【課題】燃焼ガスや大気中ガスの成分組成を測定する際に、オンサイト・リアルタイムでターゲット分子を異性体識別を含め、完全に特定してｐｐｔレベルの高感度で測定し、ほぼ同じタイミングで試料中に存在する他のターゲット分子群の質量数分布を把握することが可能な分析装置及び分析方法を提供する。
【解決手段】ターゲット分子群を一括して１光子でイオン化して分析するイオン化分析装置１は、イオン化部２０、レーザー照射系３０、分析検出部（質量分析部４０、イオン検出部５０）を具備し、イオン化部２０は、レーザー照射系３０の紫外レーザー光３３及び真空紫外レーザー光３４をほぼ同時に照射することにより、ターゲット分子の異性体識別を行いながら、所定のターゲット分子群をイオン化する。そして、イオン化部２０によりイオン化されたイオンを、分析検出部で質量分析して検出する。 （もっと読む）

【課題】イオン分布画像の画質を保持しつつ、飛行時間を収束させる。
【解決手段】試料１８をパルス的にイオン化するレーザー光源１５と、試料１８の上流に位置するサンプルプレート１１と、試料１８の下流に位置し、レーザー光源１５が試料１８をイオン化した時点において、サンプルプレート１１と自身との電位差により、生成されたイオンを試料１８の表面から引き出す引き出し電極１２と、引き出し電極１２よりも下流に位置し、当該引き出し電極１２と自身との電位差により、引き出し電極１２によって引き出されたイオンを加速する引き込み電極１３とを備えている。引き出し電極１２は、自身と引き込み電極１３との電位差によってイオンが加速されている間に、当該イオンが正イオンの場合には自身の電位を所定量上げ、当該イオンが負イオンの場合には自身の電位を所定量下げる。 （もっと読む）

サンプル調製と前処理とを組み合わせうるシステムおよび方法、ならびにサンプルの分析に圧縮空気の支援も溶媒の連続流も必要としない、サンプルを質量分析するためのイオン化プロセスに対する満たされていないニーズが存在する。本発明は、一般にサンプルの質量分析分析のためのシステムおよび方法に関する。ある実施形態において、本発明は、高電圧源に接続された少なくとも１つの多孔質材料であって、溶媒の流れとは分離している多孔質材料、を含む質量分析プローブを提供する。
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【課題】ＥＩ法によるイオン源でパルス的にイオンを出射させる場合に、同一m/zのイオンの収束性を高める。
【解決手段】熱電子生成用のフィラメント１２とイオン化室１０の熱電子導入口１０２との間にゲート電極１５を配置する。熱電子をイオン化室１０に導入して試料分子をイオン化した後に、ゲート電極１５に所定電圧を印加することで熱電子を遮断する。そして、その直前にイオン化室１０に導入された熱電子がイオン化室１０を通り抜けた後にリペラ電極１４にイオン出射用電圧を印加し、イオン化室１０内のイオンに初期運動エネルギを付与してイオン化室１０からパルス的に出射させる。その時点ではイオン化室１０内に熱電子が殆ど存在しないため、熱電子による電場の乱れはなく、イオンの挙動は熱電子の影響を受けない。また、熱電子がリペラ電極１４に衝突することによるノイズも抑制できる。 （もっと読む）

【課題】衝突室中での減衰を伴うタンデム飛行時間型質量分析計およびその使用のための方法を提供すること。
【解決手段】第一の飛行時間型質量分析計の、衝突減衰を伴う衝突室の使用によって、直交加速を伴う時間飛行型質量分析計を含む、種々のタイプのいずれか１つの第２の質量分析計への有効な結合を提供する。本発明のタンデム質量分析計の一般的な好ましい実施態様は以下を備える：飛行時間型質量分析計に連結されたイオンのパルス発生器；時限式イオンセレクタ；投入されたイオンビームを衝突によって減衰させるため、そして飛行時間型質量分析計および時限式イオンセレクタと連絡してフラグメンテーションを誘起するために、十分に高圧の気体で充填された衝突室；ならびにフラグメントイオンを分析するための第二の質量分析計。 （もっと読む）

【課題】試料上の狭い測定領域内の異なる複数の測定点についての質量分析を行って収集されたデータを用い該測定領域におけるマススペクトルを求める場合に、試料表面の凹凸により測定点毎の飛行距離に差異があっても、その影響をなくして高い質量分解能のマススペクトルを求める。
【解決手段】１つの測定点について得られるマススペクトル毎に、内部標準法による質量較正を実行して正確な質量軸に修整する（Ｓ３〜Ｓ７）。測定点毎に得られる較正済みのマススペクトルの中で、積算により質量分解能を低下させるおそれのある形状不良のマススペクトルがある場合にはそれを排除し（Ｓ８、Ｓ１０）、質量軸が正確で形状が正常であるマススペクトルを積算することにより、測定領域に対するマススペクトルを求め、これを表示画面上に表示する（Ｓ９、Ｓ１３）。 （もっと読む）

デュアルソース質量分析計システム（１０）におけるまたはそのための、ＬＣソース［ＬＣ／ＭＳ］（１２）を用いて第１のモードで動作可能でありかつＧＣソース［ＧＣ／ＭＳ］（１８）を用いて第２のモードで動作可能である。ＧＣソースは、イオン化出力をＧＣソースから質量分析計に送出するためのイオンソースチャンバ（２２）内に入力し、ＧＣソースユニット（１８）はＧＣインタフェースプローブ（３０）を備える。ＧＣソースユニットは、ＧＣインタフェースプローブを、それがシステムの質量分析計から係合解除され、システムは前記第１のＬＣ／ＭＳモードで動作可能となる後退位置からＧＣインタフェースプローブが質量分析計のイオンソースチャンバに動作可能に連結され、システムは前記第２のＧＣ／ＭＳモードで動作可能となる使用位置にまで持っていくために、引き込み可能に取り付けられる。ＧＣインタフェースプローブは、ＧＣイオンソースチャンバを用いて第２のモードで動作可能となるように、イオンソースチャンバのハウジングによって提供される相補的ドッキング手段と解放可能に係合するためのドッキング手段（４２、４６、４８）を有する。
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デュアルソース質量分析計システム（１０）は、ＬＣソース［ＬＣ／ＭＳ］（１２）を用いて第１のモードで動作可能でありかつＧＣソース［ＧＣ／ＭＳ］（１８）を用いて第２のモードで動作可能である。ＧＣソースは、イオン化出力をＧＣソースから質量分析計に送出するためのイオンソースチャンバ（２２）内に入力する。ＧＣソースはＧＣインタフェースプローブ（３０）を備えており、ＧＣインタフェースプローブ（３０）は、ＧＣインタフェースプローブを、それが質量分析計から係合解除され、それによりシステムは第１のＬＣ／ＭＳモードで動作可能となる後退位置からＧＣインタフェースプローブが質量分析計のイオンソースチャンバに動作可能に連結され、それによりシステムは前記ＧＣ／ＭＳモードで動作可能となる使用位置にまで持っていくために、イオンソースチャンバに後退可能に連結される。
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試料を形成して分析対象の表面（２２）から吸引するための方法およびシステム（２０）では、ポート（３７）を備える採集器具（２４）を利用し、そのポートを通じて分析対象の表面上に溶液が誘導される。ポートは分析対象の表面に近接させて位置決めされ、そして溶液がポートを通じて表面上に誘導されて、これにより、表面上に誘導された溶液が、表面を構成する物質と相互作用するようになる。その後、一分量の物質（５２）が表面から吸引される。圧力制御を利用して、表面における溶液平衡を操作することができ、これにより、上記一分量の物質の表面からの吸引が制御される。また、そのような圧力制御を、ＸＹ平面内での採集器具のポートに対する表面の相対移動に連携させることができる。 （もっと読む）

デュアルソース質量分析システム（１０）におけるまたはそのための、システムの質量分析計に着脱可能に連結するためのイオンソースハウジング（１６）。イオンソースハウジングは、質量分析計の真空領域に連結するための出口ポートと、ガスクロマトグラフィ［ＧＣ］カラムを受容するためのサンプルポートと、前記ＧＣカラムから放出されたアナライト分子を荷電するための手段とを有するソースチャンバ（２２）を備えるとともに、ＧＣインタフェースプローブがハウジングに解放可能に係合され得るようにするドッキング手段を備える。
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