もっと読む)


【課題】高耐圧トランジスタの低濃度不純物拡散層がコンタミネーションから保護されて、半導体装置の特性を安定化できるようにする。
【解決手段】基板1の上に、ゲート絶縁膜3a及びゲート電極4aを順次形成し、ゲート電極4aをマスクとして基板1に不純物注入を行うことにより、基板1の上部におけるゲート電極4aの側方に低濃度不純物拡散層5aを形成する。続いて、ゲート電極4aの上から該ゲート電極4aの側方を通って低濃度不純物拡散層5aの上の一部までを連続して覆うように不純物拡散抑制膜7aを形成する。続いて、ゲート電極4a及び不純物拡散抑制膜7aをマスクとして基板1に不純物注入を行うことにより、基板1の上部におけるゲート電極4aの側方に、低濃度不純物拡散層5aよりも不純物濃度が高い高濃度不純物拡散層8aを形成する。その後に、不純物拡散抑制膜7aを残存させた状態で基板1に対して加熱処理を行う。 (もっと読む)


【課題】高い開口率を有し、安定した電気特性を有する薄膜トランジスタを有する、信頼
性のよい表示装置を作製し、提供することを課題の一とする。
【解決手段】同一基板上に駆動回路部と、表示部(画素部ともいう)とを有し、当該駆動
回路部は、ソース電極及びドレイン電極が金属によって構成され且つチャネル層が酸化物
半導体によって構成された駆動回路用薄膜トランジスタと、金属によって構成された駆動
回路用配線とを有し、当該表示部は、ソース電極層及びドレイン電極層が酸化物導電体に
よって構成され且つ半導体層が酸化物半導体によって構成された画素用薄膜トランジスタ
と、酸化物導電体によって構成された表示部用配線とを有する。 (もっと読む)


【課題】SOI型の半導体集積回路において電源遮断時の低消費電力及び電源供給時の動作性能向上に資することができる電源遮断制御を可能にする。
【解決手段】本発明に係る半導体集積回路は、第1電源スイッチと、前記第1電源スイッチに直列接続される論理回路を有する。前記論理回路は、順序回路(FF1,FF2)及び組み合わせ回路(LOG1,LOG2)を含み、前記第1電源スイッチと前記組み合わせ回路との間に第2電源スイッチが接続される。第1モードにおいて前記第1電源スイッチをオフ状態に制御し、前記順序回路及び前記組み合わせ回路を非通電状態にし、第2モードにおいて前記第1電源スイッチをオン状態に維持し且つ前記第2電源スイッチをオフ状態に制御し、前記順序回路を通電状態、前記組み合わせ回路を非通電状態にする電源スイッチ制御回路を有する。 (もっと読む)


【課題】ダイオード等の保護素子の外付けによる部品点数の増加及び占有面積の増大を抑えた、双方向に高いアバランシュエネルギー耐量を有する窒化物半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体基板10は、第1のn型領域12A、第2のn型領域12Bとともにトランジスタ11を構成する。半導体基板10の裏面には、裏面電極13が接合され、また、半導体基板10の上には、HFET21が形成されている。HFET21は、AlGaN層23A及びGaN層23Bを備える半導体層積層体23と、第1のオーミック電極24A、第2のオーミック電極24B、第1のゲート電極25A、第2のゲート電極25Bにより構成されている。第1のオーミック電極24Aと第1のn型領域12A、第2のオーミック電極24Bと第2のn型領域12Bはそれぞれ電気的に接続されている。 (もっと読む)


【課題】半導体集積回路における消費電力を低減する。また、半導体集積回路における動作の遅延を低減する。
【解決手段】記憶回路が有する複数の順序回路のそれぞれにおいて、酸化物半導体によってチャネル形成領域が構成されるトランジスタと、該トランジスタがオフ状態となることによって一方の電極が電気的に接続されたノードが浮遊状態となる容量素子とを設ける。なお、酸化物半導体によってトランジスタのチャネル形成領域が構成されることで、オフ電流(リーク電流)が極めて低いトランジスタを実現することができる。そのため、記憶回路に対して電源電圧が供給されない期間において当該トランジスタをオフ状態とすることで、当該期間における容量素子の一方の電極が電気的に接続されたノードの電位を一定又はほぼ一定に保持することが可能である。その結果、上述した課題を解決することが可能である。 (もっと読む)


【課題】高速動作、低消費電力である半導体装置の提供。
【解決手段】結晶性のシリコンをチャネル形成領域に有する第1のトランジスタを用いた記憶素子と、当該記憶素子のデータを記憶する容量素子と、当該容量素子における電荷の供給、保持、放出を制御するためのスイッチング素子である第2のトランジスタとを有する。第2のトランジスタは第1のトランジスタを覆う絶縁膜上に位置する。第1及び第2のトランジスタは、ソース電極又はドレイン電極を共有している。上記絶縁膜は、加熱により一部の酸素が脱離する第1の酸化絶縁膜と、酸素の拡散を防ぎ、なおかつ当該第1の酸化絶縁膜の周囲に設けられた第2の酸化絶縁膜とを有し、第2のトランジスタが有する酸化物半導体膜は、上記第1の酸化絶縁膜に接し、かつチャネル形成領域である第1の領域と、第1の領域を挟み、第1及び第2の酸化絶縁膜に接する一対の第2の領域とを有する半導体装置。 (もっと読む)


【課題】同一基板上に酸化物半導体を用いたオフセットトランジスタとオフセットでないトランジスタを形成する。
【解決手段】酸化物半導体層202とゲート絶縁物203とゲート配線となる第1層配線204a、第1層配線204bを形成する。その後、オフセットトランジスタをレジスト206で覆い、酸化物半導体層に不純物を導入し、N型酸化物半導体領域207を形成する。その後、第2層配線209a、第2層配線209b、第2層配線209cを形成する。以上の工程により、オフセットトランジスタとそうでないトランジスタ(アラインドトランジスタ等)を形成することができる。 (もっと読む)


【課題】高速動作が可能であり、且つ消費電力を低減することが可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】レベルシフタ、第1のバッファ、及び第2のバッファと、第1のスイッチ及び第2のスイッチと、第1の端子、第1の端子から入力される信号の反転信号が入力される第2の端子、及び第1のスイッチ及び第2のスイッチの状態を制御するクロック信号が入力される第3の端子と、を備えるラッチ回路を有する。レベルシフタの第1の出力端子は、第1のスイッチを介して、第1のバッファ及び第2のバッファそれぞれの一の入力端子と接続し、レベルシフタの第2の出力端子は、第2のスイッチを介して、第1のバッファ及び第2のバッファそれぞれの他の入力端子と接続する。レベルシフタの第1の入力端子は、第1のバッファの出力端子と接続し、レベルシフタの第2の入力端子は、第2のバッファの出力端子と接続する。 (もっと読む)


【課題】電力が供給されない状況でも記憶内容の保持が可能で、配線数を削減することによって高集積化が図られた半導体装置を提供することを目的とする。
【解決手段】トランジスタのオフ電流を十分に小さくすることができる材料、例えば、ワイドギャップ半導体である酸化物半導体材料を用いて半導体装置を構成する。トランジスタのオフ電流を十分に小さくすることができる半導体材料を用いることで、長期間にわたって情報を保持することが可能である。また、書き込み用のワード線と読み出し用のワード線を共通化し、かつ書き込み用のビット線と読み出し用のビット線を共通化することにより配線数を削減し、単位面積あたりの記憶容量を増加させる。 (もっと読む)


【課題】動作速度の低下を抑制しつつ、消費電力を低減する。
【解決手段】第1の半導体領域の上に絶縁領域を有し、且つ絶縁領域の上に第2の半導体領域を有する基板に設けられた第1の電界効果トランジスタと、基板の上に設けられた絶縁層と、絶縁層の一平面に設けられ、酸化物半導体層を含む第2の電界効果トランジスタと、第2の電界効果トランジスタのソース及びドレインと同一工程により形成され、第1の電界効果トランジスタの閾値電圧を制御するための電圧が供給される制御端子と、を備える。 (もっと読む)


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