積層メモリセル
【課題】高集積SRAMに好適な積層メモリセルを提供する。
【解決手段】高集積SRAMに好適な積層メモリセルにおいて、第1層に形成された第1,2プルダウントランジスタと、前記第1層の上部に位置した第2層に形成され、前記第1,2プルダウントランジスタとそれぞれ連結されてインバータラッチを形成する第1,2プルアップトランジスタと、前記第2プルダウントランジスタのゲートとビットラインとの間に接続され、前記第1層または第2層の上部に位置した第3層に形成されるパストランジスタと、を備える。
【解決手段】高集積SRAMに好適な積層メモリセルにおいて、第1層に形成された第1,2プルダウントランジスタと、前記第1層の上部に位置した第2層に形成され、前記第1,2プルダウントランジスタとそれぞれ連結されてインバータラッチを形成する第1,2プルアップトランジスタと、前記第2プルダウントランジスタのゲートとビットラインとの間に接続され、前記第1層または第2層の上部に位置した第3層に形成されるパストランジスタと、を備える。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、半導体集積回路に係るもので、特に高集積SRAMに好適な積層メモリセルに関する。
【背景技術】
【0002】
一般に、パーソナルコンピューター及び電子通信機器などのような電子的システムの高性能化に応じて、メモリとして搭載されるSRAMなどのような半導体メモリ装置の高速化及び高集積化が進んでいる。半導体メモリ装置の製造メーカーは、メモリセル領域内のメモリセルを縮小されたクリティカルディメンジョンに合うように配置するためにあるゆる努力を注いでいる実情である。
【0003】
図9は公知の6T(6トランジスタ)構成のCMOS型SRAMセルの等価回路図である。図9には、第1,2プルアップトランジスタPU1,PU2と、第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2と、第1,2パストランジスタAT1,AT2から構成された6T構成のCMOS型SRAMセルが示されている。アクセストランジスタともいわれる第1,2パストランジスタAT1,AT2のゲートは共通にワードラインWLに連結され、それぞれのドレインはビットラインBLとビットラインバーBLBにそれぞれ連結される。ここで、ビットラインBLとビットラインバーBLBは相補関係を有する。図10は図9によるCMOS型SRAMセルの通常のレイアウトを示す。図10には、図9のように構成された6T構成のCMOS型SRAMセルのトランジスタが同一層に配置されたものが示される。
【0004】
図9のような6T構成のCMOS型SRAMセルを単一層に構成する場合、単位セル当りの占有面積が相対的に大きくなって高集積化に制限要素となる。そこで、最近では、半導体メモリ装置の高集積化の要求に応じて、SRAMの場合にメモリセルを単一層に平面的に配置することから脱皮してメモリセルを積層タイプ(stacked type)で製造する技術が開発された。例えば、本出願人により特許出願された韓国特許出願第2004−2080号及び第2004−2088号にはメモリセルトランジスタをスタックタイプに積層する製造技術が開示されている。
【0005】
例えば、シングルスタックタイプメモリセルを製造する場合、メモリセルを構成する6つのMOSトランジスタのうち4個のN型MOSトランジスタ(プルダウン及びパストランジスタ)は半導体基板層に形成され、2つのP型MOSトランジスタ(プルアップトランジスタ)は前記N型MOSトランジスタのゲート電極の上部に絶縁して形成された他の基板層、例えば、チャンネルシリコン層に形成されうる。
【0006】
一方、図11は、図9のCMOS SRAMセルを積層タイプで形成した場合を示す積層タイプ6T−CMOS型SRAMセルの等価回路図である。図面を参照すると、図11の右側に位置するCMOS型SRAMセルは3層に積層された構造を有する。図11の右側に示されるダブルスタックセルの構造は、第1層に第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2が配置され、第2層に第1,2プルアップトランジスタPU1,PU2が配置され、第3層に第1,2パストランジスタAT1,AT2が配置されている。
【0007】
図12には、図11の積層タイプ6T−CMOS型SRAMセルの概略的断面構造が示されている。また、図13及び図14は、図11の積層タイプ6T−CMOS型SRAMセルのレイアウトを図示する。
【0008】
図12はダブルスタックセルの構造であって、プルダウントランジスタは第1層L1に、プルアップトランジスタは第2層L2に、パストランジスタは第3層L3に順次積層された例を示す。図12において、参照符号PDG,PUG,ATGは、プルダウントランジスタのゲート、プルアップトランジスタのゲート、パストランジスタのゲートをそれぞれ示す。また、CS1とCS2は、チャンネルシリコン層であって、この層は選択的エピタキシャル成長層S1,S2によりそれぞれ形成されたシリコン層である。参照符号100はシリコン基板、102はP型ウェル、104,105は活性領域としてのドレイン/ソース領域を示す。108はゲート絶縁膜、109及び110はサイドウォールスペーサーを示す。
【0009】
図12に示されるように、トップゲート(ATG)はパストランジスタになるが、前記トップゲートのパターンを形成することは図13及び図14の平面配置からわかるように難しい。また、図12の積層タイプセルの構造は、セルノードに対しブリッジマージンが脆弱な形態となっている。また、半導体素子が高集積化されるほど、パストランジスタの駆動能力が低下されるため、チップパフォーマンスを期待することが難しくなる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0010】
そこで、本発明の第1目的は、上述のような問題点を解決することができる半導体メモリを提供することにある。
【0011】
本発明の第2目的は、高集積SRAMに採用するに適合した積層メモリセルを提供することにある。
【0012】
本発明の第3目的は、SRAMセルを採用する半導体メモリにおいて制限されたサイズ内でより効率的なメモリセルを有するメモリセルアレイを提供することにある。
【0013】
本発明の第4目的は、積層タイプのセル構造において1つのパストランジスタを有する5トランジスタメモリセルを提供することにする。
【0014】
本発明の第5目的は、積層タイプのセル構造においてメモリセルサイズをもっと縮小するかまたはパストランジスタの駆動能力を改善させることができるSRAMを提供することにある。
【0015】
本発明の第6目的は、隣接メモリセルとビットラインを共有するセルアレイ構造が得られる方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0016】
このような目的を達成するために本発明の実施形態による積層メモリセルは、第1層に形成された第1,2プルダウントランジスタと、前記第2プルダウントランジスタのゲートとビットラインとの間に接続され、前記第1層に形成されたパストランジスタと、前記第1層の上部に位置する第2層に形成され、前記第1,2プルダウントランジスタとそれぞれ連結されてインバータラッチを形成する第1,2プルアップトランジスタと、を備える。
【0017】
好ましくは、前記ビットラインはシングルビットラインであり、前記第1層は半導体基板である。また、前記第2層は選択的エピタキシャル成長で形成されたチャンネルシリコン層である。
【0018】
本発明の他の実施形態による高集積SRAMに採用するに適合した積層メモリセルアレイは、第1層に形成された第1,2プルダウントランジスタ及び第1パストランジスタと前記第1層の上部に位置した第2層に形成された第1,2プルアップトランジスタからなる第1メモリセルと、前記第1層に形成された第3,4プルダウントランジスタ及び第2パストランジスタと前記第1層の上部に位置した第2層に形成された第3,4プルアップトランジスタからなる第2メモリセルと、前記第1,2パストランジスタのそれぞれのドレインに共通連結されたビットラインと、前記第1,2パストランジスタのゲートにそれぞれ独立的に連結された第1,2ワードラインと、を備える。
【発明の効果】
【0019】
本発明によれば、積層タイプの構造において1つのパストランジスタを有するので、6トランジスタセルに比べてセルサイズが縮小されるかまたはパストランジスタの駆動能力が改善される。従って、積層タイプ5トランジスタメモリセルでメモリセルアレイを構成する場合において隣接メモリセルとビットラインを共有するセルアレイ構造が得られることにより、半導体メモリチップの高集積化を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0020】
本発明の目的、特徴、そして利点は添付図を参照して以下に説明される本発明の好ましい実施形態の説明により明らかになるだろう。図面において互いに同一ないし類似な部分は説明及び理解の便宜上同一ないし類似な参照符号で記載される。
【0021】
図1は、本発明の好ましい実施形態による積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルの等価回路図である。
【0022】
まず、図1において、最上位層の第3層には、1つのパストランジスタAT1が配置され、第1層には第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2が配置され、第2層には第1,2プルアップトランジスタPU1,PU2が配置された積層メモリセル構造が図示されている。パストランジスタAT1は、第2プルダウントランジスタPD2のゲートとビットラインとの間に接続される。また、第1,2プルアップトランジスタPU1,PU2は、第1層の上部に位置した第2層に形成され、第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2とそれぞれ連結されてインバータラッチを形成する。
【0023】
3段積層構造のSRAMセルの場合に、プルダウントランジスタは一番下部層にMOS形態で配置されるので、その特性は非常に安定的で且つ優秀である。しかし、上位層に配置されるプルアップトランジスタ及びパストランジスタはバルクを有さないチャンネルシリコン状態のトランジスタなので、動作特性が相対的に不安定で、駆動能力が低い。特に、SRAMセルの動作安定度はパストランジスタとプルダウントランジスタの比で決定されるのに、パストランジスタの駆動能力の低下及び劣化のために不安定なセル特性を克服することは難しい。例えば、駆動能力を高めようとしてパストランジスタのサイズを増やした場合には高集積化の実現が難しく、サイズを減らした場合には駆動能力が低下する。
【0024】
そこで、本実施形態の図1に示したように、1つのパストランジスタAT1と単一ビットラインBLを有するスタックシングルポートSRAMセルは、パストランジスタのサイズを大きくすることができるので、メモリセルの駆動能力の向上に有利である。また、積層構造でありながら5トランジスタセルなので、デザインルールに余裕が与えられる。従って、収率向上が期待される。
【0025】
図11の6トランジスタセルと図1の5トランジスタセルを比較する場合、5トランジスタメモリセルにおいては第1データノードの状態をリードするためにシングルエンドセンス増幅器が使用される。データリードに先立って、ビットラインBLは予め設定された電圧基準レベル(例えば、1/2VDD電圧)に初期化される。データアクセストランジスタAT1はゲートに印加される適切な電圧、例えばワードラインブースティング電圧によりターンオンされる。6トランジスタメモリセルとは異なって、5トランジスタセルはメモリセルにバイナリ1と0をライトする場合にデータノード間に対称性を持たない。詳しくは、メモリセルに0をライトするときにワードラインはハイに活性化され、シングルビットラインにはローレベルが印加される。
【0026】
図6のような本発明の実施形態のメモリセルを有するメモリセルアレイ構造は、隣接したメモリセルとビットラインを共有する構造なので、高集積化及び高性能チップ具現の可能性を提供する。
【0027】
図2は、図1の積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルの概略的断面構造図である。図面を参照すると、第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2は第1層L1に形成され、第1,2プルアップトランジスタPU1,PU2は第1層L1の上部に位置した第2層L2に形成され、第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2とそれぞれ連結されてインバータラッチを形成する。パストランジスタAT1は第2層L2の上部に位置した第3層L3に形成され、前記インバータラッチの第1データノードとビットラインBLとの間に接続される。図2において、図1の第1,2,3層に対応する導電層は、それぞれ活性層102、第1チャンネルシリコン層200、第2チャンネルシリコン層300である。図2に図示されるPDG1,PDG2はそれぞれ第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2のゲート層を示す。また、PUG1,PUG2はそれぞれ第1,2プルアップトランジスタPU1,PU2のゲート層を示し、ATGはパストランジスタAT1のゲートを示す。
【0028】
ここで、トップゲートであるATGは、導電的にドープされたポリシリコン層で形成され、そのポリシリコン層の表面層は通常使用されるシリサイド、例えば、チタニウムシリサイド、タングステンシリサイドでシリサイド化されることができる。前記トップゲートの上部に形成される絶縁膜は、TEOS,シリコンダイオキシド、シリコン窒化膜、または、それらの中から選択された材料の組合膜で形成されうる。第1チャンネルシリコン層200は、活性領域102の一部に形成された選択的エピタキシャル成長層を通じ形成され、第2チャンネルシリコン層300は、第1チャンネルシリコン層200の一部に形成された選択的エピタキシャル成長層を通じて形成されうる。
【0029】
図3は、本発明の他の実施形態による積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルの等価回路図である。図3は2段積層構造を有するシングルスタックメモリセルを示す。第1層には、第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2とパストランジスタAT1が形成される。パストランジスタAT1は、第2プルダウントランジスタPD2のゲートとビットラインBLとの間に接続される。第1,2プルアップトランジスタPU1,PU2は、第1層の上部に位置した第2層に形成され、第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2とそれぞれ連結されてインバータラッチを形成する。
【0030】
図4は、図3の積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルの概略的断面構造図である。第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2とパストランジスタAT1は第1層L1に形成され、第1,2プルダウントランジスタPU1,PU2は第1層L1の上部に位置した第2層L2に形成され、第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2とそれぞれ連結されてインバータラッチを形成する。パストランジスタAT1はインバータラッチの第1データノードとビットラインBLとの間に接続される。図4の場合に、図3の第1,2層に対応する導電層は、それぞれ活性層102、第1チャンネルシリコン層200である。図4に示されるPDG1,PDG2はそれぞれ第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2のゲート層を示す。また、PUG1,PUG2はそれぞれ第1,2プルアップトランジスタPU1,PU2のゲート層を示し、ATGはパストランジスタAT1のゲートを示す。
【0031】
図3及び図4に示したように、2段積層のシングルポートSRAMセルの場合、プルダウントランジスタとパストランジスタは最下部層にMOS形態で具現されうることがわかる。従って、パストランジスタのサイズ増大でセル比率(ratio)が増加され、デザインルールマージンの確保で全体的なパフォーマンスの改善が期待される。また、プルアップトランジスタは第2層に配置されるので、従来の平面配置セルに比べセルサイズが減り、単一ビットラインを有するので、隣接メモリセルとビットラインが共有されることができる。
【0032】
ここで、従来のシングルポートSRAMセルが有するライティング動作の一部の問題はワードラインブースティング技術及びダイオード挿入により解決されうる。例えば、ダイオードの挿入を行ってライティング動作の問題を解決する先行技術中の1つの例は、Leonard R.Rockettにより発明され米国で2003年5月27日付で特許が発行した米国特許第6,570,227号に開示されている。これに開示されたPNダイオードは、ライト1動作の間に逆バイアスされており、第1データノードと第2インバータのトランジスタのゲートの間に連結されてデータ”1”をライトするライティング動作の問題が解決される。
【0033】
図5は図1の積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルを用いてメモリセルアレイを構成したアレイ等価回路図で、図6は図3の積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルを用いてメモリセルアレイを構成したアレイ等価回路図である。
【0034】
図5を参照すると、ダブルスタック5T構成のCMOS型SRAMセルを有するメモリセルアレイが図示される。図5において、共有ビットラインBLを基準として左側と右側のメモリセルは、図1に示されたメモリセルとそれぞれ同一である。つまり、参照符号1,2は図1のプルダウントランジスタPD1,PD2を、参照符号3,4は図1のプルアップトランジスタPU1,PU2を、参照符号5はパストランジスタAT1をそれぞれ示す。
【0035】
図6を参照すると、共有ビットラインBLを基準して左側と右側のメモリセルは図3に示されたメモリセルとそれぞれ同一である。つまり、参照符号10,6,7は図3のパストランジスタAT1及びプルダウントランジスタPD1,PD2を、参照符号8,9は図3のプルアップトランジスタPU1,PU2をそれぞれ示す。
【0036】
図5及び図6のような積層タイプメモリセルでメモリセルアレイを構成する場合、従来の6トランジスタの集積度に比べ3分の一程度のセルサイズとなるので、素子の大容量化を図ることができる。つまり、メモリセルを形成するトランジスタが複数の層に分けられて配置されるため、平面的サイズは約2ないし3倍に減る。
【0037】
図7及び図8は、本発明の好ましい実施形態による積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルのセルアレイ構成に係るワードライン及びビットラインの配置例を示す図である。
【0038】
図7には、共有ビットライン40と並んでパワーライン45,47が同一層に配置された構造が示されている。ここで、ワードラインWL1−WL4は、共有ビットライン40の下部で互いに直交で配置されることがわかる。パワーライン45,47は、電源電圧ラインまたは接地ラインである。共有ビットライン40は、ビットラインコンタクトBC1,BC2を通じてメモリセルのパストランジスタのドレインと連結される。
【0039】
図8を参照すると、共有ビットライン42,44と並んでパワーライン46が同一層に配置された構造である。ここで、ワードラインWL1,WL2は、共有ビットライン42,44の下部で互いに直交で配置されることがわかる。共有ビットライン42,44の間に配置されたパワーライン46は電源電圧ラインまたは接地ラインである。共有ビットライン42,44はそれぞれビットラインコンタクトBC1,BC2を通じてメモリセルアレイ内のパストランジスタのドレインと連結される。
【0040】
本明細書に提示した概念が特定の適用例に他の様々な方式により適用可能であることは、当該技術の知識を有した者であれば誰でも理解できるだろう。提示された積層の層数及び連結の形態は本発明による実施形態の一部を示し、より効率的でありながら回路設計者に変更可能な他の多くの方法があり得る。従って、これに対する詳細な具現は本発明に含まれるもので、請求項の範囲から外れないものとする。
【図面の簡単な説明】
【0041】
【図1】本発明の実施形態による積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルの等価回路図である。
【図2】図1の積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルの概略的断面構造図である。
【図3】本発明の他の実施形態による積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルの等価回路図である。
【図4】図3の積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルの概略的断面構造図である。
【図5】図1の積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルを用いてメモリセルアレイを構成したアレイ等価回路図である。
【図6】図3の積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルアレイを用いてメモリセルアレイを構成したアレイ等価回路図である。
【図7】本発明の実施形態による積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルのセルアレイ構成に係るワードライン及びビットラインの配置例を示す図である。
【図8】本発明の実施形態による積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルのセルアレイ構成に係るワードライン及びビットラインの配置例を示す図である。
【図9】公知の6T(6トランジスタ)構成のCMOS型SRAMセルの等価回路図である。
【図10】図9のCMOS型SRAMセルのレイアウト図である。
【図11】図9のCMOS型SRAMセルを積層タイプで形成した場合を示す積層タイプ6T構成のCMOS型SRAMセルの等価回路図である。
【図12】図11の積層タイプ6T構成のCMOS型SRAMセルの概略的断面構造図である。
【図13】図11の積層タイプ6T構成のCMOS型SRAMセルのレイアウト図である。
【図14】図11の積層タイプ6T構成のCMOS型SRAMセルのレイアウト図である。
【技術分野】
【0001】
本発明は、半導体集積回路に係るもので、特に高集積SRAMに好適な積層メモリセルに関する。
【背景技術】
【0002】
一般に、パーソナルコンピューター及び電子通信機器などのような電子的システムの高性能化に応じて、メモリとして搭載されるSRAMなどのような半導体メモリ装置の高速化及び高集積化が進んでいる。半導体メモリ装置の製造メーカーは、メモリセル領域内のメモリセルを縮小されたクリティカルディメンジョンに合うように配置するためにあるゆる努力を注いでいる実情である。
【0003】
図9は公知の6T(6トランジスタ)構成のCMOS型SRAMセルの等価回路図である。図9には、第1,2プルアップトランジスタPU1,PU2と、第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2と、第1,2パストランジスタAT1,AT2から構成された6T構成のCMOS型SRAMセルが示されている。アクセストランジスタともいわれる第1,2パストランジスタAT1,AT2のゲートは共通にワードラインWLに連結され、それぞれのドレインはビットラインBLとビットラインバーBLBにそれぞれ連結される。ここで、ビットラインBLとビットラインバーBLBは相補関係を有する。図10は図9によるCMOS型SRAMセルの通常のレイアウトを示す。図10には、図9のように構成された6T構成のCMOS型SRAMセルのトランジスタが同一層に配置されたものが示される。
【0004】
図9のような6T構成のCMOS型SRAMセルを単一層に構成する場合、単位セル当りの占有面積が相対的に大きくなって高集積化に制限要素となる。そこで、最近では、半導体メモリ装置の高集積化の要求に応じて、SRAMの場合にメモリセルを単一層に平面的に配置することから脱皮してメモリセルを積層タイプ(stacked type)で製造する技術が開発された。例えば、本出願人により特許出願された韓国特許出願第2004−2080号及び第2004−2088号にはメモリセルトランジスタをスタックタイプに積層する製造技術が開示されている。
【0005】
例えば、シングルスタックタイプメモリセルを製造する場合、メモリセルを構成する6つのMOSトランジスタのうち4個のN型MOSトランジスタ(プルダウン及びパストランジスタ)は半導体基板層に形成され、2つのP型MOSトランジスタ(プルアップトランジスタ)は前記N型MOSトランジスタのゲート電極の上部に絶縁して形成された他の基板層、例えば、チャンネルシリコン層に形成されうる。
【0006】
一方、図11は、図9のCMOS SRAMセルを積層タイプで形成した場合を示す積層タイプ6T−CMOS型SRAMセルの等価回路図である。図面を参照すると、図11の右側に位置するCMOS型SRAMセルは3層に積層された構造を有する。図11の右側に示されるダブルスタックセルの構造は、第1層に第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2が配置され、第2層に第1,2プルアップトランジスタPU1,PU2が配置され、第3層に第1,2パストランジスタAT1,AT2が配置されている。
【0007】
図12には、図11の積層タイプ6T−CMOS型SRAMセルの概略的断面構造が示されている。また、図13及び図14は、図11の積層タイプ6T−CMOS型SRAMセルのレイアウトを図示する。
【0008】
図12はダブルスタックセルの構造であって、プルダウントランジスタは第1層L1に、プルアップトランジスタは第2層L2に、パストランジスタは第3層L3に順次積層された例を示す。図12において、参照符号PDG,PUG,ATGは、プルダウントランジスタのゲート、プルアップトランジスタのゲート、パストランジスタのゲートをそれぞれ示す。また、CS1とCS2は、チャンネルシリコン層であって、この層は選択的エピタキシャル成長層S1,S2によりそれぞれ形成されたシリコン層である。参照符号100はシリコン基板、102はP型ウェル、104,105は活性領域としてのドレイン/ソース領域を示す。108はゲート絶縁膜、109及び110はサイドウォールスペーサーを示す。
【0009】
図12に示されるように、トップゲート(ATG)はパストランジスタになるが、前記トップゲートのパターンを形成することは図13及び図14の平面配置からわかるように難しい。また、図12の積層タイプセルの構造は、セルノードに対しブリッジマージンが脆弱な形態となっている。また、半導体素子が高集積化されるほど、パストランジスタの駆動能力が低下されるため、チップパフォーマンスを期待することが難しくなる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0010】
そこで、本発明の第1目的は、上述のような問題点を解決することができる半導体メモリを提供することにある。
【0011】
本発明の第2目的は、高集積SRAMに採用するに適合した積層メモリセルを提供することにある。
【0012】
本発明の第3目的は、SRAMセルを採用する半導体メモリにおいて制限されたサイズ内でより効率的なメモリセルを有するメモリセルアレイを提供することにある。
【0013】
本発明の第4目的は、積層タイプのセル構造において1つのパストランジスタを有する5トランジスタメモリセルを提供することにする。
【0014】
本発明の第5目的は、積層タイプのセル構造においてメモリセルサイズをもっと縮小するかまたはパストランジスタの駆動能力を改善させることができるSRAMを提供することにある。
【0015】
本発明の第6目的は、隣接メモリセルとビットラインを共有するセルアレイ構造が得られる方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0016】
このような目的を達成するために本発明の実施形態による積層メモリセルは、第1層に形成された第1,2プルダウントランジスタと、前記第2プルダウントランジスタのゲートとビットラインとの間に接続され、前記第1層に形成されたパストランジスタと、前記第1層の上部に位置する第2層に形成され、前記第1,2プルダウントランジスタとそれぞれ連結されてインバータラッチを形成する第1,2プルアップトランジスタと、を備える。
【0017】
好ましくは、前記ビットラインはシングルビットラインであり、前記第1層は半導体基板である。また、前記第2層は選択的エピタキシャル成長で形成されたチャンネルシリコン層である。
【0018】
本発明の他の実施形態による高集積SRAMに採用するに適合した積層メモリセルアレイは、第1層に形成された第1,2プルダウントランジスタ及び第1パストランジスタと前記第1層の上部に位置した第2層に形成された第1,2プルアップトランジスタからなる第1メモリセルと、前記第1層に形成された第3,4プルダウントランジスタ及び第2パストランジスタと前記第1層の上部に位置した第2層に形成された第3,4プルアップトランジスタからなる第2メモリセルと、前記第1,2パストランジスタのそれぞれのドレインに共通連結されたビットラインと、前記第1,2パストランジスタのゲートにそれぞれ独立的に連結された第1,2ワードラインと、を備える。
【発明の効果】
【0019】
本発明によれば、積層タイプの構造において1つのパストランジスタを有するので、6トランジスタセルに比べてセルサイズが縮小されるかまたはパストランジスタの駆動能力が改善される。従って、積層タイプ5トランジスタメモリセルでメモリセルアレイを構成する場合において隣接メモリセルとビットラインを共有するセルアレイ構造が得られることにより、半導体メモリチップの高集積化を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0020】
本発明の目的、特徴、そして利点は添付図を参照して以下に説明される本発明の好ましい実施形態の説明により明らかになるだろう。図面において互いに同一ないし類似な部分は説明及び理解の便宜上同一ないし類似な参照符号で記載される。
【0021】
図1は、本発明の好ましい実施形態による積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルの等価回路図である。
【0022】
まず、図1において、最上位層の第3層には、1つのパストランジスタAT1が配置され、第1層には第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2が配置され、第2層には第1,2プルアップトランジスタPU1,PU2が配置された積層メモリセル構造が図示されている。パストランジスタAT1は、第2プルダウントランジスタPD2のゲートとビットラインとの間に接続される。また、第1,2プルアップトランジスタPU1,PU2は、第1層の上部に位置した第2層に形成され、第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2とそれぞれ連結されてインバータラッチを形成する。
【0023】
3段積層構造のSRAMセルの場合に、プルダウントランジスタは一番下部層にMOS形態で配置されるので、その特性は非常に安定的で且つ優秀である。しかし、上位層に配置されるプルアップトランジスタ及びパストランジスタはバルクを有さないチャンネルシリコン状態のトランジスタなので、動作特性が相対的に不安定で、駆動能力が低い。特に、SRAMセルの動作安定度はパストランジスタとプルダウントランジスタの比で決定されるのに、パストランジスタの駆動能力の低下及び劣化のために不安定なセル特性を克服することは難しい。例えば、駆動能力を高めようとしてパストランジスタのサイズを増やした場合には高集積化の実現が難しく、サイズを減らした場合には駆動能力が低下する。
【0024】
そこで、本実施形態の図1に示したように、1つのパストランジスタAT1と単一ビットラインBLを有するスタックシングルポートSRAMセルは、パストランジスタのサイズを大きくすることができるので、メモリセルの駆動能力の向上に有利である。また、積層構造でありながら5トランジスタセルなので、デザインルールに余裕が与えられる。従って、収率向上が期待される。
【0025】
図11の6トランジスタセルと図1の5トランジスタセルを比較する場合、5トランジスタメモリセルにおいては第1データノードの状態をリードするためにシングルエンドセンス増幅器が使用される。データリードに先立って、ビットラインBLは予め設定された電圧基準レベル(例えば、1/2VDD電圧)に初期化される。データアクセストランジスタAT1はゲートに印加される適切な電圧、例えばワードラインブースティング電圧によりターンオンされる。6トランジスタメモリセルとは異なって、5トランジスタセルはメモリセルにバイナリ1と0をライトする場合にデータノード間に対称性を持たない。詳しくは、メモリセルに0をライトするときにワードラインはハイに活性化され、シングルビットラインにはローレベルが印加される。
【0026】
図6のような本発明の実施形態のメモリセルを有するメモリセルアレイ構造は、隣接したメモリセルとビットラインを共有する構造なので、高集積化及び高性能チップ具現の可能性を提供する。
【0027】
図2は、図1の積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルの概略的断面構造図である。図面を参照すると、第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2は第1層L1に形成され、第1,2プルアップトランジスタPU1,PU2は第1層L1の上部に位置した第2層L2に形成され、第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2とそれぞれ連結されてインバータラッチを形成する。パストランジスタAT1は第2層L2の上部に位置した第3層L3に形成され、前記インバータラッチの第1データノードとビットラインBLとの間に接続される。図2において、図1の第1,2,3層に対応する導電層は、それぞれ活性層102、第1チャンネルシリコン層200、第2チャンネルシリコン層300である。図2に図示されるPDG1,PDG2はそれぞれ第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2のゲート層を示す。また、PUG1,PUG2はそれぞれ第1,2プルアップトランジスタPU1,PU2のゲート層を示し、ATGはパストランジスタAT1のゲートを示す。
【0028】
ここで、トップゲートであるATGは、導電的にドープされたポリシリコン層で形成され、そのポリシリコン層の表面層は通常使用されるシリサイド、例えば、チタニウムシリサイド、タングステンシリサイドでシリサイド化されることができる。前記トップゲートの上部に形成される絶縁膜は、TEOS,シリコンダイオキシド、シリコン窒化膜、または、それらの中から選択された材料の組合膜で形成されうる。第1チャンネルシリコン層200は、活性領域102の一部に形成された選択的エピタキシャル成長層を通じ形成され、第2チャンネルシリコン層300は、第1チャンネルシリコン層200の一部に形成された選択的エピタキシャル成長層を通じて形成されうる。
【0029】
図3は、本発明の他の実施形態による積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルの等価回路図である。図3は2段積層構造を有するシングルスタックメモリセルを示す。第1層には、第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2とパストランジスタAT1が形成される。パストランジスタAT1は、第2プルダウントランジスタPD2のゲートとビットラインBLとの間に接続される。第1,2プルアップトランジスタPU1,PU2は、第1層の上部に位置した第2層に形成され、第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2とそれぞれ連結されてインバータラッチを形成する。
【0030】
図4は、図3の積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルの概略的断面構造図である。第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2とパストランジスタAT1は第1層L1に形成され、第1,2プルダウントランジスタPU1,PU2は第1層L1の上部に位置した第2層L2に形成され、第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2とそれぞれ連結されてインバータラッチを形成する。パストランジスタAT1はインバータラッチの第1データノードとビットラインBLとの間に接続される。図4の場合に、図3の第1,2層に対応する導電層は、それぞれ活性層102、第1チャンネルシリコン層200である。図4に示されるPDG1,PDG2はそれぞれ第1,2プルダウントランジスタPD1,PD2のゲート層を示す。また、PUG1,PUG2はそれぞれ第1,2プルアップトランジスタPU1,PU2のゲート層を示し、ATGはパストランジスタAT1のゲートを示す。
【0031】
図3及び図4に示したように、2段積層のシングルポートSRAMセルの場合、プルダウントランジスタとパストランジスタは最下部層にMOS形態で具現されうることがわかる。従って、パストランジスタのサイズ増大でセル比率(ratio)が増加され、デザインルールマージンの確保で全体的なパフォーマンスの改善が期待される。また、プルアップトランジスタは第2層に配置されるので、従来の平面配置セルに比べセルサイズが減り、単一ビットラインを有するので、隣接メモリセルとビットラインが共有されることができる。
【0032】
ここで、従来のシングルポートSRAMセルが有するライティング動作の一部の問題はワードラインブースティング技術及びダイオード挿入により解決されうる。例えば、ダイオードの挿入を行ってライティング動作の問題を解決する先行技術中の1つの例は、Leonard R.Rockettにより発明され米国で2003年5月27日付で特許が発行した米国特許第6,570,227号に開示されている。これに開示されたPNダイオードは、ライト1動作の間に逆バイアスされており、第1データノードと第2インバータのトランジスタのゲートの間に連結されてデータ”1”をライトするライティング動作の問題が解決される。
【0033】
図5は図1の積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルを用いてメモリセルアレイを構成したアレイ等価回路図で、図6は図3の積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルを用いてメモリセルアレイを構成したアレイ等価回路図である。
【0034】
図5を参照すると、ダブルスタック5T構成のCMOS型SRAMセルを有するメモリセルアレイが図示される。図5において、共有ビットラインBLを基準として左側と右側のメモリセルは、図1に示されたメモリセルとそれぞれ同一である。つまり、参照符号1,2は図1のプルダウントランジスタPD1,PD2を、参照符号3,4は図1のプルアップトランジスタPU1,PU2を、参照符号5はパストランジスタAT1をそれぞれ示す。
【0035】
図6を参照すると、共有ビットラインBLを基準して左側と右側のメモリセルは図3に示されたメモリセルとそれぞれ同一である。つまり、参照符号10,6,7は図3のパストランジスタAT1及びプルダウントランジスタPD1,PD2を、参照符号8,9は図3のプルアップトランジスタPU1,PU2をそれぞれ示す。
【0036】
図5及び図6のような積層タイプメモリセルでメモリセルアレイを構成する場合、従来の6トランジスタの集積度に比べ3分の一程度のセルサイズとなるので、素子の大容量化を図ることができる。つまり、メモリセルを形成するトランジスタが複数の層に分けられて配置されるため、平面的サイズは約2ないし3倍に減る。
【0037】
図7及び図8は、本発明の好ましい実施形態による積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルのセルアレイ構成に係るワードライン及びビットラインの配置例を示す図である。
【0038】
図7には、共有ビットライン40と並んでパワーライン45,47が同一層に配置された構造が示されている。ここで、ワードラインWL1−WL4は、共有ビットライン40の下部で互いに直交で配置されることがわかる。パワーライン45,47は、電源電圧ラインまたは接地ラインである。共有ビットライン40は、ビットラインコンタクトBC1,BC2を通じてメモリセルのパストランジスタのドレインと連結される。
【0039】
図8を参照すると、共有ビットライン42,44と並んでパワーライン46が同一層に配置された構造である。ここで、ワードラインWL1,WL2は、共有ビットライン42,44の下部で互いに直交で配置されることがわかる。共有ビットライン42,44の間に配置されたパワーライン46は電源電圧ラインまたは接地ラインである。共有ビットライン42,44はそれぞれビットラインコンタクトBC1,BC2を通じてメモリセルアレイ内のパストランジスタのドレインと連結される。
【0040】
本明細書に提示した概念が特定の適用例に他の様々な方式により適用可能であることは、当該技術の知識を有した者であれば誰でも理解できるだろう。提示された積層の層数及び連結の形態は本発明による実施形態の一部を示し、より効率的でありながら回路設計者に変更可能な他の多くの方法があり得る。従って、これに対する詳細な具現は本発明に含まれるもので、請求項の範囲から外れないものとする。
【図面の簡単な説明】
【0041】
【図1】本発明の実施形態による積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルの等価回路図である。
【図2】図1の積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルの概略的断面構造図である。
【図3】本発明の他の実施形態による積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルの等価回路図である。
【図4】図3の積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルの概略的断面構造図である。
【図5】図1の積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルを用いてメモリセルアレイを構成したアレイ等価回路図である。
【図6】図3の積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルアレイを用いてメモリセルアレイを構成したアレイ等価回路図である。
【図7】本発明の実施形態による積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルのセルアレイ構成に係るワードライン及びビットラインの配置例を示す図である。
【図8】本発明の実施形態による積層タイプ5T構成のCMOS型SRAMセルのセルアレイ構成に係るワードライン及びビットラインの配置例を示す図である。
【図9】公知の6T(6トランジスタ)構成のCMOS型SRAMセルの等価回路図である。
【図10】図9のCMOS型SRAMセルのレイアウト図である。
【図11】図9のCMOS型SRAMセルを積層タイプで形成した場合を示す積層タイプ6T構成のCMOS型SRAMセルの等価回路図である。
【図12】図11の積層タイプ6T構成のCMOS型SRAMセルの概略的断面構造図である。
【図13】図11の積層タイプ6T構成のCMOS型SRAMセルのレイアウト図である。
【図14】図11の積層タイプ6T構成のCMOS型SRAMセルのレイアウト図である。
【特許請求の範囲】
【請求項1】
第1層に形成された第1,2プルダウントランジスタと、
前記第1層の上部に位置する第2層に形成され、前記第1,2プルダウントランジスタとそれぞれ連結されてインバータラッチを形成する第1,2プルアップトランジスタと、
前記第2プルダウントランジスタのゲートとビットラインとの間に接続され、前記第1層または第2層の上部に位置する第3層に形成されたパストランジスタと、
を備えることを特徴とする積層メモリセル。
【請求項2】
前記ビットラインはシングルビットラインであることを特徴とする請求項1に記載の積層メモリセル。
【請求項3】
前記第1層は半導体基板であることを特徴とする請求項1に記載の積層メモリセル。
【請求項4】
前記第2層または前記第3層は選択的エピタキシャル成長で形成されたチャンネルシリコン層であることを特徴とする請求項3に記載の積層メモリセル。
【請求項5】
第1層に形成された第1,2プルダウントランジスタと、
前記第1プルダウントランジスタのゲートとビットラインとの間に接続され、前記第1層に形成されたパストランジスタと、
前記第1層の上部に位置する第2層に形成され、前記第1,2プルダウントランジスタとそれぞれ連結されてインバータラッチを形成する第1,2プルアップトランジスタと、
を備えることを特徴とする積層メモリセル。
【請求項6】
前記ビットラインはシングルビットラインであることを特徴とする請求項5に記載の積層メモリセル。
【請求項7】
前記第1層は半導体基板であることを特徴とする請求項5に記載の積層メモリセル。
【請求項8】
前記第2層は前記半導体基板の上部に選択的エピタキシャル成長により形成されたシリコン層であることを特徴とする請求項7に記載の積層メモリセル。
【請求項9】
第1層に形成された第1,2プルダウントランジスタと、
前記第1層の上部に位置する第2層に形成され、前記第1,2プルダウントランジスタとそれぞれ連結されてインバータラッチを形成する第1,2プルアップトランジスタと、
前記第2層の上部に位置した第3層に形成され、前記インバータラッチの第1データノードとビットラインの間に接続されるパストランジスタと、
を備えることを特徴とする積層メモリセル。
【請求項10】
前記ビットラインはメモリセル当り1つだけ存在するシングルビットラインであることを特徴とする請求項9に記載の積層メモリセル。
【請求項11】
前記第1層は半導体シリコン基板に形成されたPウェルであることを特徴とする請求項9に記載の積層メモリセル。
【請求項12】
前記第2層と第3層は選択的エピタキシャル成長で形成されたチャンネルシリコン層であることを特徴とする請求項11に記載の積層メモリセル。
【請求項13】
1状態または0状態がシングルビットラインを通じてライトされる形態の5トランジスタ構成のCMOS型SRAMセルにおいて、
電源電圧と接地電圧との間に互いに連結された第1プルアップ及び第1プルダウントランジスタからなり、前記第1プルアップ及び第2プルダウントランジスタの間に第1データノードを形成する第1インバータと、
前記電源電圧と接地電圧との間に互いに直列で連結された第2プルアップ及び第2プルダウントランジスタからなり、前記第2プルアップ及び第2プルダウントランジスタの間に第2データノードを形成する第2インバータと、
前記第1インバータの前記第1データノードとシングルビットラインとの間に連結され、ワードライン信号をゲートで受けるパストランジスタを有し、
前記第1,2プルダウントランジスタとパストランジスタは第1導電層に形成され、
前記第1導電層の上部に位置する第2導電層には前記第1,2プルアップトランジスタが形成されていることを特徴とするCMOS型SRAMセル。
【請求項14】
前記パストランジスタのゲートに印加される前記ワードライン信号は電源電圧よりも高いブースティング電圧レベルを有することを特徴とする請求項13に記載のCMOS SRAMセル。
【請求項15】
前記ビットラインと同一の方向に各メモリセルごとに配置されるメタル層のパワーラインをさらに備えることを特徴とする請求項13に記載のCMOS型SRAMセル。
【請求項16】
第1層に形成された第1,2プルダウントランジスタ及び第1パストランジスタと、前記第1層の上部に位置する第2層に形成された第1,2プルアップトランジスタからなる第1メモリセルと、
前記第1層に形成された第3,4プルダウントランジスタ及び第2パストランジスタと、前記第1層の上部に位置する第2層に形成された第3,4プルアップトランジスタからなる第2メモリセルと、
前記第1,2パストランジスタのそれぞれのドレインに共通連結されたビットラインと、
前記第1,2パストランジスタのゲートにそれぞれ独立的に連結される第1,2ワードラインと、
を備えることを特徴とする積層メモリセルアレイ。
【請求項17】
プルダウン、プルアップ及びアクセストランジスタを有するSRAMセルを形成する場合に前記アクセストランジスタを1つだけ準備し、ビットラインを相補関係のビットラインバーを有さない単一ビットラインとして準備し、シングルスタックまたはダブルスタックセル構造で製造することを特徴とする積層タイプシングルポートSRAMセルの製造方法。
【請求項1】
第1層に形成された第1,2プルダウントランジスタと、
前記第1層の上部に位置する第2層に形成され、前記第1,2プルダウントランジスタとそれぞれ連結されてインバータラッチを形成する第1,2プルアップトランジスタと、
前記第2プルダウントランジスタのゲートとビットラインとの間に接続され、前記第1層または第2層の上部に位置する第3層に形成されたパストランジスタと、
を備えることを特徴とする積層メモリセル。
【請求項2】
前記ビットラインはシングルビットラインであることを特徴とする請求項1に記載の積層メモリセル。
【請求項3】
前記第1層は半導体基板であることを特徴とする請求項1に記載の積層メモリセル。
【請求項4】
前記第2層または前記第3層は選択的エピタキシャル成長で形成されたチャンネルシリコン層であることを特徴とする請求項3に記載の積層メモリセル。
【請求項5】
第1層に形成された第1,2プルダウントランジスタと、
前記第1プルダウントランジスタのゲートとビットラインとの間に接続され、前記第1層に形成されたパストランジスタと、
前記第1層の上部に位置する第2層に形成され、前記第1,2プルダウントランジスタとそれぞれ連結されてインバータラッチを形成する第1,2プルアップトランジスタと、
を備えることを特徴とする積層メモリセル。
【請求項6】
前記ビットラインはシングルビットラインであることを特徴とする請求項5に記載の積層メモリセル。
【請求項7】
前記第1層は半導体基板であることを特徴とする請求項5に記載の積層メモリセル。
【請求項8】
前記第2層は前記半導体基板の上部に選択的エピタキシャル成長により形成されたシリコン層であることを特徴とする請求項7に記載の積層メモリセル。
【請求項9】
第1層に形成された第1,2プルダウントランジスタと、
前記第1層の上部に位置する第2層に形成され、前記第1,2プルダウントランジスタとそれぞれ連結されてインバータラッチを形成する第1,2プルアップトランジスタと、
前記第2層の上部に位置した第3層に形成され、前記インバータラッチの第1データノードとビットラインの間に接続されるパストランジスタと、
を備えることを特徴とする積層メモリセル。
【請求項10】
前記ビットラインはメモリセル当り1つだけ存在するシングルビットラインであることを特徴とする請求項9に記載の積層メモリセル。
【請求項11】
前記第1層は半導体シリコン基板に形成されたPウェルであることを特徴とする請求項9に記載の積層メモリセル。
【請求項12】
前記第2層と第3層は選択的エピタキシャル成長で形成されたチャンネルシリコン層であることを特徴とする請求項11に記載の積層メモリセル。
【請求項13】
1状態または0状態がシングルビットラインを通じてライトされる形態の5トランジスタ構成のCMOS型SRAMセルにおいて、
電源電圧と接地電圧との間に互いに連結された第1プルアップ及び第1プルダウントランジスタからなり、前記第1プルアップ及び第2プルダウントランジスタの間に第1データノードを形成する第1インバータと、
前記電源電圧と接地電圧との間に互いに直列で連結された第2プルアップ及び第2プルダウントランジスタからなり、前記第2プルアップ及び第2プルダウントランジスタの間に第2データノードを形成する第2インバータと、
前記第1インバータの前記第1データノードとシングルビットラインとの間に連結され、ワードライン信号をゲートで受けるパストランジスタを有し、
前記第1,2プルダウントランジスタとパストランジスタは第1導電層に形成され、
前記第1導電層の上部に位置する第2導電層には前記第1,2プルアップトランジスタが形成されていることを特徴とするCMOS型SRAMセル。
【請求項14】
前記パストランジスタのゲートに印加される前記ワードライン信号は電源電圧よりも高いブースティング電圧レベルを有することを特徴とする請求項13に記載のCMOS SRAMセル。
【請求項15】
前記ビットラインと同一の方向に各メモリセルごとに配置されるメタル層のパワーラインをさらに備えることを特徴とする請求項13に記載のCMOS型SRAMセル。
【請求項16】
第1層に形成された第1,2プルダウントランジスタ及び第1パストランジスタと、前記第1層の上部に位置する第2層に形成された第1,2プルアップトランジスタからなる第1メモリセルと、
前記第1層に形成された第3,4プルダウントランジスタ及び第2パストランジスタと、前記第1層の上部に位置する第2層に形成された第3,4プルアップトランジスタからなる第2メモリセルと、
前記第1,2パストランジスタのそれぞれのドレインに共通連結されたビットラインと、
前記第1,2パストランジスタのゲートにそれぞれ独立的に連結される第1,2ワードラインと、
を備えることを特徴とする積層メモリセルアレイ。
【請求項17】
プルダウン、プルアップ及びアクセストランジスタを有するSRAMセルを形成する場合に前記アクセストランジスタを1つだけ準備し、ビットラインを相補関係のビットラインバーを有さない単一ビットラインとして準備し、シングルスタックまたはダブルスタックセル構造で製造することを特徴とする積層タイプシングルポートSRAMセルの製造方法。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【公開番号】特開2007−180508(P2007−180508A)
【公開日】平成19年7月12日(2007.7.12)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2006−308394(P2006−308394)
【出願日】平成18年11月14日(2006.11.14)
【出願人】(390019839)三星電子株式会社 (8,520)
【氏名又は名称原語表記】Samsung Electronics Co.,Ltd.
【Fターム(参考)】
【公開日】平成19年7月12日(2007.7.12)
【国際特許分類】
【出願日】平成18年11月14日(2006.11.14)
【出願人】(390019839)三星電子株式会社 (8,520)
【氏名又は名称原語表記】Samsung Electronics Co.,Ltd.
【Fターム(参考)】
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