国際特許分類[H01L29/06]の内容
電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 整流,増幅,発振またはスイッチングに特に適用される半導体装置であり,少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有するもの;少なくとも1つの電位障壁または表面障壁,例.PN接合空乏層またはキャリア集中層,を有するコンデンサーまたは抵抗器;半導体本体または電極の細部(31/00〜47/00,51/05が優先;半導体本体または電極以外の細部23/00;1つの共通基板内または上に形成された複数の固体構成部品からなる装置27/00 (54,759) | 半導体本体 (3,016) | 半導体本体の形状に特徴のあるもの;半導体領域の形状,相対的な大きさまたは配列に特徴のあるもの (1,731)
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整流,増幅,またはスイッチされる電流を流す電極が接続されている半導体領域をもつものであって,その電極が3つ以上の電極を持つ半導体装置の部分であるもの (1)
整流,増幅,またはスイッチされる電流を流さない電極が接続されている半導体領域をもつものであって,その電極が3つ以上の電極を持つ半導体装置の部分であるもの
国際特許分類[H01L29/06]に分類される特許
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半導体装置、及び、半導体装置の製造方法
【課題】 周辺領域に多くの結晶欠陥を形成することなく、周辺領域の表面領域の下に不純物濃度が高い領域を形成する。
【解決手段】 半導体装置であって、半導体基板が素子領域と周辺領域を有している。素子領域内に、第1導電型を有しており、半導体基板の上面に露出している第1半導体領域が形成されている。周辺領域内に、第2〜第4半導体領域が形成されている。第2半導体領域は、第1導電型を有しており、第1半導体領域よりも第1導電型不純物濃度が低く、半導体基板の上面に露出しており、第1半導体領域と繋がっている。第3半導体領域は、第2導電型を有しており、第2半導体領域に対して下方から接している。第4半導体領域は、第2導電型を有しており、第3半導体領域よりも第2導電型不純物濃度が低く、第3半導体領域に対して下方から接している。第3半導体領域が、エピタキシャル層である。
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炭化珪素半導体装置の製造方法および炭化珪素半導体装置
【課題】炭化珪素半導体装置の製造において、上面が平坦な終端構造とリセス状のアライメントマークとを少ないマスク数で形成すると共に、アライメントマークのリセスの深さを最適化する。
【解決手段】ハーフトーン露光法を用いて、SiCエピタキシャル層2に達する第1の開口部12aとSiCエピタキシャル層2に達しない第2の開口部とを有するレジストパターン11を、SiCエピタキシャル層2上に形成する。エッチングにより、第1の開口部12aに露出したSiCエピタキシャル層2にリセス状のアライメントマーク9を形成すると同時に第2の開口部12bをSiCエピタキシャル層2に到達させる。その後、イオン注入により、第2の開口部12bに露出したSiCエピタキシャル層2に、終端領域8を形成する。
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ダイオード
【課題】 電流容量が大きいダイオードを提供する。
【解決手段】 ダイオードであって、半導体基板を有している。半導体基板の一方の表面にアノード電極が形成されている。半導体基板に、前記一方の表面に露出しており、アノード電極と導通しているp型のアノード領域と、アノード領域に接しているn型のカソード領域が形成されている。前記一方の表面にアノード領域が露出している露出範囲内に、アノード電極とアノード領域が導通しているコンタクト領域と、アノード電極とアノード領域が導通していない非コンタクト領域が存在している。コンタクト領域の面積Scと非コンタクト領域の面積Snとの比率Sc/Snが、露出範囲の外周部よりも露出範囲の中央部で大きい。
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半導体装置及びその製造方法
【課題】半導体装置のオン状態における素子全体にわたる抵抗成分のうち、半導体基板に起因する抵抗成分を低減することができ且つ半導体基板の裏面側からの放熱効果を向上できるようにする。
【解決手段】半導体装置は、半導体素子が形成された第1の主面と、該第1の主面の反対側の面である第2の主面とを有する半導体基板と、該半導体基板の第2の主面に固着されたリードフレーム114とを備えている。第2の主面を構成するコレクタ層8には、少なくとも1つの凹部8aが形成されている。リードフレーム114における第2の主面と固着される面には、コレクタ層8に形成された各凹部8aと嵌合する凸部114aが形成されている。
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薄膜トランジスタ及びそれを利用した圧力センサー
【課題】本発明は、薄膜トランジスタ及びそれを利用した圧力センサーに関する。
ものである。
【解決手段】本発明の薄膜トランジスタは、ソース電極と、ドレイン電極と、半導体層と、ゲート電極と、絶縁層と、を含む。前記ソース電極は、前記ドレイン電極と間隔をあけて設置される。前記半導体層は、前記ソース電極及び前記ドレイン電極にそれぞれ電気的に接続される。前記半導体層は一つのチャネルを有し、該チャネルは前記ソース電極及び前記ドレイン電極の間に位置する。前記ゲート電極は、前記絶縁層により、前記ソース電極、前記ドレイン電極及び前記半導体層と絶縁状態で設置される。前記絶縁層は、弾性率が0.1MPa〜10MPaである高分子材料からなる。
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電子装置およびその製造方法
【課題】グラフェンを活性領域に使った電子装置において、グラフェンにバンドギャップをもたせ、オンオフを可能とする。
【解決手段】電子装置は、基板と、前記基板上にゲート絶縁膜を介して形成されたグラフェンシートと、前記グラフェンシートの一端に形成されたソース電極と、前記グラフェンシートの他端に形成されたドレイン電極と、前記グラフェンシートに前記ソース領域とドレイン領域との間でゲート電圧を印加するゲート電極と、前記グラフェンシートに前記ソース電極とドレイン電極の間において、前記ソース電極からドレイン電極へのキャリアの流れを横切って形成された、複数の開口部よりなる開口部列と、を備え、前記各々の開口部は少なくとも一つのジグザグ端により画成されており、前記少なくとも一つのジグザグ端は、前記ソース電極とドレイン電極を結んだ方向に対し、いずれも30°の角度をなす。
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薄膜トランジスタ及びそれを利用した圧力センサー
【課題】本発明は、薄膜トランジスタ及びそれを利用した圧力センサーに関する。
ものである。
【解決手段】本発明の薄膜トランジスタは、ソース電極と、ドレイン電極と、半導体層と、ゲート電極と、絶縁層と、を含む。前記ソース電極は、前記ドレイン電極と間隔をあけて設置される。前記半導体層は、前記ソース電極及び前記ドレイン電極にそれぞれ電気的に接続される。前記半導体層は、弾性率が0.1MPa〜10MPaである高分子複合材料層である。前記高分子複合材料層は、高分子基材及び該高分子基材に分散された複数のカーボンナノチューブからなる。前記ゲート電極は、前記絶縁層により、前記半導体層、前記ソース電極及び前記ドレイン電極と絶縁状態で設置される。
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逆阻止型絶縁ゲート型バイポーラトランジスタの製造方法
【課題】
逆方向の高耐圧pn接合の終端を湾曲させて表面に延在させるための分離層を形成する製造方法であって、逆方向の高耐圧の確保と逆バイアス時のリーク電流の低減とが可能な逆阻止型絶縁ゲートバイポーラトランジスタの製造方法の提供。
【解決手段】
一方の主面と他方の主面から形成されるテーパー溝の底部間の半導体基板厚さが60μm以上になるように、前記テーパー溝を異方性アルカリエッチングにより形成する。
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グラフェン構造体及びその製造方法、並びにグラフェン素子及びその製造方法
【課題】 グラフェン構造体及びその製造方法、並びにグラフェン素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 基板上に形成される側面が露出された成長層と、成長層の側面に成長されたグラフェンと、を備えるグラフェン構造体である。
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逆阻止絶縁ゲート型バイポーラトランジスタとその製造方法
【課題】ダイシング工程や搬送中の振動などの衝撃があって割れやクラックが生じても、IGBTの逆方向耐圧が劣化しないような逆阻止絶縁ゲート型バイポーラトランジスタおよびその製造方法を提供すること。
【解決手段】n型半導体基板の表面側にMOSゲート構造を有する活性領域と該活性領域の周囲の耐圧構造部とを有し、裏面側にはp型コレクタ層を備え、前記耐圧構造部の外周部に、前記表面側と前記裏面側とを繋ぐように配置されるp型分離層が裏面側で前記p型コレクタ層に電気的に接続される構成を有する逆阻止絶縁ゲート型バイポーラトランジスタにおいて、前記p型分離層が裏面側の前記p型コレクタ層に接続する部分における、基板面に平行方向の幅が60μm以上である逆阻止絶縁ゲート型バイポーラトランジスタとする。
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