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国際特許分類[C08F20/26]の内容

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【課題】コーナー・プロキシミティ(Corner proximity)が良好で、現像欠陥が少ないパターンを形成することが可能で、液浸液への酸の溶出が少なく、液浸液に対する追随性が良好である感活性光線又は感放射線樹脂組成物、及びそれを用いたパターン形成方法を提供すること。
【解決手段】(A)酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解度が増大する樹脂、(B)活性光線または放射線の照射により酸を発生する化合物、(C)アルカリ現像液の作用により分解してアルカリ現像液に対する溶解性が増大する極性変換基を有する繰り返し単位を含有し、かつ、フッ素原子及びケイ素原子の少なくともいずれかを含有する樹脂、および、(D)下記一般式(1)で表される含窒素ヘテロ環を有する含窒素有機化合物を含有することを特徴とする感活性光線または感放射線樹脂組成物。(一般式(1)の各符号は明細書に記載の意味を有する。)
【化1】
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【課題】撥水性と滑水性に優れ、現像欠陥が少なく、現像後のレジストパターン形状が良好な液浸リソグラフィー用レジスト材料の添加剤を用いたレジスト材料、この材料を用いたパターン形成方法を提供する。
【解決手段】(A)一般式(1)で表される繰り返し単位を有する高分子化合物、(B)ベース樹脂として酸の作用によりアルカリ現像液に可溶となる高分子化合物、(C)高エネルギー線の露光により酸を発生する化合物、(D)有機溶剤を含有するレジスト材料。
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【解決手段】カルボキシル基の水素原子が下記一般式(1)で示される酸不安定基によって置換されている樹脂をベース樹脂にしていることを特徴とするポジ型レジスト材料。


(式中、R1は水素原子、炭素数1〜4のアルキル基、アルコキシ基、アルカノイル基又はアルコキシカルボニル基、炭素数6〜10のアリール基、ハロゲン原子、又はシアノ基である。mは1〜4の整数である。)
【効果】本発明のポジ型レジスト材料は、露光前後のアルカリ溶解速度コントラストが大幅に高く、高解像性を有し、露光後のパターン形状とラインエッジラフネスが良好で、その上特に酸拡散速度を抑制し、優れたエッチング耐性を示す。従って、特に超LSI製造用あるいはフォトマスクの微細パターン形成材料、EUV露光用のパターン形成材料として好適なポジ型レジスト材料、特には化学増幅ポジ型レジスト材料を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】高解像度でラインエッジラフネスが小さく、露光後のパターン形状が良好であり、更に優れたエッチング耐性を示すレジスト膜を与えるポジ型レジスト材料を提供する。
【解決手段】カルボキシル基の水素原子が一般式(1)で示される酸不安定基によって置換されている樹脂をベース樹脂にしているポジ型レジスト材料。


(R1、R2はH、C1〜4のアルキル基、アルコキシ基、アルカノイル基、アルコキシカルボニル基、ヒドロキシ基、C6〜10のアリール基、ハロゲン原子、又はシアノ基。RはH、C1〜12のアルキル基、O又はSを有していてもよく、C2〜12のアルケニル基、C2〜12のアルキニル基、又はC6〜10のアリール基。R3〜R6はH、あるいはR3とR4、R4とR5、又はR5とR6が結合してベンゼン環を形成してもよい。m、nは1〜4の整数。) (もっと読む)


【課題】シリコーンオイルとの親和性に優れ、且つ、分散粒子に立体安定化作用を与え、シリコーンオイルへの分散度を向上させた分散液の提供。
【解決手段】シリコーンオイル中に、少なくともシリコーンオイルに不溶な粒子成分と、繰り返し単位が自然数であるジメチルシロキサン単位を有する(メタ)アクリル酸エステル系単量体を重合した重合体とを含有し、前記重合体が、繰り返し単位が25以下の自然数であるポリアルキレンエーテル単位を有する(メタ)アクリル酸エステル系単量体をさらに含んで重合したものであることを特徴とする分散液。 (もっと読む)


【課題】優れた復元性を有する硬化物が得られる活性エネルギー線硬化性樹脂組成物と、該活性エネルギー線硬化性樹脂組成物を硬化させることによって得られる硬化物を提供する。
【解決手段】アルキレンオキシドが付加された二官能又は三官能(メタ)アクリレートと、光重合開始剤とから成る活性エネルギー線硬化性樹脂組成物。 (もっと読む)


【課題】樹脂や有機溶媒との相溶性が良好であり、耐擦傷性と透明性を備えハロゲンフリーで環境負荷の少ない、耐加水分解性、持続性を有する帯電防止組成物の提供。
【解決手段】負イオンとして水酸化物イオン、カルボキシイオンで構成された一般式(1)で示される(メタ)アクリルアミド系オニウム塩モノマーからなる帯電防止剤。さらに該モノマーを構成成分とするオリゴマー又は/及びポリマーをも含む帯電防止剤。基材上に帯電防止剤又はこれを含む組成物を塗布して帯電防止層を形成する。
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【課題】分子量の安定したベースポリマーを得ることができる半導体リソグラフィー用共重合体の製造方法の提供。
【解決手段】本発明による半導体リソグラフィー用共重合体の製造方法は、少なくとも2種の繰り返し単位を含む半導体リソグラフィー用共重合体の製造方法であって、前記共重合体を含水率が350ppm〜10質量%である溶液として保持する工程を有するものである。 (もっと読む)


【課題】現像液中においてカスの発生を抑制でき、感度、耐刷性、及び、現像性に優れた平版印刷版原版を提供すること。
【解決手段】(A)下記式(1)で表される単量体単位を有するバインダーポリマー、(B)エチレン性不飽和化合物、及び、(C)重合開始剤を含有する感光層を有することを特徴とする平版印刷版原版。式(1)中、R1は水素原子又はメチル基を表し、R2は酸素原子又はNR3を表し、R3は水素原子又は炭素数1〜10の一価の炭化水素基を表し、L1は水素原子以外の構成原子の数が2〜10である二価の連結基を表し、L2は水素原子以外の構成原子の数が2〜50である(n+1)価の連結基を表し、A−Hは酸解離定数(pKa)が11以下である残基を表し、nは1〜5の整数を表す。
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【課題】ダブルパターニングプロセスにおいて、2回目のパターニングの影響を受けにくい第一のレジストパターンを形成できるポジ型レジスト組成物、及び当該ポジ型レジスト組成物を用いたレジストパターン形成方法の提供。
【解決手段】ダブルパターニングプロセスにおいて、第一のレジスト膜を形成するポジ型レジスト組成物として用いられ、酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が増大する基材成分(A)と、露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)と、含フッ素化合物成分(F)とを含有し、当該(F)成分が、塩基解離性基を含む構成単位(f1)のみを有する含フッ素高分子化合物(F1)および前記構成単位(f1)と側鎖に特定の基を含むアクリル酸エステルから誘導される構成単位(f2)とを有する含フッ素高分子化合物(F2)からなる群から選択される少なくとも一種の含フッ素樹脂成分を含むポジ型レジスト組成物。 (もっと読む)


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