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Fターム[5F157CE52]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 検知制御 (3,601) | 制御対象 (3,445) | 乾燥気体、蒸気 (240) |  (76)

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吸気量 (8)
排気量 (21)

Fターム[5F157CE52]に分類される特許

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【課題】キャピラリ内でのパーティクルの発生を防止できるドライアイススノー洗浄装置を提供する。
【解決手段】供給源から供給された液化炭酸ガスを膨張させ冷却させるオリフィス3と、上記オリフィス3から噴射ノズル1に至るキャピラリ2と、上記キャピラリ2が接続されてドライアイススノーを噴射する噴射ノズル1と、上記噴射ノズル1に対してドライアイススノーの噴射ガスを供給する噴射ガス供給管4とを備え、上記キャピラリ2における噴射ガス供給管4の合流部よりも上流側の部分に、キャピラリ2を外側から加温する加温手段を設けたことにより、キャピラリ2内面をドライアイスの温度よりも高い温度に保ってキャピラリ2内面に薄いガス層を形成し、固体のドライアイスがキャピラリ2内面に衝突することを防止してパーティクルの発生を防止する。 (もっと読む)


【課題】微細パターンが形成されている基板を、その微細パターンに悪影響を与えることなく短時間で洗浄する基板洗浄方法を提供する。
【解決手段】代表長が0.1μm以下の溝又は穴を有する微細パターンが形成されたウエハWを、水分を含んだ空間において、所定位置に配置された対向電極46を挟んで、鋭角状の先端部を有する冷却自在の放電電極45の先端部に対して一定間隔で対面するように、ウエハWを配置する配置ステップと、放電電極45を冷却して放電電極45に結露を生じさせると共に、放電電極45と対向電極46との間に一定電圧を印加する洗浄ステップと、により洗浄する。この洗浄ステップでは、放電電極45の先端部で直径が10nm以下の水微粒子を含有するエアロゾルを発生させ、エアロゾルをウエハWに噴霧することによりウエハWを洗浄する。 (もっと読む)


【課題】所定の熱風の生成量を制御することが可能で、且つ、熱風の清浄化において失われる熱損失の削減を図ることが可能となる熱風循環型乾燥装置を提供する。
【解決手段】熱源手段10と、送風手段20と、熱風清浄手段30と、乾燥室40とを有し、熱源手段10は、熱源となるヒーター14と、熱源のヒーターが配備された部位における熱風の経路の開口面積を制御する熱風制御板16とを有し、熱風清浄手段30の有する熱風清浄のためのろ過フィルターを格納する筐体30−1、及び筐体30−1の上蓋30−2の内側が、断熱板36を有する。 (もっと読む)


【課題】処理槽から引き上げられた被処理体から立ち上る処理液の蒸気が、搬送駆動部の設けられた隔壁の他方側に侵入することを防止すること。
【解決手段】処理装置は、間隙25を有する隔壁28と、隔壁28の一方側に配置され、被処理体Wgを処理する処理液C1が貯留された処理槽31と、隔壁28の間隙25を通過可能な支持部21と、隔壁28の他方側に設けられ支持部21を移動させる搬送駆動部23と、を有する搬送機構と、被処理体Wgを、処理液C1内から取り出して引き上げ位置に位置づける上下方向移動部32と、を備えている。処理槽31の上方には、上方から第一気体を供給する第一気体供給部27が設けられている。処理装置は、引き上げ位置に位置づけられた被処理体Wgに向かって第二気体を噴出する気体噴出部10も備えている。 (もっと読む)


【課題】 半導体ウエハをキャリアと共に洗浄する際に、半導体ウエハを破損させることなく、半導体ウエハがキャリアから離脱すること防止する。
【解決手段】 半導体ウエハを洗浄する洗浄装置であって、半導体ウエハを収容するキャリアと、キャリアを収容する洗浄槽と、洗浄槽内でキャリアを支持し、キャリアと共に回転する回転部材を備えている。キャリアには、半導体ウエハを出し入れするための開口部が形成されている。回転部材には、回転部材に支持されたキャリアの開口部に配置される保持部材が形成されている。保持部材は、キャリアの開口部において、キャリアに収容された半導体ウエハの外周縁に対向する。その保持部材では、半導体ウエハの外周縁に当接し得る当接面が、半導体ウエハの外周縁に沿って湾曲していることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 材液量計などの検出器を用いることなく、タンク内の材料が減少していることを推定し、新しく設定された設定濃度に安定するまでにかかる時間が長くなるという不具合を防ぐことができる材料ガス濃度制御システムを提供する。
【解決手段】 導出管12上に設けられた第1バルブ23と、前記混合ガスにおける材料ガスの濃度を測定する濃度測定部21と、前記タンク内の圧力を測定する圧力測定部22と、前記濃度測定部22で測定された材料ガスの測定濃度が、予め定めた設定濃度となるように前記第1バルブ23の開度を制御する濃度制御部CCと、前記材料液の貯留量を推定する材料液量推定部245とを具備し、前記濃度制御部CCが、予め定めた設定圧力を、前記測定濃度と設定濃度との偏差が小さくなる向きに変更する設定圧力設定部243と、前記圧力測定部22で測定された測定圧力が前記設定圧力となるように前記第1バルブ23の開度を制御する第1バルブ制御部242とを具備した。 (もっと読む)


【課題】 材料ガスの分圧が変動したとしても、混合ガスにおける材料ガスの濃度を一定に保つことができ、応答性の良い材料ガス濃度制御システムを提供する
【解決手段】 材料Lを収容するタンク13と、収容された材料Lを気化させるキャリアガスを前記タンク13に導入する導入管11と、前記タンク13から気化した材料ガス及び前記キャリアガスの混合ガスを導出する導出管12とを具備した材料気化システム1に用いられるものであって、前記導出管12上に設けられた第1バルブ23と、前記混合ガスにおける材料ガスの濃度を測定する濃度測定部CSと、前記濃度測定部CSで測定された材料ガスの測定濃度が、予め定めた設定濃度となるように前記第1バルブ23の開度を制御する濃度制御部CCとを具備した。 (もっと読む)


【課題】処理液の消費量を低減することができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】基板処理装置は、基板Wを水平に保持するための支持リング8を有するスピンチャック3と、スピンチャック3に保持された基板Wに処理液を供給する洗浄液ノズルおよびリンス液ノズルとを備えている。支持リング8は、支持リング8に保持された基板Wの上面から外方へと処理液が流れていくように、当該基板Wの全周を取り囲んで当該基板Wの外周縁を外方に拡張するように設けられた環状の拡張面36を有している。拡張面36は、処理液に対する疎液性が基板Wよりも高い疎液面とされている。 (もっと読む)


【課題】 ベースに接着された基板に対し、十分な洗浄ができる基板洗浄装置、基板の製造方法、および歩留まりが向上され特性が優れた太陽電池素子を提供することを目的とする。
【解決手段】 スライスベースに接着されたブロックをスライスして複数の基板を形成するスライス工程、スライスベースに接着された基板を洗浄液の入った洗浄槽に浸漬して洗浄する洗浄工程、洗浄後に基板をスライスベースから剥離する剥離工程、を有する基板の製造方法において、スライスベースが側面となるように基板を洗浄槽に浸漬し、洗浄槽の下部に設けられた複数の開口を有するノズルから基板のスライスベースがある側面とは反対側の側面に対して洗浄液を槽内に噴出する。 (もっと読む)


チャンバー内の均一な流体流れのための流体分配ネットワークを備えたチャンバーを提供する。チャンバーは、第1の面及び反対の内面を有する第1のチャンバー壁を含む。前記第1の面には、第1の組のチャンネルが形成され、内面はチャンバーの内部に曝され、かつ、複数の第1の組のチャンネルに接続された複数の内部ポートを含む。チャンバーは、また、第2の面及び反対の外面を有する第2のチャンバー壁を含む。第2の面は、第1の面が第2の面と合わされたときに、第1の組のチャンネルに部分的に交差する第2の組のチャンネルを有する。外面は、また、第2の組のチャンネルへの出入口を提供する、少なくとも一つの外部ポートを含む。 (もっと読む)


【課題】乾燥媒体の再利用を図ることにより、乾燥媒体の消費を抑制することができる基板乾燥装置を提供する。
【解決手段】密閉されたチャンバ1内の処理槽9に基板Wを収容した後、シャワーノズル17から乾燥媒体をシャワー状に供給する。基板Wに付着している液摘は、乾燥媒体の液滴の物理力によって除去される。このとき基板Wは乾燥媒体によって完全に覆われた状態である。チャンバ1内にシャワーノズル17から加熱空気を供給すると、チャンバ1内には乾燥媒体の気相が充満するが、排気管65により排気されるとともに、冷却器69によって冷却されて凝縮される。凝縮された乾燥媒体は、回収配管75により乾燥媒体タンク21に戻される。したがって、乾燥媒体を再利用することができ、乾燥媒体の消費を抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】乾燥時間を短縮することができる基板乾燥装置を提供する。
【解決手段】制御部91は、純水などの液滴が付着し、処理槽9に載置された基板Wに対して供給ノズル17から乾燥媒体を供給させる。基板Wに付着している純水などの液摘は、乾燥媒体の液滴の物理力によって除去される。このとき基板Wは乾燥媒体によって完全に覆われた状態である。次に、乾燥媒体の供給を停止させるとともに、処理槽9内に滞留している乾燥媒体を排出・回収させた後、ガス供給管77から乾燥気体を供給ノズル17に供給して、基板Wに付着している乾燥媒体を乾燥させる。したがって、チャンバ1内の気体の置換や減圧に要する時間が不要であるので、基板Wの乾燥時間を短縮することができる。また、基板Wを処理槽9から引き上げた位置にて乾燥処理を行わないので、装置の高さ方向の寸法を抑制できる。 (もっと読む)


【課題】基板上における気流の乱れを抑制または防止できる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】基板処理装置は、ウエハWを所定の回転軸線C1まわりに回転させる基板回転手段と、基板回転手段により回転されるウエハWの主面に向けて、かつ基板回転手段によるウエハWの回転方向下流側に向けて、気体を吐出し、ウエハWの主面上にウエハWの回転方向に沿う気流を形成するための複数の気体吐出ノズルとを含む。ウエハW上に形成される気流の流速は、ウエハWの回転軸線C1からの距離が異なる各位置において、ウエハWの周速と一致されている。 (もっと読む)


【課題】基板表面の処理液をIPAなどの低表面張力溶剤に置換させる基板処理方法および基板処理装置において、少ない低表面張力溶剤の使用量で処理液を効率よく確実に置換する。
【解決手段】リンス処理の終了後に、基板Wの回転速度が600rpmから10rpmに減速されてDIW液膜がパドル状に形成される(パドル形成処理)。その後、所定量のIPAを基板W上の液膜に供給してから(溶剤供給処理)、IPAを供給せずに基板を回転させることで液膜を攪拌する(攪拌処理)。これにより、基板上に残留していたDIWがIPA内に溶け込む。さらにその後、IPA供給を再開して基板の回転速度を高めることにより、基板W上のDIWを完全にIPAに置換する(置換処理)。 (もっと読む)


【課題】小型で、しかも基板表面を迅速に、かつ良好に処理することができる基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】処理空間162への乾燥窒素ガスの供給が2系統、つまり(1)基板Wの表面外周部から乾燥窒素ガスを供給する系統と、(2)基板Wの表面中心部から乾燥窒素ガスを供給する系統で同時に行われて処理空間162の湿度を均一に低下させることができる。また、処理空間162への乾燥窒素ガスの供給とともに処理空間162の排気を湿式処理時の排気よりも抑えているので、処理空間162の湿度を迅速に低下させることができる。そして、このようにして処理空間162の湿度を低下させた状態で乾燥処理を実行しているので、基板表面でのウォーターマーク等の発生を抑制しつつ基板を乾燥することができる。 (もっと読む)


【課題】基板面内により均一に処理を施すと共にスループットの向上を図る。
【解決手段】基板処理装置1は、基板2を水平搬送しながらその上面に現像液の液層Xを形成するための液ノズル16と、基板2上に形成された液層Xを除去するための除去手段とを備える。この除去手段は、基板2を横断するように設けられて該基板2の上面に向かってエアを吐出するエアナイフ18と、該エアナイフ18によるエア吐出位置よりも基板2の後端側に隣接する位置に配置され、前記エアの吐出時に生じる液層Xの波打ちを抑える波消し部材20と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】処理槽の上方に乾燥処理部を備えた処理装置において、乾燥処理部に薬液雰囲気が流入することを防止でき、さらに、乾燥処理部から処理ガスを確実に排気できる基板処理装置、基板処理方法、記録媒体およびソフトウエアを提供する。
【解決手段】基板処理装置1は基板Wを処理液によって処理する処理槽3と、処理槽3の上方に配置された乾燥処理部6と、処理槽3と乾燥処理部6との間で基板Wを移動させる移動機構8とを備えている。乾燥処理部6は、移動機構8によって基板Wが処理槽3内に移送されたとき、外気と連通する状態と、外気と遮断した状態とをとることができる。乾燥処理部6は制御部65によって外気と連通する状態と、外気と遮断した状態とに切り換えられる。 (もっと読む)


【課題】基板を収容する容器の運用効率を向上しつつ、基板へのパーティクルの付着を防止することができる容器清浄度計測装置を提供する。
【解決手段】フープ検査装置10は、フープ90の内壁やフープ90の内部においてウエハWの周縁部を担持する担持部94に付着したパーティクルPの剥離を促進するパーティクル剥離促進ノズル18と、フープ90の内壁等から剥離したパーティクルPを採集するパーティクル採集ノズル19と、採集されたパーティクルの量を計測するパーティクルカウンタ23とを備え、パーティクル剥離促進ノズル18及びパーティクル採集ノズル19はプローブノズル15を構成し、該プローブノズル15はフープ90の内部に進入する。 (もっと読む)


【課題】瞬時にベーパーを生成して基板上に供給して基板を乾燥でき、しかも腐食されることなく、クリーンな洗浄及び乾燥ができるベーパー乾燥装置を提供する。
【解決手段】基板Wを支持する洗浄装置と、複数種類の処理液を選択的に供給する処理液供給ユニット31と、一端側が前記処理液供給ユニット31に接続され、他端側に前記洗浄装置に接続されるベーパー供給管26を有し、前記処理液供給ユニット31から供給された処理液を流通する流通路を有する石英ガラス管14と、前記石英ガラス管14の内側に前記流通路と隔離された状態に設けられたロッドヒーター27と、前記石英ガラス管14の外側に設けられ、前記ロッドヒーター27を加熱し、輻射熱によって前記流通路を流通する前記処理液を加熱あるいは気化して前記ベーパー供給管26に導く加熱手段としてのハロゲンランプ28を具備したことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】排気を分散させることによって乾燥不良を防止することができる基板処理装置を提供することを目的とする。
【解決手段】真空ポンプによって排気機構75を介してチャンバ内の気体を排出するが、排気機構75はチャンバ内の気体を複数箇所から排気するので、チャンバ内において排気が偏りにくい。したがって、溶剤ノズルによってチャンバ内に形成された溶剤蒸気雰囲気が偏ることを防止でき、処理液から露出された基板Wに付着している液滴が偏って引かれることを防止できる。その結果、基板の乾燥不良を防止することができる。 (もっと読む)


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