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Fターム[5F157AB16]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 被洗浄物の取扱い (8,692) | 被洗浄物の支持 (5,429) | 支持手段 (1,596) | 吸着するもの (339)

Fターム[5F157AB16]に分類される特許

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【課題】フォトレジストを除去するための溶液を均一に混合して定量を基板に提供する。
【解決手段】薬液供給ユニットは本体、第1供給管、第2供給管、及び回転防止部材を含む。本体は薬液を受け入れる円形断面を有する内部空間及び内部空間と連結されて薬液を下方に吐き出す吐出口を有する。第1供給管は本体の側面に備わって内部空間と接線形態で連結され、第1薬液が内部空間に沿って回転するように第1薬液を内部空間に供給する。第2供給管は本体を貫通して本体の中心側と隣接する端部を有し、第1薬液と混合するように第2薬液を内部空間に供給する。回転防止部材は吐出口に配置し、第1薬液と第2薬液の混合薬液が回転しながら吐き出すことを防ぐために混合薬液の回転を減少させる。 (もっと読む)


【課題】配線基板の外部端子取り付け面にストレスを与えずに一括封止後の配線基板を分割する。
【解決手段】主面に複数のデバイス領域が形成された多数個取り基板7を準備し、前記複数のデバイス領域それぞれに半導体チップを固定し、前記半導体チップ固定後、前記複数の半導体チップを一括で樹脂封止して一括封止部8を形成し、一括封止部8および多数個取り基板7をダイシングにより前記デバイス領域ごとに分割し、前記分割後、ブラシによってそれぞれの封止部の表面を擦り、その後、各半導体装置を一旦トレイのポケットに収納し、さらに、前記トレイから各半導体装置を個片搬送することにより、一括封止後の基板分割時に一括封止部8の表面を真空吸着してダイシングすることにより、多数個取り基板7の外部端子取り付け面にストレスを与えずに分割することができる。 (もっと読む)


【課題】ウエーハの表面を短時間で確実に洗浄することができるウエーハの洗浄方法を提供する。
【解決手段】スピンナーテーブルに保持されたウエーハの表面に洗浄水噴射ノズルから洗浄水を噴射してウエーハの表面を洗浄するウエーハの洗浄方法であって、スピンナーテーブルに保持されたウエーハの回転中心に洗浄水噴射ノズルを位置付ける噴射ノズル位置付け工程と、スピンナーテーブルを回転させ洗浄水噴射ノズルから洗浄水を噴射しつつ洗浄水噴射ノズルをウエーハの回転中心から外周に向けて移動せしめる洗浄工程とを含む。 (もっと読む)


【解決手段】枚葉式ウエハ湿式処理のための装置におけるスピンチャックは、ウエハのエッジ周りでウエハのチャック対向面から流れるガスを方向付けてウエハの非チャック対向面から離れるようにガスを排出する一連の環状ノズルを、支持されたウエハと共に形成する構造を周囲に有しており、それによって、非チャック対向面に供給された処理流体がウエハのエッジ領域に触れることを防止する。拡大ヘッドを備えた保持ピンがウエハエッジと係合し、高流量のガスが利用された場合にウエハが上方にずれることを防ぐ。 (もっと読む)


【課題】基板表面に形成された液膜に超音波振動を付与する基板処理装置および基板処理方法において基板へのダメージを低減する。
【解決手段】基板表面Wf上にHFE液(第1処理液)の液膜LF1が形成され、さらにHFE液の液膜LF1上にDIW(第2処理液)の液膜LF2が形成される。そして、この液膜LF2に対して超音波振動が付与される。したがって、超音波振動の付与により液膜LF2で発生した衝撃波の全てが液膜LF1を介して基板表面Wfに到達するのではなく、その一部は両液膜LF1、LF2の間に形成された界面BFにより反射される。また、界面BFを通過してきた衝撃波は液膜LF1を通過して基板表面Wfに達するまでの間に減衰される。したがって、超音波振動より液膜LF2中で発生して基板表面Wfに与えられる衝撃波のエネルギーが効果的に低減される。 (もっと読む)


【課題】下部電極のセルフバイアス電圧を上げることなく,基板載置台の付着物の除去レートを上げる。
【解決手段】処理室102内を所定の処理条件に基づいてクリーニングする際に,Oガスと不活性ガスからなる処理ガスを下部電極111のセルフバイアス電圧に応じてその絶対値が小さいほど,Oガスの流量比が減少しArガスの流量比が増大するように設定した流量比で処理室内に供給し,下部電極111と上部電極120の電極間に高周波電力を印加してプラズマを発生させる。 (もっと読む)


【課題】基板厚が異なる基板に対しても同一条件でのエッチングを行い、均一に基板の表面処理を行うことができる基板表面処理装置、太陽電池セルの製造装置を得ること。
【解決手段】基板11aを保持する基板保持手段35と、基板11aの基板厚に応じて基板保持手段35の高さを調整する高さ調整手段37と、基板11aを搬送する搬送手段と、上方に突出した壁部31dに囲われた複数の突出口を基板11aの搬送方向において離間して有する液溜まり部が上面に設けられ、基板11aの表面処理に用いる処理液40を突出口の内壁面での表面張力により突出口から突出した状態で保持する処理槽31と、を備え、突出口から突出した処理液40と処理面とが接触するとともに、液溜まり部の壁部31dの最上部と処理面との距離が規定の距離となる高さ位置で基板11aを処理槽31上において水平方向に搬送することにより処理面の表面処理を行う。 (もっと読む)


【課題】吐出される液滴の噴霧状態を調整することができる二流体ノズルを提供すること。二流体ノズルから吐出される液滴を用いて所期の処理を基板に施すことができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】二流体ノズル3は、ケーシングを構成する外筒20と、外筒20に内嵌された内筒21と、内筒21を外筒20に固定するための固定ナット23とを含む。内筒21の大径円筒部24の外周には、雄ねじ36が形成されている。外筒20の内周の基端部には、雄ねじ36に螺合する雌ねじ37が形成されている。固定ナット23は、内筒21の雄ねじ36と螺合する雌ねじ孔31を有している。外筒20と内筒21とはねじ嵌合により連結されている。雄ねじ36に対する外筒20のねじ込み量を調節することによって、遮蔽部43に対する短筒部47の軸方向の位置を調節することができる。 (もっと読む)


【課題】ティーチングのための作業者による作業を軽減することができ、かつ、より正確なティーチングを実現することができる基板処理装置およびティーチング方法を提供すること。
【解決手段】ティーチング時においては、制御部によって、ステッピングモータが駆動される。そして、処理液ノズルがホームポジションに位置することが第1センサによって検出された時、および処理液ノズルが第1周縁相当位置に位置することが第2センサによって検出された時に、それぞれ、ステッピングモータの回転量が取得される。それら取得された回転量に基づいて、第1教示情報および第2教示情報が演算され、これら第1教示情報および第2教示情報がモータ制御部21に登録される。 (もっと読む)


【課題】基板処理装置の高さが増大することを抑制しつつ、飛散した処理液を好適に回収することができる基板処理装置、および、カップ外に処理液が漏れることを好適に防止できるカバー部材を提供する。
【解決手段】基板を保持する基板保持部11と、上部に開口Aを有する略筒形状を呈して基板保持部11の周囲を囲むカップ12と、カップ12の外側に設けられるカバー本体41と、を備え、前記開口Aの縁部は、高さ位置が比較的低い第1縁部ELと高さ位置が比較的高い第2縁部EHとを有する。カバー本体41は、第2縁部EHの高さ位置より低い範囲で前記第1縁部ELの上方を覆う。これにより、処理液が第1縁部ELの上方からカップの外側に漏れることを防止できる。第1縁部の上端は依然として第2縁部より低いので、基板処理装置の高さが増大することを抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】安定して基板上に処理液の液膜を保持させることができる基板処理方法および基板処理装置を提供すること。
【解決手段】基板処理装置は、基板を水平に保持する基板保持手段と、前記基板保持手段に保持された基板の上面周縁部を選択的に疎水化させる疎水化手段と、前記基板保持手段に保持された基板の上面に処理液を供給する処理液供給手段と含む。この基板処理装置による基板の処理では、基板の主面の周縁部を選択的に疎水化させる疎水化工程(S101)と、前記疎水化工程が実行された後に、水平に保持された基板に処理液を供給して、当該基板の主面を覆う処理液の液膜を形成する液膜形成工程(S102)とが実行される。 (もっと読む)


【課題】基板表面の全域に対して、処理液による処理を均一に施すことができる基板処理装置および基板処理方法を提供することである。
【解決手段】この基板処理装置1は、スピンチャック4と、スピンチャック4に保持されたウエハWの表面に向けて、高温(たとえば80℃)のSC1を供給するためのSC1ノズル5と、スピンチャック4に保持されたウエハWの表面に水蒸気を供給するための蒸気ノズル6と、スピンチャック4を収容するカップ8とを備えている。SC1ノズル5から吐出された高温のSC1は、ウエハWの中央部に供給される。蒸気ノズル6から吐出された水蒸気は、ウエハWの中間位置Mに供給される。 (もっと読む)


【課題】基板に疎水性のポリシリコン膜が形成されているとともに、このポリシリコン膜に親水性の自然酸化膜が積層されている場合において、基板の周縁部においてエッチング不良が発生することなく、かつエッチング幅の精度を向上させることができる基板液処理方法、基板液処理装置および記憶媒体を提供する。
【解決手段】まず、ポリシリコン膜が形成された基板Wを回転させながら当該基板Wの周縁部にフッ酸を供給することにより基板Wの周縁部に形成された自然酸化膜をエッチング除去してポリシリコン膜を露出させる。次に、ポリシリコン膜が露出された基板Wを回転させながら当該基板Wの周縁部にフッ硝酸を供給することによりポリシリコン膜をエッチング除去する。このような動作は、基板液処理装置1の制御部50が回転駆動部20、フッ酸供給部54およびフッ硝酸供給部52を制御することにより行われる。 (もっと読む)


【課題】従来に比べて処理の面内均一性の向上を図ることができるとともに、処理チャンバー内の無駄な空間を削減して装置の小型化を図ることのできるプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】載置台と対向する対向面に複数設けられたガス吐出孔から基板に向けてガスをシャワー状に供給するシャワーヘッドを具備し、対向面に形成された排気のための複数の排気孔と、載置台の周縁部に沿って設けられ上下動可能とされた環状部材であって、上昇位置において載置台とシャワーヘッドと当該環状部材とによって囲まれた処理空間を形成する環状部材と、環状部材の内壁部分に開口し、処理空間内にガスを供給するための複数の環状部材側ガス吐出孔と、環状部材の内壁部分に開口し、処理空間内を排気するための複数の環状部材側排気孔とを具備したプラズマ処理装置。 (もっと読む)


【課題】基板のダメージを抑制または防止しつつ、不要になった膜を基板から除去することができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】基板処理装置1は、ウエハWを保持するスピンチャック7と、光を照射することで活性化する光活性化成分を含む処理液をスピンチャック7に保持されたウエハWに供給する薬液供給ユニット22と、スピンチャック7に保持されたウエハWに供給される光活性化成分を含む処理液に光を照射する照射ユニット4とを含む。 (もっと読む)


【課題】液処理部等を含むあるエリアにおいて発生したミスト又はパーティクルが、搬送部又は他の処理部等を含む他のエリアに流出することを防止できる液処理システムを提供する。
【解決手段】薬液を用いて基板を液処理する液処理部COTと、基板を液処理部COTに搬入出する搬送部8と、液処理部COTと搬送部8との間を仕切るとともに、搬送部8が基板Wを液処理部COTに搬入出するための開口部51が設けられた仕切板50とを備え、仕切板50に、液処理部COTが設けられた空間27の雰囲気を排気する排気孔52が設けられたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】本発明の目的は、良好な平坦度及び膜厚均一性を有し、さらに品質の高いエピタキシャルシリコンウェーハを提供することにある。
【解決手段】鏡面研磨されたシリコンウェーハ10(図1(a))の表面上に、エピタキシャル膜20を形成した後(図1(b))、前記シリコンウェーハの裏面のみに対し、研削加工処理、研磨加工処理あるいは化学エッチング処理を施し、エピタキシャル膜20の形成時に前記シリコンウェーハ10の裏面端部に付着したシリコン析出物21を除去する(図1(c))ことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】スループットが高く、かつ被処理基板の回転にともなうパーティクルの発生および熱ストレスによるポリマーの剥がれの発生を抑制しつつ被処理基板の周縁部に環状に付着したポリマーを除去すること。
【解決手段】被処理基板Wの周縁部に環状に付着したポリマー2を除去するポリマー除去装置であって、周縁部に環状にポリマーが付着した被処理基板Wを収容する処理容器11と、被処理基板Wを載置する載置台12と、被処理基板Wに環状に付着したポリマー2にリング状レーザー光を一括照射するレーザー照射部20と、被処理基板Wに環状に付着した前記ポリマーにオゾンガスを供給するオゾンガス供給機構15,19と、オゾンガスを排気する排気機構23,24とを具備する。 (もっと読む)


【課題】パターン倒れを生じさせることなく基板に付着した異物を除去する基板洗浄方法を提供する。
【解決手段】基板洗浄方法では、基板が載置台に載置され(ステップS1)、載置台に載置された基板に所定の金属に対して化学結合性を有する有機物質、例えばフタロシアニンが蒸気の状態で供給され(ステップS2)、基板に付着した金属を含む異物と有機物質との結合物質の生成を促進するエネルギが基板に供給され(ステップS3)、載置台に載置された基板が所定温度に加熱されることにより基板から結合物質が揮発させられる(ステップS4)。 (もっと読む)


【課題】装置の大型化を伴わずに異なる種類の研磨加工を実現可能な研磨工具、研磨装置および研磨加工方法を提供すること。
【解決手段】研磨工具43の研磨面は、第1の研磨パッド45によって形成され、ワークの被研磨面の外形以上の大きさを有する中央研磨面と、第2の研磨パッド46によって形成され、中央研磨面の外周を囲繞する外周研磨面とで構成される。そして、中央研磨面と外周研磨面とが段差を形成して外周研磨面が中央研磨面から突出しており、研磨工具43は、全体として内側が窪んだ断面視凹型形状を有する。 (もっと読む)


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