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国際特許分類[B81C1/00]の内容

処理操作;運輸 (1,245,546) | マイクロ構造技術 (6,196) | マイクロ構造装置またはシステムの製造または処理に,特に適合した方法または装置 (1,969) | 基層中または基層上での装置またはシステムの製造または処理 (1,249)

国際特許分類[B81C1/00]に分類される特許

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【課題】信頼性の高い電気部品を提供する。
【解決手段】電気部品は、基板100と、前記基板上に形成された機能素子120と、前記基板上において前記機能素子を収納するキャビティ130を形成し、複数の貫通孔109cを有する第1層109と、前記第1層上に形成され、複数の前記貫通孔を塞ぐ第2層110と、を具備し、前記第1層は、下部側に形成された第1膜109aと、前記第1膜上に形成され、前記第1膜より熱膨張係数が小さい第2膜109bと、を含む。 (もっと読む)


【課題】簡便・安価な装置と機材により、めっきの雌型やマイクロ流路・容器に使用できる均一膜厚で急峻な断面側壁を有する感光性物質のパターンを形成する方法を提供する。
【解決手段】基材上に感光性物質を厚く均一膜厚で付し、その上に遮光液を用いてディスペンサまたはインクジェットプリンタまたはスクリーン印刷によって基になる遮光パターンを作り、該遮光パターンをマスキング材として前記感光性物質を露光する。 (もっと読む)


【課題】ドライエッチングを用いてシリコン基板における凹部の底部に垂直な開口を設けることができるシリコン基板の加工方法を提供する。
【解決手段】第1の開口4の底部に、パターン開口10を有するパターニングマスク14’を用いて、プラズマを用いた反応性イオンエッチングにより第2の開口5を形成するシリコン基板の加工方法であって、前記プラズマに対する前記第1の開口内の露出を妨げる遮蔽構造11’を前記シリコン基板内又は上に形成した状態で前記反応性イオンエッチングを行うシリコン基板の加工方法である。これにより、第2の開口の傾きの原因である、プラズマモールディング効果と呼ばれるシースの歪みを緩和することが出来る。 (もっと読む)


【課題】MEMSトランスデューサの製造工程において、アニール処理によって生じる絶縁層の内部応力による基板の反りや破損を、新たに工程を増やすことなく防止する。
【解決手段】第一絶縁層と第一導電層と第二絶縁層と第二導電層とが形成された後に、第一導電層に到達するコンタクトホールを形成するとともに溝部H3を形成するために、第一絶縁層と第二絶縁層とをエッチングした後、第一導電層または第二導電層の応力を緩和するためのアニール処理を施す。 (もっと読む)


【課題】 金属基板に形成した圧電膜の特性を向上させることが可能で、かつ、ミラーの反射性能を低下させない光走査素子及びその製造方法を提供すること。
【解決方法】 金属基板に形成された、ミラー2と、ミラー2を保持するヒンジ部1と、ヒンジ部1を保持する金属フレーム3と、ヒンジ部1に捩れ振動を生じさせる振動部とを有し、振動部はヒンジ部1から離れた金属フレーム3上に形成された圧電膜10と上部電極4とからなり、圧電膜10が金属基板に形成された窪み5の中に形成されている。圧電膜を形成した後、熱処理を施し、その後、圧電膜が形成された側の面に鏡面研磨が施されている。 (もっと読む)


【課題】 電極を保護しながら、可動部の形状精度を向上することができる製造方法を提供する。
【解決手段】 本願の半導体装置の製造方法は、まず、第3層16の一部を除去して可動部16bを形成し、次いで、可動部16bを形成するために除去された部位の下方に位置する第2層と、形成された可動部16bの下方に位置する第2層14を除去する。次いで、可動部16bを形成する際に除去された部位に充填材24を埋め込む。次いで、充填材24を埋め込んだ状態で、半導体装置の表面に電極18を形成する。電極18を形成した後、埋め込んだ充填材24を除去する。 (もっと読む)


【課題】拡散のプロセスやウェットエッチング液の性質、状態によらずに振動子を作製するための製造方法を提供する。
【解決手段】基板表面に高濃度不純物層を形成する工程と、高濃度不純物層上にマスクを形成する工程と、マスクを振動子の形状にパターニングする工程と、ドライエッチングによりパターニングした振動子の下方を残して少なくとも基板に達するまで高濃度不純物層を除去する工程と、ウエットエッチングにより高濃度不純物層の下方を除去して梁状の振動子を形成する工程と、高濃度不純物層上に形成したマスクを除去する工程と、
を含んでいる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、微小機械デバイスの製造方法に関する。
【解決手段】本発明の微小機械デバイスの製造方法は、基板を提供し、該基板に第一材料層を形成する第一ステップと、前記第一材料層に犠牲層を形成する第二ステップと、前記犠牲層に第二材料層を形成する第三ステップと、犠牲層の一部をドライエッチング方法でエッチングする第四ステップと、残した前記犠牲層をウェットエッチング方法でエッチングし、前記第一材料層と前記第二材料層との間に隙間を形成するとともに、前記第二材料層の前記第一材料層に相対する表面に凸部を形成する第五ステップと、を含む。 (もっと読む)


【課題】突起を形成するための追加の工程を必要としない容量型MEMSセンサおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】可動部を構成するダイアフラム膜13上に、犠牲層14と固定電極15を積層形成する。固定電極には貫通孔17を形成し、この貫通孔から等方性のエッチングを行う。その結果、貫通孔から最も遠い位置のダイアフラム膜上に、犠牲層の一部を残すことができる。この犠牲層の一部を突起21として利用し、可動部と固定電極とが貼り付くことを防止する。 (もっと読む)


【課題】スイッチにおける損失を低減することができるMEMSスイッチの構造およびその製造方法を提供する。
【解決手段】接点金属薄膜21は、第2の配線3と対向する部分のみに設けられている。これにより、高い周波数の信号がその接点金属薄膜21を通過する距離が短くなるので、MEMSスイッチにおける損失を低減させることができる。すなわち、いわゆる表皮効果により、高周波信号の周波数が高いほど信号が導体の表面を流れるようになり、その表面が抵抗率の高い材料で覆われている場合には覆われていない場合に比べてスイッチの損失が増大する。しかしながら、上述したように第2の配線3と対向する部分のみに接点金属薄膜21を設けたので、高い周波数の信号がその接点金属薄膜21を通過する距離が短くなるので、スイッチの損失が増大するのを防ぐことができる。 (もっと読む)


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