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国際特許分類[C25D5/12]の内容

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【課題】アルミニウム電線と圧着接続したとき、又はアルミニウム製端子と嵌合したときに高い接触信頼性が得られる錫めっき付銅又は銅合金材料を提供する。
【解決手段】銅又は銅合金板条からなる母材Aの表面に、リフロー処理により形成されたCu−Sn合金層YとSn層Xがこの順に形成されたSnめっき付き銅又は銅合金材料。Sn層Xの表面にCu−Sn合金層Yの一部が露出し、Cu−Sn合金層Yの材料表面露出面積率が10〜75%、材料表面露出間隔が0.01〜0.5mm、平均の厚さが0.2〜5.0μm、Cu含有量が20〜70at%であり、材料表面の算術平均粗さRaが0.15μm以上、3.0μm以下である。 (もっと読む)


【課題】 本発明の目的は、はんだめっき皮膜の密着性の低下やめっき未着を解決し、均一なはんだめっき層が形成された電子部品用複合ボールの製造方法を提供することである。
【解決手段】 本発明は、Cuの球体からなるコアボールを用意する工程と、前記コアボールの表面を還元性水溶液で洗浄する第1洗浄処理工程と、前記コアボールを包囲するようにNi下地めっき層を形成する第1めっき処理工程と、前記下地めっき層の表面を還元性水溶液で洗浄する第2洗浄処理工程と、前記下地めっき層を包囲するようにはんだめっき層を形成する第2めっき処理工程と、前記はんだめっき層の表面を洗浄する第3洗浄処理工程を経る電子部品用複合ボールの製造方法である。 (もっと読む)


【課題】安定した接触抵抗を有するとともに、剥離し難く、また、コネクタとして用いる場合に挿抜力を小さくする。
【解決手段】Cu系基材1の表面に、Ni系下地層2を介して、Cu−Sn金属間化合物層3、Sn系めっき層4がこの順に形成されるとともに、Cu−Sn金属間化合物層3はさらに、Ni系下地層2の上に配置されるCuSn層6と、CuSn層6の上に配置されるCuSn層7とからなり、これらCuSn層6及びCuSn合金層7を合わせたCu−Sn金属間化合物層3の凹部8の厚さXが0.05〜1.5μmとされ、かつ、Ni系下地層2に対するCuSn層7の面積被覆率が60%以上であり、さらに、Sn系めっき層4に厚さ0.01〜0.5μmのAgSn合金層5が形成されている。 (もっと読む)


【課題】耐熱性を向上させ、十分なはんだ付け性等を確保できるとともに、コストの低減化に寄与すること。
【解決手段】端子接続部10の表面に、端子接続部10に含まれる金属(Cu)が最表層へ拡散するのを防止する金属(Ni)層を含む多層構造のめっき膜(Ni層21、Pd層22、Au層23)が形成され、このめっき膜の表面に、珪素を含む層24が形成されている。めっき膜は、上記の3層構造に代えて、端子接続部10上に形成されたNi層と、このNi層上に形成されたPd層もしくはAu層との2層構造でもよい。 (もっと読む)


被コーティング物品およびコーティングを付与する方法を記載する。幾つかのケースでは、コーティングは、耐久性、耐食性、および高伝導性のような望ましい特性および特徴を示すことが可能である。物品は、例えば電着処理を使用してコーティングされる。
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【課題】銅合金条の表面にNi/Cu/Snの3層めっきを施した後、リフロー処理を行う場合、リフロー後に最表面にSnまたはSn合金層が残存し、金属間化合物相が表面に露出することがない銅合金条の製造方法を提供する。
【解決手段】銅合金条の製造方法において、Cu合金母材1の表面にNi層2のめっきを施した後、続いてCu層3のCuめっき、Sn層4のSnめっきを、Snのめっき厚さ/Cuのめっき厚さ比が6以下となるように施した後、リフロー処理を行う。 (もっと読む)


【課題】優れた耐熱性を有するとともに、腐食が生じにくいめっき付き銅条材及びその製造方法を提供する。
【解決手段】Cu系基材の表面に複数のめっき層を有し、その表層部分を構成する平均厚さ0.05〜1.5μmのSn又はSn合金からなるSn系めっき層4の上に、硬度が10〜20Hvで平均厚さが0.05〜0.5μmに形成したSn−Ag被覆層5が形成され、該Sn−Ag被覆層5は、Sn粒子11とAgSn粒子12とを含み、Sn粒子11の平均粒径が1〜10μmで、AgSn粒子12の平均粒径が10〜100nmである。 (もっと読む)


【課題】安定した接触抵抗を有するとともに、剥離し難く、また、コネクタとして用いる場合に挿抜力を小さくかつ安定させ、しかもヒューズとして用いた場合にも良好な溶断特性を有する。
【解決手段】Cu系基材1の上に形成したNi系下地層3と、表面を形成するSn系表面層5との間に、Cu−Sn金属間化合物層4が形成されるとともに、Cu−Sn金属間化合物層4は、さらに、Ni系下地層3の上に配置されるCuSn層6と、CuSn層6の上に配置されるCuSn層7とからなり、CuSn層6及びCuSn層7を合わせたCu−Sn金属間化合物層4のSn系表面層5と接する面の表面粗さが、算術平均粗さRaで0.05〜0.25μmであり、かつ、粗さ曲線の最大谷深さRvで0.05〜1.00μmであり、また、CuSn層はNi系下地層を覆っており、その面積被覆率が60〜100%である。 (もっと読む)


【課題】導電部材としての使用時に良好な特性を有する多層にめっきが施された銅合金条材を連続的に効率良く得る。
【解決手段】銅条材を連続的に走行させながら複数のめっき浴に挿通して、Ni又はNi合金、Cu又はCu合金、Sn又はSn合金を順にめっきしてリフロー処理することにより、Ni系下地層、Cu−Sn金属間化合物層、Sn系表面層を順に形成する方法であって、各めっき層を、無機酸を主成分とするめっき浴中にて不溶性アノードを使用した電解めっきにて形成するとともに、Ni又はNi合金によるめっきは浴温45〜55℃、電流密度20〜50A/dm、Cu又はCu合金によるめっきは浴温35〜55℃、電流密度20〜60A/dm、Sn又はSn合金によるめっきは浴温15〜35℃、電流密度10〜30A/dmとし、それぞれレイノルズ数1×10〜5×10とする。 (もっと読む)


【課題】挿入抵抗および接触電気抵抗を小さくすることができるめっき材料およびその製造方法を提供する。
【解決手段】CuまたはCu合金からなる基材上に、少なくともCu−Sn合金中間層と、Sn表面層とをこの順序で有することを特徴とするめっき材料において、前記Cu−Sn合金中間層の表面粗さを表すパラメータである十点平均粗さRzμmと最大高さRyμmとの関係が、Ry/Rz<1.3を満たし、かつ、前記十点平均粗さRzと、前記Sn表面層の平均厚さtμmが、Rz(6−π)/6≦t≦Rz(6−π)/6+0.3を満たす関係にある。 (もっと読む)


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