質量分析計は、イオンモビリティスペクトロメーターまたはセパレータ（４）と、前記イオンモビリティスペクトロメーターまたはセパレータ（４）の下流側に配置されたイオンガイド（６）とを備えている。イオンモビリティスペクトロメーターまたはセパレータ（４）から受け取ったイオンが、個別の軸方向電位井戸内に閉じ込められるよう、イオンガイド（６）内で、複数の軸方向電位井戸が作られる。電位井戸は、イオンモビリティスペクトロメーターまたはセパレータ（４）から受け取ったイオンの忠実性および／または構成を維持する。電位井戸は、イオンガイド（６）の長手方向に沿って移動する。 （もっと読む）

【課題】著しいイオン損失か又は電力損失を生じさせることなく、イオンを効率よく輸送する、質量分析計システムのための多重極装置を提供する。
【解決手段】本発明は、質量分析計システムのための多重極装置を提供する。一般に、多重極装置は、複数の導電性ロッドを含む。該複数の導電性ロッドは、導電層と、抵抗層と、該導電層と該抵抗層との間の絶縁層とを含む。本発明は、イオン輸送、イオン断片化、及びイオン質量フィルタリングを含む様々な用途において使いみちを見いだせる。従って、本発明を様々な質量分析計システムにおいて用いることができる。 （もっと読む）

質量分析計システムは、荷電粒子をビームに視準する空力レンズ系と、荷電粒子を受け取ってほぼゼロ運動エネルギーにまで減速させる空力運動エネルギー低減素子とを有する入口装置を含む。検出装置は、荷電粒子を受け取り、その質量を同定する。空力運動エネルギー低減素子は、リバースジェットまたは一定容積の停滞ガスを通過する通路でもよい。このような質量分析計システムは、１〜１０^１６Ｄａの質量範囲で動作可能である。
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【課題】
リニアイオントラップからイオンを一部ずつパルス排出して飛行時間測定を行う質量分析装置において、リニアイオントラップに蓄積された全イオンの排出に要する時間を短縮し、高感度な質量分析技術を提供する。
【解決手段】
リニアイオントラップに蓄積されたイオンを少量ずつパルス排出し、排出されたイオンパルスが飛行時間型質量分析部の直交加速部４に到達した時点において、直交加速部４に加速電圧パルスを印加して飛行時間測定する構成を有する質量分析装置において、イオンのパルス排出を繰り返す間、リニアイオントラップを構成する入口側レンズ電極１の電位を徐々に上昇させてリニアイオントラップ内部のポテンシャル井戸の底辺部の長さを短縮することにより、リニアイオントラップ内部のイオン密度を維持する。これにより、リニアイオントラップに蓄積されたイオンの質量分析時間が短縮されるため、イオン利用率が向上し、その結果、質量分析装置の検出感度が向上する。 （もっと読む）

【課題】本発明は垂直加速型飛行時間型質量分析計に関し、検出器の感度を向上させることができる垂直加速型飛行時間型質量分析計を提供することを目的としている。
【解決手段】 イオンを生成するイオン源２０と、イオンを垂直加速部に輸送するイオン輸送部２０ａと、イオンに所定の電位を与える押し出しプレート１０と、該押し出しプレート１０と対向して配置された少なくとも一つのグリッド電極１１と、前記押し出しプレート１０とグリッド電極１１とで囲まれた空間に設けられた１枚以上の集束電極２１とを具備し、イオンを飛行させる際には、前記押し出しプレート１０とグリッド電極１１との間に加速電圧パルスを印加し、それと同期して前記集束電極２１に所定の電位を与えて垂直加速方向の加速電位分布に曲率をつけるように構成する。 （もっと読む）

例えば質量分析計における、イオン光学エレメントを動的にバイアスするためのデバイスが提供される。該デバイスは電圧ソース、電圧ソースと結合される第１のイオン光学エレメント、第１のイオン光学エレメントと抵抗結合される第２のイオン光学エレメント、および第２のイオン光学エレメントと容量結合されるパルス発生器を含む。パルス発生器は第２のイオン光学エレメントに一連のパルスを加えるように構成される。定常状態オペレーションにおいて、第１のイオン光学エレメントと第２のイオン光学エレメントとの間に動的バイアス電圧が生成される。動的バイアス電圧は、加えられるパルスのパルス幅、パルス振幅、およびパルス繰り返し速度などの、加えられるパルスの特性を制御することによって、制御可能である。
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複数の電極を有する少なくとも１つのイオンチャネルの形状のイオンフィルタを有するイオン移動度分光計について記載される。導電層に印加される時間変化する電位により、充填剤はイオン種を選択的に入れることができる。電位は、駆動電界成分および横電界成分を有し、好ましい実施形態において、電極のそれぞれは、駆動電界および横電界の両方の成分を生成するのに関与する。デバイスは、ドリフトガスフローがなくても用いることができる。分光計の種々の用途であるようなマイクロスケール分光計を製作するための微細加工技術について記載される。 （もっと読む）

【課題】イオン源側真空領域内のイオン軌道部周辺の部品を大気中に取り出して、洗浄等の操作を行なっても、短時間で装置の再使用が可能となり、また、アイソレーション・バルブを設けても、安定した測定が可能となるようなＯＡ−ＴＯＦＭＳを提供する。
【解決手段】イオン源と、イオン源で発生したイオンを輸送させる空間とを配置した、真空度の低い第１の領域と、該領域から輸送されてきたイオンをパルス的に加速して取り出すためのイオン溜と、該イオン溜から取り出されたイオンを質量分離する飛行時間型分光部とを配置した、真空度の高い第２の領域とを備えた垂直加速型飛行時間型質量分析装置において、前記２つの領域を連通する孔部に隔離弁を設け、両領域を遮断できるようにした。 （もっと読む）

【課題】 本発明の課題は、荷電粒子測定の位置有感飛行時間測定における検出効率を飛躍的に向上させる装置を提供することにある。
【解決手段】 本発明による装置は、静電場を用いて荷電粒子を外部ダイノードに衝突させ、生成した２次電子を不均一磁場で制御してＭＣＰと位置有感型検出器により検出することにより、歪の少ないズーム画像を得ることをおよび、２次電子に変換して検出するために、ＭＣＰの感度を向上させることを特徴とする。 （もっと読む）

本発明は、飛行時間型（ＴＯＦ）質量分析法（２００）を実施するための装置および方法を提供する。本発明のＴＯＦ質量分析計は、１個または複数のイオン収束電気セクタ（２５０、３５０、４５０および５５０）を備える。少なくとも１個の電気セクタは、イオン光学素子（２６６、２６７）と結合する。イオン光学素子（２６６、２６７）は、少なくとも１個の調節可能な電極を備え、該調節可能な電極（２６０、２６１）は、イオン光学素子が結合される電気セクタ（２５０、３５０、４５０および５５０）に入るか（７０）、または出て行く（７２）イオンに印加される電位を変更することが可能である。
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