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Fターム[5F110HL27]の内容

薄膜トランジスタ (412,022) | ソース、ドレイン−コンタクトホール介在 (16,138) | 電極、配線の製法 (3,290) | 電極、配線形成後の処理 (186)

Fターム[5F110HL27]に分類される特許

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【課題】薄膜トランジスタが有する特性のよいゲート絶縁膜、及びそのゲート絶縁膜を有する薄膜トランジスタ基板及びその製造方法を提供する。
【解決手段】シリコン薄膜トランジスタ基板が有する酸化ケイ素からなるゲート絶縁膜であって、ゲート電圧を正電圧から負電圧に掃引したとき、ゲート電極からゲート絶縁膜中に流れ込むゲートリーク電流の値が正から負に変わる時のゲート電圧値と、ゲート電圧を負電圧から正電圧に掃引したとき、ゲート電極からゲート絶縁膜中に流れ込むゲートリーク電流の値が負から正に変わる時のゲート電圧値との差ΔV(V)が、ゲート絶縁膜の厚さd(nm)との関係で、[ΔV/d]<0.0045であるように構成する。 (もっと読む)


【課題】SOI構造を有する半導体装置において、高性能化、低消費電力化を目的の一とする。また、より高集積化された高性能な半導体素子を有する半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】絶縁表面を有する基板上に複数の電界効果トランジスタがそれぞれ層間絶縁層を介して積層している半導体装置とする。複数の電界効果トランジスタの有する半導体層は半導体基板より分離されており、該半導体層は絶縁表面を有する基板、又は層間絶縁層上にそれぞれ設けられた絶縁層に接して接合されている。複数の電界効果トランジスタはそれぞれ前記半導体層に歪みを与える絶縁膜で覆われている。 (もっと読む)


【課題】酸化物透明導電膜とAl合金膜との接触電気抵抗を増加させることなくAl合金が直接接続し、配線抵抗が小さく、現像液などの電解質液中でガルバニック腐食が生じにくい積層構造およびその製造方法を提供する。
【解決手段】酸化物透明導電膜とAl合金膜とが直接接続されてなる積層構造を製造する方法であって、基板上に前記酸化物透明導電膜を形成する第1の工程と、該酸化物透明導電膜上にアルミニウムよりもイオン化傾向の小さい合金成分を含有するAl合金膜を形成する第2の工程と、前記Al合金膜をアルミニウムと前記合金成分よりなる金属間化合物の析出温度以上に加熱する第3の工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】Alより貴な金属元素を含むAl合金膜上に、フォトリソグラフィー法によって絶縁膜をパターン形成する工程を含む表示装置の製造工程において、上記Al合金膜を腐食させることなく、表示装置を製造することのできる方法を提供する。
【解決手段】アミン類を含む剥離液でフォトレジストを除去し、次いで洗浄開始後5秒間以上はpHが3.5以上4.5以下の炭酸水を用いて洗浄する。 (もっと読む)


【課題】レーザ光照射による処理で高品質なシリサイド膜を形成し、絶縁基板に形成された電気的特性のばらつきの小さい電界効果型トランジスタの微細化と高性能化を実現する。
【解決手段】絶縁基板上に形成された一対の不純物領域及びチャネル形成領域を有する島状の半導体膜において、一対の不純物領域上に第1の金属膜を形成し、ゲート絶縁膜を介してチャネル形成領域上に位置するゲート電極上に反射膜として機能する第2の金属膜を形成する。第1の金属膜にレーザ光を照射して、第2の金属膜が形成された領域においてレーザ光を反射させ、且つ、一対の不純物領域において選択的に島状の半導体膜と第1の金属膜とを反応させる。 (もっと読む)


【課題】TOS−TFTと有機ELを同一基板上に低温プロセスにおいて形成し、有機層の劣化を低コストで抑制することを目的とする。
【解決手段】有機EL素子を駆動するための電界効果型トランジスタを有する発光装置の作製方法において、基板1上に電界効果型トランジスタを形成する工程と、絶縁層7を形成する工程と、絶縁層7の上に下部電極8を形成する工程と、下部電極8の上に有機EL素子を構成するための有機層10を形成する工程と、有機層10の上に上部電極11を形成する工程と、を含み、電界効果型トランジスタの半導体層を形成する工程の後、有機層10を形成する工程の前に、電界効果型トランジスタからHOとして脱離し得る成分量が10−5g/m未満となる熱処理を行う熱処理工程を含む。 (もっと読む)


【課題】ゲート−ドレイン間のブレークダウン電圧を向上させることができ、パワーデバイスへの適用に適した窒化物半導体素子およびその製造方法を提供すること。
【解決手段】この電界効果トランジスタは、n型GaN層2、p型GaN層3およびn型GaN層4が、順に積層された窒化物半導体積層構造部1を備えている。窒化物半導体積層構造部1には、壁面7および引き出し部5が形成されている。壁面7および引き出し部5にはゲート絶縁膜8が形成され、このゲート絶縁膜8上にはゲート電極9が形成されている。また、引き出し部5にはドレイン電極6が形成され、n型GaN層4にはソース電極11が形成されている。そして、ゲート絶縁膜8は、n型GaN層4の上面および引き出し部5の上面に形成された第2部分14と、壁面7に形成された第1部分15とに区別され、第2部分14の厚みが第1部分15の厚みより厚くなるように形成されている。 (もっと読む)


【課題】金属膜と絶縁膜との反応物の生成を抑制し、良好な電気的特性を備える半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置10は、基板11と、半導体層12と、絶縁膜13と、保護膜15と、ソース電極21と、ドレイン電極22と、ゲート電極23と、を備える。半導体装置10は絶縁膜13の少なくとも上面を覆うように形成された保護膜15を備えることによって、ソース電極21とドレイン電極22とに含まれるアルミニウムと絶縁膜13とが反応することを抑制することができ、電極の抵抗増加、電流コラプスの増加を抑え、良好な電気的特性を備える。 (もっと読む)


【課題】簡便な製造プロセスにより、量産対象である大型のガラス基板に、信
頼性が高く、集積度の高い高性能半導体装置を得る。
【解決手段】結晶化を促進する微量の触媒元素であるニッケル105が導入さ
れたa−Si膜103を加熱処理して結晶化された結晶性のケイ素膜108の一
部の領域(高濃度不純物領域)108bに選択的に5族Bから選択された不純物
であるリン117を導入し、第2の加熱処理を行って、結晶性のケイ素膜108
のリン117が導入されていない領域(能動領域)108aに含まれるニッケル
105を高濃度不純物領域に移動させる。この第2の加熱処理は、能動領域10
8aに含まれるニッケル105の濃度と高濃度不純物領域108bに含まれるニ
ッケル105の濃度とが少なくとも熱平衡状態の偏析状態に達しないように行う
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【課題】材料の利用効率を向上させ、かつ、作製工程を簡略化して作製可能な表示装置及びその作製技術を提供することを目的とする。
【解決手段】絶縁表面上に選択的に光吸収層を形成し、絶縁表面上及び光吸収層上に絶縁層を形成し、絶縁表面、光吸収層及び絶縁層にレーザ光を照射し、絶縁層のレーザ光照射領域において光吸収層上の絶縁層のみを選択的に除去し絶縁層に光吸収層に達する開口を形成し、開口に光吸収層と接するように導電膜を形成する。露出した光吸収層と接するように開口に導電膜を形成することによって、光吸収層及び導電膜は絶縁層を介して電気的に接続することができる。 (もっと読む)


【課題】製造工程を簡略化し、液晶表示装置のさらなるコストダウンを実現した液晶表示パネルの製造方法と液晶表示パネルを提供する。
【解決手段】液晶表示パネルのゲート配線とゲート電極GT、データ配線を含めたソース電極SD1、ドレイン電極SD2の何れかの工程、又はそれらの幾つかの工程にインクジェット直描プロセスを導入することに加えて、シリコン半導体層SIとn+コンタクト層NSの積層からなる能動層アイランドの形成にインクジェット直描プロセスを用いる。 (もっと読む)


【課題】フィン60a〜cのソース/ドレイン領域41、42の低抵抗ストラッピングを提供する一方で、さらに、ストラップ71、72の高度をゲート80の高度より高く上げることによって、ゲート80への低キャパシタンスを維持する、マルチ・フィン電界効果トランジスタ構造300または400(例えば、マルチ・フィン・デュアル・ゲートFETまたはトライ・ゲートFET)の実施形態を開示する。
【解決手段】本発明の構造の実施形態は、ソース/ドレイン・ストラップ71、72を各フィン60a〜cのソース/ドレイン領域41、42に電気的に接続するために、導電ビア31、32(構造体300参照)または背を高くしたソース/ドレイン領域(構造400参照)を組み込む。さらに、これらの構造を形成する関連方法の実施形態が開示される。 (もっと読む)


【課題】材料の利用効率を向上させ、かつ、作製工程を簡略化して、信頼性の高い半導体装置を作製する方法を提供する。
【解決手段】基板上に導電層を形成し、該導電層上に光透過層を形成し、該光透過層上からフェムト秒レーザを照射して、該導電層及び該光透過層を選択的に除去する工程を有する。なお、該導電層の端部は、該光透過層の端部より内側に配置されるように該導電層及び該光透過層を除去されていてもよい。また、フェムト秒レーザを照射する前に、該光透過層表面に撥液処理を行ってもよい。 (もっと読む)


【課題】 酸化物半導体膜を用いた従来の薄膜トランジスタアレイでは、外部駆動回路と薄膜トランジスタアレイの信号線端子との良好な接続を確保できるアレイ構造は実現されていなかった。
【解決手段】 薄膜トランジスタのチャネル部14、ソース部15、ドレイン部16と、画素電極13と、ゲート信号線11及びソース信号線12の端部の接続用端子部18、17も同一の酸化物半導体で形成する。薄膜トランジスタアレイにおける全ての層構造を形成後、最上層の保護絶縁膜19の所望の位置に開口部を設ける。そして、開口部を介して酸化物半導体膜26を還元性プラズマあるいはドーピング元素を含むプラズマに曝すことにより、接続用端子部18、17、ソース・ドレイン部15、16、画素電極13を同時に低抵抗化する。 (もっと読む)


【課題】新たなフォトマスクを必要とすることなく配線とソース・ドレイン領域との接触抵抗を低減させることが可能な電気光学装置用基板、電気光学装置、電子機器及び電気光学装置用基板の製造方法を提供すること。
【解決手段】液晶表示装置100aは、TFT基板10a及び対向基板20aを有する。TFT基板10aには、TFT素子30、データ線6aが形成されている。TFT素子30の高濃度ソース領域1dのうちデータ線6aと接する部位には、チタンシリサイドの層が形成されている。同様に、容量電極300のうちシールド層用中継層6a1と接する部位、及び中継電極719のうち第2中継電極6a2と接する部位にも、チタンシリサイドの層が形成されている。これにより、接触抵抗を低減することができる。 (もっと読む)


【課題】本発明の目的は、半導体膜を大粒径の結晶化が可能な半導体装置の製造方法を提供することである。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、非単結晶半導体膜の結晶化領域に、光変調されて極小光強度線もしくは極小光強度点を有する光強度分布のレーザ光を前記非単結晶半導体膜上に設けられた第1の光吸収層を介して照射して前記結晶化領域を結晶化するレーザ照射工程、即ち結晶化工程(A)と、少なくとも結晶化された前記結晶化領域の上に形成された第2の光吸収層にレーザ光もしくはフラッシュランプ光を照射することにより前記結晶化された領域を第2の光吸収層を介して再加熱する再結晶化工程、即ち加熱工程(C)とを有する。 (もっと読む)


【課題】アルミニウムを配線に用いた装置において、ヒロックやウィスカーの発生による影響を防止する。
【解決手段】本発明のアクティブマトリクス型電気光学装置は、珪素膜と、前記珪素膜に接したゲイト絶縁膜と、前記ゲイト絶縁膜に接したゲイト電極と、前記ゲイト電極上の窒化珪素膜と、前記珪素膜に電気的に接続されたソース電極及びドレイン電極とを有し、前記ゲイト電極はアルミニウム膜又はアルミニウムを主成分とする膜からなり、前記ゲイト電極中における酸素濃度が8×1018個cm−3以下であり、炭素濃度が5×1018個cm−3以下であり、窒素濃度が7×1017個cm−3以下であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】画像表示装置の低コスト化を図る。
【解決手段】絶縁基板上に、複数のゲート線と、該複数のゲート線にマトリクス状に交差する複数の信号線と、複数の薄膜トランジスタを有し、複数のゲート線を積層電極とする。複数の薄膜トランジスタを、nチャネル伝導型およびpチャネル伝導型の2種類で構成し、一方の薄膜トランジスタのゲート電極は、前記ゲート線と同じ構成の積層電極で、他方の薄膜トランジスタのゲート電極は前記ゲート線の下層電極と同層の電極で構成した。 (もっと読む)


【課題】半導体膜の品質に面内ばらつきが生じることを抑制できる半導体膜の結晶化方法を提供する。
【解決手段】半導体膜の結晶化方法は、基板510上に形成された半導体膜506に、第1のレーザ光503を基板510の底面510aに対して傾斜した状態で照射しつつ、第1のレーザ光503とは異なる発振器から発振された第2のレーザ光504を、基板510の底面510aに対して第1のレーザ光503とは反対の方向に傾斜した状態で照射することにより、半導体膜506の一部を溶融させ、かつ第1及び第2のレーザ光503、504の照射位置を、該第1又は第2のレーザ光503、504が傾斜している方向に略沿って走査して、半導体膜506の溶融している部分を移動させることにより、半導体膜506を結晶化するものである。 (もっと読む)


【課題】Si(シリコン)、SiN、レジスト、NiSi、CoSi、酸化物等に対するSiGe(シリコンゲルマニウム)の選択比をあげることができ、Si(シリコン)とSiGe(シリコンゲルマニウム)のヘテロ構造部分に対する加工精度を高くできるエッチング方法及びこれを用いた半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】SiGe(シリコンゲルマニウム)層と、SiGe(シリコンゲルマニウム)層の上に形成されたSi(シリコン)層と、を含むヘテロ構造体をエッチングするマイクロ波プラズマエッチング方法であって、反応ガスとしてフッ化物ガスのみを用い、その流量を10〜800sccm、処理圧力を266Pa以下、マイクロ波パワーを150〜400W、処理温度を5〜25℃として、SiGe(シリコンゲルマニウム)層を選択的に等方性エッチングする。 (もっと読む)


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