説明

Fターム[5F083ZA14]の内容

半導体メモリ (164,393) | その他 (6,553) | メモリと独立機能ブロック (1,941) | メモリ部+メモリ部(異種) (302)

Fターム[5F083ZA14]に分類される特許

81 - 100 / 302


【課題】積層されるチップ数が増加した際にワイヤボンディング数の増加を抑制でき、さらにインダクタ素子の形成によるチップ面積の増大を抑制できる高速なインタフェースを有する不揮発性半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】信号を送受信するインダクタ素子ID1を有するNANDチップNC1と、信号を送受信するインダクタ素子ID0を有するNANDチップNC0と、NANDチップNC1,NC0の動作を制御する制御回路が形成され、インダクタ素子ID1,ID0との間で信号を送受信するインダクタ素子IDCを有する制御用チップCC0とを備える。インダクタ素子ID1,ID0の外周は、インダクタ素子IDCの外周をインダクタ素子IDCを含む平面に垂直な方向に延長した閉空間に含まれ、インダクタ素子IDCのインダクタンスは、インダクタ素子ID1あるいはID0のインダクタンスの少なくともいずれか一方より大きい。 (もっと読む)


【課題】ゲート絶縁膜の厚さが異なる複数種類の電界効果トランジスタを有する半導体集積回路装置の信頼性を高める。
【解決手段】第1の電界効果トランジスタQ3及び第2の電界効果トランジスタQ4は埋込絶縁膜25によって分離され、ゲート絶縁膜31,32は各々熱酸化膜27、30と堆積膜27,28,29が積層され、第1の電界効果トランジスタの熱酸化膜は第2の電界効果トランジスタの熱酸化膜より厚く、各トランジスタの堆積膜は、各々各トランジスタの熱酸化膜よりも厚く構成され、第1の電界効果トランジスタのゲート電極は、ゲート幅方向における端部が埋込絶縁膜上に引き出され、かつ端部と埋込絶縁膜との間に第1の電界効果トランジスタの堆積膜が設けられ、第2の電界効果トランジスタのゲート電極は、ゲート幅方向における端部が埋込絶縁膜上に引き出され、かつ前記端部と埋込絶縁膜との間に第2の電界効果トランジスタの堆積膜が設けられる。 (もっと読む)


【課題】隣接メモリセルへの漏洩電流を減らすフラッシュメモリ、特にチャージトラップメモリおよびそれを形成するプロセスフローの提供。
【解決手段】セルチャンネル620を含む半導体線が、STI領域120上に形成される。セルチャンネルは、トンネル酸化物層621、トラッピング誘電体層623、およびブロッキング誘電体層628を含む活性誘電体スタックで覆われる。結果として得られるセルチャンネルを分離するトレンチ625は、伝導層460で少なくとも部分的に充填され得る。活性誘電体層および/または伝導層の部分は、セルチャンネルの下、たとえば、セルチャンネルおよびSTI領域の間の界面695の下に位置し得る。そのような構成は、活性誘電体スタックおよび/または半導体層がセルチャンネルの下に位置しない構成に比べて、あるセルチャンネルから隣接セルチャンネルに拡散する荷電粒子670に対して経路長の増大をもたらす。 (もっと読む)


【課題】メモリ回路を含む半導体装置の低消費電力化を図ることを課題とする。
【解決手段】メモリ回路を含む半導体装置において、メモリ回路はワード線とビット線で規定される領域に設けられた半導体素子を有するメモリセルと半導体素子を有さないメモリセルを含み、該半導体素子には、酸化物半導体を用いて形成したオフ電流が極めて低いトランジスタを用いるため、読み出し精度が高まり、低電圧動作が可能となる。また、メモリセルは、ハイまたはローのいずれか一方のデータを記憶し、半導体素子を有するメモリセルは、前記データを構成するハイおよびローのうち、少ない方を記憶し、半導体素子を有さないメモリセルは、多い方を記憶する。 (もっと読む)


【課題】3次元的に配列される導電パターンの厚さを増加しその抵抗を減少できる3次元半導体装置を提供する。
【解決手段】この装置は基板上に順に積層された水平構造体と、水平構造体を垂直に横切る垂直構造体とを具備する。水平構造体の各々は基板に平行な導電ライン及び垂直構造体に隣接した導電ラインの一側壁を覆う第2パターンを含む。また垂直構造体の各々は半導体柱及び水平構造体に隣接した半導体柱の少なくとも一側壁を覆う第1パターンを含む。
基板上に順に積層された電極を含む電極構造体と、電極構造体を垂直に貫通する半導体パターンと、第1パターン及び第2パターンを具備して半導体パターンと電極構造体との間に介在するメモリー要素と、を含み、第1パターンは垂直に延長されて複数の電極を横切り、第2パターンは水平に延長されて複数の半導体パターンを横切る。 (もっと読む)


【課題】バックゲートを有するMOSを、回路の動作特性に応じて使い分け、幅広い温度範囲にて高速かつ低電力なLSIを実現する。
【解決手段】薄膜埋め込み酸化膜層を持つFD−SOIを使用し、薄膜埋め込み酸化膜層の下層半導体領域をバックゲートとし、論理回路ブロックにおいてブロック中の負荷の軽い論理回路にはバックゲートの電圧をブロック活性化に合わせてブロック外から制御する。このバックゲート駆動信号を発生する回路、及び回路ブロック出力部など負荷の重い論理回路には、ゲートとバックゲートとを接続したトランジスタを用い、そのゲート入力信号でバックゲートを直接制御する。 (もっと読む)


【課題】作製工程を複雑化させることなく、高集積化を実現することが可能な、DRAM混載の集積回路の提供。
【解決手段】DRAMを有する集積回路であって、DRAMには、薄膜トランジスタを備えたメモリセルが複数設けられており、薄膜トランジスタは、活性層と、活性層が有するチャネル形成領域を間に挟んで重なり合っている第1の電極及び第2の電極とを有しており、データに従って薄膜トランジスタのドレイン電圧を制御することで、チャネル形成領域における正孔の蓄積の有無を選択し、正孔の蓄積の有無を把握することでデータを読み出すことを特徴とする集積回路。 (もっと読む)


【課題】安定した容量を確保し配置面積低減が可能なキャパシタ素子を有する半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】第1の上面12aを有するメモリセル領域1及び第1の上面12aより裏面に近い第2の上面12bを有する周辺回路領域3を有する半導体基板11、メモリセル領域1の第1の上面12a上のトンネル絶縁膜13a及びトンネル絶縁膜13a上の下層電極膜15aを有するメモリセルトランジスタ1a、トンネル絶縁膜13aより厚い周辺回路領域3の第2の上面12b上のゲート絶縁膜13b及び下層電極膜15aと同じ膜厚のゲート絶縁膜13b上の下層電極膜15bを有する高電圧トランジスタ3a、並びに周辺回路領域3にあり、第1及び第2の上面12a、12bをそれぞれ上端面及び底面とする凹凸面に沿ったキャパシタ誘電体膜13c及びキャパシタ誘電体膜13c上の下面に凹凸をなす下層電極膜15cを有するキャパシタ素子3bを備える。 (もっと読む)



【課題】製造コストの増加を抑止して不揮発性メモリーセルとマスクROMメモリーセルとを混在できる記憶装置、集積回路装置及び電子機器等を提供すること。
【解決手段】記憶装置は、複数のメモリーセルME1、ME2、MR1、MR2と、複数のワード線WL1、WL2と、複数のビット線BL1、BL2と、複数のソース線SL1、SL2とを含む。複数のメモリーセルのうちの第1のグループのメモリーセルは、電気的にデータの書き込み及び消去が可能な不揮発性メモリーセルME1、ME2である。複数のメモリーセルのうちの第2のグループのメモリーセルは、マスクによりデータが設定されるマスクROMメモリーセルMR1、MR2である。マスクROMメモリーセルMR1、MR2は、ソースと対応するソース線SL2とを電気的に接続するためのコンタクトCN1、CN2の有無によってデータが設定される。 (もっと読む)


【課題】パッケージの端子数の増加と、ベースチップのI/O領域の増加を抑制する構造体を提供する。
【解決手段】複数の外部導出配線と、マスクROM領域、内部バス、複数のバス接続端子、および複数の外部接続端子を有する半導体集積回路基板と、この半導体集積回路基板上に積層され、複数のROM接続端子を持つプログラマブルROM15と、を備えた半導体集積回路装置において、複数の外部導出配線の一部、半導体集積回路基板、プログラマブルROM15、複数の外部接続端子と複数の外部導出配線との電気的接続、および複数のバス接続端子と複数のROM接続端子との電気的接続のそれぞれが同一半導体パッケージ内に封止されている。 (もっと読む)


【課題】コストを増大させずとも、書き込みに高電圧を必要とせず、不良が発生しにくく、書き込み時間が短く、データの書換えができない半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】ダイオード接続した第1のトランジスタと、ダイオード接続した第1のトランジスタのソース電極及びドレイン電極の一方の端子にゲートが接続する第2のトランジスタと、ダイオード接続した第1のトランジスタのソース電極及びドレイン電極の一方の端子及び第2のトランジスタのゲートに接続する容量素子を有するメモリ素子を含む半導体記憶装置である。 (もっと読む)


【課題】メモリセルの信頼性を向上可能な半導体記憶装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】
複数のメモリセルMを備えたメモリセルアレイと、複数のメモリセルMの行方向に配列されたメモリセルMに共通に接続された複数のワード線WLと、複数のメモリセルMの列方向に配列されたメモリセルMに共通に接続された複数のビット線BLと、メモリセルMにデータの書き込みを行うとき、奇数番目のビット線BLに接続されたメモリセルMと偶数番目のビット線BLに接続されたメモリセルMとで書き込み順序を規定したヒューズデータを記憶したヒューズとを備え、奇数番目または偶数番目のビット線BLに接続されたメモリセルMの閾値分布の小さい方のメモリセルMから書き込みを行うようにヒューズデータの書き込み順序が規定されることを特徴とする半導体記憶装置。 (もっと読む)


【課題】集積度及び信頼性を共に向上させた3次元半導体装置を提供する。
【解決手段】3次元半導体装置の配線構造が提供される。3次元半導体装置は3次元基板上に2次元的に配列された積層構造体、第1配線を含み、積層構造体の上部に配置される第1配線層及び第2配線を含み、第1配線層の上部に配置される第2配線層を含み、積層構造体各々は順次に積層された複数の下部ワードラインを含む下部構造体及び順次に積層された複数の上部ワードラインを含み、下部構造体の上部に配置される上部構造体を含み、第1配線各々は下部ワードラインの内の何れか1つに連結し、第2配線各々は上部ワードラインの内の何れか1つに連結する。 (もっと読む)


プログラマブルメモリアレイ回路アーキテクチャ(例えば、PROM、OTPROM、及び他のそのようなプログラマブル不揮発メモリ等)を効果的に実施するための技術及び回路が開示される。回路は、メモリビットセルのアレイを有するアンチヒューズ方式を用いる。各ビットセルは、プログラム装置と、電流経路絶縁ウェルを有して構成され、メモリセル状態を記憶するアンチヒューズ素子とを有する。行/列選択回路、電力選択器回路、及び/又は読出回路とともに使用されるビットセル構造は、高密度のメモリアレイ回路設計及びレイアウトを可能にする。
(もっと読む)


相変化メモリアレイを操作する方法を開示する。方法は、相変化メモリアレイに書き込まれるパターンを決定することと、パターンに従って、2つまたはそれ以上の適切なリセットシーケンスを相変化メモリアレイ上で実行し、相変化メモリアレイにパターンを書き込むことと、を含む。別の方法は、相変化メモリアレイ上でセットシーケンスを実行することと、相変化メモリアレイの適切な読み出しを実施し、セットシーケンスの実行から得られるパターンを取得することと、を含む。 (もっと読む)


【課題】ロジック回路を増やすことなく、第三者がメモリセルにアクセスできずかつ必要な場合にはいつでもアクセス可能なメモリセルを有する記憶装置を提供する。
【解決手段】本実施形態は、第1のメモリセルと、第2のメモリセルと、を有し、第2のメモリセルに設けられた第2のトランジスタの第2のチャネルが酸化物半導体膜からなる記憶装置であって、第2のメモリセルからのデータの読み出しは第2のトランジスタに紫外線を照射している時に行われる記憶装置によって解決する。 (もっと読む)


【課題】周辺回路の設計の複雑さと、セルの信頼性とを改善するメモリセルを提供する。
【解決手段】絶縁BOX層によってベース基板5から分離された半導体材料からなる薄膜を備えた半導体・オン・インシュレータ基板上の、フローティングゲート20を備え薄膜内にチャネル4を有するFETトランジスタからなるフラッシュメモリセル1Aに関する。フラッシュメモリセル1Aは2つのコントロールゲートを備え、フロント・コントロール・ゲート22が、フローティングゲート20の上方に配置され、かつ、ゲート間誘電体層23によってフローティングゲート20から分離され、バック・コントロール・ゲート6が、絶縁BOX層のみによってチャネル4から分離されるように、ベース基板5内において絶縁BOX層の真下に配置され、これらの2つのコントロールゲート22;6がセル書き込み動作を実行するために併用されるように設計されている。 (もっと読む)


【課題】ゲート電極と拡散層に接続する共通コンタクトにおけるリークを防ぐ。
【解決手段】半導体装置は、拡散層が形成された基板と、基板上に形成されたゲート電極と、基板上にゲート電極よりも高い位置まで形成された第1絶縁層と、拡散層に電気的に接続され、第1絶縁層を貫通する第1コンタクトと、ゲート電極と電気的に接続された第2コンタクトと、第1絶縁層の上に形成された第2絶縁層とを備える。第1コンタクトと第2コンタクトとは第1絶縁層の上面以上の高さにおいて電気的に接続する。ゲート電極上と拡散層上は異なるコンタクトで形成されているため、ゲート電極のサイドウォールが減少することなく、リークを防ぐことができる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、安価な半導体装置を提供することを課題とする。
【解決手段】本発明の半導体装置は、相変化メモリと、電磁波を交流の電気信号に変換するアンテナと、アンテナから供給される交流の電気信号を基に電源電位を生成し、生成した電源電位を相変化メモリに供給する電源回路を有する。相変化メモリは、第1の方向に延在するビット線、第1の方向と垂直な第2の方向に延在するワード線及びビット線とワード線の間に設けられた相変化層を有する。 (もっと読む)


81 - 100 / 302