【課題】 イオン源から四重極離部へとイオンを効率よく導くことができるようにした低コストの四重極型質量分析計を提供する。
【解決手段】 フィラメント４３及びグリッド４１を備えるイオン源４と、四重極部３と、イオン源と四重極部との間に介設されたフォーカス電極５と、相対する電極間に直流電圧と交流電圧とを印加することで四重極部を通過したイオンを捕集するイオン検出部２とを有するセンサ部ＭＡと、フィラメントに直流電流を通電する電源Ｅ１と、グリッドに対してフィラメントより高い電位を印加する電源Ｅ２と、グリッドとフィラメントとの間に電位差をつくるためフィラメントに電位を与える電源Ｅ４と、四重極部に直流電圧を重畳した交流電圧を印加する電源Ｅ３と、制御部Ｃ１とを有する制御ユニットＣとを備える。フィラメントの電位とフォーカス電極の電位とを同等とする。 （もっと読む）

【課題】0.1Torr未満の圧力で、サンプルおよび試薬ガスをイオン源へと流すことにより、化学イオン化によってサンプルをイオン化する。
【解決手段】イオン源を0.1Torr未満の圧力に維持しながら、電子イオン化により、試薬ガスをイオン源内でイオン化して、試薬イオンを生成する。0.1Torr未満の圧力で、サンプルを試薬イオンと反応させて、サンプルの生成イオンを生成する。質量分析のために、生成イオンをイオントラップへと移送する。 （もっと読む）

【課題】 デソープションイオン化方法において、試料台表面近傍のイオンを最大限に捕集する機構を提供する。
【解決手段】 生じたイオンの広がり以上の幅および高さをもつイオン取り込み口を設け、これを試料台に接するように位置させる。または、試料台に段差をつけて試料の積載された面よりも低い面を設け、生じたイオンの広がり以上の幅および高さをもつイオン取り込み口の開口部底面を、試料の積載された面よりも低く設置する。 （もっと読む）

【課題】飛行時間型二次イオン質量分析装置において、試料へ照射される一次試料へ照射される一次ビームの広がりを、数値あるいは実験的で求め、この広がりをボケ関数として用い、画像復元することにより、ボケを低減する。
【解決手段】収束し短パルス化させたイオンビームまたはレーザービーム（一次ビーム）を試料表面へ位置を変えながら照射し、飛行時間型二次イオン質量分析計により取得した質量スペクトルから質量/電荷比ごとに信号強度を二次元表示した質量分析顕微鏡像の画像処理方法において、試料表面に到達する一次ビームの形状を理論的に、または実験的に求め、これをボケ関数として表現し、該ボケ関数を用いて画像を復元することである。 （もっと読む）

【課題】簡単な方法で試料のイオン化量を制御することのできる電界脱離イオン源を備えた質量分析装置を提供する。
【解決手段】（１）タングステン芯線の表面に炭素ウィスカーを生成させ、該炭素ウィスカーに試料を付着させたエミッタ、（２）前記エミッタの対向電極として、前記炭素ウィスカーの先端に高電界を発生させるための高電圧が印加可能なカソード電極、（３）前記炭素ウィスカーの先端に高電界を発生させ、その結果生成した試料イオンを収束させ、後段の質量分析部に該試料イオンを輸送するレンズ電極、を備え、前記カソード電極に印加される高電圧は、後段の質量分析部で検出されるイオンの信号強度に基づいて、イオンの信号強度が予め指定された値を超えたときには電圧を下げる方向に変更され、イオンの信号強度が予め指定された値を下回ったときには電圧を上げる方向に変更される。 （もっと読む）

【課題】大型化を伴うことなく多成分を有する試料について短時間で正確な定性／定量分析を行うことが可能なイオン分子反応イオン化質量分析装置を実現する。
【解決手段】複数のイオン源３−１〜３−４が互いに直列に接続され、イオン源３−１〜３−４のうちのいずれに高電圧源７から放電針８により電圧が供給されるかが制御・解析部６により制御される。複数のイオン源が稼動した場合、試料導入部１に近いイオン源では通常のＡＰＣＩとなり、生成されたイオンは排除電極９によりイオン源外に排除される。イオン化しなかった残留中性分子は引出電極１０により質量分析部側のイオン源に送られる。イオン源３−１〜３−４の各段の組み合わせにより、１段だけでは検出が難しい成分も検出が可能となる。 （もっと読む）

【課題】イオンの垂直方向の収束性を向上させ、感度向上のため直交加速イオン源との接続を可能にすることができる飛行時間型質量分析装置を提供する。
【解決手段】複数のイオンをパルス的に出射できるイオン源１０と、直進軌道とらせん型軌道を実現する分析計と、イオンを検出する検出器１５とを備えた飛行時間型質量分析装置であって、らせん軌道を実現するために分析計を複数の積層トロイダル電場で構成させる。 （もっと読む）

【課題】イオンの垂直方向の収束性を向上させ、感度向上のため直交加速イオン源との接続を可能にすることができる飛行時間型質量分析装置を提供する。
【解決手段】複数のイオンをパルス的に出射できるイオン源１０と、らせん型軌道を実現する分析計と、イオンを検出する検出器１５とを備えた飛行時間型質量分析装置であって、らせん軌道を実現するために分析計を複数の積層トロイダル電場で構成させる。 （もっと読む）