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Fターム[5F083GA09]の内容

半導体メモリ (164,393) | 改善・改良の目的 (17,234) | 面積縮小 (3,580)

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Fターム[5F083GA09]に分類される特許

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【課題】 複数のメモリ・セルの各々の中のデータ・ビットにアクセスするために、メモリ・セルごとに複数のポートを有するメモリを含む集積回路を提供すること。
【解決手段】 このようなメモリは、各々のメモリ・セルが、単一の静電容量源として互いに接続された複数のキャパシタ(102)を含む、メモリ・セルのアレイを含む。第1のアクセス・トランジスタ(104)が、複数のキャパシタの第1のキャパシタと第1のビット線との間に結合され、第2のアクセス・トランジスタ(106)が、複数のキャパシタの第2のキャパシタと第2のビット線との間に結合される。各々のメモリ・セルにおいて、第1のアクセス・トランジスタのゲートが、第1のワード線に接続され、第2のアクセス・トランジスタのゲートが、第2のワード線に接続される。 (もっと読む)


【課題】電流駆動能力が向上した相変化メモリ装置を提供すること
【解決手段】 複数のビットラインと第1のワードラインとの間にそれぞれ接続された複数の相変化メモリセルを含む第1のメモリブロックと、複数のビットラインと第2のワードラインとの間にそれぞれ接続された複数の相変化メモリセルを含む第2のメモリブロックと、第1及び第2のワードラインの電圧レベルをそれぞれプルダウンさせ、1つのノードを共有する第1及び第2のプルダウントランジスタを含む相変化メモリセルアレイ、及び第1及び第2のワードラインの電圧レベルをそれぞれプルアップさせる第1及び第2のプルアップトランジスタを備えるロードライバーを含む。 (もっと読む)


【課題】本発明は、駆動能力がより向上したSRAM構造を提供する。
【解決手段】本発明のSRAM素子は、MOSトランジスタから構成された第1及び第2のアクセストランジスタと、MOSトランジスタから構成された第1及び第2のドライブトランジスタと、フルアップ素子として使われる第1及び第2のPチャンネル薄膜トランジスタとを含むSRAM素子であって、第1及び第2のドライブトランジスタの共通ソースとしてされ、半導体基板内にドーパントが注入されて形成された基底電位層と、第1及び第2のPチャンネル薄膜トランジスタ各々のソースが接続される電源電位層と、基板の上に形成され、かつ、基底電位層及び電源電位層の間に配置された絶縁膜とを含むすることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】センスアンプ領域及びワードラインドライバー領域の幅を減少させ、全体的なレイアウト面積を減少させることができる半導体メモリ装置を提供すること。
【解決手段】センスアンプ及びワードラインドライバー領域のための面積を最小化するレイアウトを有する半導体メモリ装置であって、デコーディングドライバーがセンスアンプ領域に配置され、デコーディングドライバーからサブワードラインドライバー側に伝送される信号のための配線が隣接サブアレイ上に配置される。また、デコーディングドライバーに提供されるプレデコーディング信号を伝送するための配線も隣接サブアレイ上に配置される。 (もっと読む)


45〜55nm以下のチャネル長さを持つメモリ素子を有する不揮発性メモリデバイスを、既存のリソグラフィ技法を用いて製造する。1つの手法では、同一のフォトレジスト層に対して第1フォトマスク及び第2フォトマスクのパターンを転写する。この第1フォトマスクは、たとえば、特徴寸法Fの間隔を置いて互いに分離された所与の特徴寸法Fを持つ開口部を有することが可能である。第2フォトマスクは、3Fまたは5Fなどの所望の選択ゲート間間隙を作るような寸法の開口部を有している。第3フォトマスクを用いて、選択ゲート構造体上の第2フォトレジスト層に保護部分を設ける。最終的な構造体は、距離5Fだけ間隔を置いて互いに分離された幅Fのメモリ素子と、3Fまたは5Fの間隔を置いて互いに分離された幅3Fの選択ゲートとを有する。別の手法では、3つのフォトマスクのパターンをそれぞれのフォトレジスト層に転写して、類似した最終的な構造体を作成する。 (もっと読む)


【課題】 可変抵抗体の電気的に寄与する領域の面積が上部電極若しくは下部電極等で規定される面積よりも微細な面積である構造の可変抵抗素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 下地基板5上に配置される下部電極1の上部には、突起電極物2が形成される。突起電極物2は、下部電極1の接触面と異なる面に可変抵抗体3と接触されており、この可変抵抗体3が突起電極物2との接触面と異なる面において上部電極4と接触している。これによって突起電極物2(可変抵抗体3)と上部電極4とのクロスポイント部分可変抵抗体の電気的に寄与している領域になるため、従来の可変抵抗素子における領域よりも、その面積が縮小される。 (もっと読む)


【課題】ソースの抵抗を低減して、各メモリセルのしきい値電圧のばらつきを抑制すると共に、不揮発性半導体記憶装置の微細化を図ることができる不揮発性半導体記憶装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る不揮発性半導体記憶装置10は、半導体基板と、半導体基板100の主表面上に第1絶縁膜101を介して形成され、半導体基板100に反転層を形成可能なアシストゲートAGと、アシストゲートAGの側面上に形成された第2絶縁膜106と、半導体基板の主表面上に第3絶縁膜105を介して形成され、第2絶縁膜106上に延在するフローティングゲートFGと、フローティングゲートFG上に第4絶縁膜112を介して形成されたコントロールゲートCGと、フローティングゲートFGに対して、アシストゲートAGと反対側に位置する半導体基板100の主表面に形成された不純物拡散層SRと、不純物拡散層SR上に形成され、該不純物拡散層SRの表面から上方に突出した導電性の突出部SRaとを備える。 (もっと読む)


【課題】スタックキャパシタの容量の増大及びパフォーマンスの向上が可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、陥凹ゲートとディープトレンチキャパシタ装置102とを有し、陥凹ゲートの突出部120とディープトレンチキャパシタ装置102の上部とが露出している基板と、上部の側壁と突出部120の側壁とに形成されるスペーサと、導電材料から形成され、スペーサ間の空間に形成され、埋設ビットラインコンタクト134aとキャパシタ埋設表面ストラップ134bとを有する埋設部分と、陥凹ゲートを横切って形成されるワードライン140と、埋設ビットラインコンタクト134a上に位置する上ビットラインコンタクトと、上ビットラインコンタクトに接続され、キャパシタ埋設表面ストラップ134bを覆わないビットライン150と、キャパシタ埋設表面ストラップ134bと接続し、プラグを有するスタックキャパシタと、を備える。 (もっと読む)


【課題】高集積SRAMに好適な積層メモリセルを提供する。
【解決手段】高集積SRAMに好適な積層メモリセルにおいて、第1層に形成された第1,2プルダウントランジスタと、前記第1層の上部に位置した第2層に形成され、前記第1,2プルダウントランジスタとそれぞれ連結されてインバータラッチを形成する第1,2プルアップトランジスタと、前記第2プルダウントランジスタのゲートとビットラインとの間に接続され、前記第1層または第2層の上部に位置した第3層に形成されるパストランジスタと、を備える。 (もっと読む)


【課題】直列に接続された複数のメモリセルの選択/非選択を行う選択ゲートトランジスタを微細化する。
【解決手段】メモリセルアレイ11、選択ゲートトランジスタSGD、SGS、制御ゲート駆動回路12、選択ゲート駆動回路13、ソース線駆動回路14を備える。メモリセルアレイ11は、メモリセルが複数個直列に接続されたメモリセル群を有する。選択トランジスタSGDはメモリセル群の一端とビット線BL間に接続される。選択トランジスタSGSはメモリセル群の他端とソース線SL間に接続され、選択トランジスタSGDのゲート長より短いゲート長を有する。制御ゲート駆動回路12はメモリセル群の制御ゲートを駆動し、選択ゲート駆動回路13は選択トランジスタSGD、SGSのゲートを駆動する。ソース線駆動回路14はソース線SLを駆動し、ビット線制御回路16はビット線BLを介してメモリセルへビット線電位を与える。 (もっと読む)


【課題】原子・分子スケールの安定したビットを形成して、記録密度を大幅に向上すること。
【解決手段】奇数個の電子を持つ原子(イオン)では、全スピン量子数Sは必ず半奇数であり、スピンハミルトニアンは、磁場のないとき、クラマースの二重項が残り、±Sは同じエネルギー状態にある。ハミルトニアンの時間反転対称性から磁場とスピン磁気モーメントを同時に反転すればエネルギーは変わらないため、極低温でスピンの最低エネルギー準位にクラマースの二重項が残る常磁性物質では、最低エネルギー準位のスピンを磁場で反転することにより±Sの選択が可能となり、磁場のない状態で記録を行うことができる。本技術は、このようなクラマース二重項を持つ孤立スピンを利用して、情報(信号)を記録する。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の面積の縮小化を可能とし、データの読み出しを正確に行い、データの差し替えを簡略化した半導体装置を課題とする。
【解決手段】半導体装置は、リセット信号によりメモリセルとデータ線を制御することで、確実なデータ出力が可能となる。またデータ保持手段の要素を有し、データの保持手段は複数のメモリセルを有する。このようなメモリセルによって、面積縮小化を図ることができる。メモリセルにおいて、トランジスタをGNDと非接続にすることにより、データの書き替えを簡略化することができる。 (もっと読む)


【課題】NAND構造のマルチビット不揮発性メモリ素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】ボディーから上方に突出し、その間に第1絶縁膜が埋め込まれた少なくとも一対のフィンを有する半導体基板を備える不揮発性メモリ素子である。複数の制御ゲート電極は、第1絶縁膜及び一対のフィンを横切って伸張し、一対のフィンの外側の少なくとも上部を覆い、半導体基板と絶縁されうる。複数のストレージノードは、複数の制御ゲート電極と一対のフィンとの間にそれぞれ介在され、半導体基板と絶縁される。複数の制御ゲート電極は、順次に2個ずつ対をなし、同じ対の制御ゲート電極は、第1離隔距離を有し、隣接した互いに異なる対の隣接した制御ゲート電極は、第1離隔距離より大きい第2離隔距離を有する。 (もっと読む)


【課題】メモリセルトランジスタのショートチャネル効果を低減可能な不揮発性半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】複数のメモリセルトランジスタMT11〜MT1nがマトリクス状に配置された不揮発性半導体記憶装置であって、第1導電型(p+型)の第1の半導体層(半導体基板)1と、第1の半導体層1上に配置され、第1の半導体層1からの上方への不純物の拡散を抑制する第2の半導体層2と、第2の半導体層2上に配置され、複数のメモリセルトランジスタMT11〜MT1nのそれぞれの第2導電型(n+型)のソース領域421〜42n、第2導電型(n+型)のドレイン領域422〜42(n+1)、及び第2導電型(n-型)のチャネル領域411〜41nを周期的に配置した第3の半導体層3と備える。 (もっと読む)


【課題】チップの内で大きな面積を占めるメモリ領域の低コスト化を図ることにより、チップ全体の製造コストを抑えることを課題とする。
【解決手段】薄膜からなる無線チップが有するメモリ領域において、有線の接続で入力された信号によりデータの書き込みを行い、無線による信号により読み出しを行う。有線の接続による信号に基づき生成されたアドレスを指定する信号により、有機メモリを構成するビット線及びワード線がそれぞれ選択され、選択されたメモリセルに電圧が印加される。このようにして書き込みが行われる。また読み出しは、無線の信号により生成されたクロック信号等により行われる。 (もっと読む)


【課題】選択ゲートトランジスタにおける選択ゲート電位のノイズを低減し安定性を高めることができる半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】半導体記憶装置は、メモリセルとこのメモリセルを選択する選択ゲートトランジスタとを有するセルユニットが複数配列されたメモリセルアレイと、選択ゲートトランジスタの制御ゲートである選択ゲート線SGSLの上層に形成された上部配線ULと、選択ゲート線SGSL上に形成され、選択ゲート線SGSLと上部配線ULとを電気的に接続するコンタクト材CP1とを備える。選択ゲート線SGSLは、第1ゲート電極、ゲート間絶縁膜、第2ゲート電極の順序で積層され、ゲート間絶縁膜は第1ゲート電極と第2ゲート電極とを接触させるためのEIパターンを有する。さらに、コンタクト材CP1は、EIパターンが配置されていない選択ゲート線SGSL上に配置されている。 (もっと読む)


【課題】一つのメモリセルに少なくとも2ビットのマルチビット情報を格納することができるマルチビットフラッシュメモリセルの製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板上にチャンネル領域の一部に該当する第1領域を開放するイオン注入マスクを形成する段階と、前記イオン注入マスクにより開放された前記領域に選択的にイオン注入し、前記チャンネル領域のしきい値電圧を部分的にコード化してチャンネル領域を第1しきい値電圧(Vt)領域とイオン注入された領域である第2しきい値電圧領域に二元化する段階と、チャンネル領域上にトンネル誘電層を形成する段階と、トンネル誘電層上にフローティングゲート及びコントロールゲートを形成する段階とを含む。 (もっと読む)


【課題】不揮発性半導体記憶装置の高集積化,高耐圧化,高速化,加工容易性を同時に実現する。
【解決手段】トンネル絶縁膜上のフローティングゲート電極層,ゲート間絶縁膜,第1,及び第2コントロールゲート電極層及び金属シリサイド膜を備えるメモリセルトランジスタと、高電圧用ゲート絶縁膜21上の高電圧用ゲート電極層51,一部分を開口したゲート間絶縁膜25,第1,及び第2コントロールゲート電極層48,46及び金属シリサイド膜53を備える高電圧トランジスタと、トンネル絶縁膜20上のフローティングゲート電極層50,一部分を開口したゲート間絶縁膜25,第1,及び第2コントロールゲート電極層48,46及び金属シリサイド膜53を備える低電圧トランジスタと、メモリセルトランジスタ,高電圧トランジスタ及び低電圧トランジスタのソース・ドレイン領域上に直接、配置されるライナー絶縁膜27とを備える不揮発性半導体記憶装置。 (もっと読む)


【課題】開放形ビットライン構造を有するマルチレベル動的メモリ装置を提供する。
【解決手段】マルチレベル動的メモリ装置は、複数のワードライン、開放形の複数のビットライン、複数のメモリセルであって、前記複数のメモリセルの各メモリセルが、各ワードラインと各ビットラインと接続され、少なくとも2ビット以上のデータを保存する複数のメモリセル、及び複数のセンスアンプ部であって、前記複数のセンスアンプ部の各センスアンプ部が、両側に位置した前記ビットライン間の電圧差を増幅する複数のセンスアンプ部を備える。 (もっと読む)


【課題】複数のストリップ状ゲート電極をマスクとしてドーパント元素の表面濃度と接合深さが等しい拡散層を形成することが可能な半導体装置。
【解決手段】ゲート絶縁膜表面に少なくとも1つのストリップ状ゲート電極の第1群および複数のストリップ状ゲート電極の第2群を形成し、ゲート絶縁膜表面と接する第1面、第1面の長側端から垂直に延びる第2面、第1、第2の面の他端を結ぶ湾曲した第3面を有し、第1群のゲート電極および第2群のゲート電極は第1群の少なくとも1つのゲート電極の湾曲した第3面が第1方向に向くように、かつ第2群の各ゲート電極の湾曲した第3面が第1方向と反対の第2方向に向くように交互に配列され、互いに隣接する第1、第2の群の各ゲート電極の第3面間の間隙が互いに隣接する第1、第2の群の各ゲート電極の第2面間の間隙より狭くし、ゲート電極間の間隙を通して不純物導入し拡散層を形成する。 (もっと読む)


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