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国際特許分類[H01L21/308]の内容

国際特許分類[H01L21/308]に分類される特許

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【課題】ハロゲン酸や酸化剤からなるエッチング液において、高微細パターンのエッチング入りを向上させ、エッチング残りおよびオーバーエッチングのない恒常的に安定して高精細・高輝度のフラットディスプレイに対応した高微細精度の透明導電膜の回路パターンが得られるエッチング液およびエッチング方法を提供すること。
【解決手段】少なくとも下記(a)群から選ばれる少なくとも1種のハロゲン酸および/または下記酸化剤(b)とを水に含有してなる透明導電膜用エッチング液において、下記の一般式(1)で表される化合物(W)を含有することを特徴とする透明導電膜用エッチング液。
・(a)群;塩酸、臭化水素酸、ヨウ化水素酸
・酸化剤(b);塩化第二鉄または硝酸
(Rf1SO2)(Rf2SO2)NX (1) (もっと読む)


【課題】臭気の発生及び装置や被エッチング基材等の腐食劣化の問題が抑制された、特に酸化インジウム系被膜に対し、充分なエッチング速度とエッチングの選択性を示すエッチング液組成物を提供すること。
【解決手段】(A)2−ヒドロキシエタンスルホン酸又はその塩を、2−ヒドロキシエタンスルホン酸換算で5〜20質量%と、(B)フッ化水素、フッ化アンモニウム、フッ化カリウム、フッ化ナトリウム及びフッ化リチウムから選ばれる少なくとも1種類のフッ化化合物0.05〜5質量%とを含む水溶液からなることを特徴とする金属酸化物被膜のエッチング液組成物。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、洗浄によるウェーハの表面粗さの悪化を低減し、かつ、効果的にウェーハの洗浄を行うことができる半導体ウェーハの洗浄方法を提供する。
【解決手段】 半導体ウェーハを洗浄する方法であって、前記半導体ウェーハをSC1洗浄液により洗浄する工程と、前記SC1洗浄液により洗浄された半導体ウェーハをフッ酸により洗浄する工程と、前記フッ酸により洗浄された半導体ウェーハを、オゾン濃度が3ppm以上のオゾン水により洗浄する工程とを含み、前記SC1洗浄液による半導体ウェーハのエッチング代を0.1〜2.0nmとすることを特徴とする半導体ウェーハの洗浄方法。 (もっと読む)


【課題】基板上に形成されたモリブデン系導電性薄膜、または、モリブデン系導電性薄膜とアルミニウム系導電性薄膜とが積層された積層導電性薄膜を、効率よく、側面が良好な順テーパー形状となるようなエッチングを行うことが可能なエッチング液、および、該エッチング液を用いたエッチング方法を提供することを目的とする。
【解決手段】(a)リン酸30〜80重量%と、(b)硝酸0.1〜20重量%と、(c)有機酸塩0.1〜20重量%と、(d)水とを含有するエッチング液を用いてエッチングを行う。
また、上記エッチング液を用いて、アルミニウム系導電性薄膜と、モリブデン系導電性薄膜とを備えてなる2層構造の積層導電性薄膜、または、アルミニウム系導電性薄膜と、アルミニウム系導電性薄膜を挟み込むようにその両主面側に配設された第1のモリブデン系導電性薄膜および第2のモリブデン系導電性薄膜を備えてなる3層構造の積層導電性薄膜をエッチングする。 (もっと読む)


【課題】SOI基板のエッチング方法であって、Si基板を高速かつ平坦にウェットエッチングすることのできるエッチング方法を提供すること。
【解決手段】フッ硝酸は、一般にHF(a)HNO3(b)H2O(c)(ここで、a、b及びcの単位はwt%、a+b+c=100)と書ける。本発明者らは、組成を適切に選択することで、高濃度フッ硝酸によるSiO2層のエッチングレートがSi基板と比較して著しく低くなることに見出し、Si基板を、SiO2層が露出するまでエッチングを行う。このようにすることで、Si基板を高速にエッチングすることができ、かつ、エッチングされた表面の平坦性を従来に比して顕著に向上することができる。高濃度フッ硝酸の組成が僅かにSiO2層をエッチングするものであっても、Si基板のエッチングが高速に終了するため、実質的にSiO2層のエッチングはほとんど進まず、平坦な表面を有するSiO2層が露出する。 (もっと読む)


【課題】低反射率をもたらす、シリコンウェハー表面でのピラミッドの均一かつ密な分布を与える。
【解決手段】1種以上の界面活性剤を有する、シリコンウェハーをテクスチャ形成するためのテクスチャ形成前処理組成物。1種以上の界面活性剤を有するテクスチャ形成前処理組成物でシリコンウェハーを濡らす工程に続いて、テクスチャ形成工程を有する、シリコンウェハーのテクスチャ形成方法。 (もっと読む)


【課題】半導体基板(太陽電池セル)から離脱した気泡が再度付着して不均一なエッチングや形状欠陥が生じないようにするエッチング装置を提供することを目的とする。
【解決手段】太陽電池セル2を浸漬させるエッチング液4を貯留するエッチング槽5と、このエッチング槽5内の上層のエッチング液4を回収するとともに、この回収したエッチング液4をエッチング槽5の底部から噴出させて、エッチング液4をエッチング槽5内で循環させる循環水路系20Aと、エッチング槽5内の太陽電池セル2とエッチング液4の液面との間に沈められ、太陽電池セル2から発生してエッチング槽5内を浮上する気泡7を捕獲して収集する気泡捕獲収集器1Aとを含んで構成されている。 (もっと読む)


【課題】シリコンウェハの処理表面の性状に応じたリンス処理に好適なリンス液の調製方法を提供する。
【解決手段】汚染防止物質を超純水に添加して調製されるリンス液における超純水に添加する汚染防止物質の量を、所定の条件におけるシリコンウェハ表面に存在する吸着活性点の量の分析値と、所定の条件におけるシリコンウェハ表面を洗浄した際の金属不純物の吸着量と、条件変更後のシリコンウェハ表面に存在する吸着活性点の量の分析値とからシリコンウェハへの金属不純物の予想吸着量を算出し、この予想吸着量に応じて決定する。 (もっと読む)


【課題】 二酸化ケイ素と窒化ケイ素を同時に有する電子基板から窒化ケイ素を除去する工程において、窒化ケイ素のエッチングを高選択的に行い、かつエッチング後に析出物が発生しないエッチング液を提供することを目的とする。
【解決手段】 アルコキシシラン、フッ化水素酸、ヘキサフルオロリン酸およびテトラフルオロホウ酸からなる群より選ばれる1種以上のフッ素原子を含む酸、および水を必須成分とする窒化ケイ素用エッチング液を用いる。 (もっと読む)


【課題】フッ酸と有機酸との混合液中のフッ酸濃度および有機酸濃度の双方をそれぞれ別々に測定する方法を提供し、フッ酸と有機酸との混合液を用いて複数枚の半導体ウェーハに対し洗浄処理を行った場合におけるウェーハ表面等への微粒子や金属不純物の残留を安定して抑制する。
【解決手段】フッ酸と有機酸とを含有する半導体ウェーハ洗浄液の濃度測定方法であって、半導体ウェーハ洗浄液の赤外吸収スペクトルを測定し、赤外吸収スペクトルから半導体ウェーハ洗浄液中に含まれるフッ酸の濃度を求めるフッ酸濃度測定工程と、半導体ウェーハ洗浄液の紫外吸収スペクトルを測定し、紫外吸収スペクトルから半導体ウェーハ洗浄液中に含まれる有機酸の濃度を求める有機酸濃度測定工程とを含むことを特徴とする半導体ウェーハ洗浄液の濃度測定方法である。また、その濃度測定方法を用いた半導体ウェーハの洗浄方法である。 (もっと読む)


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