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Fターム[5F157AB16]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 被洗浄物の取扱い (8,692) | 被洗浄物の支持 (5,429) | 支持手段 (1,596) | 吸着するもの (339)

Fターム[5F157AB16]に分類される特許

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【課題】スループットの向上が可能な基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置100は、互いに並列に設けられたインデクサブロック10、第1の処理ブロック11および第2の処理ブロック12からなる。インデクサブロック10には、インデクサロボットIRが設けられている。第1の処理ブロック11には、第1のメインロボットMR1が設けられている。第2の処理ブロック12には、第2のメインロボットMR2が設けられている。インデクサブロック10と第1の処理ブロック11との間には、複数の基板Wを同時に反転させるための反転ユニットRT1aが設けられている。 (もっと読む)


【課題】被処理基板と支持基板の剥離処理を適切且つ効率よく行う。
【解決手段】剥離装置30は、被処理ウェハWを加熱する加熱機構124を備え、且つ当該被処理ウェハWを保持する第1の保持部110と、支持ウェハSを加熱する加熱機構141を備え、且つ当該支持ウェハSを保持する第2の保持部111と、第1の鉛直移動部151と第2の鉛直移動部152とを備えた移動機構150とを有している。第1の鉛直移動部151は、第2の保持部111に保持された支持ウェハSが、その外周部から中心部に向けて第1の保持部110に保持された被処理ウェハWから連続的に剥離するように、第2の保持部111の外周部を保持して鉛直方向に移動させる。 (もっと読む)


【課題】被処理基板と支持基板の剥離処理を効率よく行い、当該剥離処理のスループットを向上させる。
【解決手段】剥離システム1の剥離処理ステーション3は、重合ウェハTを剥離する剥離装置30と、剥離された被処理ウェハWを洗浄する第1の洗浄装置31と、剥離装置30と第1の洗浄装置31との間で被処理ウェハWを搬送する第2の搬送装置32と、剥離された支持ウェハSを洗浄する第2の洗浄装置33とを有している。第2の搬送装置32は、被処理ウェハWの接合面を支持し、且つ被処理ウェハの接合面に洗浄液を供給する供給口が形成された支持板230と、被処理ウェハWの非接合面を保持するベルヌーイチャック231とを有し、支持板230とベルヌーイチャック231で支持された被処理ウェハWの表裏面を反転自在になっている。 (もっと読む)


【課題】被処理基板のエッチング時において被処理基板のエッチング量の面内均一性を向上させることが可能な基板の処理装置を提供する。
【解決手段】ガスの供給部および排気部を有する処理チャンバ;処理チャンバ内に配置され、被処理基板を回転可能および上下動可能に保持する保持部材;チャンバに供給するガスの温度調整を行うための第1温度調整器;被処理基板にエッチング液を供給してエッチング処理を行うためのエッチング液供給部材;エッチング液供給部材とチャンバの外部で接続されたエッチング液供給タンク;タンク内のエッチング液の温度調整を行うための第2温度調整器;および第1、第2の温度調整器によるガスの温度調整およびエッチング液の温度調整をチャンバ内の温度がタンク内のエッチング液の温度より高く、かつそれらの温度差を一定になるように制御するための制御機構;を具備した基板の処理装置。 (もっと読む)


【課題】プラズマ処理装置の基板サセプタに配置されるフォーカスリング付設の誘電性リングを交換することなくその誘電率を調整できるようにすることで,基板周縁部の印加電圧のばらつきを抑え,フォーカスリングの上面電位を所望の値に制御する。
【解決手段】基板Wを載置する基板載置部を有し,高周波電力が印加されるサセプタ114と,基板載置部に載置された基板の周囲を囲むように配置され,基板より高い上面を有する外側リング214と,該外側リングの内側に延在して基板の周縁部の下方に入り込むように配置され基板より低い上面を有する内側リング212とによって一体に構成されたフォーカスリング210と,該フォーカスリングと前記サセプタとの間に介在する誘電性リング220と,該誘電性リングの誘電率を可変する誘電率可変機構250とを設けた。 (もっと読む)


【課題】パターンの倒壊を抑制または防止することができる基板処理方法および基板処理装置を提供すること。
【解決手段】第1疎水化剤が基板に供給されることにより、基板の表面が疎水化される(S104)。その後、溶剤が基板に供給されることにより、第1疎水化剤が溶剤に置換される(S107)。そして、第1疎水化剤とは異なる第2疎水化剤が基板に供給されることにより、溶剤が第2疎水化剤に置換され、基板の表面がさらに疎水化される(S108)。その後、溶剤が基板に供給されることにより、第2疎水化剤が溶剤に置換される(S109)。そして、溶剤が基板から除去されることにより、基板が乾燥する(S110)。 (もっと読む)


【課題】被処理基板と支持基板の剥離処理を効率よく行い、当該剥離処理のスループットを向上させる。
【解決手段】剥離システム1は、剥離処理ステーション3に対して、被処理ウェハW、支持ウェハS又は重合ウェハTを搬入出する搬入出ステーション2と、被処理ウェハW、支持ウェハS及び重合ウェハTに所定の処理を行う剥離処理ステーション3と、搬入出ステーション2と剥離処理ステーション3との間で、被処理ウェハW、支持ウェハS又は重合ウェハTを搬送する第1の搬送装置20とを有している。剥離処理ステーション3は、重合ウェハTを被処理ウェハWと支持ウェハSに剥離する剥離装置30と、剥離装置30で剥離された被処理ウェハWを洗浄する第1の洗浄装置31と、剥離装置30で剥離された支持ウェハSを洗浄する第2の洗浄装置33とを有している。 (もっと読む)


【課題】ワークへの保護膜形成やワークからの保護膜除去の際に、当該処理に伴い発生する保護膜成分を含む液滴のワーク搬送機構等の可動部への飛散を抑え、可動部の固着を防止すること。
【解決手段】レーザー加工装置1は、上面に開口部27を有する筐体28と、ウェーハWを保持すると共に筐体28内部に収容可能な保護膜形成・除去用テーブル26と、筐体28内部に設けられたウェーハWの被加工面を洗浄する洗浄用ノズル32と、ウェーハWの洗浄の際に開口部27を覆うシャッター機構30とを備える。シャッター機構30は、開口部27を被覆可能なシート部材33と、シート部材33が巻回される巻回ローラ34と、シート部材33の先端部を保持し、筐体28上面に設けられた一対のガイドレール35、35上を、開口部27を開放する開放位置と開口部27を閉塞する閉塞位置との間でスライド可能なシート部材保持部36と、を有する。 (もっと読む)


【課題】パターンの倒壊を抑制または防止することができる基板処理方法および基板処理装置を提供すること。
【解決手段】基板に疎水化剤が供給され、当該基板の表面が疎水化される(S104,S108)。その後、基板が乾燥される(S110)。処理対象の基板は、疎水化されてから乾燥するまで水が接触しない状態に保たれる。 (もっと読む)


【課題】処理モジュールに処理液を共通の塗布ノズルを用いて供給するときに、複数準備される薬液ノズルの処理液供給配管同士の擦れを防ぎ、同時に塗布ノズルを把持して移動するときにノズル搬送アームへの無用な負荷を掛けないようにすること。
【解決手段】処理液供給ノズル10を接続し、上部に第1の把持穴40を設けるノズルブロック部17と、上部に第2の把持穴25を設ける把持用ブロック部18と、両ブロック部を直状に接続する接続管19と、を備える。処理液供給ノズルに連通される処理液供給管21は、接続管の中に配管され、ノズル把持アーム12は、第1の把持穴及び第2の把持穴にそれぞれ嵌合可能な第1及び第2の把持用凸部41,42を備え、ウエハWの上方に処理液供給ノズルを移動する際は、ノズルブロック部の第1の把持穴と把持用ブロック部の第2の把持穴にそれぞれ第1及び第2の把持用凸部を同時に嵌合して把持した状態で移動させる。 (もっと読む)


【課題】スピンナ乾燥時にチャンバー内に発生する気流に淀みを生じさせることのないスピンナ洗浄装置を提供することである。
【解決手段】洗浄水供給手段62は、ウエーハWを洗浄する洗浄位置と退避位置との間で移動する駆動手段に接続された回転軸66と、該回転軸66と一体的に連結され水平方向に伸長するアーム68と、該アーム68の先端に形成され該スピンナテーブル38に保持されたウエーハWに洗浄水を噴射する洗浄水噴射ノズル70とを含み、該環状外周側壁48aには、該洗浄水供給手段62を退避位置に位置づけた際、該洗浄水供給手段62を収容する収容開口部71が形成されており、該洗浄水供給手段62には、該洗浄水供給手段62が該収容開口部71に収容された際、該収容開口部71を閉塞する閉塞カバー72が配設されている。 (もっと読む)


【課題】 洗浄時に洗浄水受け容器の内側にコンタミを含む水滴が付着することのないスピンナ洗浄装置を提供することである。
【解決手段】 ウエーハを吸引保持して回転するスピンナテーブルと、該スピンナテーブルに保持されたウエーハに洗浄水を供給する洗浄水供給手段と、該スピンナテーブルを囲繞する環状外周側壁と環状内周側壁と底壁とを有する洗浄水受け容器と、該洗浄水供給手段を該スピンナテーブルに保持されたウエーハを洗浄する洗浄位置と退避位置との間で移動する駆動手段と、該洗浄水受け容器の底壁に接続され該洗浄水受け容器内のエアを排気する排気手段とを備えたスピンナ洗浄装置であって、該洗浄水受け容器の内側に親水性処理が施されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】回転するウェーハの表面に噴射されミスト状に飛散した洗浄水及び洗浄屑が、ウェーハ表面上に再付着することのない洗浄装置を提供する。
【解決手段】回転テーブル3の上面に対向する位置に強制給気手段5を設け、回転テーブル3の外周を囲繞し回転テーブル3の上面と同じ高さ位置またはその上面より低い位置に環状排気手段7を配設し、環状排気手段7から吸引排気することにより、洗浄チャンバー2内において強制給気手段5から環状排気手段7に向かうダウンフロー100を発生させ、ダウンフロー100を利用して洗浄時に飛散したミスト状の洗浄水及び洗浄屑を効果的に環状排気手段7から排気し、ミスト等の被洗浄物Wの表面への再付着を防ぐ。 (もっと読む)


【課題】スループットを低下させることなく、ろ過効果を高めることが可能な薬液供給システムを提供する。
【解決手段】開示される薬液供給システムは、薬液を貯留する第1の容器および第2の容器と、第1の容器と第2の容器とを繋ぐ第1の配管に設けられ、第1の容器に貯留される薬液を第2の容器へ流す第1のポンプと、第1の配管に設けられ、第1の容器から第2の容器へ向かって第1の配管内を流れる薬液をろ過する第1のフィルタと、第1の容器と第2の容器とを繋ぐ第2の配管と、第2の配管に設けられ、第2の容器に貯留される薬液を第1の容器へ流す第2のポンプとを備える。 (もっと読む)


【課題】保持したワークに加工や処理を施した際に、摩擦による静電気発生が抑えられてワークに電荷が溜まりにくく帯電量を小さくし、静電破壊を抑制する。
【解決手段】ワーク1を支持する支持面421に負圧を伝達する多孔質体からなる吸着部42と、絶縁性を有する部材で形成された枠体41とを有するワーク支持部40と、ワーク支持部40を回転可能に支持する回転支持部50と、回転支持部50とワーク支持部40との間に形成された軽量化空間43と、吸着部42と負圧を発生させる負圧源80とを連通させる吸引経路70Aとを有し、吸引経路70Aは軽量化空間43と連通しない構成とする。ワーク支持部40を厚くして絶縁距離を大きくして帯電を抑えることができ、軽量化空間43を有することから重量増を招かない。 (もっと読む)


【課題】基板に薬液を滴下し、基板を回転することによって基板を処理する基板処理装置であって、当該基板処理装置内の環境を大きく乱すことなく浮遊ミストを低減することが可能な基板処理装置およびこれを備える塗布現像システムを提供する。
【解決手段】基板に薬液を滴下し、基板を回転して基板を処理する基板処理装置が開示される。この基板処理装置は、基板の裏面を保持する基板保持部と、基板保持部を回転する基板回転部と、基板保持部に保持される基板に薬液を滴下する薬液滴下部と、凹形状を有し、基板保持部に保持される基板を囲むように設けられるカップ部と、基板保持部に保持される基板とカップ部の内周面との間に配置される吸気ポートと、基板回転部により駆動されるとともに、吸気ポートと連通して吸気ポートより吸引される気体を基板保持部の下方の空間に吐出する気体吐出部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】基板の一方面中央部を保護しつつ基板に処理を施すことができるとともに、回転軸線方向に異なる複数の位置で所定の回転処理を基板に良好に施すことが可能な基板保持回転装置および基板処理装置を提供すること。
【解決手段】スピンチャック3は、ウエハWの下面中央部を支持するためのセンターチャック7と、ウエハWの下面周縁部を支持するための外周リング部材8と、ウエハWの下面周縁部と外周リング部材8との間をシールするための第1シール部材9とを備える。吸着ベース10は昇降モータによって、処理位置と、下面リンス位置と、取合位置との間で昇降されるようになっている。吸着ベース10の上面10aには、吸引口26と吸引溝27とが形成されている。吸引溝27には、吸着ベース10の側面に開口するオリフィス30が接続されている。 (もっと読む)


【課題】基板の厚みにかかわらず、その少なくとも一方表面の周縁領域および周端面を良好に洗浄することができる、基板処理装置および基板処理方法を提供することである。
【解決手段】ブラシ16は、略円板状の胴部27と、先端側に向けて拡がる略円錐台状の第1周端面当接部28と、先端側に向けて拡がる略円錐台状の第2周端面当接部72とを備えている。胴部27の先端側の端面における第1周端面当接部28の周囲の円環帯状の部分が、基板の一方表面の周縁領域に当接する第1洗浄面29Aとなっている。第1周端面当接部28の側面が、基板の周端面に当接する第2洗浄面29Bとなっている。第1周端面当接部28の大径側端面における第2周端面当接部72の周囲の円環帯状の部分が、基板の一方表面の周縁領域に当接する第3洗浄面74Aとなっている。第2周端面当接部72の側面が、基板の周端面に当接する第4洗浄面74Bとなっている。 (もっと読む)


【課題】電子材料の洗浄における例えばレジストの剥離処理等に要する時間を短縮し、さらにレジスト剥離後のウエット洗浄によりレジスト残渣を短時間に確実に除去し得る低コストで省資源化の可能な洗浄方法を提供する。
【解決手段】キャリアガス制御弁14を開成し、これとともに加圧ガス制御弁19を開成して所定の圧力で加圧ガスを供給することにより加圧板16を押圧して、気体貯槽15内のキャリアガスGを所定の圧力として、キャリアガス供給配管7に供給する。これとともに洗浄液W1を二流体ノズル8へ供給する。このようにして二流体ノズル8で混合された洗浄液W1とキャリアガスGとから生成される液滴W2の噴流を、シリコンウエハ5に接触させて、該シリコンウエハ5の表面を洗浄する。洗浄液W1としては、硫酸を電気分解して得られる過硫酸を含有する硫酸溶液が好ましい。 (もっと読む)


【課題】基板を清浄な状態で露光装置に搬入することが可能な基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】裏面洗浄処理ユニットRSWにより裏面洗浄された基板Wがインターフェース用搬送機構IFR1のハンドH12により保持されて冷却ユニットCPに搬送される。冷却ユニットCPにより温度調整された基板Wがインターフェース用搬送機構IFR1のハンドH11により保持されて露光装置に搬送される。露光装置により露光処理された基板Wがインターフェース用搬送機構IFR1のハンドH13により保持されて露光装置から基板載置部PASS9に搬送される。 (もっと読む)


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