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Fターム[5F157AA15]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 被洗浄物の形状、形態 (6,397) | 洗浄部位 (568) | 裏面 (106)

Fターム[5F157AA15]に分類される特許

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【課題】基板の表面周縁部に形成された上層のみを選択的にエッチング除去することができる基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】基板Wの表面周縁部TRに形成された難溶性層ULに薬液を供給して難溶性層ULをエッチング除去している間、難溶性層ULの基板端面側にリンス液を供給してカバーリンス部CLを形成し、難溶性層ULのエッチング除去により露出してしまった下地層DLをリンス液で覆っている。このため、下地層DLに流れてくる薬液を薄めるとともに洗い流して露出した下地層DLが薬液によりエッチングされるのを抑制することができる。このように難溶性層ULの基板端面側にカバーリンス部CLを設けて露出した下地層DLを保護した状態でエッチング処理を行っているため、基板Wの表面周縁部TRに形成された難溶性層ULのみを選択的にエッチング除去することができる。 (もっと読む)


【課題】被処理基板へのパーティクルの付着や被処理基板へのダメージを防止することができる被処理基板の除電方法を提供する。
【解決手段】基板処理装置10は、ウエハWを収容するチャンバ11と、該チャンバ11内に配置されてウエハWを載置する載置台12とを備え、該載置台12は、載置されたウエハWの裏面に接触して当該ウエハWを静電吸着する静電チャック21と、該静電チャック21からウエハWの裏面に向けて伝熱ガスを噴出する外周部伝熱ガス供給系25を有し、裏面に負の電荷が蓄積され且つ表面に正の電荷が蓄積されているウエハWを除電する際、まず、プラズマP中の電子によってウエハWの表面の正の電荷を中和し、その後、外周部伝熱ガス供給系25からウエハWに向けてイオン化ガスを供給し、イオン化ガス中の陽イオンによってウエハWの裏面の負の電荷を中和する。 (もっと読む)


【課題】基板の裏面洗浄を確実に行うことができる洗浄方法、塗布方法、現像方法及び回転処理装置を提供する。
【解決手段】一方面に基板1を周縁部が突出した状態で保持すると共に、前記一方面3の面内方向で回転される回転部材21と、前記回転部材21に設けられて洗浄液100を前記基板1の前記回転部材21に保持された保持面2側に供給する洗浄ノズル26と、前記洗浄ノズル26に前記洗浄液100を供給する洗浄液供給部27と、を具備する回転保持治具20を用いて、前記基板1を回転させながら前記洗浄ノズル26から前記基板1の前記保持面2aに前記洗浄液100を供給して、前記基板1の前記保持面2aを洗浄する。 (もっと読む)


【課題】基板の裏面を下側にして基板を回転しつつ非回転の部材に形成されたノズルから基板に処理液を供給して所定の処理を行う処理装置において、ノズルが形成された部材に液滴が残ることを抑制すること。
【解決手段】基板であるウエハを裏面を下側にして水平にした状態で回転させながらウエハ裏面に処理液を供給して液処理を行う液処理装置は、ウエハWの下方に非回転状態で、その上面に、処理液を吐出する処理液吐出ノズル20および乾燥ガスを吐出するガス吐出ノズル21を有するノズル部材5が設けられ、処理液吐出ノズル20は基板に向けて処理液を吐出する処理液吐出口20aを有し、ガス吐出ノズル21は、ウエハWに向けて乾燥ガスを吐出する第1のガス吐出口21aと、ノズル部材5の上面に沿って乾燥ガスを放射状に吐出する複数の第2のガス吐出口21bとを有する。 (もっと読む)


【課題】異物を除去するためのレーザ光照射装置及び受光装置を利用して基板の位置合わせを行い、基板に対して適正な後処理を施すことができる異物除去方法を提供する。
【解決手段】異物除去装置に設けられた異物を除去するためのレーザ光照射部34からステージ33に載置されて回転するウエハWの端部にずれ測定用のレーザ光を照射し、照射したレーザ光のうちウエハWの端部に遮られたレーザ光を除く残りのレーザ光をパワーメータ35で受光してレーザ光の出力を検出し、回転するウエハWの回転角を検出し、検出したレーザ光の出力データと回転角データとに基づいてウエハWのずれ量を算出し、算出したずれ量に基づいてウエハWのずれを補正し、その後、ウエハWの端部にレーザ光照射部34から洗浄用のレーザ光を照射すると共に異物と反応する処理ガスを噴射してウエハWに付着した異物を分解、除去する。 (もっと読む)


【課題】半導体ウエハと接着シートとの間に洗浄水等の異物が侵入することを防止できるようにすること。
【解決手段】シート貼付装置10は、保護シートHが一方の面に貼付された半導体ウエハWを保持する保持手段11と、帯状の剥離シートRLに所定間隔を隔てて侵入防止シートSが仮着された原反Rを支持する支持手段12と、原反Rを繰り出す繰出手段13と、剥離シートRLから侵入防止シートSを剥離するピールプレート15と、侵入防止シートSをウエハW及び保護シートHに押圧して貼付する押圧手段16とを備えている。侵入防止シートSは、半導体ウエハWの外縁に沿う閉ループ形状に形成される。押圧手段16は、侵入防止シートSの平面形状に対応する形状の凸部31を備え、当該凸部31で侵入防止シートSを押圧することにより、半導体ウエハWの外縁をカバーするよう当該半導体ウエハWと保護シートHに侵入防止シートSを貼付する。 (もっと読む)


【課題】基板を洗浄処理した後、IPA等の乾燥用溶剤を用いて乾燥した場合に、スループットを低下させることなく薬液を回収することができる洗浄装置および洗浄方法を提供すること。
【解決手段】ウエハWを回転させながら、ウエハWに薬液洗浄を施し、リンス処理を施し、その後IPAによる乾燥処理を施す洗浄機構1は、排液カップ6および排液配管31を洗浄するための洗浄液を、ウエハWに供給されない状態で、排液カップ6に供給する洗浄液供給機構39を有し、さらに洗浄機構1の各構成部を制御する制御部40を有し、この制御部40は、ウエハWの洗浄処理、その後のリンス処理を実施させた後、IPAによる乾燥処理を行わせている際に、乾燥処理が実施されているタイミングで洗浄液を排液カップ6に供給させるように制御する。 (もっと読む)


【課題】被処理体の保持部側の面側に位置するリフトピンプレート(リフトピンを含む)や保持プレートといった部材に付着した薬液が原因でウエハに悪影響が生じることを防止する。
【解決手段】保持部31によって被処理体Wを保持する保持工程と、回転駆動部60によって保持部31によって保持された被処理体Wを回転させる回転工程と、薬液供給部16によって被処理体Wの保持部31側の面に薬液Cを供給する薬液供給工程と、薬液供給工程後に、ガス供給部20並びにリンス液供給部17よりガス及びリンス液Rを供給することによってリンス液滴を生成し、該リンス液滴を被処理体Wの保持部31側の面に向かって供給するリンス液滴供給工程と、リンス液滴供給工程後に、リンス液供給部17によって被処理体Wの保持部31側の面にリンス液Rを供給する仕上げリンス液供給工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】 素子部分に損傷を与えず、ウェハのベベルの汚れを効果的に除去し得るウェハ処理装置を提供する。
【解決手段】 チャンバ1と、チャンバ1の内部に配設されて処理対象であるウェハ7が載置されるステージ6と、チャンバ1の内部にプラズマ9を形成するプラズマ発生手段と、プラズマ9とウェハ7とを隔離するようチャンバ1の内部に配設された隔離部材10と、プラズマ9によって生成されるラジカル9Aをウェハ7の外周部に選択的に回り込ませるよう隔離部材10の外周部に形成した貫通孔11とを有する。 (もっと読む)


【課題】研削加工されたウエーハの被研削面に残存するコンタミを可及的に減少させることができる洗浄機構を備えた研削装置を提供する。
【解決手段】被加工物を保持するチャックテーブルと、チャックテーブル上に保持された被加工物を研削する研削手段と、研削加工された被加工物の被研削面を洗浄する洗浄機構とを具備する研削装置であって、洗浄機構は被加工物の被研削面を上側にして保持するスピンナーテーブルと、スピンナーテーブルに保持された被加工物の被研削面に洗浄水を噴出する洗浄水供給手段と、スピンナーテーブルに保持された被加工物の被研削面に柔軟な払拭部材を接触させて被加工物の被保持面を払拭する払拭清掃手段と、スピンナーテーブルに保持された被加工物の被研削面にオゾン水を噴出するオゾン水供給手段とを具備している。 (もっと読む)


【目的】 半導体ウェーハW等の下面周縁部のみを吸着しても撓みが発生し難い回転処理装置を提供する。
【構成】 吸引チャック5の上部形状は周縁部が内側部よりも高くなった皿状をなし、周縁部の上面には半導体ウェーハWの製品とならない外縁部分を吸着するための吸引溝9が形成されている。この吸引溝9上に半導体ウェーハWの下面周縁部の製品にならない部分が載置されるようにする。そして、吸引溝9を介して半導体ウェーハWの下面周縁部を吸引する。吸引溝9は平面視で円形状をなすように形成されているため、半導体ウェーハWの下面周縁部の全周が吸引され、撓みが発生し難い。 (もっと読む)


【課題】吸着パッドの吸着面に偏磨耗を発生させることがないとともに、被加工物に貼着された保護テープを剥離することなく洗浄すること。
【解決手段】被加工物を研削する研削手段と、被加工物を吸引保持する吸着パッドを備えた被加工物搬出手段と、被加工物の被保持面および吸着パッドの吸着面を洗浄する洗浄機構8とを具備する研削装置であって、洗浄機構8は吸着パッドの吸着面に垂直な方向に配設された回転軸と、回転軸を回転駆動する回転駆動手段83と、回転軸の上端部に径方向に突出して配設され吸着パッドの吸着面を洗浄するための研削部材842を備えた第1の洗浄手段84と、被加工物の被保持面を洗浄ための柔軟部材を備えた第2の洗浄手段85と、第1の洗浄手段84と第2の洗浄手段85のいずれか一方を軸方向に進退し他方の洗浄手段の上面より高い洗浄位置と他方の洗浄手段の上面より低い退避位置に位置付ける位置付け手段86とを具備している。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の洗浄装置を小型化する。
【解決手段】第1主面、および第1主面の反対側に位置する裏面(第1裏面)3bを有し、第1主面に半導体チップが搭載され、裏面3bには半導体チップとそれぞれ電気的に接続される複数の半田ボール(外部接続端子)8が接合されたパッケージ基板(配線基板)を有する半導体装置の製造方法であって、配線基板9の裏面3bを洗浄する工程を有している。ここで、配線基板9の裏面3bを洗浄する工程には、配線基板9の裏面3bと対向する位置に配置されたノズル(第1ノズル)22bから、加圧した洗浄液を配線基板9の方向に吹き付けて洗浄する工程が含まれ、ノズル22bから洗浄液を吹き付ける際に、配線基板9の裏面3bが、ノズル22bに対して傾斜するように配線基板9を動作させる。 (もっと読む)


【課題】被処理体を処理した処理液を排出機構へと導く回転カップを被処理体に近接した位置に設け、かつ、支持された被処理体と回転カップとの間の間隙を均一にすること。
【解決手段】液処理装置は、被処理体Wの下面と側面を処理する。液処理装置は、被処理体Wに処理液を供給する処理液供給機構37,39と、被処理体Wを処理した処理液を排出する排出機構20,21と、被処理体Wの周縁外方に設けられ、被処理体Wを処理した処理液を排出機構20,21へと導く回転カップ10と、回転カップ10を回転させる回転駆動部60と、を備えている。回転カップ10には、周縁内方に突出し、被処理体Wの周縁部を支持する支持部15が設けられている。 (もっと読む)


【課題】基板の一方主面に形成されたパターンへのダメージを抑制しながら基板の他方主面を良好に洗浄処理する。
【解決手段】基板Wの表面Wfに形成された液膜11fを凍結させることによって、パターンPTの間隙内部に入り込んだDIWが基板表面Wfに付着するDIWと一緒に凝固して凍結膜13fの一部となり、凍結膜13fによってパターンPTが構造的に補強される。そして、基板裏面Wbに対して低温処理液を供給しながら基板裏面Wbに形成される低温処理液の液膜11bに対して超音波振動が付加されて基板裏面Wbが超音波洗浄される。このように、凍結膜13fによりパターンPTが補強された状態のまま基板裏面Wbが超音波洗浄されるため、超音波洗浄によりパターンPTがダメージを受けることなく、基板裏面Wbを超音波洗浄によって良好に洗浄処理することができる。 (もっと読む)


【課題】被処理体の裏面に供給された処理液が、被処理体の周縁部で、処理液の表面張力によって被処理体の表面側に回り込むことを防止し、このことによって、被処理体の周縁部の表面を精度良く処理すること。
【解決手段】液処理装置は、被処理体Wを支持する支持部40と、支持部40を回転させる回転駆動部60と、支持部40によって支持された被処理体Wの表面の周縁部に向かって処理液を供給する表面処理液供給機構35と、支持部41によって支持された被処理体Wの裏面に処理液を供給する裏面処理液供給機構30と、を備えている。被処理体Wの周縁外方には、間隙Gを介して、第一ガイド部材21が配置されている。被処理体Wの裏面を経て周縁部に達した処理液の流速は、被処理体Wの表面を経て周縁部に達した処理液の流速よりも速くなっている。 (もっと読む)


【課題】洗浄処理時に外方に飛散する洗浄液によるミストの発生を抑制し、基板への再付着の防止を図れるようにした基板洗浄装置を提供する。
【解決手段】半導体ウエハWを水平に保持し、鉛直軸回りに回転するスピンチャック20と、鉛直軸回りに回転可能な洗浄部材30と、洗浄部材を鉛直軸回りに回転するサーボモータ39と、洗浄部材をウエハの被洗浄面に沿って移動させる移動機構63と、を具備する基板洗浄装置において、洗浄部材は、ベース部32にスポンジ状の洗浄基部31を接合してなり、ベース部及び洗浄基部の中心部に、洗浄液供給源に接続する吐出口33を設け、洗浄基部の表面に、基端が洗浄液吐出口に連通すると共に、先端が洗浄部材の外周縁部手前まで延びる複数の連通溝35を設け、ベース部における連通溝が位置する部位に、連通溝と連通する排出孔36を設ける。 (もっと読む)


【課題】基板裏面,基板ベベル及び外周に付着したルテニウム膜を容易に、エッチング残りなくエッチング除去することを目的とする。
【解決手段】基板5表面にルテニウム等の成膜処理を行った後、基板5をローラー4で保持しながら回転させ、コの字型のジグ3で基板5を挟み込み、コの字型のジグ3上部からエッチング液を供給することにより、基板裏面,基板ベベル及び外周に付着したルテニウム膜を容易に、エッチング残りなくエッチング除去することができる。 (もっと読む)


【課題】少なくとも基板端面に付着した付着物をスポンジ状ブラシにより効果的に除去することができる基板洗浄装置を提供すること。
【解決手段】基板洗浄装置1は、基板Wを回転可能に保持するスピンチャック3と、スピンチャック3に保持されている基板Wを回転するモーター4と、スピンチャック3に保持されている基板Wに洗浄液を供給する洗浄液供給機構10と、洗浄時に基板Wの少なくとも端面に当接される、スポンジ状樹脂からなるブラシ21と、ブラシ21を圧縮するブラシ圧縮機構23a,23b,24とを具備し、ブラシ21を圧縮機構23a,23b,24により圧縮した状態として少なくとも基板Wの端面を洗浄する。 (もっと読む)


【課題】ウエハの剥離面を劣化させることなく、ウエハを支持する支持板をウエハから剥離する処理を実現する支持板剥離装置を提供する。
【解決手段】本発明に係る支持板剥離装置は、薄化されたウエハからウエハを支持する支持板を剥離させて、ウエハの剥離面を洗浄液で洗浄した後、当該剥離面に残留する接着剤を除去する除去手段を備えていることを特徴とし、洗浄液では除去しきれなかったウエハの剥離面の接着剤を除去し、剥離工程を良好に完了させることができる支持板剥離装置である。 (もっと読む)


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