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国際特許分類[H01L21/285]の内容

国際特許分類[H01L21/285]に分類される特許

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【課題】 トレンチ及びホールパターンの底面や、側面に被覆カバレッジ性の良好なシリサイド膜を形成できるNiSi膜の形成方法及びシリサイド膜の形成方法、シリサイドアニール用金属膜の形成方法、真空処理装置、並びに成膜装置の提供。
【解決手段】Siを主組成とする基板上にNi膜を形成し、このNi膜を加熱処理することにより基板の上層にNiSi膜を形成する方法であって、NiSi膜を形成する加熱処理の前に、その加熱処理温度よりも低く、NiSi膜が形成されない温度で、Hガスを用いてNi膜をプレアニールしてNi膜中の不純物を除去し、次いで得られたNi膜をシリサイドアニールする。シリサイド膜を形成する前にプレアニールするためのプレアニール用のHガスを導入する手段を備えた装置。 (もっと読む)


【課題】ホットウォールチャンバからの熱によってシール部材が加熱されても,高い真空度を保持したいチャンバ内への大気の侵入を防止し,そのチャンバ内の真空圧力を保持できるようにする。
【解決手段】ホットウォールチャンバであるプロセスチャンバ200Bと,それより高い真空度を保持することが要求されるトランスファチャンバ300との間のゲートバルブ装置は,トランスファチャンバの側壁と筐体の側壁との間は,そのトランスファチャンバとの基板搬出入口を第1シール部材330Aとその外側の第2シール部材330Bにより囲んで2重シール構造とし,これらシール部材間の隙間を筐体の内部空間に連通する少なくとも1つの連通孔408を筐体の側壁に設け,トランスファチャンバとの基板搬出入口を,筐体内を昇降自在な弁体410によって開閉するようにした。 (もっと読む)


【課題】基板上への薄膜の成膜速度を上げ、かつトレンチやビアホールの底面に効率よく薄膜を成膜できる薄膜の形成方法を提供すること。
【解決手段】本発明の成膜方法は、開口幅又は開口径が3μm以下で、かつ、アスペクト比が1以上の段差であるトレンチ又はビアホールを有する基板上に薄膜を成膜する成膜方法であり、真空排気可能な処理室に、基板を支持する第1の電極と、前記基板に対向するように配置されターゲットを支持する第2の電極と、前記第2の電極の外側に配置されて当該第2の電極の内側にカスプ磁界を形成する複数のマグネットと、を備え、
前記処理室にNeを含む処理ガスを導入し、前記第1の電極と前記第2の電極の少なくとも一方にプラズマ形成用の高周波電力を供給すると共に、前記第2の電極上にカスプ磁場を生成してプラズマを発生させ、ターゲット物質をトレンチ又はビアホールを有する基板上に成膜する。 (もっと読む)


【課題】下地膜のエッチングを防止することができる窒化チタン膜の形成方法、窒化チタン膜の形成装置及びプログラムを提供する。
【解決手段】窒化チタン膜の形成方法では、まず、半導体ウエハWを収容した反応管2内を、昇温用ヒータ7により200℃〜350℃に加熱する。続いて、反応管2内にチタン原料を含む成膜用ガスを供給して半導体ウエハWに窒化チタン膜を形成する。このチタン原料には、塩素原子を含まず、チタンを含むメチルシクロペンタジエニルトリス(ジメチルアミノ)チタニウムを用いる。 (もっと読む)


【課題】ウエットエッチングによる加工性に優れた特性を有する新規な配線用膜を提供する。
【解決手段】表示装置またはタッチパネルセンサーの配線用膜であって、合金成分としてX群元素(Xは、希土類元素、Ge、Si、Sn、Hf、Zr、Mg、Ca、Sr、Al、Zn、Mn、Co、Fe、及びNiよりなる群から選択される少なくとも一種の元素)を3〜50原子%、および/または酸素を0.2〜3.0質量%含有し、残部Tiおよび不可避不純物からなるTi合金層と、純CuまたはCu合金からなる層とを含む2層以上の積層構造を有することに要旨を有する配線用膜。 (もっと読む)


【課題】 TiC膜を含む半導体構造を形成する方法を提供する。
【解決手段】 高誘電率(k)の誘電体14および界面層12を含む積層体を基板10の表面上に設けるステップと、Heによって希釈された炭素(C)源およびArを含む雰囲気において、Tiターゲットをスパッタすることにより、前記積層体上にTiC膜16を形成するステップとを含む、半導体構造を形成する方法である。 (もっと読む)


【課題】材料ワイヤが空中で溶解して発生する飛沫を排除でき、しかも材料蒸発領域が縮小しない蒸着用ボートを提供することを目的とする。
【解決手段】プール2の一端3aの近傍の材料供給部9aがこの材料供給部の他端3bの側に接続された材料蒸発部10よりも低温になるように、プール2の材料蒸発部10の裏面に、断面積が均一な平坦部14と、平坦部14と材料供給部9aとを接続する勾配部15aを設け、勾配部15aを、一端3aから他端3bに向かう方向に断面積が大きくなるよう形成して温度分布を形成している。 (もっと読む)


【課題】反応性スパッタリングにより所定の薄膜を形成する際に、処理基板全面に亘って膜厚分布や比抵抗値などの膜質を略均一にできるようにスパッタリング装置を構成する。
【解決手段】同数のターゲット31a乃至31hが等間隔で並設された複数のスパッタ室11a、11bの間で、各ターゲットに対向した位置に処理基板Sを搬送し、この処理基板が存するスパッタ室内の各ターゲットに電力投入して各ターゲットをスパッタリングし、処理基板表面に同一または異なる薄膜を積層する。その際、相互に連続するスパッタ室の間で処理基板表面のうち各ターゲット相互の間の領域と対向する箇所がずれるように処理基板の停止位置を変える。 (もっと読む)


【課題】低不純物で、段差被覆性がよく、高真空を使わない金属薄膜の製膜方法を提供する。
【解決手段】有機金属化合物原料を真空チャンバー内に載置された製膜対象物上に搬送する原料搬送工程と、反応性ガスを、加熱された金属触媒体に接触させた後に、前記真空チャンバー内に載置された前記製膜対象物上に搬送する反応性ガス搬送工程と、を有することを特徴とする金属薄膜の製膜方法を提供する。また、有機金属化合物原料または/および反応性ガスが、炭素原子、窒素原子、水素原子、ケイ素原子、リン原子、ホウ素原子および金属原子から選択される1または2以上の原子のみからなることを特徴とする金属薄膜の製膜方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】絶縁層が積層された導電層に該絶縁層を貫通するカーボンナノチューブが接続される配線構造にて電気的特性を向上することのできる配線形成方法、及び該方法を用いる配線形成装置を提供する。
【解決手段】
下部配線層32に積層された絶縁層34を貫通するホール35に、その内表面の全体が含まれるように触媒層36,37を形成した後、ホール35の内部にシースShが形成され、且つホール35の内壁面35aに対するシースの厚さがホール35の底壁面35bに対するシースShの厚さよりも小さくなるようにプラズマを生成する。そして、ホール35の内壁面35aに形成された触媒層36,37をプラズマ中のスパッタ粒子Spによって除去した後、ホール35の底壁面35bに残された触媒層36,37を用いて該底壁面35bからカーボンナノチューブ38を形成する。 (もっと読む)


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