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Fターム[5F048BB11]の内容

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Fターム[5F048BB11]に分類される特許

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【課題】複雑な作製工程を必要とせず、消費電力を抑えることができる信号処理回路の提供する。
【解決手段】入力された信号の位相を反転させて出力する論理素子を2つ(第1の位相反転素子及び第2の位相反転素子)と、第1の選択トランジスタと、第2の選択トランジスタと、を有する記憶素子であって、酸化物半導体層にチャネルが形成されるトランジスタと容量素子との組を2つ(第1のトランジスタと第1の容量素子との組、及び第2のトランジスタと第2の容量素子との組)有する。そして、信号処理回路が有する記憶装置に上記記憶素子を用いる。例えば、信号処理回路が有するレジスタ、キャッシュメモリ等の記憶装置に上記記憶素子を用いる。 (もっと読む)


【課題】電源の供給を停止しても、記憶している論理状態が消えない記憶装置を提供する。また、該記憶装置を用いることで、電源供給停止により消費電力を抑えることができる信号処理回路を提供する。
【解決手段】第1乃至第4のノードを有する論理回路と、第1のノード、第2のノード、及び第3のノードと接続された第1の制御回路と、第1のノード、第2のノード、及び第4のノードと接続された第2の制御回路と、第1のノード、第1の制御回路、及び第2の制御回路に接続された第1の記憶回路と、第2のノード、第1の制御回路、及び第2の制御回路に接続された第2の記憶回路と、を有する記憶装置である。 (もっと読む)


【課題】同一基板上に酸化物半導体を用いたオフセットトランジスタとオフセットでないトランジスタを形成する。
【解決手段】酸化物半導体層202とゲート絶縁物203とゲート配線となる第1層配線204a、第1層配線204bを形成する。その後、オフセットトランジスタをレジスト206で覆い、酸化物半導体層に不純物を導入し、N型酸化物半導体領域207を形成する。その後、第2層配線209a、第2層配線209b、第2層配線209cを形成する。以上の工程により、オフセットトランジスタとそうでないトランジスタ(アラインドトランジスタ等)を形成することができる。 (もっと読む)


【課題】チップ面積の増加を抑えつつ、金属等からなるゲート電極を有するMISトランジスタと、抵抗体とを同一基板上に不具合なく形成する。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板1上にそれぞれ設けられたMISトランジスタと抵抗素子とを備える。MISトランジスタは、活性領域1aと、活性領域1a上に設けられたゲート絶縁膜18と、ゲート絶縁膜18上に設けられたゲート電極19とを有する。抵抗素子40は、素子分離領域2上に設けられた抵抗体10を有しており、ゲート電極19の少なくとも一部は、抵抗体10よりも小さな抵抗率を有しており、活性領域1a上においてはゲート電極19の上面を覆っておらず、抵抗体10の上面を覆っている層間絶縁膜16がさらに設けられる。 (もっと読む)


【課題】作製コストが低減され、かつ歩留まりが向上された半導体装置、および消費電力が低減された半導体装置を提供することである。
【解決手段】第1のトランジスタおよび第2のトランジスタと、第1のトランジスタ群および第2のトランジスタ群を具備し、第1のトランジスタ群は、第3のトランジスタ、第4のトランジスタおよび4の端子を有しており、第2のトランジスタ群は、第5乃至第8のトランジスタおよび4の端子を有しており、第1のトランジスタ、第3のトランジスタ、第6のトランジスタ、第8のトランジスタはnチャネル型トランジスタが用いられ、第2のトランジスタ、第4のトランジスタ、第5のトランジスタ、第7のトランジスタはpチャネル型トランジスタが用いられる半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】FETの駆動力性能や遮断性能などを向上できる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板と、前記半導体基板上に形成され、オフ状態とオン状態とで閾値電圧を可変させるFETからなる半導体素子と、を備える。前記半導体素子は、前記半導体基板のチャネル形成箇所の上方に形成される絶縁膜と、前記絶縁膜の上方に配置されるゲート電極と、前記絶縁膜と前記ゲート電極との間に介挿され、前記チャネルとの間よりも、前記ゲート電極との間で、より多くの電子の授受を行なうチャージトラップ膜と、を有する。 (もっと読む)


【課題】消費電力を抑えることができる信号処理回路を提供する。
【解決手段】記憶素子に電源電圧が供給されない間は、揮発性のメモリに相当する第1の記憶回路に記憶されていたデータを、第2の記憶回路に設けられた第1の容量素子によって保持する。酸化物半導体層にチャネルが形成されるトランジスタを用いることによって、第1の容量素子に保持された信号は長期間にわたり保たれる。こうして、記憶素子は電源電圧の供給が停止した間も記憶内容(データ)を保持することが可能である。また、第1の容量素子によって保持された信号を、第2のトランジスタの状態(オン状態、またはオフ状態)に変換して、第2の記憶回路から読み出すため、元の信号を正確に読み出すことが可能である。 (もっと読む)


【課題】電源の供給を停止しても、記憶している論理状態が消えない記憶装置を提供する。また、該記憶装置を用いることで、電源供給停止により消費電力を抑えることができる信号処理回路を提供する。
【解決手段】第1及び第2のノードを有する論理回路と、第1のノードに接続された第1の記憶回路と、第2のノードに接続された第2の記憶回路と、第1のノード、第2のノード、第1の記憶回路、及び第2の記憶回路に接続されたプリチャージ回路と、を有し、読み出しの際に、プリチャージ回路は、プリチャージ電位を第1のノード及び第2のノードに出力し、第1の記憶回路及び第2の記憶回路は、チャネルが酸化物半導体膜に形成されるトランジスタを含む記憶装置である。 (もっと読む)


【課題】 単純で容易な実装手段によりMOSFETの閾値電圧を制御することが可能な半導体装置とその製造方法を提供する。
【解決手段】 一実施形態によれば、電界効果トランジスタは、STI(浅いトレンチ分離)を含んでいる半導体基板402と、p−FET401及びn−FET403と、p−FET401が形成される基板の窪み内のシリコン・ゲルマニウム層800と、n−FET部上とシリコン・ゲルマニウム層上に設けられた、ハフニウム化合物とレアアース化合物を含むゲート誘電体414, 432と、ゲート誘電体414, 432上にそれぞれ配置された互いに同じ材料を含むゲート電極416, 434とを具備している。 (もっと読む)


【課題】装置面積を増大させることなく、保護素子を有する半導体装置を提供する。
【解決手段】P型のIII族窒化物半導体からなる第1P型層200と、第1P型層200の一部上には、ゲート絶縁膜420およびゲート電極440とが設けられている。第1P型層200内のうち、ゲート電極440の両脇には、N型のソース領域340およびドレイン領域320が設けられている。また、第1P型層200の下には、N型のIII族窒化物半導体からなる第1N型層100が設けられている。基板内には、N型のIII族窒化物半導体とオーミック接続する材料からなるオーミック接続部(たとえばN型GaN層520)が、ソース領域340および第1N型層100と接するように設けられている。また、ドレイン電極600は、ドレイン領域320および第1P型層200と接するように設けられている。 (もっと読む)


【課題】メタルゲート電極とポリシリコン抵抗素子とを同じ半導体基板に混載するとともに、半導体装置の設計の自由度を向上し、また、半導体装置の小型化を図る。
【解決手段】半導体基板1の主面上にゲート絶縁膜を介してMISFET用のメタルゲート電極が形成され、また、半導体基板1の主面上に積層パターンLPを介してポリシリコン抵抗素子用のシリコン膜パターンSPが形成されている。メタルゲート電極は金属膜とその上のシリコン膜とを有し、積層パターンLPは絶縁膜3aとその上の金属膜4aとその上の絶縁膜5aとを有し、絶縁膜3aは、前記ゲート絶縁膜と同層の絶縁膜により形成され、金属膜4aはメタルゲート電極の金属膜と同層の金属膜により形成され、シリコン膜パターンSPは、メタルゲート電極のシリコン膜と同層のシリコン膜により形成されている。シリコン膜パターンSPは、平面視で絶縁膜5aに内包されている。 (もっと読む)


【課題】半導体集積回路における消費電力を低減すること。また、半導体集積回路における動作の遅延を低減すること。
【解決手段】記憶回路が有する複数の順序回路のそれぞれにおいて、酸化物半導体によってチャネル形成領域が構成されるトランジスタと、該トランジスタがオフ状態となることによって一方の電極が電気的に接続されたノードが浮遊状態となる容量素子とを設ける。なお、酸化物半導体によってトランジスタのチャネル形成領域が構成されることで、オフ電流(リーク電流)が極めて低いトランジスタを実現することができる。そのため、記憶回路に対して電源電圧が供給されない期間において当該トランジスタをオフ状態とすることで、当該期間における容量素子の一方の電極が電気的に接続されたノードの電位を一定又はほぼ一定に保持することが可能である。その結果、上述した課題を解決することが可能である。 (もっと読む)


【課題】動作速度の低下を抑制しつつ、消費電力を低減する。
【解決手段】第1の半導体領域の上に絶縁領域を有し、且つ絶縁領域の上に第2の半導体領域を有する基板に設けられた第1の電界効果トランジスタと、基板の上に設けられた絶縁層と、絶縁層の一平面に設けられ、酸化物半導体層を含む第2の電界効果トランジスタと、第2の電界効果トランジスタのソース及びドレインと同一工程により形成され、第1の電界効果トランジスタの閾値電圧を制御するための電圧が供給される制御端子と、を備える。 (もっと読む)


【課題】MISFETが微細化されてくると、単チャネル効果が更に顕著となり、トランジスタの特性ばらつきが増大しやすくなる。ここで、トランジスタの特性ばらつきは、従来のゲート長に依存するものに加えて、オフセットスペーサ長やサイドウォールスペーサ長に依存するものの影響が強くなることが本願発明者らによって明らかにされた。
【解決手段】本願の発明は、CMIS型半導体集積回路装置の製造方法において、オフセットスペーサ長とサイドウォールスペーサ長の和をNチャネルMISFETとPチャネルMISFETに於いて、調整するものである。 (もっと読む)


【課題】トランジスタが仮にディプレッション型である場合でも、安定して動作することができる半導体装置を提供する。
【解決手段】開示する発明の一態様の半導体装置は、第1の電位を第1の配線に供給する機能を有する第1のトランジスタと、第2の電位を第1の配線に供給する機能を有する第2のトランジスタと、第1のトランジスタのゲートに第1のトランジスタがオンをオンにするための第3の電位を供給した後、第3の電位の供給を止める機能を有する第3のトランジスタと、第2の電位を第1のトランジスタのゲートに供給する機能を有する第4のトランジスタと、第1の信号にオフセットを施した第2の信号を生成する機能を有する第1の回路と、を有し、第4のトランジスタのゲートには、第2の信号が入力され、第2の信号の最小値は、第2の電位未満の値である。 (もっと読む)


【課題】電源電圧の供給の停止及び再開を行う構成において、揮発性の記憶装置と不揮発性の記憶装置との間のデータの退避及び復帰の必要のない半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】不揮発性の半導体記憶装置とする際、揮発性の記憶装置と不揮発性の記憶装置を分離することなく構成する。具体的に半導体記憶装置には、酸化物半導体を半導体層に有するトランジスタ及び容量素子に接続されたデータ保持部にデータを保持する構成とする。そしてデータ保持部に保持される電位は、電荷をリークすることなくデータの出力が可能なデータ電位保持回路及び電荷をリークすることなくデータ保持部に保持した電位を容量素子を介した容量結合により制御可能なデータ電位制御回路で制御される。 (もっと読む)


【課題】FETデバイスにおける閾値電圧をより良く制御できるデバイスの提供。
【解決手段】基板101と、基板101の上のSiGe層103と、SiGe層上の半導体層105と、基板、SiGe層及び半導体層に隣接した絶縁層109aと、絶縁層に隣接した一対の第1のゲート構造体111と、絶縁層上の第2のゲート構造体113とを含む電界効果トランジスタ(FET)と、FETを形成する方法である。絶縁層は、SiGe層の側面、並びに半導体層の上面、半導体層の下面及び導体層の側面に隣接していることが好ましい。SiGe層は、炭素を含むことが好ましい。一対の第1のゲート構造体が、第2のゲート構造体に対して実質的に横断方向にあることが好ましい。さらに、第1のゲート構造体の対は、絶縁層によりカプセル封入されることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】電力が供給されない状況でも記憶内容の保持が可能で、配線数を削減することによって高集積化が図られた半導体装置を提供することを目的とする。
【解決手段】トランジスタのオフ電流を十分に小さくすることができる材料、例えば、ワイドギャップ半導体である酸化物半導体材料を用いて半導体装置を構成する。トランジスタのオフ電流を十分に小さくすることができる半導体材料を用いることで、長期間にわたって情報を保持することが可能である。また、書き込み用のワード線と読み出し用のワード線を共通化し、かつ書き込み用のビット線と読み出し用のビット線を共通化することにより配線数を削減し、単位面積あたりの記憶容量を増加させる。 (もっと読む)


【課題】トランジスタ特性のバラツキが低減された半導体装置を提供する。
【解決手段】SOI基板101は、P型半導体層102の上にN型半導体層104が形成された半導体基板12、その上に形成されたBOX層106、及びBOX層上に形成されたSOI層108を有する。第1素子分離絶縁層110bは、SOI基板101に埋め込まれ、下端16がP型半導体層102に達し、第1素子領域(NFET領域30)と第2素子領域(PFET領域40)とを分離する。P型トランジスタ130bは、第1素子領域40に位置し、チャネル領域120bを有し、N型トランジスタ130aは、NFET領域30に位置し、チャネル領域120aを有する。第1バックゲートコンタクト134bは、第1素子領域40に位置する第2導電型層層104に、第2バックゲートコンタクト134aは、第2素子領域30に位置する第2導電型層104に接続される。 (もっと読む)


【課題】電源をオフしてもデータを保持することができ、退避動作と復帰動作が不要なレジスタ回路を提供する。
【解決手段】複数のレジスタ構成回路と、オフ電流が小さい第1のトランジスタと、オフ電流が小さい第2のトランジスタと、を有するレジスタ回路において、データ保持部を前記第1のトランジスタのソース及びドレインの一方に接続し、前記第2のトランジスタのソース及びドレインの一方に接続する。前記第1のトランジスタ及び前記第2のトランジスタはオフ電流が小さいので、データ保持部の電荷がリークせず、レジスタ回路の電源をオフしてもデータ保持部にデータが保持される。そのため、退避動作と復帰動作を行わなくてよい。 (もっと読む)


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