外観検査装置
【課題】電子部品のリード端子や筐体脚の外観検査を確実に、また、効率的に行うことができる外観検査装置を提供する。
【解決手段】電子部品７０のリード端子７１に対応する位置にリード端子穴１１が形成された基台２を備え、リード端子穴１１にリード端子７１を挿入して電子部品７０の外観検査を行う外観検査装置１において、挿入されたリード端子７１の先端が到達すべき位置にリード端子の先端を検出する検出部２１を設けている。これによって、電子部品７０のリード端子７１の外観検査を確実に、また、効率的に行うことができる。
【解決手段】電子部品７０のリード端子７１に対応する位置にリード端子穴１１が形成された基台２を備え、リード端子穴１１にリード端子７１を挿入して電子部品７０の外観検査を行う外観検査装置１において、挿入されたリード端子７１の先端が到達すべき位置にリード端子の先端を検出する検出部２１を設けている。これによって、電子部品７０のリード端子７１の外観検査を確実に、また、効率的に行うことができる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子部品のリード端子や筐体脚の外観検査を行うための外観検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子部品の端子の形態には、種々のタイプのものがあるが、その中の１つとして本体からリード端子を導出させたものがある。例えば、ＤＩＰタイプのコネクタや半導体デバイスは、リード端子が本体から垂直に設けられている。また、電子部品の中には、筐体本体から筐体脚が設けられているものもある。例えば、ＤＩＰタイプのコネクタは、端子の両端に基板等に固定するための筐体脚が設けられている。
【０００３】
このように本体から突出しているリード端子や筐体脚は、細長く形成されているので、製造工程において変形したり、曲折したりする場合がある。また、リード端子の形成工程その他の加工工程において、所定寸法長より短く切断されたりする場合がある。
【０００４】
リード端子や筐体脚（以下、リード端子等ともいう）が変形したり、曲折したり、または短く切断された電子部品は、基板に適切に実装できず、また、適切に半田付けできないことから、実装不良を増加させるので問題になる。そのため、電子部品の製造工程において外観検査を行うことにより外観不良として除去される。
【０００５】
従来では、このようなリード端子や筐体脚の外観不良は、目視で検査することにより除かれていた。外観検査の作業効率を向上させるために電子部品の形状に溝が設けられた帯板状の治具が提案されている。この治具によれば、電子部品を溝に整列させることができるので、同時に複数の電子部品の外観検査を行うことができる（例えば、特許文献１：従来例１）。
【０００６】
また、特にリード端子等の外観検査を効率的に行うために、リード端子等の外観検査を行うことができる外観検査装置が用いられる場合がある（従来例２）。
【０００７】
図１０は、従来例２の外観検査装置において、電子部品を外観検査装置により検査している状態を示した概略斜視図である。従来例２の外観検査装置１００は、電子部品１７０のリード端子１７１を挿入するためのリード端子穴１１１が形成された基台１０２から構成されている。リード端子１７１の外観検査は、電子部品１７０のリード端子１７１をリード端子穴１１１に挿入し、また、筐体脚１７６を筐体脚穴１１６に挿入して電子部品１７０を押し込むことにより行われる。リード端子１７１を挿入して円滑に電子部品１７０を所定の位置にまで押し込むことができたときは外観良品とされる。他方、リード端子１７１が変形等しているためにリード端子１７１を挿入し難く円滑に電子部品１７０を所定の位置にまで押し込むことができないときは外観不良として取り除かれる。
【特許文献１】実開平０５−３１２３７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、従来例１の技術では、外観検査を目視に頼って行っているため必ずしも完全ではなく、度々外観不良が流出してしまうという問題があった。また、従来例２の技術では、外観検査装置を用いているので、リード端子１７１や筐体脚１７６の変形があれば確実に不良として除去できるものの、変形の度合いが大きいものやリード端子が短く切断されたものは不良として除去できないという問題があった。
【０００９】
図１１は、従来例２の外観検査装置において、リード端子が９０度折れ曲っている電子部品を外観検査装置により検査している状態を示す概略斜視図である。リード端子１７１が９０度折れ曲っている電子部品１７０を従来例２の外観検査装置１００により検査する場合、９０度折れ曲っているリード端子１７１はリード端子穴１１１に挿入されず、また、基台１０２に突き当たる等の障害も発生しないことから、電子部品１７０は所定の位置にまで容易に押し込まれることになる。そのため、作業者はリード端子１７１が９０度に変形していることにも気づくこともなく、良品として選別してしまうことがあった。
【００１０】
図１２は、従来例２において、リード端子が短く切断された電子部品を外観検査装置により検査している状態を示す概略斜視図である。リード端子１７１が短く切断された電子部品１７０を従来例２の外観検査装置１００により検査する場合、短く切断されたリード端子１７１はリード端子穴１１１に容易に挿入され、また、基台１０２に突き当たる等の障害も発生しないことから、電子部品１７０は所定の位置にまで容易に押し込まれることになる。そのため、作業者はリード端子１７１が短く切断されていることにも気づくこともなく、良品として選別してしまうことがあった。
【００１１】
そのため、従来例２の外観検査装置１００によりリード端子１７１の検査をしたあとで、再度、目視により外観検査を行う必要があった。結果的に、従来例２の外観検査装置１００を使用する場合は、外観検査を２回行う必要が生じていた。
【００１２】
また、筐体脚１７６についての外観検査においても同様の問題があった。すなわち、目視による外観検査のみでは度々外観不良が流出してしまうという問題があった。また、筐体脚１７６の外観検査を行うために従来例２の外観検査装置１００を用いた場合であっても、９０度程度折れ曲った外観不良や筐体脚１７６が切断された外観不良は取り除くことができないという問題があった。そのため、再度、目視による外観検査を行う必要があった。
【００１３】
本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、電子部品のリード端子や筐体脚の外観検査を確実に、また、効率的に行うことができる外観検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明に係る外観検査装置は、電子部品のリード端子に対応する位置にリード端子穴が形成された基台を備え、前記リード端子穴に前記リード端子を挿入して前記電子部品の外観検査を行う外観検査装置において、挿入された前記リード端子の先端が到達すべき位置に該先端を検出する検出部を設けたことを特徴とする。
【００１５】
この構成により、所定の形状を保持したリード端子は対応するリード端子穴に円滑に挿入され、他方、変形したリード端子は対応するリード端子穴に円滑に挿入されないことから、リード端子が変形していない電子部品のみを所定の位置まで押し込むことができる。これにより、リード端子が変形した電子部品を外観不良として選別することができる。
【００１６】
また、電子部品を所定の位置まで押し込むことができたものの中には、リード端子が端子根元で９０度に曲折していたり、リード端子長さが短くなっていたりする外観不良が含まれているが、このようなものも、検出部でリード端子の先端が検出されないことから、外観不良として選別することができる。
【００１７】
本発明に係る外観検査装置は、電子部品の筐体脚に対応する位置に筐体脚穴が形成された基台を備え、前記筐体脚穴に前記筐体脚を挿入して前記電子部品の外観検査を行う外観検査装置において、挿入された前記筐体脚の先端が到達すべき位置に該先端を検出する検出部を設けたことを特徴とする。
【００１８】
この構成により、所定の形状を保持した筐体脚は対応する筐体脚穴に円滑に挿入され、他方、変形した筐体脚は対応する筐体脚穴に円滑に挿入されないことから、筐体脚が変形していない電子部品のみを所定の位置まで押し込むことができる。これにより、筐体脚が変形した電子部品を外観不良として選別することができる。
【００１９】
また、電子部品を所定の位置まで押し込むことができたものの中には、筐体脚が端子根元で９０度に曲折していたり、筐体脚長さが短くなっていたりする外観不良が含まれているが、このようなものも、検出部で筐体脚の先端が検出されないことから、外観不良として選別することができる。
【００２０】
また、本発明に係る外観検査装置では、前記検出部は、可動部が規定の距離範囲内で移動することにより接点がオンするマイクロスイッチにより構成され、前記可動部は、前記リード端子の先端または前記筐体脚の先端が到達すべき位置に挿入されたときに前記接点がオンするように配置されていることを特徴とする。
【００２１】
この構成により、可動部を規定の距離範囲内で移動させるリード端子または筐体脚を外観良とし、これ以外のものを外観不良とすることができる。これにより、リード端子または筐体脚の長さにばらつきがあっても、電子部品のリード端子または筐体脚の外観検査を行うことができる。
【００２２】
また、本発明に係る外観検査装置では、前記検出部は、板バネ電極の先端が移動することにより接点がオンする板バネ式スイッチにより構成され、前記板バネ電極の先端は、前記リード端子の先端または前記筐体脚の先端が到達すべき位置に挿入されたときに前記接点がオンするように配置されていることを特徴とする。
【００２３】
この構成により、簡単な構成により検出部を形成することができる。この結果、外観検査装置の製造費を削減できる。
【００２４】
また、本発明に係る外観検査装置では、前記検出部は、板バネ電極の先端が移動することにより接点がオンする板バネ式スイッチ、および、挿入された前記リード端子の先端または前記筐体脚の先端と前記板バネ電極の先端との間に設けられた絶縁性スペーサから構成され、前記絶縁性スペーサは、前記リード端子の先端または前記筐体脚の先端が到達すべき位置に挿入されたときに前記接点がオンするように配置されていることを特徴とする。
【００２５】
この構成により、リード端子と板バネ電極の先端の間に絶縁性スペーサを介在させることから、リード端子に電流が流れることがないので、微小な電流が流れた場合でも破壊する虞がある電子デバイスでも外観検査することができる。また、リード端子が短い電子デバイスでも、外観検査をすることができる。
【００２６】
また、本発明に係る外観検査装置では、前記検出部は、検出エリアに進入した被検出物を検出する反射センサにより構成され、前記検出エリアは、前記リード端子の先端または前記筐体脚の先端が到達すべき位置に挿入されたときに前記反射センサにより検出されるように配置されていることを特徴とする。
【００２７】
この構成により、非接触によりリード端子または筐体脚の先端の検出が行われるので、リード端子または筐体脚に力が加わることがなく、外観検査によって変形させることがない。
【００２８】
また、本発明に係る外観検査装置では、前記リード端子穴または前記筐体脚穴が形成された部分と前記検出部とは、ユニットとして基台に対して取り替え可能になっていることを特徴とする。
【００２９】
この構成により、電子部品のリード端子または筐体脚の形態に合わせて、前記リード端子穴または筐体脚穴が形成された部分と検出部とが一体化したユニットを基台に対して取り替えることができるので、種々の電子部品の外観検査を行うことができる。
【発明の効果】
【００３０】
本発明に係る外観検査装置によれば、リード端子の先端が到達すべき位置に検出部が設けられているので、リード端子が変形したもの、曲折したもの、または、リード端子が短くなったもの等を確実に選別することができる。
【００３１】
また、本発明に係る外観検査装置によれば、筐体脚の先端が到達すべき位置に検出部が設けられているので、筐体脚が変形したもの、曲折したもの、または、筐体脚が短くなったもの等を確実に選別することができる。
【００３２】
また、本発明に係る外観検査装置によれば、検出部がマイクロスイッチにより構成されているので、リード端子または筐体脚の長さにばらつきがあっても、電子部品のリード端子または筐体脚の外観検査を行うことができる。
【００３３】
また、本発明に係る外観検査装置によれば、検出部が板バネ式スイッチにより構成されているので、簡単な構成により検出部を形成することができる。この結果、外観検査装置の製造費を削減できる。
【００３４】
また、本発明に係る外観検査装置によれば、リード端子と板バネ電極の先端の間に絶縁性スペーサを介在させているので、微小な電流が流れた場合でも破壊する虞がある電子デバイスでも外観検査することができる。また、リード端子が短い電子デバイスでも、外観検査をすることができる。
【００３５】
また、本発明に係る外観検査装置によれば、反射センサにより非接触でリード端子または筐体脚の先端の検出が行われるので、外観検査によってリード端子や筐体脚を変形させることがない。
【００３６】
また、本発明に係る外観検査装置によれば、各種類の電子部品のリード端子または筐体脚の形態に合わせてユニットを基台に対して取り替えることができるので、種々の電子部品の外観検査を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３７】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【００３８】
＜実施の形態１＞
図１は、本発明の実施の形態１に係る外観検査装置により電子部品を検査する前の状態を示した概略斜視図である。
【００３９】
本実施の形態に係る外観検査装置１は、電子部品７０のリード端子７１を挿入するためのリード端子穴１１および筐体脚７６を挿入するための筐体脚穴１６が形成された基台２と、リード端子７１や筐体脚７６の先端７１ａ、７６ａを検出するための検出部２１とから主要部が構成されている。なお、外観検査装置１は、電子部品７０の良品／不良品を判定する判定装置３を備えるのが好ましい。
【００４０】
基台２には、検査対象となる電子部品７０のリード端子７１および筐体脚７６に対応するようにリード端子穴１１および筐体脚穴１６が形成されている。リード端子穴１１は、リード端子７１を挿入するための貫通穴であり、各リード端子穴１１の間隔は電子部品７０におけるリード端子７１の間隔と同一になっている。また、リード端子穴１１の寸法は、リード端子７１の断面寸法より大きくなっており、また、リード端子７１が変形していても許容範囲内（寸法誤差範囲内）であればリード端子７１が挿入されるような大きさになっている。
【００４１】
筐体脚穴１６は、筐体脚７６を挿入するための貫通穴であり、各筐体脚穴１６の間隔は電子部品７０における筐体脚７６の間隔と同一になっている。また、筐体脚穴１６の寸法は、筐体脚７６の断面寸法より大きくなっており、筐体脚７６が変形していても許容範囲内（寸法誤差範囲内）であれば筐体脚７６が挿入されるような大きさになっている。
【００４２】
検出部２１は、電子部品７０のリード端子７１および筐体脚７６の数のマイクロスイッチ２２により構成されている。リード端子７１を検査するマイクロスイッチ２２は、リード端子穴１１に挿入されたリード端子７１の先端７１ａが到達すべき位置に配置されている。また、筐体脚７６を検査するマイクロスイッチ２２は、筐体脚穴１６に挿入された筐体脚７６の先端７６ａが到達すべき位置に配置されている。
【００４３】
すなわち、リード端子７１および筐体脚７６を対応するリード端子穴１１および筐体脚穴１６に挿入して電子部品７０を所定の位置にまで押し込んだときに、マイクロスイッチ２２の可動部２２ｂが移動してマイクロスイッチ２２がオンするようになっている。マイクロスイッチ２２がオンしたときには規定値の電圧／電流を出力され、導線部２６を介して出力信号が判定装置３に伝達されるようになっている。
【００４４】
判定装置３は、リード端子７１および筐体脚７６の変形の有無を判定するものであり、検出部２１からの出力信号により判定する判定回路部（不図示）と、判定結果を報知する報知部４とから構成されている。判定回路部は、検出部２１の各マイクロスイッチ２２からの出力を総合して、全てのマイクロスイッチ２２がオンしているか否かを判定するものである。すなわち、全てのマイクロスイッチ２２がオンしたときはＯＫの判定を出力し、１つでもマイクロスイッチ２２がオンしていないときには、ＮＧの判定を出力するように構成されている。
【００４５】
報知部４は、判定回路部からの出力により判定結果を報知するものであり、ＮＧ判定の場合はランプを点灯させる。なお、ＮＧ判定の場合に報知音を出力するようにしてもよい。また、ＯＫ判定の時にランプを点灯させたり、報知音を出力させたりするようにしてもよい。
【００４６】
図２は、本発明の実施の形態１に係る外観検査装置の検出部の一部を拡大して示した概略拡大図である。
【００４７】
マイクロスイッチ２２は、本体部２２ａと係止部２２ｃと可動部２２ｂと導線部２６とから構成されている。本体部２２ａの内部には接点を構成する２つの電極（不図示）が設けられている。係止部２２ｃは、本体部２２ａを基台２に係合するためのものである。可動部２２ｂは、マイクロスイッチ２２の頂部に所定距離（所定範囲）の移動が可能なように設けられている。導線部２６は、各電極に電流を導通させる導線から構成されている。
【００４８】
また、マイクロスイッチ２２は、可動部２２ｂが規定の距離範囲内Ｓで移動したときにオンするようになっている。したがって、可動部２２ｂの頭部２２ｄにリード端子７１の先端７１ａが当接しても、可動部２２ｂが規定の距離範囲内Ｓで移動しない場合はオンしないようになっている。
【００４９】
これによって、リード端子７１または筐体脚７６を挿入したときに可動部２２ｂを規定の距離範囲内Ｓで移動させる電子部品７０を外観良品とし、これ以外のものを外観不良品とすることができる。すなわち、リード端子７１または筐体脚７６の長さにばらつきがあっても、電子部品７０のリード端子７１または筐体脚７６の外観検査を行うことができる。
【００５０】
次に、外観検査が行われたときの外観検査装置１の動作について説明する。まず、電子部品７０のリード端子７１および筐体脚７６を対応するリード端子穴１１および筐体脚穴１６に挿入し、電子部品７０を所定の位置まで押し込む。電子部品７０は、パッケージの底部（リード端子７１の根元の面）や筐体脚７６の台座部分が基台２に当接する位置まで押し込まれる。
【００５１】
このとき、リード端子７１および筐体脚７６の先端７１ａ、７６ａは、マイクロスイッチ２２の可動部２２ｂに当接して移動させ、マイクロスイッチ２２をオンさせる。しかしながら、電子部品７０のリード端子７１や筐体脚７６に変形等の外観不良があるときは、リード端子穴１１や筐体脚穴１６に円滑に挿入することができないので、マイクロスイッチ２２をオンさせない。このとき、判定回路部はＮＧの判定を出力し、報知部４は外観不良品であることを示すランプを点灯させる。
【００５２】
また、リード端子７１の長さに規定寸法より短いものがある場合は、可動部２２ｂはマイクロスイッチ２２がオンする位置まで移動しないので、対応するマイクロスイッチ２２はオンしない。このときも、判定回路部はＮＧの判定を出力し、報知部４は外観不良品であることを示すランプを点灯させる。
【００５３】
図３は、本発明の実施の形態１に係る外観検査装置に外観不良の電子部品を押し込んだときの状態を示した概略斜視図である。短く切断されたリード端子７１は、マイクロスイッチ２２の可動部２２ｂに当接せず、オンさせていない。一方、その他の端子は、マイクロスイッチ２２の可動部２２ｂに当接してオンさせている。このとき、判定回路部はＮＧの判定を出力し、報知部４は外観不良品であることを示すランプを点灯させる。
【００５４】
なお、リード端子７１や筐体脚７６が９０度以上に変形している場合でも、同様に、可動部２２ｂは移動しないので、マイクロスイッチ２２はオンしない。このとき、判定回路部はＮＧの判定を出力し、報知部４は外観不良品であることを示すランプを点灯させる。
【００５５】
すなわち、本実施の形態に係る外観検査装置１によれば、所定の形状を保持したリード端子７１を対応するリード端子穴１１に円滑に挿入することができる一方、変形したリード端子７１を対応するリード端子穴１１に円滑に挿入することができないことから、所定の形状を保持したリード端子７１を有する電子部品７０のみを所定の位置まで押し込むことができる。これにより、リード端子７１が変形した電子部品７０を容易に選別することができる。
【００５６】
また、電子部品７０を所定の位置まで押し込むことができたものの中には、リード端子７１が端子根元で９０度に曲折していたり、リード端子７１の長さが短くなっていたりする外観不良が含まれているが、このようなものも、マイクロスイッチ２２によりリード端子７１の先端７１ａが検出されないことから、外観不良として選別することができる。
【００５７】
＜実施の形態２＞
図４は、本発明の実施の形態２に係る外観検査装置により電子部品を検査する前の状態を示した概略斜視図である。
【００５８】
本実施の形態に係る外観検査装置１は、電子部品７０のリード端子７１を挿入するためのリード端子穴１１および筐体脚７６を挿入するための筐体脚穴１６が形成された基台２と、リード端子７１や筐体脚７６の先端７１ａ、７６ａを検出するための検出部２１とから主要部が構成されている。なお、外観検査装置１は、電子部品７０の良品／不良品を判定する判定装置３を備えるのが好ましい。なお、本実施の形態に係る外観検査装置１は、検出部２１以外の構成要素は、実施の形態１と同様であるので説明を省略する。
【００５９】
検出部２１は、電子部品７０のリード端子７１および筐体脚７６の数の板バネ式スイッチ２３により構成されている。リード端子７１を検査する板バネ式スイッチ２３は、リード端子穴１１に挿入されたリード端子７１の先端７１ａが到達すべき位置に配置されている。また、筐体脚７６を検査する板バネ式スイッチ２３は、筐体脚穴１６に挿入された筐体脚７６の先端７６ａが到達すべき位置に配置されている。
【００６０】
すなわち、リード端子７１および筐体脚７６を対応するリード端子穴１１および筐体脚穴１６に挿入して電子部品７０を所定の位置にまで押し込んだときに、板バネ電極２３ｂの先端２３ｄが移動して板バネ式スイッチ２３がオンするようになっている。板バネ式スイッチ２３がオンしたときには規定値の電圧／電流を出力され、導線部２６を介して出力信号が判定装置３に伝達されるようになっている。
【００６１】
図５は、本発明の実施の形態２に係る外観検査装置の検出部の一部を拡大して示した概略拡大図である。
【００６２】
板バネ式スイッチ２３は、固定接点２３ｔを有する固定電極２３ａと、可動接点２３ｓを有する板バネ電極２３ｂと、導線部２６とから構成されている。固定電極２３ａは、短冊状の導電性金属板により構成されている。板バネ電極２３ｂは、屈曲した短冊状の導電性金属板により構成され、先端２３ｄの内側面２３ｅには凸状の可動接点２３ｓが設けられている。板バネ電極２３ｂは、可動接点２３ｓが固定接点２３ｔに対向するようにして配置され、先端に力を加えたときに可動接点２３ｓが固定接点２３ｔに当接するように基台２に固定されている。導線部２６は、固定電極２３ａと板バネ電極２３ｂに電流を導通させる２本の導線から構成されている。
【００６３】
また、板バネ式スイッチ２３は、板バネ電極２３ｂの先端２３ｄが規定の距離以上移動したときにオンするようになっている。したがって、板バネ電極２３ｂの先端２３ｄにリード端子７１の先端７１ａが当接しても、板バネ電極２３ｂの先端２３ｄが規定の距離以上移動しない場合はオンしないようになっている。また、板バネ電極２３ｂの先端２３ｄが固定電極２３ａに当接しても、板バネ電極２３ｂの先端２３ｄはさらに移動するようになっている。具体的には、板バネ電極２３ｂの先端２３ｄは、固定電極２３ａに当接した後でも若干撓むように構成されている。
【００６４】
これによって、リード端子７１または筐体脚７６を挿入したときに板バネ電極２３ｂの先端２３ｄを規定の距離以上移動させる電子部品７０を外観良品とし、これ以外のものを外観不良品とすることができる。すなわち、リード端子７１または筐体脚７６の長さにばらつきがあっても、電子部品７０のリード端子７１または筐体脚７６の外観検査を行うことができる。
【００６５】
次に、電子部品７０のリード端子７１を板バネ電極２３ｂの先端２３ｄに直接当接させないでリード端子７１の外観検査を行う外観検査装置１の構成について説明する。
【００６６】
図６は、本発明の実施の形態２に係る外観検査装置において、リード端子と板バネ電極の間に絶縁性スペーサを設けた構成とした検出部の一部を拡大して示した概略拡大図である。絶縁性スペーサ２８は、リード端子穴１１に摺動可能に設けられ、一方の先端が挿入されるリード端子７１の先端７１ａに当接し、他端が板バネ電極２３ｂの先端２３ｄに当接するように配置されている。また、絶縁性スペーサ２８の長さは、リード端子７１を到達すべき位置にまで挿入したときに、絶縁性スペーサ２８の先端２８ａが板バネ電極２３ｂの先端２３ｄに当接して板バネ式スイッチ２３がオンするように調整されている。
【００６７】
絶縁性スペーサ２８は、リード端子７１と板バネ電極２３ｂとを絶縁させる機能を有している。リード端子７１と板バネ電極２３ｂの先端２３ｄの間に絶縁性スペーサ２８を介在させることにより、リード端子７１に電流が流れることがなくなるので、微小な電流が流れた場合でも破壊する虞がある電子デバイスでも外観検査することができる。
【００６８】
なお、絶縁性スペーサ２８は、板バネ電極２３ｂの先端２３ｄの外側面２３ｆに接着させて設けてもよい。これによっても、リード端子７１の先端７１ａが導電性のある板バネ式スイッチ２３に直接当接させないようにすることができる。
【００６９】
また、絶縁性スペーサ２８をリード端子７１の長さを補うための補償部材として機能させてもよい。すなわち、リード端子穴１１に絶縁性スペーサ２８を摺動可能に設けることにより、リード端子穴１１の長さよりも短いリード端子７１を有する電子部品７０であっても、外観検査することができるようになる。
【００７０】
次に、外観検査が行われたときの外観検査装置１の動作について説明する。まず、電子部品７０のリード端子７１および筐体脚７６を対応するリード端子穴１１および筐体脚穴１６に挿入し、電子部品７０を所定の位置まで押し込む。電子部品７０は、パッケージの底部（リード端子７１の根元の面）や筐体脚７６の台座部分が基台２に当接する位置まで押し込まれる。
【００７１】
このとき、リード端子７１および筐体脚７６の先端７１ａ、７６ａ（または絶縁性スペーサ２８の先端２８ａ）は、板バネ式スイッチ２３の板バネ電極２３ｂの先端２３ｄに当接して規定の距離を移動させ、板バネ式スイッチ２３をオンさせる。しかしながら、電子部品７０のリード端子７１や筐体脚７６に変形等の外観不良があるときは、リード端子穴１１や筐体脚穴１６に円滑に挿入することができないので、板バネ式スイッチ２３をオンさせない。このとき、判定回路部はＮＧの判定を出力し、報知部４は外観不良品であることを示すランプを点灯させる。
【００７２】
また、リード端子７１の長さに規定寸法より短いものがある場合は、板バネ電極２３ｂの先端２３ｄは板バネ式スイッチ２３がオンする位置まで移動しないので、対応する板バネ式スイッチ２３はオンしない。このときも、判定回路部はＮＧの判定を出力し、報知部４は外観不良品であることを示すランプを点灯させる。
【００７３】
なお、リード端子７１や筐体脚７６が９０度以上に変形している場合でも、同様に、板バネ電極２３ｂの先端２３ｄは移動しないので、板バネ式スイッチ２３はオンしない。このとき、判定回路部はＮＧの判定を出力し、報知部４は外観不良品であることを示すランプを点灯させる。
【００７４】
すなわち、本実施の形態に係る外観検査装置１によれば、所定の形状を保持したリード端子７１を対応するリード端子穴１１に円滑に挿入することができる一方、変形したリード端子７１を対応するリード端子穴１１に円滑に挿入することができないことから、所定の形状を保持したリード端子７１を有する電子部品７０のみを所定の位置まで押し込むことができる。これにより、リード端子７１が変形した電子部品７０を容易に選別することができる。
【００７５】
また、電子部品７０を所定の位置まで押し込むことができたものの中には、リード端子７１が端子根元で９０度に曲折していたり、リード端子７１の長さが短くなっていたりする外観不良が含まれているが、このようなものも、板バネ式スイッチ２３によりリード端子７１の先端７１ａが検出されないことから、外観不良として選別することができる。
【００７６】
＜実施の形態３＞
図７は、本発明の実施の形態３に係る外観検査装置により電子部品を検査する前の状態を示した概略斜視図である。
【００７７】
本実施の形態に係る外観検査装置１は、電子部品７０のリード端子７１を挿入するためのリード端子穴１１および筐体脚７６を挿入するための筐体脚穴１６が形成された基台２と、リード端子７１や筐体脚７６の先端７１ａ、７６ａを検出するための検出部２１とから主要部が構成されている。なお、外観検査装置１は、電子部品７０の良品／不良品を判定する判定装置３を備えるのが好ましい。なお、本実施の形態に係る外観検査装置１は、検出部２１以外の構成要素は、実施の形態１と同様であるので説明を省略する。
【００７８】
検出部２１は、電子部品７０のリード端子７１および筐体脚７６の数の反射センサ２４により構成されている。リード端子７１を検査する反射センサ２４は、リード端子穴１１に挿入されたリード端子７１の先端７１ａが到達すべき位置に配置されている。また、筐体脚７６を検査する反射センサ２４は、筐体脚穴１６に挿入された筐体脚７６の先端７６ａが到達すべき位置に配置されている。
【００７９】
すなわち、リード端子７１および筐体脚７６を対応するリード端子穴１１および筐体脚穴１６に挿入して電子部品７０を所定の位置にまで押し込んだときに、リード端子７１の先端７１ａおよび筐体脚７６の先端７６ａは、対応する反射センサ２４の検出エリアに進入して反射センサ２４により検出されるようになっている。リード端子７１の先端７１ａおよび筐体脚７６の先端７６ａが反射センサ２４により検出されたとき、規定値の電圧／電流を出力され、導線部２６を介して出力信号が判定装置３に伝達されるようになっている。
【００８０】
検出エリアとは、反射センサ２４が被検出物を検出できる範囲であり、反射センサ２４の発光部の指向角度や受光部の受光角度により定められるものである。検出エリアは、反射センサ２４の種類によりその範囲が異なるため、被検出物となるリード端子７１または筐体脚７６の太さにより最適な反射センサ２４が選択される。また、反射センサ２４の前面にスリットを設けて検出エリアの範囲を調整するようにしてもよい。
【００８１】
図８は、本発明の実施の形態３に係る外観検査装置の検出部の一部を拡大して示した概略拡大図である。
【００８２】
反射センサ２４は、発光部と受光部とを備えるセンサ本体２４ａと、発光部および受光部の前面に設けられたレンズ部２４ｂと、導線部２６とから構成されている。センサ本体２４ａは、被検出物（リード端子７１や筐体脚７６）からの反射光を受光部により検出するものである。レンズ部２４ｂは発光部からの光を集束させ、また、被検出物からの反射光を集束させるものであり、光の効率的な利用を図るためのものである。導線部２６は、反射センサ２４を駆動させるための電力供給用の導線と出力信号を出力するための導線とから構成されている。
【００８３】
また、反射センサ２４は、規定範囲の光量を受光したときに被検出物を検出したものとして検出信号を出力するようになっている（検出状態になる）。したがって、検出エリアに所定の位置にまでリード端子７１が進入しないとき、また、進入しすぎたときは、受光量が規定範囲以下または規定範囲以上になるので、反射センサ２４は検出信号を出力しない。
【００８４】
これによって、リード端子７１または筐体脚７６を挿入したときに反射センサ２４の受光量が規定範囲になる電子部品７０を外観良品とし、これ以外のものを外観不良品とすることができる。すなわち、リード端子７１または筐体脚７６の長さにばらつきがあっても、電子部品７０のリード端子７１または筐体脚７６の外観検査を行うことができる。
【００８５】
また、非接触によりリード端子７１または筐体脚７６の先端７６ａの検出が行われるので、リード端子７１または筐体脚７６に力が加わることがなく、外観検査によってリード端子７１または筐体脚７６を変形させることがない。
【００８６】
次に、外観検査が行われたときの外観検査装置１の動作について説明する。まず、電子部品７０のリード端子７１および筐体脚７６を対応するリード端子穴１１および筐体脚穴１６に挿入し、電子部品７０を所定の位置まで押し込む。電子部品７０は、パッケージの底部（リード端子７１の根元の面）や筐体脚７６の台座部分が基台２に当接する位置まで押し込まれる。
【００８７】
このとき、リード端子７１および筐体脚７６の先端７１ａ、７６ａは、反射センサ２４の検出エリアに進入して光を反射させることになるので、反射センサ２４は検出状態になる。しかしながら、電子部品７０のリード端子７１や筐体脚７６に変形等の外観不良があるときは、リード端子穴１１や筐体脚穴１６に円滑に挿入することができないので、光が反射されないので反射センサ２４は検出状態にならない。このとき、判定回路部はＮＧの判定を出力し、報知部４は外観不良品であることを示すランプを点灯させる。
【００８８】
また、リード端子７１の長さに規定寸法より短いものがある場合は、光が殆ど反射されないことから、反射センサは規定範囲の光量を受光しないので検出状態にならない。このとき、判定回路部はＮＧの判定を出力し、報知部４は外観不良品であることを示すランプを点灯させる。
【００８９】
なお、リード端子７１や筐体脚７６が９０度以上に変形している場合でも、同様に、光が反射されないことから、反射センサは規定範囲の光量を受光しないので反射センサ２４は検出状態にならない。このとき、判定回路部はＮＧの判定を出力し、報知部４は外観不良品であることを示すランプを点灯させる。
【００９０】
すなわち、本実施の形態に係る外観検査装置１によれば、所定の形状を保持したリード端子７１を対応するリード端子穴１１に円滑に挿入することができる一方、変形したリード端子７１を対応するリード端子穴１１に円滑に挿入することができないことから、所定の形状を保持したリード端子７１を有する電子部品７０のみを所定の位置まで押し込むことができる。これにより、リード端子７１が変形した電子部品７０を容易に選別することができる。
【００９１】
また、電子部品７０を所定の位置まで押し込むことができたものの中には、リード端子７１が端子根元で９０度に曲折していたり、リード端子７１長さが短くなっていたりする外観不良が含まれているが、このようなものも、反射センサ２４によりリード端子７１の先端７１ａが検出されないことから、外観不良として選別することができる。
【００９２】
＜実施の形態４＞
図９は、本発明の実施の形態４に係る外観検査装置において、リード端子検査ユニットが取り替え可能である状況を説明した説明図であり、（Ａ）は取り替え前の状態であり、（Ｂ）は取り外した状態であり、（Ｃ）は他の形態のリード端子検査ユニットを取り付けた状態を示している。
【００９３】
本実施の形態に係る外観検査装置１は、電子部品７０のリード端子７１を挿入するためのリード端子穴１１および筐体脚７６を挿入するための筐体脚穴１６が形成された基台２と、リード端子７１や筐体脚７６の先端７１ａ、７６ａを検出するための検出部２１とから主要部が構成されている。なお、本実施の形態に係る外観検査装置１は、リード端子穴１１が形成されている部分およびリード端子７１を検出する検出部２１ａが取り替え可能になっている点で他の実施の形態と異なっている。したがって、この点について説明し、構成要素は他の実施の形態と同様であるので構成要素については説明を省略する。
【００９４】
なお、同図では、外観検査装置１は、リード端子穴１１とリード端子７１を検出する検出部２１ａのみが取り替え可能になっているが、リード端子穴１１とリード端子７１を検出する検出部２１ａ並びに筐体脚穴１６と筐体脚７６を検出する検出部２１ｂとを含めた部分を取り替え可能として構成してもよい。
【００９５】
本実施の形態に係る外観検査装置１は、基台２においてリード端子穴１１が形成されている部分とリード端子７１を検出する検出部２１ａとが一体化され、リード端子検査ユニット８として設けられている。リード端子検査ユニット８は、外観検査装置１の本体から取り外し可能になっている。
【００９６】
すなわち、同図（Ａ）に示すように、リード端子検査ユニット８は、取り外し可能な状態に固定されている。また、同図（Ｂ）に示すように、リード端子検査ユニット８は、リード端子穴１１が形成されている部分とリード端子７１を検出する検出部２１ａとが一体化して取り外される。すなわち、リード端子検査ユニット８は、互いの距離が変動しないように結合部材８ａにより、リード端子穴１１が形成されている部分とリード端子７１を検出する検出部２１ａとが結合されている。そして、同図（Ｃ）に示すように、外観検査装置１には、他の形態のリード端子検査ユニット８が取り付けられる。
【００９７】
これにより、電子部品７０のリード端子７１または筐体脚７６の形態に合わせて、リード端子穴１１または前記筐体脚穴１６とが形成された部分と検出部２１ａとが一体化したリード端子検査ユニット８を基台２に対して取り替えることができるので、種々の電子部品７０の外観検査を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００９８】
【図１】本発明の実施の形態１に係る外観検査装置により電子部品を検査する前の状態を示した概略斜視図である。
【図２】本発明の実施の形態１に係る外観検査装置の検出部の一部を拡大して示した概略拡大図である。
【図３】本発明の実施の形態１に係る外観検査装置に外観不良の電子部品を押し込んだときの状態を示した概略斜視図である。
【図４】本発明の実施の形態２に係る外観検査装置により電子部品を検査する前の状態を示した概略斜視図である。
【図５】本発明の実施の形態２に係る外観検査装置の検出部の一部を拡大して示した概略拡大図である。
【図６】本発明の実施の形態２に係る外観検査装置において、リード端子と板バネ電極の間に絶縁性スペーサを設けた構成とした検出部の一部を拡大して示した概略拡大図である。
【図７】本発明の実施の形態３に係る外観検査装置により電子部品を検査する前の状態を示した概略斜視図である。
【図８】本発明の実施の形態３に係る外観検査装置の検出部の一部を拡大して示した概略拡大図である。
【図９】本発明の実施の形態４に係る外観検査装置において、リード端子検査ユニットが取り替え可能である状況を説明した説明図であり、（Ａ）は取り替え前の状態であり、（Ｂ）は取り外した状態であり、（Ｃ）は他の形態のリード端子検査ユニットを取り付けた状態を示している。
【図１０】従来例２の外観検査装置において、電子部品を外観検査装置により検査している状態を示した概略斜視図である。
【図１１】従来例２の外観検査装置において、リード端子が９０度折れ曲っている電子部品を外観検査装置により検査している状態を示す概略斜視図である。
【図１２】従来例２において、リード端子が短く切断された電子部品を外観検査装置により検査している状態を示す概略斜視図である。
【符号の説明】
【００９９】
１ 外観検査装置
２ 基台
３ 判定装置
４ 報知部
８ リード端子検査ユニット
１１ リード端子穴
１６ 筐体脚穴
２１ 検出部
２２ マイクロスイッチ
２２ｂ 可動部
Ｓ 規定の距離範囲内
２３ 板バネ式スイッチ
２３ｂ 板バネ電極
２３ｄ 板バネ電極の先端
２４ 反射センサ
２６ 導線部
２８ 絶縁性スペーサ
２８ａ 絶縁性スペーサの先端
７０ 電子部品
７１ リード端子
７１ａ リード端子の先端
７６ 筐体脚
７６ａ 筐体脚の先端
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子部品のリード端子や筐体脚の外観検査を行うための外観検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子部品の端子の形態には、種々のタイプのものがあるが、その中の１つとして本体からリード端子を導出させたものがある。例えば、ＤＩＰタイプのコネクタや半導体デバイスは、リード端子が本体から垂直に設けられている。また、電子部品の中には、筐体本体から筐体脚が設けられているものもある。例えば、ＤＩＰタイプのコネクタは、端子の両端に基板等に固定するための筐体脚が設けられている。
【０００３】
このように本体から突出しているリード端子や筐体脚は、細長く形成されているので、製造工程において変形したり、曲折したりする場合がある。また、リード端子の形成工程その他の加工工程において、所定寸法長より短く切断されたりする場合がある。
【０００４】
リード端子や筐体脚（以下、リード端子等ともいう）が変形したり、曲折したり、または短く切断された電子部品は、基板に適切に実装できず、また、適切に半田付けできないことから、実装不良を増加させるので問題になる。そのため、電子部品の製造工程において外観検査を行うことにより外観不良として除去される。
【０００５】
従来では、このようなリード端子や筐体脚の外観不良は、目視で検査することにより除かれていた。外観検査の作業効率を向上させるために電子部品の形状に溝が設けられた帯板状の治具が提案されている。この治具によれば、電子部品を溝に整列させることができるので、同時に複数の電子部品の外観検査を行うことができる（例えば、特許文献１：従来例１）。
【０００６】
また、特にリード端子等の外観検査を効率的に行うために、リード端子等の外観検査を行うことができる外観検査装置が用いられる場合がある（従来例２）。
【０００７】
図１０は、従来例２の外観検査装置において、電子部品を外観検査装置により検査している状態を示した概略斜視図である。従来例２の外観検査装置１００は、電子部品１７０のリード端子１７１を挿入するためのリード端子穴１１１が形成された基台１０２から構成されている。リード端子１７１の外観検査は、電子部品１７０のリード端子１７１をリード端子穴１１１に挿入し、また、筐体脚１７６を筐体脚穴１１６に挿入して電子部品１７０を押し込むことにより行われる。リード端子１７１を挿入して円滑に電子部品１７０を所定の位置にまで押し込むことができたときは外観良品とされる。他方、リード端子１７１が変形等しているためにリード端子１７１を挿入し難く円滑に電子部品１７０を所定の位置にまで押し込むことができないときは外観不良として取り除かれる。
【特許文献１】実開平０５−３１２３７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、従来例１の技術では、外観検査を目視に頼って行っているため必ずしも完全ではなく、度々外観不良が流出してしまうという問題があった。また、従来例２の技術では、外観検査装置を用いているので、リード端子１７１や筐体脚１７６の変形があれば確実に不良として除去できるものの、変形の度合いが大きいものやリード端子が短く切断されたものは不良として除去できないという問題があった。
【０００９】
図１１は、従来例２の外観検査装置において、リード端子が９０度折れ曲っている電子部品を外観検査装置により検査している状態を示す概略斜視図である。リード端子１７１が９０度折れ曲っている電子部品１７０を従来例２の外観検査装置１００により検査する場合、９０度折れ曲っているリード端子１７１はリード端子穴１１１に挿入されず、また、基台１０２に突き当たる等の障害も発生しないことから、電子部品１７０は所定の位置にまで容易に押し込まれることになる。そのため、作業者はリード端子１７１が９０度に変形していることにも気づくこともなく、良品として選別してしまうことがあった。
【００１０】
図１２は、従来例２において、リード端子が短く切断された電子部品を外観検査装置により検査している状態を示す概略斜視図である。リード端子１７１が短く切断された電子部品１７０を従来例２の外観検査装置１００により検査する場合、短く切断されたリード端子１７１はリード端子穴１１１に容易に挿入され、また、基台１０２に突き当たる等の障害も発生しないことから、電子部品１７０は所定の位置にまで容易に押し込まれることになる。そのため、作業者はリード端子１７１が短く切断されていることにも気づくこともなく、良品として選別してしまうことがあった。
【００１１】
そのため、従来例２の外観検査装置１００によりリード端子１７１の検査をしたあとで、再度、目視により外観検査を行う必要があった。結果的に、従来例２の外観検査装置１００を使用する場合は、外観検査を２回行う必要が生じていた。
【００１２】
また、筐体脚１７６についての外観検査においても同様の問題があった。すなわち、目視による外観検査のみでは度々外観不良が流出してしまうという問題があった。また、筐体脚１７６の外観検査を行うために従来例２の外観検査装置１００を用いた場合であっても、９０度程度折れ曲った外観不良や筐体脚１７６が切断された外観不良は取り除くことができないという問題があった。そのため、再度、目視による外観検査を行う必要があった。
【００１３】
本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、電子部品のリード端子や筐体脚の外観検査を確実に、また、効率的に行うことができる外観検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明に係る外観検査装置は、電子部品のリード端子に対応する位置にリード端子穴が形成された基台を備え、前記リード端子穴に前記リード端子を挿入して前記電子部品の外観検査を行う外観検査装置において、挿入された前記リード端子の先端が到達すべき位置に該先端を検出する検出部を設けたことを特徴とする。
【００１５】
この構成により、所定の形状を保持したリード端子は対応するリード端子穴に円滑に挿入され、他方、変形したリード端子は対応するリード端子穴に円滑に挿入されないことから、リード端子が変形していない電子部品のみを所定の位置まで押し込むことができる。これにより、リード端子が変形した電子部品を外観不良として選別することができる。
【００１６】
また、電子部品を所定の位置まで押し込むことができたものの中には、リード端子が端子根元で９０度に曲折していたり、リード端子長さが短くなっていたりする外観不良が含まれているが、このようなものも、検出部でリード端子の先端が検出されないことから、外観不良として選別することができる。
【００１７】
本発明に係る外観検査装置は、電子部品の筐体脚に対応する位置に筐体脚穴が形成された基台を備え、前記筐体脚穴に前記筐体脚を挿入して前記電子部品の外観検査を行う外観検査装置において、挿入された前記筐体脚の先端が到達すべき位置に該先端を検出する検出部を設けたことを特徴とする。
【００１８】
この構成により、所定の形状を保持した筐体脚は対応する筐体脚穴に円滑に挿入され、他方、変形した筐体脚は対応する筐体脚穴に円滑に挿入されないことから、筐体脚が変形していない電子部品のみを所定の位置まで押し込むことができる。これにより、筐体脚が変形した電子部品を外観不良として選別することができる。
【００１９】
また、電子部品を所定の位置まで押し込むことができたものの中には、筐体脚が端子根元で９０度に曲折していたり、筐体脚長さが短くなっていたりする外観不良が含まれているが、このようなものも、検出部で筐体脚の先端が検出されないことから、外観不良として選別することができる。
【００２０】
また、本発明に係る外観検査装置では、前記検出部は、可動部が規定の距離範囲内で移動することにより接点がオンするマイクロスイッチにより構成され、前記可動部は、前記リード端子の先端または前記筐体脚の先端が到達すべき位置に挿入されたときに前記接点がオンするように配置されていることを特徴とする。
【００２１】
この構成により、可動部を規定の距離範囲内で移動させるリード端子または筐体脚を外観良とし、これ以外のものを外観不良とすることができる。これにより、リード端子または筐体脚の長さにばらつきがあっても、電子部品のリード端子または筐体脚の外観検査を行うことができる。
【００２２】
また、本発明に係る外観検査装置では、前記検出部は、板バネ電極の先端が移動することにより接点がオンする板バネ式スイッチにより構成され、前記板バネ電極の先端は、前記リード端子の先端または前記筐体脚の先端が到達すべき位置に挿入されたときに前記接点がオンするように配置されていることを特徴とする。
【００２３】
この構成により、簡単な構成により検出部を形成することができる。この結果、外観検査装置の製造費を削減できる。
【００２４】
また、本発明に係る外観検査装置では、前記検出部は、板バネ電極の先端が移動することにより接点がオンする板バネ式スイッチ、および、挿入された前記リード端子の先端または前記筐体脚の先端と前記板バネ電極の先端との間に設けられた絶縁性スペーサから構成され、前記絶縁性スペーサは、前記リード端子の先端または前記筐体脚の先端が到達すべき位置に挿入されたときに前記接点がオンするように配置されていることを特徴とする。
【００２５】
この構成により、リード端子と板バネ電極の先端の間に絶縁性スペーサを介在させることから、リード端子に電流が流れることがないので、微小な電流が流れた場合でも破壊する虞がある電子デバイスでも外観検査することができる。また、リード端子が短い電子デバイスでも、外観検査をすることができる。
【００２６】
また、本発明に係る外観検査装置では、前記検出部は、検出エリアに進入した被検出物を検出する反射センサにより構成され、前記検出エリアは、前記リード端子の先端または前記筐体脚の先端が到達すべき位置に挿入されたときに前記反射センサにより検出されるように配置されていることを特徴とする。
【００２７】
この構成により、非接触によりリード端子または筐体脚の先端の検出が行われるので、リード端子または筐体脚に力が加わることがなく、外観検査によって変形させることがない。
【００２８】
また、本発明に係る外観検査装置では、前記リード端子穴または前記筐体脚穴が形成された部分と前記検出部とは、ユニットとして基台に対して取り替え可能になっていることを特徴とする。
【００２９】
この構成により、電子部品のリード端子または筐体脚の形態に合わせて、前記リード端子穴または筐体脚穴が形成された部分と検出部とが一体化したユニットを基台に対して取り替えることができるので、種々の電子部品の外観検査を行うことができる。
【発明の効果】
【００３０】
本発明に係る外観検査装置によれば、リード端子の先端が到達すべき位置に検出部が設けられているので、リード端子が変形したもの、曲折したもの、または、リード端子が短くなったもの等を確実に選別することができる。
【００３１】
また、本発明に係る外観検査装置によれば、筐体脚の先端が到達すべき位置に検出部が設けられているので、筐体脚が変形したもの、曲折したもの、または、筐体脚が短くなったもの等を確実に選別することができる。
【００３２】
また、本発明に係る外観検査装置によれば、検出部がマイクロスイッチにより構成されているので、リード端子または筐体脚の長さにばらつきがあっても、電子部品のリード端子または筐体脚の外観検査を行うことができる。
【００３３】
また、本発明に係る外観検査装置によれば、検出部が板バネ式スイッチにより構成されているので、簡単な構成により検出部を形成することができる。この結果、外観検査装置の製造費を削減できる。
【００３４】
また、本発明に係る外観検査装置によれば、リード端子と板バネ電極の先端の間に絶縁性スペーサを介在させているので、微小な電流が流れた場合でも破壊する虞がある電子デバイスでも外観検査することができる。また、リード端子が短い電子デバイスでも、外観検査をすることができる。
【００３５】
また、本発明に係る外観検査装置によれば、反射センサにより非接触でリード端子または筐体脚の先端の検出が行われるので、外観検査によってリード端子や筐体脚を変形させることがない。
【００３６】
また、本発明に係る外観検査装置によれば、各種類の電子部品のリード端子または筐体脚の形態に合わせてユニットを基台に対して取り替えることができるので、種々の電子部品の外観検査を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３７】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【００３８】
＜実施の形態１＞
図１は、本発明の実施の形態１に係る外観検査装置により電子部品を検査する前の状態を示した概略斜視図である。
【００３９】
本実施の形態に係る外観検査装置１は、電子部品７０のリード端子７１を挿入するためのリード端子穴１１および筐体脚７６を挿入するための筐体脚穴１６が形成された基台２と、リード端子７１や筐体脚７６の先端７１ａ、７６ａを検出するための検出部２１とから主要部が構成されている。なお、外観検査装置１は、電子部品７０の良品／不良品を判定する判定装置３を備えるのが好ましい。
【００４０】
基台２には、検査対象となる電子部品７０のリード端子７１および筐体脚７６に対応するようにリード端子穴１１および筐体脚穴１６が形成されている。リード端子穴１１は、リード端子７１を挿入するための貫通穴であり、各リード端子穴１１の間隔は電子部品７０におけるリード端子７１の間隔と同一になっている。また、リード端子穴１１の寸法は、リード端子７１の断面寸法より大きくなっており、また、リード端子７１が変形していても許容範囲内（寸法誤差範囲内）であればリード端子７１が挿入されるような大きさになっている。
【００４１】
筐体脚穴１６は、筐体脚７６を挿入するための貫通穴であり、各筐体脚穴１６の間隔は電子部品７０における筐体脚７６の間隔と同一になっている。また、筐体脚穴１６の寸法は、筐体脚７６の断面寸法より大きくなっており、筐体脚７６が変形していても許容範囲内（寸法誤差範囲内）であれば筐体脚７６が挿入されるような大きさになっている。
【００４２】
検出部２１は、電子部品７０のリード端子７１および筐体脚７６の数のマイクロスイッチ２２により構成されている。リード端子７１を検査するマイクロスイッチ２２は、リード端子穴１１に挿入されたリード端子７１の先端７１ａが到達すべき位置に配置されている。また、筐体脚７６を検査するマイクロスイッチ２２は、筐体脚穴１６に挿入された筐体脚７６の先端７６ａが到達すべき位置に配置されている。
【００４３】
すなわち、リード端子７１および筐体脚７６を対応するリード端子穴１１および筐体脚穴１６に挿入して電子部品７０を所定の位置にまで押し込んだときに、マイクロスイッチ２２の可動部２２ｂが移動してマイクロスイッチ２２がオンするようになっている。マイクロスイッチ２２がオンしたときには規定値の電圧／電流を出力され、導線部２６を介して出力信号が判定装置３に伝達されるようになっている。
【００４４】
判定装置３は、リード端子７１および筐体脚７６の変形の有無を判定するものであり、検出部２１からの出力信号により判定する判定回路部（不図示）と、判定結果を報知する報知部４とから構成されている。判定回路部は、検出部２１の各マイクロスイッチ２２からの出力を総合して、全てのマイクロスイッチ２２がオンしているか否かを判定するものである。すなわち、全てのマイクロスイッチ２２がオンしたときはＯＫの判定を出力し、１つでもマイクロスイッチ２２がオンしていないときには、ＮＧの判定を出力するように構成されている。
【００４５】
報知部４は、判定回路部からの出力により判定結果を報知するものであり、ＮＧ判定の場合はランプを点灯させる。なお、ＮＧ判定の場合に報知音を出力するようにしてもよい。また、ＯＫ判定の時にランプを点灯させたり、報知音を出力させたりするようにしてもよい。
【００４６】
図２は、本発明の実施の形態１に係る外観検査装置の検出部の一部を拡大して示した概略拡大図である。
【００４７】
マイクロスイッチ２２は、本体部２２ａと係止部２２ｃと可動部２２ｂと導線部２６とから構成されている。本体部２２ａの内部には接点を構成する２つの電極（不図示）が設けられている。係止部２２ｃは、本体部２２ａを基台２に係合するためのものである。可動部２２ｂは、マイクロスイッチ２２の頂部に所定距離（所定範囲）の移動が可能なように設けられている。導線部２６は、各電極に電流を導通させる導線から構成されている。
【００４８】
また、マイクロスイッチ２２は、可動部２２ｂが規定の距離範囲内Ｓで移動したときにオンするようになっている。したがって、可動部２２ｂの頭部２２ｄにリード端子７１の先端７１ａが当接しても、可動部２２ｂが規定の距離範囲内Ｓで移動しない場合はオンしないようになっている。
【００４９】
これによって、リード端子７１または筐体脚７６を挿入したときに可動部２２ｂを規定の距離範囲内Ｓで移動させる電子部品７０を外観良品とし、これ以外のものを外観不良品とすることができる。すなわち、リード端子７１または筐体脚７６の長さにばらつきがあっても、電子部品７０のリード端子７１または筐体脚７６の外観検査を行うことができる。
【００５０】
次に、外観検査が行われたときの外観検査装置１の動作について説明する。まず、電子部品７０のリード端子７１および筐体脚７６を対応するリード端子穴１１および筐体脚穴１６に挿入し、電子部品７０を所定の位置まで押し込む。電子部品７０は、パッケージの底部（リード端子７１の根元の面）や筐体脚７６の台座部分が基台２に当接する位置まで押し込まれる。
【００５１】
このとき、リード端子７１および筐体脚７６の先端７１ａ、７６ａは、マイクロスイッチ２２の可動部２２ｂに当接して移動させ、マイクロスイッチ２２をオンさせる。しかしながら、電子部品７０のリード端子７１や筐体脚７６に変形等の外観不良があるときは、リード端子穴１１や筐体脚穴１６に円滑に挿入することができないので、マイクロスイッチ２２をオンさせない。このとき、判定回路部はＮＧの判定を出力し、報知部４は外観不良品であることを示すランプを点灯させる。
【００５２】
また、リード端子７１の長さに規定寸法より短いものがある場合は、可動部２２ｂはマイクロスイッチ２２がオンする位置まで移動しないので、対応するマイクロスイッチ２２はオンしない。このときも、判定回路部はＮＧの判定を出力し、報知部４は外観不良品であることを示すランプを点灯させる。
【００５３】
図３は、本発明の実施の形態１に係る外観検査装置に外観不良の電子部品を押し込んだときの状態を示した概略斜視図である。短く切断されたリード端子７１は、マイクロスイッチ２２の可動部２２ｂに当接せず、オンさせていない。一方、その他の端子は、マイクロスイッチ２２の可動部２２ｂに当接してオンさせている。このとき、判定回路部はＮＧの判定を出力し、報知部４は外観不良品であることを示すランプを点灯させる。
【００５４】
なお、リード端子７１や筐体脚７６が９０度以上に変形している場合でも、同様に、可動部２２ｂは移動しないので、マイクロスイッチ２２はオンしない。このとき、判定回路部はＮＧの判定を出力し、報知部４は外観不良品であることを示すランプを点灯させる。
【００５５】
すなわち、本実施の形態に係る外観検査装置１によれば、所定の形状を保持したリード端子７１を対応するリード端子穴１１に円滑に挿入することができる一方、変形したリード端子７１を対応するリード端子穴１１に円滑に挿入することができないことから、所定の形状を保持したリード端子７１を有する電子部品７０のみを所定の位置まで押し込むことができる。これにより、リード端子７１が変形した電子部品７０を容易に選別することができる。
【００５６】
また、電子部品７０を所定の位置まで押し込むことができたものの中には、リード端子７１が端子根元で９０度に曲折していたり、リード端子７１の長さが短くなっていたりする外観不良が含まれているが、このようなものも、マイクロスイッチ２２によりリード端子７１の先端７１ａが検出されないことから、外観不良として選別することができる。
【００５７】
＜実施の形態２＞
図４は、本発明の実施の形態２に係る外観検査装置により電子部品を検査する前の状態を示した概略斜視図である。
【００５８】
本実施の形態に係る外観検査装置１は、電子部品７０のリード端子７１を挿入するためのリード端子穴１１および筐体脚７６を挿入するための筐体脚穴１６が形成された基台２と、リード端子７１や筐体脚７６の先端７１ａ、７６ａを検出するための検出部２１とから主要部が構成されている。なお、外観検査装置１は、電子部品７０の良品／不良品を判定する判定装置３を備えるのが好ましい。なお、本実施の形態に係る外観検査装置１は、検出部２１以外の構成要素は、実施の形態１と同様であるので説明を省略する。
【００５９】
検出部２１は、電子部品７０のリード端子７１および筐体脚７６の数の板バネ式スイッチ２３により構成されている。リード端子７１を検査する板バネ式スイッチ２３は、リード端子穴１１に挿入されたリード端子７１の先端７１ａが到達すべき位置に配置されている。また、筐体脚７６を検査する板バネ式スイッチ２３は、筐体脚穴１６に挿入された筐体脚７６の先端７６ａが到達すべき位置に配置されている。
【００６０】
すなわち、リード端子７１および筐体脚７６を対応するリード端子穴１１および筐体脚穴１６に挿入して電子部品７０を所定の位置にまで押し込んだときに、板バネ電極２３ｂの先端２３ｄが移動して板バネ式スイッチ２３がオンするようになっている。板バネ式スイッチ２３がオンしたときには規定値の電圧／電流を出力され、導線部２６を介して出力信号が判定装置３に伝達されるようになっている。
【００６１】
図５は、本発明の実施の形態２に係る外観検査装置の検出部の一部を拡大して示した概略拡大図である。
【００６２】
板バネ式スイッチ２３は、固定接点２３ｔを有する固定電極２３ａと、可動接点２３ｓを有する板バネ電極２３ｂと、導線部２６とから構成されている。固定電極２３ａは、短冊状の導電性金属板により構成されている。板バネ電極２３ｂは、屈曲した短冊状の導電性金属板により構成され、先端２３ｄの内側面２３ｅには凸状の可動接点２３ｓが設けられている。板バネ電極２３ｂは、可動接点２３ｓが固定接点２３ｔに対向するようにして配置され、先端に力を加えたときに可動接点２３ｓが固定接点２３ｔに当接するように基台２に固定されている。導線部２６は、固定電極２３ａと板バネ電極２３ｂに電流を導通させる２本の導線から構成されている。
【００６３】
また、板バネ式スイッチ２３は、板バネ電極２３ｂの先端２３ｄが規定の距離以上移動したときにオンするようになっている。したがって、板バネ電極２３ｂの先端２３ｄにリード端子７１の先端７１ａが当接しても、板バネ電極２３ｂの先端２３ｄが規定の距離以上移動しない場合はオンしないようになっている。また、板バネ電極２３ｂの先端２３ｄが固定電極２３ａに当接しても、板バネ電極２３ｂの先端２３ｄはさらに移動するようになっている。具体的には、板バネ電極２３ｂの先端２３ｄは、固定電極２３ａに当接した後でも若干撓むように構成されている。
【００６４】
これによって、リード端子７１または筐体脚７６を挿入したときに板バネ電極２３ｂの先端２３ｄを規定の距離以上移動させる電子部品７０を外観良品とし、これ以外のものを外観不良品とすることができる。すなわち、リード端子７１または筐体脚７６の長さにばらつきがあっても、電子部品７０のリード端子７１または筐体脚７６の外観検査を行うことができる。
【００６５】
次に、電子部品７０のリード端子７１を板バネ電極２３ｂの先端２３ｄに直接当接させないでリード端子７１の外観検査を行う外観検査装置１の構成について説明する。
【００６６】
図６は、本発明の実施の形態２に係る外観検査装置において、リード端子と板バネ電極の間に絶縁性スペーサを設けた構成とした検出部の一部を拡大して示した概略拡大図である。絶縁性スペーサ２８は、リード端子穴１１に摺動可能に設けられ、一方の先端が挿入されるリード端子７１の先端７１ａに当接し、他端が板バネ電極２３ｂの先端２３ｄに当接するように配置されている。また、絶縁性スペーサ２８の長さは、リード端子７１を到達すべき位置にまで挿入したときに、絶縁性スペーサ２８の先端２８ａが板バネ電極２３ｂの先端２３ｄに当接して板バネ式スイッチ２３がオンするように調整されている。
【００６７】
絶縁性スペーサ２８は、リード端子７１と板バネ電極２３ｂとを絶縁させる機能を有している。リード端子７１と板バネ電極２３ｂの先端２３ｄの間に絶縁性スペーサ２８を介在させることにより、リード端子７１に電流が流れることがなくなるので、微小な電流が流れた場合でも破壊する虞がある電子デバイスでも外観検査することができる。
【００６８】
なお、絶縁性スペーサ２８は、板バネ電極２３ｂの先端２３ｄの外側面２３ｆに接着させて設けてもよい。これによっても、リード端子７１の先端７１ａが導電性のある板バネ式スイッチ２３に直接当接させないようにすることができる。
【００６９】
また、絶縁性スペーサ２８をリード端子７１の長さを補うための補償部材として機能させてもよい。すなわち、リード端子穴１１に絶縁性スペーサ２８を摺動可能に設けることにより、リード端子穴１１の長さよりも短いリード端子７１を有する電子部品７０であっても、外観検査することができるようになる。
【００７０】
次に、外観検査が行われたときの外観検査装置１の動作について説明する。まず、電子部品７０のリード端子７１および筐体脚７６を対応するリード端子穴１１および筐体脚穴１６に挿入し、電子部品７０を所定の位置まで押し込む。電子部品７０は、パッケージの底部（リード端子７１の根元の面）や筐体脚７６の台座部分が基台２に当接する位置まで押し込まれる。
【００７１】
このとき、リード端子７１および筐体脚７６の先端７１ａ、７６ａ（または絶縁性スペーサ２８の先端２８ａ）は、板バネ式スイッチ２３の板バネ電極２３ｂの先端２３ｄに当接して規定の距離を移動させ、板バネ式スイッチ２３をオンさせる。しかしながら、電子部品７０のリード端子７１や筐体脚７６に変形等の外観不良があるときは、リード端子穴１１や筐体脚穴１６に円滑に挿入することができないので、板バネ式スイッチ２３をオンさせない。このとき、判定回路部はＮＧの判定を出力し、報知部４は外観不良品であることを示すランプを点灯させる。
【００７２】
また、リード端子７１の長さに規定寸法より短いものがある場合は、板バネ電極２３ｂの先端２３ｄは板バネ式スイッチ２３がオンする位置まで移動しないので、対応する板バネ式スイッチ２３はオンしない。このときも、判定回路部はＮＧの判定を出力し、報知部４は外観不良品であることを示すランプを点灯させる。
【００７３】
なお、リード端子７１や筐体脚７６が９０度以上に変形している場合でも、同様に、板バネ電極２３ｂの先端２３ｄは移動しないので、板バネ式スイッチ２３はオンしない。このとき、判定回路部はＮＧの判定を出力し、報知部４は外観不良品であることを示すランプを点灯させる。
【００７４】
すなわち、本実施の形態に係る外観検査装置１によれば、所定の形状を保持したリード端子７１を対応するリード端子穴１１に円滑に挿入することができる一方、変形したリード端子７１を対応するリード端子穴１１に円滑に挿入することができないことから、所定の形状を保持したリード端子７１を有する電子部品７０のみを所定の位置まで押し込むことができる。これにより、リード端子７１が変形した電子部品７０を容易に選別することができる。
【００７５】
また、電子部品７０を所定の位置まで押し込むことができたものの中には、リード端子７１が端子根元で９０度に曲折していたり、リード端子７１の長さが短くなっていたりする外観不良が含まれているが、このようなものも、板バネ式スイッチ２３によりリード端子７１の先端７１ａが検出されないことから、外観不良として選別することができる。
【００７６】
＜実施の形態３＞
図７は、本発明の実施の形態３に係る外観検査装置により電子部品を検査する前の状態を示した概略斜視図である。
【００７７】
本実施の形態に係る外観検査装置１は、電子部品７０のリード端子７１を挿入するためのリード端子穴１１および筐体脚７６を挿入するための筐体脚穴１６が形成された基台２と、リード端子７１や筐体脚７６の先端７１ａ、７６ａを検出するための検出部２１とから主要部が構成されている。なお、外観検査装置１は、電子部品７０の良品／不良品を判定する判定装置３を備えるのが好ましい。なお、本実施の形態に係る外観検査装置１は、検出部２１以外の構成要素は、実施の形態１と同様であるので説明を省略する。
【００７８】
検出部２１は、電子部品７０のリード端子７１および筐体脚７６の数の反射センサ２４により構成されている。リード端子７１を検査する反射センサ２４は、リード端子穴１１に挿入されたリード端子７１の先端７１ａが到達すべき位置に配置されている。また、筐体脚７６を検査する反射センサ２４は、筐体脚穴１６に挿入された筐体脚７６の先端７６ａが到達すべき位置に配置されている。
【００７９】
すなわち、リード端子７１および筐体脚７６を対応するリード端子穴１１および筐体脚穴１６に挿入して電子部品７０を所定の位置にまで押し込んだときに、リード端子７１の先端７１ａおよび筐体脚７６の先端７６ａは、対応する反射センサ２４の検出エリアに進入して反射センサ２４により検出されるようになっている。リード端子７１の先端７１ａおよび筐体脚７６の先端７６ａが反射センサ２４により検出されたとき、規定値の電圧／電流を出力され、導線部２６を介して出力信号が判定装置３に伝達されるようになっている。
【００８０】
検出エリアとは、反射センサ２４が被検出物を検出できる範囲であり、反射センサ２４の発光部の指向角度や受光部の受光角度により定められるものである。検出エリアは、反射センサ２４の種類によりその範囲が異なるため、被検出物となるリード端子７１または筐体脚７６の太さにより最適な反射センサ２４が選択される。また、反射センサ２４の前面にスリットを設けて検出エリアの範囲を調整するようにしてもよい。
【００８１】
図８は、本発明の実施の形態３に係る外観検査装置の検出部の一部を拡大して示した概略拡大図である。
【００８２】
反射センサ２４は、発光部と受光部とを備えるセンサ本体２４ａと、発光部および受光部の前面に設けられたレンズ部２４ｂと、導線部２６とから構成されている。センサ本体２４ａは、被検出物（リード端子７１や筐体脚７６）からの反射光を受光部により検出するものである。レンズ部２４ｂは発光部からの光を集束させ、また、被検出物からの反射光を集束させるものであり、光の効率的な利用を図るためのものである。導線部２６は、反射センサ２４を駆動させるための電力供給用の導線と出力信号を出力するための導線とから構成されている。
【００８３】
また、反射センサ２４は、規定範囲の光量を受光したときに被検出物を検出したものとして検出信号を出力するようになっている（検出状態になる）。したがって、検出エリアに所定の位置にまでリード端子７１が進入しないとき、また、進入しすぎたときは、受光量が規定範囲以下または規定範囲以上になるので、反射センサ２４は検出信号を出力しない。
【００８４】
これによって、リード端子７１または筐体脚７６を挿入したときに反射センサ２４の受光量が規定範囲になる電子部品７０を外観良品とし、これ以外のものを外観不良品とすることができる。すなわち、リード端子７１または筐体脚７６の長さにばらつきがあっても、電子部品７０のリード端子７１または筐体脚７６の外観検査を行うことができる。
【００８５】
また、非接触によりリード端子７１または筐体脚７６の先端７６ａの検出が行われるので、リード端子７１または筐体脚７６に力が加わることがなく、外観検査によってリード端子７１または筐体脚７６を変形させることがない。
【００８６】
次に、外観検査が行われたときの外観検査装置１の動作について説明する。まず、電子部品７０のリード端子７１および筐体脚７６を対応するリード端子穴１１および筐体脚穴１６に挿入し、電子部品７０を所定の位置まで押し込む。電子部品７０は、パッケージの底部（リード端子７１の根元の面）や筐体脚７６の台座部分が基台２に当接する位置まで押し込まれる。
【００８７】
このとき、リード端子７１および筐体脚７６の先端７１ａ、７６ａは、反射センサ２４の検出エリアに進入して光を反射させることになるので、反射センサ２４は検出状態になる。しかしながら、電子部品７０のリード端子７１や筐体脚７６に変形等の外観不良があるときは、リード端子穴１１や筐体脚穴１６に円滑に挿入することができないので、光が反射されないので反射センサ２４は検出状態にならない。このとき、判定回路部はＮＧの判定を出力し、報知部４は外観不良品であることを示すランプを点灯させる。
【００８８】
また、リード端子７１の長さに規定寸法より短いものがある場合は、光が殆ど反射されないことから、反射センサは規定範囲の光量を受光しないので検出状態にならない。このとき、判定回路部はＮＧの判定を出力し、報知部４は外観不良品であることを示すランプを点灯させる。
【００８９】
なお、リード端子７１や筐体脚７６が９０度以上に変形している場合でも、同様に、光が反射されないことから、反射センサは規定範囲の光量を受光しないので反射センサ２４は検出状態にならない。このとき、判定回路部はＮＧの判定を出力し、報知部４は外観不良品であることを示すランプを点灯させる。
【００９０】
すなわち、本実施の形態に係る外観検査装置１によれば、所定の形状を保持したリード端子７１を対応するリード端子穴１１に円滑に挿入することができる一方、変形したリード端子７１を対応するリード端子穴１１に円滑に挿入することができないことから、所定の形状を保持したリード端子７１を有する電子部品７０のみを所定の位置まで押し込むことができる。これにより、リード端子７１が変形した電子部品７０を容易に選別することができる。
【００９１】
また、電子部品７０を所定の位置まで押し込むことができたものの中には、リード端子７１が端子根元で９０度に曲折していたり、リード端子７１長さが短くなっていたりする外観不良が含まれているが、このようなものも、反射センサ２４によりリード端子７１の先端７１ａが検出されないことから、外観不良として選別することができる。
【００９２】
＜実施の形態４＞
図９は、本発明の実施の形態４に係る外観検査装置において、リード端子検査ユニットが取り替え可能である状況を説明した説明図であり、（Ａ）は取り替え前の状態であり、（Ｂ）は取り外した状態であり、（Ｃ）は他の形態のリード端子検査ユニットを取り付けた状態を示している。
【００９３】
本実施の形態に係る外観検査装置１は、電子部品７０のリード端子７１を挿入するためのリード端子穴１１および筐体脚７６を挿入するための筐体脚穴１６が形成された基台２と、リード端子７１や筐体脚７６の先端７１ａ、７６ａを検出するための検出部２１とから主要部が構成されている。なお、本実施の形態に係る外観検査装置１は、リード端子穴１１が形成されている部分およびリード端子７１を検出する検出部２１ａが取り替え可能になっている点で他の実施の形態と異なっている。したがって、この点について説明し、構成要素は他の実施の形態と同様であるので構成要素については説明を省略する。
【００９４】
なお、同図では、外観検査装置１は、リード端子穴１１とリード端子７１を検出する検出部２１ａのみが取り替え可能になっているが、リード端子穴１１とリード端子７１を検出する検出部２１ａ並びに筐体脚穴１６と筐体脚７６を検出する検出部２１ｂとを含めた部分を取り替え可能として構成してもよい。
【００９５】
本実施の形態に係る外観検査装置１は、基台２においてリード端子穴１１が形成されている部分とリード端子７１を検出する検出部２１ａとが一体化され、リード端子検査ユニット８として設けられている。リード端子検査ユニット８は、外観検査装置１の本体から取り外し可能になっている。
【００９６】
すなわち、同図（Ａ）に示すように、リード端子検査ユニット８は、取り外し可能な状態に固定されている。また、同図（Ｂ）に示すように、リード端子検査ユニット８は、リード端子穴１１が形成されている部分とリード端子７１を検出する検出部２１ａとが一体化して取り外される。すなわち、リード端子検査ユニット８は、互いの距離が変動しないように結合部材８ａにより、リード端子穴１１が形成されている部分とリード端子７１を検出する検出部２１ａとが結合されている。そして、同図（Ｃ）に示すように、外観検査装置１には、他の形態のリード端子検査ユニット８が取り付けられる。
【００９７】
これにより、電子部品７０のリード端子７１または筐体脚７６の形態に合わせて、リード端子穴１１または前記筐体脚穴１６とが形成された部分と検出部２１ａとが一体化したリード端子検査ユニット８を基台２に対して取り替えることができるので、種々の電子部品７０の外観検査を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００９８】
【図１】本発明の実施の形態１に係る外観検査装置により電子部品を検査する前の状態を示した概略斜視図である。
【図２】本発明の実施の形態１に係る外観検査装置の検出部の一部を拡大して示した概略拡大図である。
【図３】本発明の実施の形態１に係る外観検査装置に外観不良の電子部品を押し込んだときの状態を示した概略斜視図である。
【図４】本発明の実施の形態２に係る外観検査装置により電子部品を検査する前の状態を示した概略斜視図である。
【図５】本発明の実施の形態２に係る外観検査装置の検出部の一部を拡大して示した概略拡大図である。
【図６】本発明の実施の形態２に係る外観検査装置において、リード端子と板バネ電極の間に絶縁性スペーサを設けた構成とした検出部の一部を拡大して示した概略拡大図である。
【図７】本発明の実施の形態３に係る外観検査装置により電子部品を検査する前の状態を示した概略斜視図である。
【図８】本発明の実施の形態３に係る外観検査装置の検出部の一部を拡大して示した概略拡大図である。
【図９】本発明の実施の形態４に係る外観検査装置において、リード端子検査ユニットが取り替え可能である状況を説明した説明図であり、（Ａ）は取り替え前の状態であり、（Ｂ）は取り外した状態であり、（Ｃ）は他の形態のリード端子検査ユニットを取り付けた状態を示している。
【図１０】従来例２の外観検査装置において、電子部品を外観検査装置により検査している状態を示した概略斜視図である。
【図１１】従来例２の外観検査装置において、リード端子が９０度折れ曲っている電子部品を外観検査装置により検査している状態を示す概略斜視図である。
【図１２】従来例２において、リード端子が短く切断された電子部品を外観検査装置により検査している状態を示す概略斜視図である。
【符号の説明】
【００９９】
１ 外観検査装置
２ 基台
３ 判定装置
４ 報知部
８ リード端子検査ユニット
１１ リード端子穴
１６ 筐体脚穴
２１ 検出部
２２ マイクロスイッチ
２２ｂ 可動部
Ｓ 規定の距離範囲内
２３ 板バネ式スイッチ
２３ｂ 板バネ電極
２３ｄ 板バネ電極の先端
２４ 反射センサ
２６ 導線部
２８ 絶縁性スペーサ
２８ａ 絶縁性スペーサの先端
７０ 電子部品
７１ リード端子
７１ａ リード端子の先端
７６ 筐体脚
７６ａ 筐体脚の先端
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子部品のリード端子に対応する位置にリード端子穴が形成された基台を備え、
前記リード端子穴に前記リード端子を挿入して前記電子部品の外観検査を行う外観検査装置において、
挿入された前記リード端子の先端が到達すべき位置に該先端を検出する検出部を設けたことを特徴とする外観検査装置。
【請求項２】
電子部品の筐体脚に対応する位置に筐体脚穴が形成された基台を備え、
前記筐体脚穴に前記筐体脚を挿入して前記電子部品の外観検査を行う外観検査装置において、
挿入された前記筐体脚の先端が到達すべき位置に該先端を検出する検出部を設けたことを特徴とする外観検査装置。
【請求項３】
前記検出部は、可動部が規定の距離範囲内で移動することにより接点がオンするマイクロスイッチにより構成され、
前記可動部は、前記リード端子の先端または前記筐体脚の先端が到達すべき位置に挿入されたときに前記接点がオンするように配置されていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の外観検査装置。
【請求項４】
前記検出部は、板バネ電極の先端が移動することにより接点がオンする板バネ式スイッチにより構成され、
前記板バネ電極の先端は、前記リード端子の先端または前記筐体脚の先端が到達すべき位置に挿入されたときに前記接点がオンするように配置されていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の外観検査装置。
【請求項５】
前記検出部は、板バネ電極の先端が移動することにより接点がオンする板バネ式スイッチ、および、挿入された前記リード端子の先端または前記筐体脚の先端と前記板バネ電極の先端との間に設けられた絶縁性スペーサから構成され、
前記絶縁性スペーサは、前記リード端子の先端または前記筐体脚の先端が到達すべき位置に挿入されたときに前記接点がオンするように配置されていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の外観検査装置。
【請求項６】
前記検出部は、検出エリアに進入した被検出物を検出する反射センサにより構成され、
前記検出エリアは、前記リード端子の先端または前記筐体脚の先端が到達すべき位置に挿入されたときに前記反射センサにより検出されるように配置されていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の外観検査装置。
【請求項７】
前記リード端子穴または前記筐体脚穴が形成された部分と前記検出部とは、一体化したユニットとして基台に対して取り替え可能になっていることを特徴とする請求項１乃至請求項６のいずれか一つに記載の外観検査装置。
【請求項１】
電子部品のリード端子に対応する位置にリード端子穴が形成された基台を備え、
前記リード端子穴に前記リード端子を挿入して前記電子部品の外観検査を行う外観検査装置において、
挿入された前記リード端子の先端が到達すべき位置に該先端を検出する検出部を設けたことを特徴とする外観検査装置。
【請求項２】
電子部品の筐体脚に対応する位置に筐体脚穴が形成された基台を備え、
前記筐体脚穴に前記筐体脚を挿入して前記電子部品の外観検査を行う外観検査装置において、
挿入された前記筐体脚の先端が到達すべき位置に該先端を検出する検出部を設けたことを特徴とする外観検査装置。
【請求項３】
前記検出部は、可動部が規定の距離範囲内で移動することにより接点がオンするマイクロスイッチにより構成され、
前記可動部は、前記リード端子の先端または前記筐体脚の先端が到達すべき位置に挿入されたときに前記接点がオンするように配置されていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の外観検査装置。
【請求項４】
前記検出部は、板バネ電極の先端が移動することにより接点がオンする板バネ式スイッチにより構成され、
前記板バネ電極の先端は、前記リード端子の先端または前記筐体脚の先端が到達すべき位置に挿入されたときに前記接点がオンするように配置されていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の外観検査装置。
【請求項５】
前記検出部は、板バネ電極の先端が移動することにより接点がオンする板バネ式スイッチ、および、挿入された前記リード端子の先端または前記筐体脚の先端と前記板バネ電極の先端との間に設けられた絶縁性スペーサから構成され、
前記絶縁性スペーサは、前記リード端子の先端または前記筐体脚の先端が到達すべき位置に挿入されたときに前記接点がオンするように配置されていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の外観検査装置。
【請求項６】
前記検出部は、検出エリアに進入した被検出物を検出する反射センサにより構成され、
前記検出エリアは、前記リード端子の先端または前記筐体脚の先端が到達すべき位置に挿入されたときに前記反射センサにより検出されるように配置されていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の外観検査装置。
【請求項７】
前記リード端子穴または前記筐体脚穴が形成された部分と前記検出部とは、一体化したユニットとして基台に対して取り替え可能になっていることを特徴とする請求項１乃至請求項６のいずれか一つに記載の外観検査装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【公開番号】特開２００７−１４１９６５（Ｐ２００７−１４１９６５Ａ）
【公開日】平成１９年６月７日（２００７．６．７）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００５−３３０６５８（Ｐ２００５−３３０６５８）
【出願日】平成１７年１１月１５日（２００５．１１．１５）
【出願人】（０００００５０４９）シャープ株式会社 (33,933)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１９年６月７日（２００７．６．７）
【国際特許分類】
【出願日】平成１７年１１月１５日（２００５．１１．１５）
【出願人】（０００００５０４９）シャープ株式会社 (33,933)
【Ｆターム（参考）】
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