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国際特許分類[C23C16/02]の内容

国際特許分類[C23C16/02]に分類される特許

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【課題】太陽電池基板のダングリングボンドの終端処理を、太陽電池の製造工程の中で高いスループットで行うことができる方法を提供する。
【解決手段】平行平板型プラズマCVD装置1を用いて、処理用ガス供給装置3から第1処理用ガスを供給するとともに高周波電力源2から高周波電極6に第1周波数の高周波電力を印加し、前記高周波電極と基板電極5との間に水素イオンを含むプラズマを発生させ、この水素イオンによって太陽電池基板8のダングリングボンドを終端させる終端工程と、次いで、前記処理用ガス供給装置から第2処理用ガスを供給するとともに前記高周波電力源から前記高周波電極に前記第1周波数よりも高い第2周波数の高周波電力を印加し、前記高周波電極と前記基板電極との間に前記太陽電池基板表面に反射防止膜を成膜するプラズマを発生させる成膜工程と、を連続して行う。 (もっと読む)


【課題】耐スクラッチ性、耐磨耗性、及び耐腐食性セラミックスコーティングを金属基材上に備える整形外科用インプラント、並びにかかるコーティングの作製方法を提供する。
【解決手段】金属基材は有利なことに、セラミックスでコーティングされる前に、HIP処理され、かつ均質化され、このHIP処理され、かつ均質化された金属基材は、セラミックスでコーティングされる前に研削され、研磨されることが好ましい。セラミックスコーティングは、窒化チタン、チタン炭窒化物、又は窒化チタン及びチタン炭窒化物の両方の複数の薄い交互層を備えるバンドを含んでもよく、アルミナオーバーコートを含んでもよい。本発明のコーティングは、別の方法で表面の亀裂又はコーティングされた表面上のスクラッチから生じる恐れのあるマイクロ亀裂の成長を抑え、これにより向上した摩耗特徴、耐スクラッチ性、基材材料への腐食性流体の浸透の防止をもたらす。 (もっと読む)


【課題】シリコンウェーハとエピタキシャル層との界面におけるボロン量を抑えるのに好適なエピタキシャル成長方法を提供する。
【解決手段】シリコン単結晶をスライス11して得られたスライスウェーハをラッピング又は研削11し化学エッチング12し鏡面研磨13し洗浄14した後保管16されたボロンがウェーハに付着したシリコンウェーハ上にエピタキシャル成長する方法において、保管16されたシリコンウェーハをH2O−H22−NH4OHの混合液で洗浄17し、洗浄17したシリコンウェーハをエピタキシャル成長装置内に搬入18し、搬入18したシリコンウェーハの表面に1000〜1200℃の温度で塩化水素ガスを流して、エッチング取り代が0.1〜0.5μmとなるようにウェーハ表面の気相エッチング19を行い、続いて成長装置内に原料ガスをキャリアガスとともに流して気相エッチングされたウェーハ表面にエピタキシャル層を形成20する。 (もっと読む)


【課題】 Niを含む膜の下地依存性による表面モフォロジ劣化を解決し、薄膜領域で連続膜を形成することができる半導体装置の製造方法、基板処理方法及び基板処理装置を提供する。
【解決手段】 処理容器内に基板を収容する工程と、処理容器内にニッケルと不純物とを含む原料を供給する工程と、処理容器内に不活性ガスを供給する工程と、を1サイクルとしてこのサイクルを所定回数行うことにより、基板上に所定膜厚のニッケルを含む膜を形成する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】2段階成長法と同等以上の膜質のGaN層をサファイア基板上に成長させることができると共に、高い生産効率及び成長安定性を得ることのできる窒化物半導体の製造方法を提供する。
【解決手段】サファイア基板1上にプラズマによる窒化処理を施し、その処理面に表面改質層2を形成する。その後、表面改質層2を形成したサファイア基板1を、不活性ガスの雰囲気または不活性ガスに10%以下の濃度の水素を混合した雰囲気にある気相成長装置内へ搬入し、GaN層(窒化物半導体層)3の成長温度(1100℃)にまで昇温し、表面改質層2の表面にGaN層3を成長させる。 (もっと読む)


【課題】カバレッジ性能、及び、表面ラフネスの良好なアモルファスカーボン膜の形成方法および形成装置を提供する。
【解決手段】制御部100は、昇温用ヒータ16を制御して、複数枚の半導体ウエハWが収容された反応管2内を所定の温度に加熱する。次に、制御部100は、MFC制御部を制御して、加熱された反応管2内にアミノ系シランガスを供給する。そして、制御部100は、昇温用ヒータ16を制御して、反応管2内を所定の温度に加熱し、MFC制御部を制御して、加熱された反応管2内に処理ガス導入管17からエチレンを供給することにより、半導体ウエハWにアモルファスカーボン膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】基板に吸着したガスに含まれる不純物を効果的に除去しつつ基板処理することができる基板処理方法を提供する。
【解決手段】基板を処理室内へ搬入する搬入工程と、前記処理室内へ搬入された基板に、第1のガスを吸着させる第1ガス供給工程と、前記第1ガス供給工程の後、前記処理室内から第1のガスを排気する第1ガス排気工程と、前記第1ガス排気工程の後、前記基板に付着した第1のガスを、分解機構により分解する第1分解工程と、前記第1分解工程の後、前記処理室内へ第2のガスを供給しつつ、前記分解機構により第2のガスを分解する第2ガス供給工程と、前記第2ガス供給工程の後、前記基板を処理室内から搬出する搬出工程とから、基板処理方法を構成する。 (もっと読む)


【課題】 従来の方法と比較して、短時間で凹部の全体に導電材を埋め込むことができる技術を提供する。
【解決手段】 本願に係る導電材の埋め込み方法は、半導体装置の製造過程において表面に形成される凹部22に導電材を埋め込む方法に関する。この方法は、凹部22の少なくとも底面に露出する下地層10の表面に不純物24aを定着させる不純物定着工程と、不純物24aが定着した下地層10を利用して導電材をVLS成長させて、凹部の全体に導電材を埋め込むVLS成長工程とを有する。この方法では、VLS成長によって凹部22に導電材を埋め込むため、短時間で導電材を埋め込むことができる。 (もっと読む)


【課題】ダイヤモンド半導体の不純物の新しい混入状態を実現する。
【解決手段】ダイヤモンド半導体は、ダイヤモンド10とダイヤモンド10内にドーピングされる不純物で構成される。不純物のドーピングにより、ダイヤモンド10内に複数の高濃度ドープ領域20が形成される。各高濃度ドープ領域20は、ダイヤモンド10内において空間的に局在化されており、そして、ダイヤモンド10内において複数の高濃度ドープ領域20が分散的に配置されている。不純物のドーピングによりキャリア生成のための活性化エネルギーを低下させつつ、各高濃度ドープ領域20の局在化によりキャリア移動度の低下を抑えることが可能になる。 (もっと読む)


【課題】良好なシリコン表面パッシベーション品質する表面パッシベーション方法を提供する。
【解決手段】シリコン表面をパッシベーションする方法であって、この方法は、(a)シリコン表面を洗浄する工程であって、最終工程が親水性のシリコン表面を得る化学的酸化工程である一連の工程に、シリコン表面を晒す工程を含む工程と、(b)進歩的な乾燥技術を用いて、洗浄したシリコン表面を乾燥させる工程と、(c)シリコン表面上に、ALDAl層のような酸化物層を堆積する工程とを含む。 (もっと読む)


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