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Fターム[5F110GG32]の内容

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【課題】微細な配線パターンを備えた発光装置の作製方法の提供。
【解決手段】Inと、Gaと、Znとを有する酸化物半導体層を形成し、酸化物半導体層上に第1の導体パターンを形成し、第1の導体パターンより微細な第2の導体パターンを形成し、前記第2の導体パターンと電気的に接続する発光素子を形成する発光装置の作製方法であって、第2の導体パターンは、酸化物半導体層を横断する。 (もっと読む)


【課題】大電流かつ高耐圧な窒化物系半導体デバイスを提供する。
【解決手段】基板10と、基板10の上方に形成された電子走行層30と、電子走行層30上に形成された、電子走行層30とバンドギャップエネルギーの異なる電子供給層40と、電子供給層40上に形成されたドレイン電極80と、ドレイン電極80に流れる電流を制御するゲート電極70と、ゲート電極70をはさんでドレイン電極80の反対側に形成されたソース電極90とを備え、ゲート電極70とドレイン電極80との間の電子走行層30の表面には、2次元電子ガスの濃度が他の領域より低い複数の低濃度領域32が、互いに離れて形成されている、窒化物系半導体デバイス100。 (もっと読む)


【課題】急峻なS値特性を有するとともに、ソース/ドレイン領域が同じ導電型となる対称構造を有する電界効果トランジスタを提供する。
【解決手段】本実施形態による電界効果トランジスタは、半導体層と、前記半導体層に離間して設けられたソース領域およびドレイン領域と、前記ソース領域と前記ドレイン領域との間の前記半導体層上に設けられたゲート絶縁膜と、前記ゲート絶縁膜上に設けられたゲート電極と、前記ソース領域および前記ドレイン領域側の前記ゲート電極の少なくとも一方の側面に設けられた高誘電体のゲート側壁と、を備え、前記ソース領域および前記ドレイン領域は前記ゲート電極の対応する側面から離れている。 (もっと読む)


【課題】ゲルマニウムをチャネル材料とする金属/ゲルマニウムからなるソース/ドレイン構造を有する半導体素子を提供する。
【解決手段】半導体と金属とが接合してソース/ドレイン構造を形成する半導体素子において、ゲルマニウム(Ge)を3価元素(又は5価元素)でドーピングしたp型ゲルマニウム(又はn型ゲルマニウム)をチャネル2の材料とし、当該p型ゲルマニウム(又はn型ゲルマニウム)の任意の結晶面における原子配置と同一の原子配置である結晶面を有する金属3を、前記同一の原子配置である結晶面で接合して界面を形成し、当該形成された界面を用いたソース/ドレイン構造を有する。 (もっと読む)


【課題】チャネル領域に歪みを加える領域内の格子位置に存在する炭素量を多くすることができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板のうちゲート電極5両側にエクステンション領域7s、7d、ポケット領域8s、8dを形成し、ゲート電極5側面にサイドウォール9を形成し、半導体基板1のうちサイドウォール9、ゲート電極5から露出した領域をエッチングして凹部1s、1dを形成し、凹部1s、1d内に第3不純物を含む半導体層11s,11dを形成し、第1熱処理により第3不純物を活性化してゲート電極5の両側方にソース/ドレイン領域11s,11dを形成し、半導体層11s,11d内に炭素を有する第4不純物をイオン注入して半導体層11s,11dをアモルファス領域13s,13dとなし、第2熱処理によりアモルファス領域13s,13d内結晶の格子位置での炭素の結合性を高めてゲート電極5の両側方に歪発生領域14s,14dを形成する工程を有する。 (もっと読む)


【課題】しきい値電圧の制御が困難な酸化物半導体を活性層に用いたトランジスタに安定した電気的特性を付与し、信頼性の高い半導体装置を提供する。
【解決手段】一対の第1の領域、一対の第2の領域及び第3の領域を有する酸化物半導体膜と、酸化物半導体膜と接して設けられる一対の電極と、酸化物半導体膜上のゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜を介し、一対の電極の間に設けられたゲート電極と、を有し、一対の第1の領域は一対の電極と重畳し、第3の領域はゲート電極と重畳し、一対の第2の領域は一対の第1の領域及び第3の領域の間に形成され、一対の第2の領域及び第3の領域には窒素、リン、または砒素のいずれかの元素が含まれており、該元素の濃度は、第3の領域より一対の第2の領域のほうが高い構成とする。 (もっと読む)


【課題】特性の異なるTFTを同一基板上に形成する場合、フォトマスク数を増やすことで特性の異なるTFTを形成すると、TATが延び、価格も高騰するという課題があった。
【解決手段】1つのハーフトーンマスクを用いて、第2領域156とチャネル前駆体161aとソース・ドレイン前駆体165aとで膜厚の異なる段差レジストを形成する。NMOSTFTのチャネル前駆体161aには低加速エネルギーでは不純物が透過せず、高加速エネルギーでは不純物が通るレジスト膜厚の設定とし、ソース・ドレイン前駆体165aではレジストを開口させた。まず低加速エネルギーでソース・ドレイン前駆体165aにイオン注入し、次に、高加速エネルギーでチャネル前駆体161aにイオン注入する。第2領域156では2回の注入で、不純物が透過しないレジスト膜厚に設定する。 (もっと読む)


【課題】駆動用トランジスタと、スイッチング用トランジスタを有する発光装置において、トランジスタのばらつきを低減する。
【解決手段】駆動用トランジスタと、スイッチング用トランジスタを有する発光装置において、駆動用トランジスタのチャネル幅をチャネル長よりも小さくする。その際、ゲート配線と平行にアノード側電源線を設けて、フルカラー表示を行う。 (もっと読む)


【課題】隣接する画素の間に設ける絶縁膜は、バンク、隔壁、障壁、土手などとも呼ばれ
、薄膜トランジスタのソース配線や、薄膜トランジスタのドレイン配線や、電源供給線の
上方に設けられる。特に、異なる層に設けられたこれらの配線の交差部は、他の箇所に比
べて大きな段差が形成される。隣接する画素の間に設ける絶縁膜を塗布法で形成した場合
においても、この段差の影響を受けて、部分的に薄くなる箇所が形成され、その箇所の耐
圧が低下されるという問題がある。
【解決手段】段差が大きい凸部近傍、特に配線交差部周辺にダミー部材を配置し、その上
に形成される絶縁膜の凹凸形状を緩和する。また、上方配線の端部と下方配線の端部とが
一致しないように、上方配線と下方配線の位置をずらして配置する。 (もっと読む)


【課題】動作性能および信頼性の高い液晶表示装置を提供する。
【解決手段】トランジスタ上に第1の絶縁膜を有し、第1の絶縁膜上に第1及び第2の配線を有し、第1及び第2の配線上に第2の絶縁膜を有し、第2の絶縁膜上に電極を有し、電極上に第3の絶縁膜を有し、第3の絶縁膜上に画素電極を有し、画素電極は、電極と重なる第1の領域と、電極と重ならない第2の領域と、を有し、画素電極は、第1の配線に電気的に接続されており、第1の配線は、トランジスタのソース又はドレインの一方と電気的に接続されており、電極は、画素部の外側において前記第2の配線と電気的に接続されている。 (もっと読む)


【課題】工程を複雑にすることなく、多結晶シリコン膜に回路特性に適した複数の異なる
ゲート絶縁膜厚を有する薄膜トランジスタ(TFT)を同一基板に形成することができる
薄膜半導体装置とその製造方法を提供。
【解決手段】ガラス基板上に形成した多結晶シリコン膜に駆動電圧が異なるTFTを混載
する際に、低電圧駆動TFTではチャネル領域の不純物をアクセプタがより多くなるよう
にしあるいはドナーがより少なくなるようにし、高電圧駆動TFTではチャネル領域の不
純物をドナーがより多くなるようにしあるいはアクセプタがより少なくなるようにする。 (もっと読む)


【課題】動作性能および信頼性の高いEL表示装置を提供する。
【解決手段】第1のチャネル形成領域と、第1のソース領域及び第1のドレイン領域と、ゲート絶縁膜と、第1のゲート電極とを備えた第1のTFTと、第2のチャネル形成領域と、第2のソース領域及び第2のドレイン領域と、ゲート絶縁膜と、第2のゲート電極とを備えた第2のTFTと、第1のTFT及び第2のTFT上に設けられた第1の絶縁膜と、第1のソース領域及び第1のドレイン領域の一方と接続されたソース配線と、第1のソース領域及び第1のドレイン領域の他方と接続し、且つ第2のゲート電極に接続された第1のドレイン配線と、第1の絶縁膜上に設けられ、第2のソース領域及び第2のドレイン領域の一方に接続された第2のドレイン配線と、第1の絶縁膜上に設けられ、第2のソース領域及び第2のドレイン領域の他方に接続された電流供給線と、を有する。 (もっと読む)


【課題】チャネルドープを含む製造工程を簡略化できる半導体装置の製造方法、半導体装置、電気光学装置および電子機器を提供すること。
【解決手段】本適用例の半導体装置の製造方法は、基板に半導体膜としての多結晶半導体膜14aを形成する工程と、多結晶半導体膜14a上に、少なくとも2つの異なる膜厚を有し、それぞれが孤立したレジストパターン16,17を形成するレジスト形成工程と、該レジストパターン16,17をマスクとして多結晶半導体膜14aに第一不純物の注入を行う第一不純物注入工程と、該レジストパターン16,17に沿って多結晶半導体膜14aをエッチングするエッチング工程と、該レジストパターン16,17を剥離する工程とを有し、第一不純物注入工程は、レジストパターン16,17の膜厚の差に基づいて、第一不純物の注入、非注入を制御することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】発光装置を製造するときに生じ得る静電気に起因した素子の損傷を低減することのできる発光装置の製造方法について提供することを課題とする。また、静電気に起因した素子の損傷による不良が低減された発光装置を提供することを課題とする。
【解決手段】本発明の発光装置の製造方法は、発光素子を駆動するためのプレーナ型のトランジスタを作製する工程を有する。そして、トランジスタを作製する工程において、活性層として機能する半導体層を形成するときに、行方向及び列方向に延びた格子状の第1の半導体層を基板上に形成すると共に、前記第1の半導体層の間に、島状に分離した第2の半導体層を複数形成することを特徴としている。ここで、第2の半導体層は、トランジスタの活性層として機能する層である。 (もっと読む)


【課題】半導体基板上へのVFETと他の種類の素子との混載が可能でありながら、半導体基板上に積層される半導体層の表面に大きな段差を有しない半導体装置を提供する。
【解決手段】P型シリコン基板2上には、酸化シリコンからなるボックス層3、N型横方向導電層4およびN型表面層5が積層されている。ボックス層3上には、N型表面層5の表面からボックス層3に至る深さを有する、平面視環状のディープトレンチ6が形成されている。ディープトレンチ6およびボックス層3に取り囲まれるトランジスタ形成領域8は、その周囲から分離されている。このトランジスタ形成領域8において、N型表面層5の表層部には、ソース領域14およびドレイン領域16が形成されている。またディープトレンチ6の側面に沿って、ドレイン領域16とN型横方向導電層4とに接続されたN型縦方向導電層17が形成されている。 (もっと読む)


【課題】 TiC膜を含む半導体構造を形成する方法を提供する。
【解決手段】 高誘電率(k)の誘電体14および界面層12を含む積層体を基板10の表面上に設けるステップと、Heによって希釈された炭素(C)源およびArを含む雰囲気において、Tiターゲットをスパッタすることにより、前記積層体上にTiC膜16を形成するステップとを含む、半導体構造を形成する方法である。 (もっと読む)


【課題】ウェーハを製造するための新規な方法を提供する。
【解決手段】本発明は、ウェーハを製造するための方法に関し、この方法は、半導体基板上にドープト層を設けるステップと、ドープト層上に第1の半導体層を設けるステップと、第1の半導体層上に埋込み酸化物層を設けるステップと、埋込み酸化物層上に第2の半導体層を設けるステップと、を備える。 (もっと読む)


【課題】縦型PN接合において確実にオン/オフの制御をすることができる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、半導体層と、半導体層上に設けられたゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜上に設けられたゲート電極とを備える。第1導電型の第1のチャネル領域が、ゲート絶縁膜の下にある半導体層の表面の一部に設けられている。第1導電型とは異なる導電型である第2導電型の拡散層が、第1のチャネル領域のさらに下の半導体層に設けられ、半導体層の表面に対してほぼ垂直方向に第1のチャネル領域の底部と接し、該第1のチャネル領域の底部とPN接合を形成する。第1導電型のドレインおよび第2導電型のソースが、第1のチャネル領域の両側にある半導体層内にそれぞれ設けられている。側壁絶縁膜は、第1のチャネル領域の拡散層側の側面を被覆する。 (もっと読む)


【課題】被剥離層に損傷を与えない剥離方法を提供し、小さな面積を有する被剥離層の剥離だけでなく、大きな面積を有する被剥離層を全面に渡って歩留まりよく剥離することを可能とすることを目的としている。また、様々な基材に被剥離層を貼りつけ、軽量された半導体装置およびその作製方法を提供することを課題とする。特に、フレキシブルなフィルムにTFTを代表とする様々な素子を貼りつけ、軽量された半導体装置およびその作製方法を提供する。
【解決手段】基板上に第1の材料層11を設け、前記第1の材料層11に接して第2の材料層12を設け、さらに積層成膜または500℃以上の熱処理やレーザー光の照射処理を行っても、剥離前の第1の材料層が引張応力を有し、且つ第2の材料層が圧縮応力であれば、物理的手段で容易に第2の材料層12の層内または界面において、きれいに分離することができる。 (もっと読む)


【課題】開口率の高い表示装置又は素子の面積の大きい半導体装置を提供することを課題
とする。
【解決手段】隣接する画素電極(又は素子の電極)の間に設けられた配線との下方にマル
チゲート構造のTFTのチャネル形成領域を設ける。そして、複数のチャネル形成領域の
チャネル幅の方向を前記画素電極の形状における長尺方向と平行な方向とする。また、チ
ャネル幅の長さをチャネル長の長さよりも長くすることでチャネル形成領域の面積を大き
くする。 (もっと読む)


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