画像データ処理方法
【課題】光変調素子の画素値強度ムラ補正値を生成する。
【解決手段】光変調素子に存在する画素値強度ムラを補正するための画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理装置であって、前記光変調素子に存在する画素値強度ムラ領域を取得する画素値強度ムラ領域取得部１０１と、前記画素値強度ムラ領域を横切る複数の直線を設定する直線群設定部（平行直線群設定部）１０２と、前記複数の直線の各直線上において前記画素値強度ムラ補正値の分布を設定する画素値強度ムラ補正値分布設定部１０３とを有する。
【解決手段】光変調素子に存在する画素値強度ムラを補正するための画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理装置であって、前記光変調素子に存在する画素値強度ムラ領域を取得する画素値強度ムラ領域取得部１０１と、前記画素値強度ムラ領域を横切る複数の直線を設定する直線群設定部（平行直線群設定部）１０２と、前記複数の直線の各直線上において前記画素値強度ムラ補正値の分布を設定する画素値強度ムラ補正値分布設定部１０３とを有する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光変調素子を構成する各画素の画素値強度ムラを補正するための画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理方法、画像データ処理装置及び画像データ処理プログラム並びに画像データを補正する画像データ補正方法及び画像データ補正装置並びに光変調素子と画像データ補正装置とを有する画像表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
画像表示装置に用いられる光変調素子（例えば液晶ライトバルブとする）では、画素の特性のバラツキに起因する画素値強度ムラが存在し、この画素値強度ムラによって表示画面に明るさムラ、輝度ムラ、色ムラなど各種の表示ムラが発生する。
【０００３】
このような画素値強度ムラを低減するために、例えば、液晶ライトバルブの区分領域ごとに設定される画素値強度ムラ補正値に応じて液晶ライトバルブを駆動する手法が実施されている。
【０００４】
この画素値強度ムラ補正値については、画素値強度ムラをきめ細かく補正しようとすれば、画素値強度ムラ補正値の設定される区分領域を多数設定する必要がある。しかしながら、画素値強度ムラ補正値のデータ量が増大するため、液晶プロジェクタのメモリ量の増大、画素値強度ムラ補正値を参照して行う画素値強度ムラ補正処理の処理量の増大といった課題が生じる。これらの課題を解決するために、画素値強度ムラ補正値をデータ量の抑制を図りながら適切に設定する手法が様々に提案されている（例えば、特許文献１〜３参照）。
【０００５】
特許文献１に開示された技術（第１従来技術という）は、入力映像信号の階調補正を行うためのルックアップテーブルと、階調ごとの画面上の不均一性を補正するためのルックアップテーブルとを設け、これらルックアップテーブルからの画素値強度ムラ補正値を合成する回路を設けて、画素値強度ムラ補正値を生成する。
【０００６】
特許文献２に開示された技術（第２従来技術という）には、医療用画像データにおいて、関心領域（画像データの注目する領域）の中心の輝度値を任意の値に設定し、関心領域外部と関心領域内部とで輝度値が連続的に変化するように関心領域内の輝度値を制御する手段を設ける。
【０００７】
特許文献３に開示された技術（第３従来技術という）は、局所的な画素値強度ムラを補正するための補正パラメータから表示パネルの画素ごとの補正係数（補正値をどの程度反映するかを調整する重み）を生成する。そして、入力信号に基づいて表示パネルの画素ごとの補正値（入力信号に対する階調を上下させる度合い）に補正係数を乗じた値を入力信号に加える。
【０００８】
【特許文献１】特開２０００−２８４７７３号公報
【特許文献２】特開２０００−３３８９４２号公報
【特許文献３】特開２００６−３０３６２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
上述した第１従来技術から第３従来技術は、いずれにおいても、個々の画素値強度ムラ（関心領域）の補正値を合成して全体の補正値を生成するということを特徴の１つとして
いるが、個々の画素値強度ムラ（関心領域）の補正値がどの程度の範囲に対して影響を及ぼすのかが不明瞭であるため、個々の画素値強度ムラ（関心領域）に対して適切な補正値を生成できない場合がある。
【００１０】
本発明は、光変調素子に存在する画素値強度ムラを補正するための画素値強度ムラ補正値を画素値強度ムラの位置に応じて適切かつ詳細に取得可能とする画像データ処理方法、画像データ処理装置及び画像データ処理プログラムを提供することを目的とするとともに、適切な画素値強度ムラ補正を行うことにより高品質な画像データを出力可能な画像データ補正方法及び画像データ補正装置を提供することを目的とする。また、光変調素子に画素値強度ムラが存在しても高品質な画像表示を可能とする画像表示装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
（１）本発明の画像データ処理方法は、光変調素子に存在する画素値強度ムラを補正するための画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理方法であって、前記光変調素子に存在する画素値強度ムラ領域を取得するステップと、前記画素値強度ムラ領域を横切る複数の直線を設定するステップと、前記複数の直線の各直線上において前記画素値強度ムラ補正値の分布を設定するステップとを有することを特徴とする。
【００１２】
本発明の画像データ処理方法によれば、画素値強度ムラ領域を横切る複数の直線の各直線上で画素値強度ムラ補正値分布を設定することにより、画素値強度ムラ領域における画素値強度ムラ補正値を少ないデータ量で適切に設定することができる。
【００１３】
（２）前記（１）に記載の画像データ処理方法においては、前記画素値強度ムラ補正値の分布は、多項式で与えられることが好ましい。
【００１４】
このように、各直線上における画素値強度ムラ補正値分布は、多項式で表すことが可能であり、画素値強度ムラ補正値分布を多項式で表す方法は、画素値強度ムラが滑らかに発生している場合においては特に有効である。また、画素値強度ムラ補正値分布を多項式で表す方法は、画素値強度ムラ補正値をより少ないデータ量で保持することができる利点もある。
【００１５】
（３）前記（１）に記載の画像データ処理方法においては、前記画素値強度ムラ補正値の分布は、前記各直線上において設定した複数の線上点での離散値として与えられ、前記線上点間の前記画素値強度ムラ補正値は補間によって求めることもまた好ましい。
【００１６】
このように、各直線上における画素値強度ムラ補正値分布は、離散値で表すことも可能であり、画素値強度ムラ補正値分布を離散値で表す方法は、画素値強度ムラの変化に急峻な部分がある場合にも対応しやすいという利点がある。なお、線上点の間隔は等間隔でなくてもよいが、演算量などの点から等間隔である方が好ましい。
【００１７】
（４）前記（１）〜（３）のいずれかに記載の画像データ処理方法においては、前記画素値強度ムラ領域の形状及び／又は大きさに応じて、前記複数の直線の本数、前記複数の直線の各直線間の間隔、前記複数の直線の各直線の長さ、前記複数の直線の方向を設定することが好ましい。
【００１８】
これにより、画素値強度ムラ領域の形状や大きさなどに応じて適切な直線を設定することができ、設定された直線上で画素値強度ムラ領域の形状や大きさに応じた適切な画素値強度ムラ補正値分布を設定することができる。
【００１９】
（５）前記（１）〜（４）のいずれかに記載の画像データ処理方法においては、前記複数の直線は、各直線が平行であることが好ましい。
【００２０】
このように、複数の直線の各直線を平行とすることにより、画素値強度ムラ補正値分布を算出するための演算を容易とすることができ、演算量及びデータ量も少なくすることができる。また、算出された画素値強度ムラ補正値を用いて、その後に行われる画素値強度ムラ補正値の算出も少ない演算量で行うことができる。
【００２１】
（６）前記（１）〜（４）のいずれかに記載の画像データ処理方法においては、前記各直線上における前記画素値強度ムラ補正値の分布に基づいて、前記画素値強度ムラ領域の任意の位置に対応する画素値強度ムラ補正値を算出するステップをさらに有することが好ましい。
【００２２】
このような画素値強度ムラ補正値を算出するステップを有することにより、それぞれの画素値強度ムラ領域に対応する画素値強度ムラ補正値を取得することがき、取得した画素値強度ムラ補正値を用いることにより、入力画像データの補正を行うことができる。
【００２３】
（７）前記（６）に記載の画像データ処理方法においては、前記複数の直線に交差する複数の補正値算出用直線を設定し、前記複数の直線と前記複数の補正値算出用との交点において、前記画素値強度ムラ補正値の分布から前記画素値強度ムラ補正値を求めることが好ましい。
【００２４】
これにより、画素値強度ムラ領域の任意の位置に対応する画素値強度ムラ補正値を取得することがきる。なお、交点以外の位置の画素値強度ムラ補正値については、画素値強度ムラ補正値を求めるべき位置の近傍の交点で求められた画素値強度ムラ補正値を用いて補間処理により求めることができる。
【００２５】
（８）前記（６）に記載の画像データ処理方法においては、前記画素値強度ムラ補正値を算出するステップは、前記画素値強度ムラ領域において前記画素値強度ムラ補正値を算出すべき位置から前記複数の直線に交差する補正値算出用直線を設定し、前記複数の直線と前記補正値算出用直線との交点のうち、前記画素値強度ムラ補正値を算出すべき位置から最も近い交点において得られる画素値強度ムラ補正値と２番目に近い交点において得られる画素値強度ムラ補正値との補間計算によって前記画素値強度ムラ補正値を算出すべき位置の画素値強度ムラ補正値を求めることもまた好ましい。
このような方法によっても前記（７）と同様、画素値強度ムラ領域の任意の位置における画素値強度ムラ補正値を取得することがきる。
【００２６】
（９）本発明の画像データ処理装置は、光変調素子に存在する画素値強度ムラを補正するための画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理装置であって、前記光変調素子に存在する画素値強度ムラ領域を取得する画素値強度ムラ領域取得部と、前記画素値強度ムラ領域を横切る複数の直線を設定する直線群設定部と、前記複数の直線の各直線上において前記画素値強度ムラ補正値の分布を設定する画素値強度ムラ補正値分布設定部とを有することを特徴とする。
【００２７】
本発明の画像データ処理装置によれば、前記（１）に記載の画像データ処理方法と同様の効果が得られる。なお、本発明の画像データ処理装置においても、（２）〜（８）に記載の画像データ処理方法の特徴を有することが好ましい。
【００２８】
（１０）本発明の画像データ処理プログラムは、光変調素子に存在する画素値強度ムラを補正するための画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理装置に前記画素値強度
ムラ補正値を生成する処理を実行させる画像データ処理プログラムであって、前記光変調素子に存在する画素値強度ムラ領域を取得するステップと、前記画素値強度ムラ領域を横切る複数の直線を設定するステップと、前記複数の直線の各直線上において前記画素値強度ムラ補正値の分布を設定するステップとを有することを特徴とする。
【００２９】
本発明の画像データ処理プログラムを画像データ処理装置に実行させることにより、前記（１）に記載の画像データ処理方法と同様の効果が得られる。なお、本発明の画像データ処理装置においても、（２）〜（８）に記載の画像データ処理方法の特徴を有することが好ましい。
【００３０】
（１１）本発明の画像データ補正方法は、光変調素子に入力する画像データを補正する画像データ補正方法であって、前記（６）〜（８）のいずれかに記載の画像データ処理方法によって生成された前記画素値強度ムラ補正値を用いて前記画像データを補正することを特徴とする。
【００３１】
このように、本発明の画像データ補正方法が、前記（６）〜（８）のいずれかに記載の画像データ処理方法によって生成された画素値強度ムラ補正値を用いて入力画像データを補正することにより、光変調素子に画素値強度ムラが存在しても画素値強度ムラの抑制された高品質な画像を出力することができる。
【００３２】
（１２）本発明の画像データ補正装置は、光変調素子に入力する画像データを補正する画像データ補正装置であって、前記（６）〜（８）のいずれかに記載の画像データ処理方法によって生成された前記画素値強度ムラ補正値を用いて前記画像データを補正する画素値強度ムラ補正処理部を有することを特徴とする。
本発明の画像データ補正装置によれば、前記（１１）に記載の画像データ補正方法と同様の効果が得られる。
【００３３】
（１３）本発明の画像表示装置は、光変調素子と、前記光変調素子に入力する画像データを補正する画像データ補正装置とを有する画像表示装置であって、前記画像データ補正装置として、前記（１２）に記載の画像データ補正装置を用いることを特徴とする。
【００３４】
例えばプロジェクタなどの画像表示装置の画像データ補正装置として、（１２）に記載の画像データ補正装置を用いることにより、画像表示装置が有する光変調素子に画素値強度ムラが存在しても画素値強度ムラの抑制された高品質な画像を表示させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３５】
以下、本発明の実施形態について説明する。なお、以下に説明する実施形態においては、光変調素子は液晶ライトバルブであるとして説明する。また、液晶ライトバルブの画素の特性のバラツキに起因する画素値強度ムラによって、表示画面には明るさムラ、輝度ムラ、色ムラなど各種のムラが発生する。
【００３６】
[実施形態１]
図１は液晶ライトバルブの全体領域に存在する画素値強度ムラの一例を示す図である。図１において、太線の枠で囲まれた領域は、液晶ライトバルブの全体領域Ｇであり、全体領域Ｇには、図１に示すように、局所的な画素値強度ムラを有する領域（画素値強度ムラ領域という）Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄが存在しているものとする。なお、これら画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄにおいては、当該画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの中央部に向かうほど明るさが小さくなっているものとする。
【００３７】
本発明は、液晶ライトバルブに存在する画素値強度ムラ領域を取得し、取得した画素値強度ムラ領域に対して、画素値強度ムラ領域を横切る複数の直線を設定し、この複数の直線の各直線上で画素値強度ムラ補正値分布を設定する。なお、本発明の実施形態では、複数の直線は隣り合う直線同士はそれぞれが平行であるとし、このような直線の集合を、以下では、平行直線群と呼ぶことにする。また、「画素値強度ムラ領域を横切る」というのは、画素値強度ムラ領域を水平方向（横方向）に横切るだけではなく、垂直方向（縦方向）や斜め方向に横切ることも含むものである。
【００３８】
図２は図１で示した画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに平行直線群を設定した例を示す図である。図２においては、平行直線群は所定本数（例えば５本とする）の平行な直線で構成されている。
【００３９】
すなわち、画素値強度ムラ領域Ａに対しては平行直線群を構成する５本の直線ＬＡ０〜ＬＡ４が設定され、画素値強度ムラ領域Ｂに対しては平行直線群を構成する５本の直線ＬＢ０〜ＬＢ４、画素値強度ムラ領域Ｃに対しては平行直線群を構成する５本の直線ＬＣ０〜ＬＣ４、画素値強度ムラ領域Ｄに対しては平行直線群を構成する５本の直線ＬＤ０〜ＬＤ４が設定されている。なお、図２における一点鎖線で示す矩形は、各画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを取り囲む領域であり、以下では矩形領域と呼ぶことにする。
【００４０】
図３は画素値強度ムラ領域を横切る平行直線群の各直線上で設定される画素値強度ムラ補正値分布を多項式で表す一例を示す図である。図３（ａ）は図２の画素値強度ムラ領域Ａを取り出して示すもので、ここでは、画素値強度ムラ領域Ａを例にとって説明する。
【００４１】
図３（ａ）における各直線ＬＡ０〜ＬＡ４の両端の黒丸は各直線ＬＡ０〜ＬＡ４の始端と終端を示すもので、各直線ＬＡ０〜ＬＡ４の始端位置の座標を（ｘ０ｓ，ｙ０ｓ），（ｘ１ｓ，ｙ１ｓ），・・・で表し、各直線ＬＡ０〜ＬＡ４の終端位置の座標を（ｘ０ｅ，ｙ０ｅ），（ｘ１ｅ，ｙ１ｅ），・・・で表す。
【００４２】
なお、各画素値強度ムラ領域は、中央部に近づくほど画素値強度が小さくなるような画素値強度ムラであるので、各画素値強度ムラ領域に対応する画素値強度ムラ補正値は、中央部に近づくほど画素値強度を大きくするような補正値となる。ここで、画素値強度ムラ領域Ａに設定された平行直線群ＬＡ０〜ＬＡ４の各直線上の画素値強度ムラ補正値ΔＩｉを多項式で表すと、下記（１）式のように表すことができる。
【数１】
【００４３】
図３（ｂ）は各直線ＬＡ０〜ＬＡ４のうちのある直線上における画素値強度ムラ補正値を多項式で表した場合の当該直線上におけるｘ方向の位置と画素値強度ムラ補正値との関係を示す図である。
画素値強度ムラ補正値を多項式で表す方法は、画素値強度ムラが滑らかに発生している
場合においては特に有効である。また、画素値強度ムラ補正値を多項式で表す方法は、画素値強度ムラ補正値を少ないデータ量で保持することができる利点もある。
【００４４】
図４は画素値強度ムラ領域を横切る平行直線群の各直線上で設定される画素値強度ムラ補正値分布を各直線上で離散値として表す例を示す図である。図４（ａ）は図２の画素値強度ムラ領域Ａを取り出して示すもので、これは図３（ａ）と同じものであるが、図４（ａ）においては、各直線ＬＡ０〜ＬＡ４上に複数の線上点（黒丸で示す）が設定されている。
【００４５】
図４（ｂ）は各直線ＬＡ０〜ＬＡ４のうちのある直線上で設定された各線上点（直線ＬＡ０〜ＬＡ４の各始端及び終端を含む）における画素値強度ムラ補正値を示す図である。この場合、各線上点間の画素値強度ムラ補正値は、各線上点に設定される画素値強度ムラ補正値を、例えば、線形補間することで求める。
【００４６】
画素値強度ムラ補正値を図４に示すように離散値として表す方法は、画素値強度ムラの変化に急峻な部分が存在する場合にも対応しやすいという利点がある。なお、線上点の間隔は等間隔でなくてもよいが、演算量などの点から等間隔である方が好ましい。
【００４７】
図５は様々な画素値強度ムラ領域に対する平行直線群の設定例について示す図である。図５（ａ）は円形の画素値強度ムラ領域に横方向に平行直線群を設定した例、図５（ｂ）は縦長の楕円形の画素値強度ムラ領域に横方向に平行直線群を設定した例、図５（ｃ）は楕円形の画素値強度ムラ領域に横方向に平行直線群を設定した例、図５（ｄ）は水平方向に対して所定角度（４５度とする）回転した楕円形の画素値強度ムラ領域に平行直線群を斜め方向に設定した例、図５（ｅ）は水平方向に対して９０度回転した状態の楕円形の画素値強度ムラ領域に平行直線群を縦方向に設定した例を示す図である。なお、図５（ａ）〜（ｅ）の例においては、いずれの場合も、平行直線群を構成する直線の本数は７本とした例が示されている。
【００４８】
図６は形状及び大きさが同じ画素値強度ムラ領域に平行直線群を設定する際に、平行直線群を構成する直線の本数を変化させた例を示す図である。図６は円形の画素値強度ムラ領域の場合であり、図６（ａ）は直線の本数を４本とした例、図６（ｂ）は直線の本数を７本とした例、図６（ｃ）は直線の本数を１３本とした例である。
【００４９】
図５及び図６に示すように、画素値強度ムラ領域の形状、大きさなどによって、直線の長さ、間隔、本数などは、様々に設定可能である。ただし、形状及び大きさが同じ画素値強度ムラ領域において、直線の本数を多くすれば、高精度な画素値強度ムラ補正値を得ることができるが、演算量やデータ量が多くなる。逆に、直線の本数を少なくすれば、演算量やデータ量を少なくできるが、精度の面でやや劣る場合も出てくる。したがって、画素値強度ムラ補正値の精度と演算量、データ量などを考慮して適切な平行直線群を設定することが好ましい。
【００５０】
図７は実施形態１に係る画像データ処理装置の構成を示す図である。本発明の画像データ処理装置は、その構成要素として、画素値強度ムラ領域取得部１０１と、平行直線群設定部１０２と、画素値強度ムラ補正値分布設定部１０３と、画素値ムラ補正値算出部１０４とを有している。
【００５１】
また、実施形態１に係る画像データ処理装置が行うべき処理に必要なデータ及び上述の各構成要素において得られるデータとしては、画素値強度ムラデータＤ１と、画素値強度ムラ領域取得用データＤ２と、画素値強度ムラ領域データＤ３と、平行直線群データＤ４と、画素値強度ムラ補正値分布データＤ５とがある。
【００５２】
画素値強度ムラデータＤ１は、特定の入力階調における液晶ライトバルブの各画素の画素値強度を示すデータである。また、画素値強度ムラ領域取得用データＤ２は、画素値強度ムラ領域を取得する際に参照するデータである。なお、画素値強度ムラ領域取得用データＤ２の具体例については図８により後述する。
【００５３】
画素値強度ムラ領域取得部１０１は、画素値強度ムラデータＤ１、画素値強度ムラ領域取得用データＤ２を用いて、画素値強度ムラ領域の特徴量などを画素値強度ムラ領域データＤ３として取得し、取得した画素値強度ムラ領域データＤ３を記憶部（図示せず）に格納する。なお、画素値強度ムラ領域データＤ３の具体例については図１１により後述する。
【００５４】
平行直線群設定部１０２は、画素値強度ムラデータＤ１と画素値強度ムラ領域データＤ３とを用いて、画素値強度ムラを横切る平行直線群を設定し、設定した平行直線群に関するデータを平行直線群データＤ４として記憶部（図示せず）に格納する。なお、平行直線群データＤ４の具体例については図１４により後述する。
【００５５】
画素値強度ムラ補正値分布設定部１０３は、画素値強度ムラデータＤ１と画素値強度ムラ領域データＤ３と平行直線群データＤ４とを用いて、平行直線群を構成する直線上で画素値強度ムラ補正値分布を算出し、算出した画素値強度ムラ補正値分布を画素値強度ムラ補正値分布データＤ５としてとして記憶部（図示せず）に格納する。なお、画素値強度ムラ補正値分布データＤ５の具体例については図１８及び図１９により後述する。
【００５６】
画素値強度ムラ補正値算出部１０４は、画素値強度ムラ補正値分布設定部１０３によって設定された画素値強度ムラ補正値分布データＤ５を用いて、液晶ライトバルブを構成する各画素の画素値強度ムラを補正する画素値強度ムラ補正値を算出する。
【００５７】
なお、画素値強度ムラ補正値算出部１０４により算出された画素値強度ムラ補正値を用いて、入力画像データを補正することにより、液晶ライトバルブに画素値強度ムラが存在しても画素値強度ムラの抑制された高品質な画像を表示させることができる。なお、入力画像データの補正については後述する。
【００５８】
図８は画素値強度ムラ領域取得用データＤ２の一例を示す図である。図８において、インデクス０，１，・・・は、各画素値強度ムラ領域を表すもので、それぞれのインデクスに対応して設定された特徴量α取得処理、特徴量β取得処理など様々な特徴量取得処理は、それぞれの画素値強度ムラ領域の特徴量を取得する処理を示し、それぞれの特徴量取得処理結果とその特徴量取得処理結果に対応する特徴量がそれぞれのインデクスに対応して格納されている。
【００５９】
特徴量α取得処理は、画素値強度ムラ領域の傾き角度を表す回転角度を取得する処理であり、この特徴量α取得処理は、画素値強度ムラ領域が図１におけるある方向（水平方向とする）に対して何度回転（時計方向を「＋」、反時計方向を「−」とする）した状態であるかを処理結果Φαとして取得し、取得した処理結果Φαをそのまま特徴量αとする。例えば、ある画素値強度ムラ領域が水平方向に対して反時計方向に３０度回転した状態であるとすれば、当該画素値強度ムラ領域における特徴量αは「Φα＝−３０度」となる。
【００６０】
なお、画素値強度ムラ領域のある方向（水平方向）に対する回転角度は、下記（２）式によって取得することができる。
【数２】
（２）式は分布の広がりを回転角度として取得することができる計算式であり、（２）式によって求められた「θ」を特徴量αとする。
【００６１】
特徴量β取得処理は、画素値強度ムラ領域を取り囲む矩形領域を設定する際、その矩形領域の横（ｘ）方向長さを取得する処理であり、処理結果（Φβ≦０，・・・，８＜Φβ≦１０，１０＜Φβ≦１２，・・・など）の範囲に対して設定される代表値（「０」，・・・，「１１」，「１３」，・・・）を特徴量βとする。例えば、Φβが１０＜Φβ≦１２の範囲である場合には、それよりも少し余裕を持たせた「１３」を当該矩形領域の横方向長さとして設定する。
【００６２】
特徴量γ取得処理は、矩形領域の縦（ｙ）方向長さを取得する処理であり、処理結果（ΦγＣ≦０，・・・，２＜Φγ≦４，４＜Φγ≦６，・・・など）の範囲に対して設定される代表値（「０」，・・・，「５」，「７」，・・・）を特徴量γとする。例えば、Φγが４＜Φγ≦６の範囲である場合には、それよりも少し余裕を持たせた「７」を当該矩形領域の縦方向長さとして設定する。
【００６３】
図９は画素値強度ムラ領域取得部１０１の処理の流れを示すフローチャートである。また、図１０は図９に示すフローチャートの処理を具体的に説明する図である。まず、画素値強度ムラデータＤ１を取得し（図９のステップＳ１、図１０（ａ））、取得した画素値強度ムラデータＤ１を二値化処理する（図９のステップＳ２、図１０（ｂ））。これらの処理によって、画素値強度ムラの生じていると考えられる領域と画素値強度ムラの生じていないと考えられる領域とを分けることができ、それによって、画素値強度ムラ領域を取得することができる。ここでは、画素値強度ムラ領域に対応する二値化要素Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄが取得されたとする。
【００６４】
そして、取得された二値化要素Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに対してラベリング処理を行い（図９のステップＳ３）、ラベル付けされたラベリング要素Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄが得られたとする（図１０（ｃ））。続いて、ラベル付けされたラベリング要素Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの特徴量について画素値強度ムラ領域取得用データＤ２を参照することによって取得し（図９のステップＳ４）、取得した特徴量を画素値強度ムラ領域データＤ３として記憶部（図示せず）に格納する（図９のステップＳ５）。
【００６５】
図１１は図１に示す画素値強度ムラ領域に対して設定された画素値強度ムラ領域データＤ３について説明する図である。図１１（ａ）は画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに対して設定された画素値強度ムラ領域データＤ３の具体例を示す図であり、画素値強度ムラ領域データＤ３は、画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを表すインデクスＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄと各画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの特徴量から構成されている。
【００６６】
画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの特徴量としては、図８で示した画素値強度ムラ領
域取得用データＤ２によって取得される回転角度（特徴量α）、横方向長さ（特徴量β）、縦方向長さ（特徴量γ）などの他に、画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの液晶ライトバルブ上における位置、画素値強度ムラである座標位置も各画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの特徴量とする。
【００６７】
画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの液晶ライトバルブ上における位置は、各画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを取り囲む各矩形領域の液晶ライトバルブ上における位置で表される。なお、各矩形領域の液晶ライトバルブ上における位置は、各矩形領域の重心の位置（重心位置という）で表され、各矩形領域の重心位置（Ｐで表す）は、各画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの中央部に対応する。
【００６８】
例えば、図１１における「位置」が（１２，６）というのは、矩形領域の重心位置であり、これは、画素値強度ムラ領域Ａの液晶ライトバルブ上における位置が、液晶ライトバルブの全体領域Ｇの左側端部から右（ｘ）方向へ「１２画素」、上側端部から下（ｙ）方向に「６画素」の位置であることを示している。
【００６９】
また、図１１（ａ）における「画素値強度ムラ領域を示す座標位置」は、各矩形領域内における画素値強度ムラを生じる位置の液晶ライトバルブ上における座標位置（画素位置）である。すなわち、各矩形領域は、画素値強度ムラを取り囲む領域であって、各矩形領域のすべての画素に画素値強度ムラが生じているわけではないので、各矩形領域において、画素値強度ムラの生じている位置(画素)のみの座標を取得して、取得した座標値を「画素値強度ムラである座標位置」として示している。
【００７０】
例えば、画素値強度ムラ領域Ａを示す座標位置（７，４），（８，４），・・・，（１７，８）というのは、画素値強度ムラ領域Ａを取り囲む矩形領域において、実際に画素値強度ムラの生じている位置（画素値強度ムラ領域Ａに対応する画素）が（７，４），（８，４），・・・，（１７，８）の位置であることを示している。
【００７１】
図１１（ｂ）は画素値強度ムラ領域Ｃとその矩形領域を取り出して示す図であり、画素値強度ムラ領域Ｃの画素値強度ムラ領域データは、図１１（ａ）に示すように、画素値強度ムラ領域Ｃの液晶ライトバルブ上における位置は（１２，１８）であり、これは、画素値強度ムラ領域Ｃの矩形領域の重心位置Ｐが「ｘ方向＝１２」、「ｙ方向＝１８」であることを意味している。また、画素値強度ムラ領域Ｃの矩形領域の横方向長さは「１９」、縦方向長さは「５」であり、画素値強度ムラ領域の回転量は「−３０度」である。
【００７２】
図１２は平行直線群設定部１０２が行う平行直線群設定処理の流れを示すフローチャートである。図１２において、まず、画素値強度ムラデータＤ１を取得するとともに画素値強度ムラ領域データＤ３を取得する（ステップＳ１１，Ｓ１２）。そして、ｉ＝０を設定し（ステップＳ１３）、設定されたｉ番目の画素値強度ムラ領域の特徴量を取得する（ステップＳ１４）。ここで、ｉは図１１のインデクスＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄに対応し、ｉ＝０は画素値強度ムラ領域Ａ、ｉ＝１は画素値強度ムラ領域Ｂ、ｉ＝２は画素値強度ムラ領域Ｃ、ｉ＝３は画素値強度ムラ領域Ｄに対応する。
【００７３】
続いて、設定されたｉ番目の画素値強度ムラ領域に対して、画素値強度ムラ領域に平行直線群を設定する際の基準位置（平行直線群基準位置という）、平行直線群を構成する直線の本数（直線本数という）をそれぞれ設定し（ステップＳ１５，Ｓ１６）、さらに、平行直線群を構成する直線の間隔（直線間隔という）、平行直線群を構成する直線の開始位置（直線開始位置という）、平行直線群を構成する直線の長さ（直線長さという）をそれぞれ算出する（ステップＳ１７，Ｓ１８，Ｓ１９）。また、画素値強度ムラ領域が回転した状態となっている場合には、平行直線群を構成する直線の回転角度を設定する（ステッ
プＳ２０）。
【００７４】
その後、全ての画素値強度ムラ領域について平行直線群を設定したか否かを判定し（ステップＳ２１）、全ての画素値強度ムラ領域について平行直線群を設定していれば、処理を終了し、全ての画素値強度ムラ領域について平行直線群を設定していなければ、「ｉ＝ｉ＋１」を行って（ステップＳ２２）、ステップＳ１４に戻る。
【００７５】
図１２におけるステップＳ１５の「平行直線群基準位置の設定」は、画素値強度ムラ領域データＤ３における特徴量の「位置」を平行直線群基準位置とする。例えば、画素値強度ムラ領域Ｃを例に取れば、画素値強度ムラ領域Ｃの液晶ライトバルブ上における位置は（１２，１８）であるので、平行直線群基準位置を（１２，１８）に設定する。また、ステップＳ１６の「直線本数の設定」は、直線本数として例えば５本を設定する。
【００７６】
また、ステップＳ１７の「直線間隔の算出」は、「直線間隔＝矩形領域の縦方向長さ÷（直線本数−１）」によって算出する。例えば、画素値強度ムラ領域Ｃを例に取れば、画素値強度ムラ領域Ｃにおける矩形領域の縦方向長さは「５」であるので、「５÷（５−１）≒１．６７」と求められるので、この場合、「１．６７」を丸めて「２」とする。すなわち、直線間隔は２画素とする。
【００７７】
また、ステップＳ１８の「直線開始位置の算出」は、平行直線群を構成する複数の直線の最上段の直線の縦（ｙ）方向の位置を算出するものであり、「直線開始位置＝矩形領域の縦（ｙ）方向の位置−矩形領域の縦方向長さ÷２」によって算出する。例えば、画素値強度ムラ領域Ｃを例に取れば、画素値強度ムラ領域Ｃにおける矩形領域の縦（ｙ）方向の位置は「１８」、矩形領域の縦方向長さ＝５であるので、「１８−５÷２＝１５．５」と求められるので、この場合、「１５．５」を丸めて「１５」とする。すなわち、画素値強度ムラ領域Ｃの直線開始位置は、液晶ライトバルブにおける縦（ｙ）方向の「１５」画素の位置とする。
【００７８】
また、ステップＳ１７の「直線長さの算出」は次のような手順によって行う。画素値強度ムラ領域Ｃのように、基準位置に対して所定角度（例えば、画素値強度ムラ領域Ｃは「-３０度」）回転した状態となっている場合には、まずは、下記（３）式を用いて、回転を打ち消すための回転処理を行う。
【数３】
【００７９】
そして、回転を打ち消した画素値強度ムラ領域において、図１１に示す画素値強度ムラ領域データＤ３の特徴量の１つである「画素値強度ムラ領域を示す座標位置」を算出する処理を行い、算出された「画素値強度ムラ領域を示す座標位置」に対応する領域に、先に算出した「直線本数」、「直線間隔」、「直線開始位置」に基づいて、所定本数の直線を重ね合わせ、重ね合わせた所定本数の直線長さが、少なくとも、画素値強度ムラ領域の横方向の両端部間に達する長さとなるように設定する。
【００８０】
図１３は直線長さを設定する処理の具体例について説明する図である。図１３は画素値強度ムラ領域Ｃに対する直線長さの設定例について説明する図である。まず、−３０度回転した状態となっている画素値強度ムラ領域Ｃ（図１３（ａ）参照）に対し、−３０度の
回転を打ち消すような回転処理を行う。
【００８１】
そして、回転を打ち消した画素値強度ムラ領域Ｃにおいて、「画素値強度ムラ領域を示す座標位置」を算出する処理を行い、算出された「画素値強度ムラ領域を示す座標位置」に対し、先に取得した「平行直線群基準位置」、「直線本数」、「直線間隔」、「直線開始位置」に基づいて、５本の直線を重ね合わせる（図１３（ｂ）参照）。
【００８２】
図１３（ｂ）に示す処理の段階では、５本の直線はすべて同じ長さ（初期長さａとする）に設定されている。また、５本の直線はそれぞれの中央部（ａ／２の位置）が平行直線群基準位置（矩形領域の重心位置Ｐ）を通る縦（ｙ）方向垂線ｈに対応するように設定する。なお、初期長さａは、回転を打ち消した画素値強度ムラ領域において算出された「画素値強度ムラ領域を示す座標位置」に基づいて、適当な値を設定することができる。
【００８３】
次に、図１３（ｃ）に示すように、５本の直線の個々の長さが、画素値強度ムラ領域の横方向の少なくとも両端位置に達する長さとなるように設定する。このような長さの設定処理を行う際は、回転を打ち消した画素値強度ムラ領域において算出された「画素値強度ムラ領域を示す座標位置」に基づいて行う。すなわち、５本の直線について、個々の直線の両端が、画素値強度ムラ領域の少なくとも両端位置に対応する座標位置に達するまで、各直線の中央部を基準にその長さを変化させて行く。なお、図１３（ｃ）は図１３（ｂ）を拡大して示している。図１３（ｃ）では、５本の直線ＬＣ０〜ＬＣ４は、縦（ｙ）方向垂線ｈを基点に左右方向にそれぞれ「ａ０／２」、「ａ１／２」、「ａ２／２」、「ａ３／２」、「ａ４／２」の長さを有する直線に設定された例が示されている。
【００８４】
図１４は平行直線群データＤ４の一例を示す図である。図１４のインデクスＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを表し、これらインデクスＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄに対応して設定される平行直線群データＤ４が格納されている。平行直線群データＤ４としては、「平行直線群基準位置」、「直線本数」、「直線間隔」、「回転角度」、「直線開始位置（縦方向）」、「直線長さ」が格納されている。なお、「平行直線群基準位置」は、画素値強度ムラ領域データＤ３の「位置」と同じであり、各画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄにおける矩形領域の重心位置Ｐの座標値である。
【００８５】
例えば、インデクスＣ（画素値強度ムラ領域Ｃ）における平行直線群基準位置は、液晶ライトバルブにおける（１２，６）の座標位置であり、また、直線本数は「５」、直線間隔は「２」、回転角度は「−３０度」、直線開始位置（回転を打ち消した状態での縦方向の直線開始位置）は「１５」である。また、直線長さは、「１１，１７，１９，１７，１１」が設定される。
【００８６】
なお、図１４における直線長さは、ある画素値強度ムラ領域に設定される複数本の直線のうちの最上段に位置する直線から順番にその長さが設定される。例えば、画素値強度ムラ領域Ｃにおける直線長さ「１１，１７，１９，１７，１１」は、画素値強度ムラ領域Ｃに設定される５本の直線ＬＣ０〜ＬＣ４のうちの最上段に位置する直線ＬＣ０から順にその長さを示す数値である。すなわち、「１１，１７，１９，１７，１１」は、ＬＣ０＝１１，ＬＣ１＝１７，ＬＣ２＝１９，ＬＣ３＝１７，ＬＣ４＝１１であることを示している。
【００８７】
図１５は画素値強度ムラ補正値分布設定部１０３が行う画素値強度ムラ補正値分布設定処理の手順を説明するフローチャートである。図１５において、まず、画素値強度ムラデータＤ１、画素値強度ムラ領域データＤ３、平行直線群データＤ４をそれぞれ取得する（ステップＳ３１，Ｓ３２，Ｓ３３）。
【００８８】
続いて、ｉ＝０を設定し（ステップＳ３４）、設定されたｉ番目の画素値強度ムラ領域を取得する（ステップＳ３５）。ここで、ｉは画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄのインデクスを表し、ｉ＝０は画素値強度ムラ領域Ａ、ｉ＝０は画素値強度ムラ領域Ａ、ｉ＝１は画素値強度ムラ領域Ｂ、ｉ＝２は画素値強度ムラ領域Ｃ、ｉ＝３は画素値強度ムラ領域Ｄに対応する。
【００８９】
次に、取得したｉ番目の画素値強度ムラ領域の画素値強度ムラを取得するとともにｉ番目の画素値強度ムラ領域の平行直線線群を取得する（ステップＳ３６，Ｓ３７）。そして、ｉ番目の画素値強度ムラ領域の平行直線群を構成する直線上での画素値強度ムラ補正値分布を算出し（ステップＳ３８）、すべての画素値強度ムラ領域について画素値強度ムラ補正値分布を算出したか否かを判定し（ステップＳ３９）、すべての画素値強度ムラ領域について画素値強度ムラ補正値分布を算出したら処理を終了するが、すべての画素値強度ムラ領域について画素値強度ムラ補正値分布を算出していなければ、「ｉ＝ｉ＋１」を行い（ステップＳ４０）、ステップＳ３５に戻る。
【００９０】
図１６は画素値強度ムラ補正値分布の算出手順を説明するフローチャートである。また、図１７は図１６に示すフローチャートの処理を具体的に説明する図である。なお、ここでは、画素値強度ムラ領域Ｃを例に取って説明する。
【００９１】
まず、図１７（ａ）に示すように回転状態となっている画素値強度ムラ領域Ｃに対して回転を打ち消す処理を行う。続いて、回転を打ち消した画素値強度ムラデータを生成し（図１６のステップＳ４１）、回転を打ち消した画素値強度ムラデータと平行直線群データＤ４とに基づいて、画素値強度ムラ領域Ｃに設定された各直線ＬＣ０〜ＬＣ４上での画素値強度ムラ補正値分布を作成する（図１６のステップＳ４２、図１７の（ｂ）〜（ｆ））。そして、作成された各直線ＬＣ０〜ＬＣ４上での画素値強度ムラ補正値分布を画素値強度ムラ領域Ｃの画素値強度ムラ補正値分布データＤ５として格納するとともに回転角度を示す回転角度データを格納する（図１６のステップＳ４３，Ｓ４４）。
【００９２】
図１７（ｂ）〜（ｆ）は、画素値強度ムラ領域Ｃに設定された各直線ＬＣ０〜ＬＣ４に対して設定された画素値強度ムラ補正値分布を示す図であり、各直線ＬＣ０〜ＬＣ４での画素値強度ムラ補正値分布が設定される。なお、図１７（ｂ）〜（ｆ）は前述した多項式（（１）式参照）による画素値強度ムラ補正値分布の例である。
【００９３】
図１８は画素値強度ムラ領域に対して設定される画素値強度ムラ補正値分布データＤ５（その１）を示す図である。図１８は画素値強度ムラ補正値分布を多項式（（１）式参照）で表す場合である。
【００９４】
図１８に示す画素値強度ムラ補正値分布データＤ５としては、画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを表すインデクスＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄと、これら各インデクスＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄに対応付けられた当該画素値強度ムラ領域の回転角度と、（１）式の多項式に必要なデータとが格納される。（１）式の多項式に必要なデータとしては、各直線（例えば、画素値強度ムラ領域Ａにおいては直線ＬＡ０〜ＬＡ４）のそれぞれ左側端部の位置（始端位置（ｘｓ）という）、右側端部の位置（終端位置（ｘｅ）という）、（１）式におけるａ，ｂ、Ｌ、係数Ｃｌ（ｌ＝０，１，２，・・・）である。（１）式におけるａは、ａ＝（ｘｓ＋ｘｅ）／２で求められ、ｂは、ｂ＝（｜ｘｅ−ｘｓ｜）／２で求められる。
【００９５】
なお、図１８では画素値強度ムラ領域Ａについてのみが示されているが、他の画素値強度ムラ領域Ｂ，Ｃ，Ｄについてもそれぞれの画素値強度ムラ領域に対する画素値強度ムラ補正値分布データが設定される。
【００９６】
図１９は画素値強度ムラ領域に対して設定される画素値強度ムラ補正値分布データＤ５（その２）を示す図である。図１９は画素値強度ムラ補正値分布を離散値として表す場合である。図１９に示す画素値強度ムラ補正値分布データとしては、画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを表すインデクスＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄと、これら各インデクスＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄに対応付けられた当該画素値強度ムラ領域の回転角度と、当該画素値強度ムラ領域に設定される各直線のそれぞれ始端位置（ｘｓ）、終端位置（ｘｅ）、直線間隔、複数の線上点（図３参照）に設定された離散的な画素値強度ムラ補正値ΔＩ０，ΔＩ１，ΔＩ２，・・・が格納される。
【００９７】
なお、図１９では画素値強度ムラ領域Ａについてのみが示されているが、他の画素値強度ムラ領域Ｂ，Ｃ，Ｄについてもそれぞれの画素値強度ムラ領域に対する画素値強度ムラ補正値分布データが設定される。
【００９８】
図２０は画素値強度ムラ補正値算出部１０４が行う画素値強度ムラ補正値算出処理の手順（その１）を説明するフローチャートである。また、図２１は図２０の処理を具体的に説明する図である。
【００９９】
図２０及び図２１を用いて画素値強度ムラ補正値の算出処理について説明する。まず、画素値強度ムラ補正値分布が設定されている平行直線群に交差（直交とする）する複数の補正値算出用直線Ｊを設定し、画素値強度ムラ補正値分布が設定されている平行直線群と各補正値算出用直線Ｊとの各交点を算出する（図２０のステップＳ５１，Ｓ５２、図２１（ａ））。
【０１００】
図２１（ａ）においては、画素値強度ムラ補正値分布が設定されている平行直線群を破線で示し、各補正値算出用直線Ｊを実線で示している。また、画素値強度ムラ補正値分布が設定されている平行直線群と各補正値算出用直線Ｊとの各交点を図示のように白丸で示す。また、図２１（ａ）に示す小さな黒丸は、平行直線群を構成する各直線の始端と終端を示す。なお、元々、所定の回転角度を有した状態となっている画素値強度ムラ領域（例えば、画素値強度ムラ領域Ｃ）は、その回転が打ち消された状態で画素値強度ムラ補正値分布が設定されているので、図２０のステップＳ５１，Ｓ５２の処理は、平行直線群が図２１（ａ）のように水平方向となっている状態で行われる。
【０１０１】
続いて、交点での画素値強度ムラ補正値の算出を行い（図２０のステップＳ５３）、回転処理を行って画素値強度ムラ領域を元の位置（所定の回転角度を有した状態の位置）に戻し、各交点の位置を画素値強度ムラ領域の元の位置（所定の回転角度を有した状態の位置）とする（図２０のステップＳ５４、図２１（ｂ））。そして、回転処理済みの交点（図２１（ｂ））の画素値強度ムラ補正値による補間処理から任意位置の画素値強度ムラ補正値を算出する（図２０のステップＳ５５）。
【０１０２】
図２０及び図２１に示すような処理を行うことにより、図２１（ｂ）における白丸の位置及び白丸以外の任意の位置の画素値強度ムラ補正値を得ることができる。なお、補正値算出用直線Ｊの数は、任意に設定することができ、補正値算出用直線Ｊの数を多くすれば、より多くの位置の画素値強度ムラ補正値を得ることができるが、その分、演算量も増えるので、演算量と精度とを考慮して設定することが好ましい。
【０１０３】
図２２は画素値強度ムラ補正値算出部１０４が行う画素値強度ムラ補正値算出処理の手順（その２）を説明するフローチャートである。また、図２３は図２２の処理を具体的に説明する図である。
【０１０４】
図２２及び図２３を用いて画素値強度ムラ補正値の算出処理について説明する。まず、
元々、所定の回転角度を有した状態となっている画素値強度ムラ領域（例えば、画素値強度ムラ領域Ｃ）は、その回転を打ち消した状態で、平行直線群を構成する直線上での画素値強度ムラ補正値分布が設定されている（図１７（ｂ）〜(ｆ)参照）。このように、元々の回転を打ち消した状態で画素値強度ムラ補正値分布が設定されている場合には、まず、回転処理を行って、平行直線群を元の位置（所定の回転角度を有した状態の位置）に戻す（図２２のステップＳ６１、図２３）。
【０１０５】
そして、画素値強度ムラ補正値を求めたい位置（画素値強度ムラ補正値算出位置Ｑという）から、回転処理済みの平行直線群に交差（直交とする）する補正値算出用直線Ｋを設定する（図２２のステップＳ６２、図２３）。なお、図２３においても、画素値強度ムラ補正値分布が設定されている平行直線群を破線で示し、平行直線群と直交する補正値算出用直線Ｋを実線で示している。
【０１０６】
続いて、回転処理済みの平行直線群と補正値算出用直線Ｋとの交点のうち、画素値強度ムラ補正値算出位置Ｑから最も近い交点と２番目に近い交点Ｒ０，Ｒ１のそれぞれの画素値強度ムラ補正値ΔＩ０，ΔＩ０との補間計算から、画素値強度ムラ補正値算出位置Ｑの画素値強度ムラ補正値を算出する（図２２のステップＳ６３、図２３）。
【０１０７】
画素値強度ムラ補正値算出位置Ｑの画素値強度ムラ補正値ΔＩは、下記（４）式により算出することができる。なお、（４）式において、ｄ０，ｄ１は画素値強度ムラ補正値算出位置Ｑから交点Ｒ０，Ｒ１までの距離、ΔＩ０は交点Ｒ０における画素値強度ムラ補正値、ΔＩ１は交点Ｒ１における画素値強度ムラ補正値である。
【数４】
【０１０８】
なお、画素値強度ムラ補正値算出位置Ｑは、任意の位置に設定可能であり、画素値強度ムラ補正値算出位置Ｑをより多くの位置に設定すれば、より多くの位置での画素値強度ムラ補正値を得ることができるが、その分、演算量も増えるので、演算量と精度とを考慮して設定することが好ましい。
また、図２０〜図２３の例では、補正値算出用直線は平行直線群に対して直交するように設定する例で説明したが、直交に限られるものではない。
【０１０９】
以上説明したように、実施形態１に係る画像データ処理装置によれば、画素値強度ムラ領域において、平行直線群を設定し、設定した平行直線群を構成する直線上での画素値強度ムラ補正値分布を算出し、算出した画素値強度ムラ補正値分布に基づいて、画素値強度ムラ領域の任意の位置における画素値強度ムラ補正値を算出するようにしている。これにより、液晶ライトバルブに存在する画素値強度ムラ領域の位置での画素値強度ムラ補正値を適切に設定することができる。また、実施形態１に係る画像データ処理装置によれば、画素値強度ムラ補正値のデータ量を抑えながら画素値強度ムラ領域における画素値強度ムラ補正値を可能な限り詳細に取得することができる。
【０１１０】
[実施形態２]
図２４は実施形態２に係る画像データ補正装置の構成を示す図である。実施形態２に係る画像データ補正装置２００は、図２４に示すように、図７に示した画素値強度ムラ補正値算出部１０４と、この画素値強度ムラ補正値算出部１０４で算出された画素値強度ムラ補正値を用いて、入力画像データＤ１０に対して画素値強度ムラ補正を行い、画素値強度
ムラ補正済み入力画像データＤ１１を出力する画素値強度ムラ補正処理部２０１を有している。
【０１１１】
なお、画素値強度ムラ補正値算出部１０４は、図１８又は図１９に示した画素値強度ムラ補正値分布データＤ５を用いて、図２０及び図２１又は図２２及び図２３で説明した手順によって画素値強度ムラ補正値を算出するものである。
【０１１２】
図２５は画像データ補正装置２００が行う画像データ補正処理の手順を示すフローチャートである。図２５において、まず、画素値強度ムラ補正値分布データＤ５を取得し（ステップＳ７１）、取得した画素値強度ムラ補正値分布データＤ５を用いて、図２０及び図２１又は図２２及び図２３で説明した手順によって画素値強度ムラ補正値を算出する（ステップＳ７２）。
【０１１３】
そして、補正処理すべき画像データ（入力画像データＤ１０）が存在するか否かを判定し（ステップＳ７３）、補正処理すべき画像データが存在しなければ、処理を終了するが、補正処理すべき画像データが存在すれば、補正処理すべき画像データを取得して（ステップＳ７４）、ステップＳ７２によって作成された画素値強度ムラ補正値を用いて当該画像データの画素値強度ムラ補正処理を行い（ステップＳ７５）、画素値強度ムラ補正済み画像データの転送を行う（ステップＳ７６）。
【０１１４】
以上説明したように、図２５に示す画像データ補正装置２００によれば、画素値強度ムラ補正値分布データＤ５を用いて、画素値強度ムラ補正値算出部１０４が画素値強度ムラ補正値を算出する。そして、画素値強度ムラ補正処理部２０１は、画素値強度ムラ補正値算出部１０４で算出された画素値強度ムラ補正値を用いて、入力画像データＤ１０に対して画素値強度ムラ補正を行う。このように、画素値強度ムラ補正値算出部１０４によって算出された画素値強度ムラ補正値を用いて、画素値強度ムラ補正処理部２０１が入力画像データを補正することにより、液晶ライトバルブに画素値強度ムラが存在しても、画素値強度ムラの抑制された高品質な画像を出力させることができる。
【０１１５】
なお、実施形態２に係る画像データ補正装置２００は、図２４に示したように、画素値強度ムラ補正値算出部１０４と、画素値強度ムラ補正処理部２０１とを有する構成としたが、画像データ補正装置２００は、画素値強度ムラ補正値算出部１０４を有しない構成とし、他の処理装置で生成された画素値強度ムラ補正値（図２０及び図２１又は図２２及び図２３で説明した手順によって算出された画素値強度ムラ補正値）を取得して、取得した画素値強度ムラ補正値を用いて入力画像の補正を行うというような構成とすることも可能である。
【０１１６】
例えば、図７に示す画像データ処理装置で生成された画素値強度ムラ補正値、すなわち、図７の画素値強度ムラ補正値算出部１０４で生成された画素値強度ムラ補正値を、画像データ補正装置２００の画素値強度ムラ補正処理部２０１が入力するような構成とすることも可能である。
【０１１７】
[実施形態３]
図２６は実施形態３に係る画像表示装置の構成を概略的に示す図である。図２６に示す画像表示装置は、画像データ補正装置として、図２４及び図２５で説明した画像データ補正装置２００を用いる。本発明の実施形態３に係る画像表示装置が例えばプロジェクタであれば、図２６に示すように、液晶ライトバルブなどの光変調素子３０１、光変調素子３０１を駆動する光変調素子駆動部３０２、光変調素子３０１に光を投射するための照明光学系（光源を含む）３０３、画像をスクリーンＳＣＲなどに投射する投射光学系３０４、図２４及び図２５で説明した画像データ補正装置２００を有する。
【０１１８】
図２６に示すような画像表示装置が有する画像データ補正装置として、図２４及び図２５で説明した画像データ補正装置２００を用いることにより、光変調素子３０１に画素値強度ムラが存在していても、画素値強度ムラを適切に補正することができ、スクリーンＳＣＲに表示される画像を高品質なものとすることができる。
【０１１９】
なお、本発明は上述の各実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施可能となるものである。たとえば、画素値強度ムラ領域に設定する直線本数の設定の仕方は、種々の方法が考えられる。
【０１２０】
直線本数を初期値として例えば５本と決めておく（手順１）。また、直線間隔の最大値を初期値として例えば２画素と決めておく（手順２）。そして、処理対象となる画素値強度ムラ領域に設定された画素値強度ムラ領域を取り囲む矩形領域の縦方向長さと手順１によって初期値として設定された直線本数（５本）から、直線間隔を計算する（手順３）。例えば、矩形領域の縦方向長さが２０画素であったとすれば、「２０÷（初期値の直線本数５本−１）」により、直線間隔（５画素）を得る。
【０１２１】
そして、手順２で決めた初期値としての直線間隔の最大値（２画素）と、手順３で求められた直線間隔とを比較し、「初期値としての直線間隔の最大値（２画素）≧手順３で求められた直線間隔」を満足した場合には、直線の本数は手順１で決めた初期値（５本）のままとするが、「初期値としての直線間隔の最大値（２画素）≧手順３で求められた直線間隔」を満足しなければ、手順２で決めた初期値としての直線間隔の最大値（２画素）に基づいて直線本数を再計算する（手順４）。
【０１２２】
ここでの例においては、手順３によって矩形領域の縦方向長さから求められた直線間隔は５画素であるので、「初期値としての直線間隔の最大値（２画素）≧手順３で求められた直線間隔」を満足しない。したがって、この場合は、直線本数を再計算する。すなわち、「矩形領域の縦方向長さ（２０画素）÷直線間隔（２画素）＋１」を計算することによって、「直線本数＝１１本」を得る。
以上説明した手順１から手順４を行うことによって直線本数を決定するようにしてもよい。
【０１２３】
また、前述の各実施形態において説明した画素値強度ムラ補正値の作成を行うための画像データ処理を画像データ処理装置に実行させるための画像データ処理プログラムを作成することが可能であり、また、作成した画像データ処理プログラムを各種の記録媒体に記録させておくことも可能である。
したがって、本発明は、これら画像データ処理プログラムとその画像データ処理プログラムを記録した記録媒体をも含むものである。また、画像データ処理プログラムはネットワークから取得するようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【０１２４】
【図１】液晶ライトバルブの全体領域に存在する画素値強度ムラの一例を示す図。
【図２】図１で示した画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに平行直線群を設定した例を示す図。
【図３】画素値強度ムラ領域を横切る平行直線群の各直線上で設定される画素値強度ムラ補正値分布を多項式で表す一例を示す図。
【図４】画素値強度ムラ領域を横切る平行直線群の各直線上で設定される画素値強度ムラ補正値分布を各直線上で離散値として表す例を示す図。
【図５】様々な画素値強度ムラ領域に対する平行直線群の設定例について示す図。
【図６】形状及び大きさが同じ画素値強度ムラ領域に平行直線群を設定する際に、平行直線群を構成する直線の本数を変化させた例を示す図。
【図７】実施形態１に係る画像データ処理装置の構成を示す図。
【図８】画素値強度ムラ領域域取得用データの一例を示す図。
【図９】画素値強度ムラ領域取得部１０１の処理の流れを示すフローチャート。
【図１０】図９に示すフローチャートの処理を具体的に説明する図。
【図１１】図１に示す画素値強度ムラ領域に対して設定された画素値強度ムラ領域データＤ３について説明する図。
【図１２】平行直線群設定部１０２が行う平行直線群設定処理の流れを示すフローチャート。
【図１３】直線長さを設定する処理の具体例について説明する図。
【図１４】平行直線群データＤ４の一例を示す図。
【図１５】画素値強度ムラ補正値分布設定部１０３が行う画素値強度ムラ補正値分布設定処理の手順を説明するフローチャート。
【図１６】画素値強度ムラ補正値分布の算出手順を説明するフローチャート。
【図１７】図１６に示すフローチャートの処理を具体的に説明する図。
【図１８】画素値強度ムラ領域に対して設定される画素値強度ムラ補正値分布データＤ５（その１）を示す図。
【図１９】画素値強度ムラ領域に対して設定される画素値強度ムラ補正値分布データＤ５（その２）を示す図。
【図２０】画素値強度ムラ補正値算出部１０４が行う画素値強度ムラ補正値算出処理の手順（その１）を説明するフローチャート。
【図２１】図２０の処理を具体的に説明する図。
【図２２】画素値強度ムラ補正値算出部１０４が行う画素値強度ムラ補正値作成処理の手順（その２）を説明するフローチャートである。
【図２３】図２２の処理を具体的に説明する図。
【図２４】実施形態２に係る画像データ補正装置の構成を示す図。
【図２５】画像データ補正装置２００が行う画像データ補正処理の手順を示すフローチャート。
【図２６】実施形態３に係る画像表示装置の構成を概略的に示す図。
【符号の説明】
【０１２５】
１０１・・・画素値強度ムラ領域取得部、１０２・・・平行直線群設定部、１０３・・・画素値強度ムラ補正値分布設定部、１０４・・・画素値強度ムラ補正値算出部、２００・・・画像データ補正装置、２０１・・・画素値強度ムラ補正処理部、３００・・画像表示装置、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ・・・画素値強度ムラ領域、Ｇ・・・全体領域、Ｄ１・・・画素値強度ムラデータ、Ｄ２・・・画素値強度ムラ領域取得用データ、Ｄ３・・・画素値強度ムラ領域データ、Ｄ４・・・平行直線群データ、Ｄ５・・・画素値強度ムラ補正値分布データ、ＬＡ０〜ＬＡ４、ＬＢ０〜ＬＢ４、ＬＣ０〜ＬＣ４、ＬＤ０〜ＬＤ４・・・平行直線群を構成する直線
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光変調素子を構成する各画素の画素値強度ムラを補正するための画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理方法、画像データ処理装置及び画像データ処理プログラム並びに画像データを補正する画像データ補正方法及び画像データ補正装置並びに光変調素子と画像データ補正装置とを有する画像表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
画像表示装置に用いられる光変調素子（例えば液晶ライトバルブとする）では、画素の特性のバラツキに起因する画素値強度ムラが存在し、この画素値強度ムラによって表示画面に明るさムラ、輝度ムラ、色ムラなど各種の表示ムラが発生する。
【０００３】
このような画素値強度ムラを低減するために、例えば、液晶ライトバルブの区分領域ごとに設定される画素値強度ムラ補正値に応じて液晶ライトバルブを駆動する手法が実施されている。
【０００４】
この画素値強度ムラ補正値については、画素値強度ムラをきめ細かく補正しようとすれば、画素値強度ムラ補正値の設定される区分領域を多数設定する必要がある。しかしながら、画素値強度ムラ補正値のデータ量が増大するため、液晶プロジェクタのメモリ量の増大、画素値強度ムラ補正値を参照して行う画素値強度ムラ補正処理の処理量の増大といった課題が生じる。これらの課題を解決するために、画素値強度ムラ補正値をデータ量の抑制を図りながら適切に設定する手法が様々に提案されている（例えば、特許文献１〜３参照）。
【０００５】
特許文献１に開示された技術（第１従来技術という）は、入力映像信号の階調補正を行うためのルックアップテーブルと、階調ごとの画面上の不均一性を補正するためのルックアップテーブルとを設け、これらルックアップテーブルからの画素値強度ムラ補正値を合成する回路を設けて、画素値強度ムラ補正値を生成する。
【０００６】
特許文献２に開示された技術（第２従来技術という）には、医療用画像データにおいて、関心領域（画像データの注目する領域）の中心の輝度値を任意の値に設定し、関心領域外部と関心領域内部とで輝度値が連続的に変化するように関心領域内の輝度値を制御する手段を設ける。
【０００７】
特許文献３に開示された技術（第３従来技術という）は、局所的な画素値強度ムラを補正するための補正パラメータから表示パネルの画素ごとの補正係数（補正値をどの程度反映するかを調整する重み）を生成する。そして、入力信号に基づいて表示パネルの画素ごとの補正値（入力信号に対する階調を上下させる度合い）に補正係数を乗じた値を入力信号に加える。
【０００８】
【特許文献１】特開２０００−２８４７７３号公報
【特許文献２】特開２０００−３３８９４２号公報
【特許文献３】特開２００６−３０３６２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
上述した第１従来技術から第３従来技術は、いずれにおいても、個々の画素値強度ムラ（関心領域）の補正値を合成して全体の補正値を生成するということを特徴の１つとして
いるが、個々の画素値強度ムラ（関心領域）の補正値がどの程度の範囲に対して影響を及ぼすのかが不明瞭であるため、個々の画素値強度ムラ（関心領域）に対して適切な補正値を生成できない場合がある。
【００１０】
本発明は、光変調素子に存在する画素値強度ムラを補正するための画素値強度ムラ補正値を画素値強度ムラの位置に応じて適切かつ詳細に取得可能とする画像データ処理方法、画像データ処理装置及び画像データ処理プログラムを提供することを目的とするとともに、適切な画素値強度ムラ補正を行うことにより高品質な画像データを出力可能な画像データ補正方法及び画像データ補正装置を提供することを目的とする。また、光変調素子に画素値強度ムラが存在しても高品質な画像表示を可能とする画像表示装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
（１）本発明の画像データ処理方法は、光変調素子に存在する画素値強度ムラを補正するための画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理方法であって、前記光変調素子に存在する画素値強度ムラ領域を取得するステップと、前記画素値強度ムラ領域を横切る複数の直線を設定するステップと、前記複数の直線の各直線上において前記画素値強度ムラ補正値の分布を設定するステップとを有することを特徴とする。
【００１２】
本発明の画像データ処理方法によれば、画素値強度ムラ領域を横切る複数の直線の各直線上で画素値強度ムラ補正値分布を設定することにより、画素値強度ムラ領域における画素値強度ムラ補正値を少ないデータ量で適切に設定することができる。
【００１３】
（２）前記（１）に記載の画像データ処理方法においては、前記画素値強度ムラ補正値の分布は、多項式で与えられることが好ましい。
【００１４】
このように、各直線上における画素値強度ムラ補正値分布は、多項式で表すことが可能であり、画素値強度ムラ補正値分布を多項式で表す方法は、画素値強度ムラが滑らかに発生している場合においては特に有効である。また、画素値強度ムラ補正値分布を多項式で表す方法は、画素値強度ムラ補正値をより少ないデータ量で保持することができる利点もある。
【００１５】
（３）前記（１）に記載の画像データ処理方法においては、前記画素値強度ムラ補正値の分布は、前記各直線上において設定した複数の線上点での離散値として与えられ、前記線上点間の前記画素値強度ムラ補正値は補間によって求めることもまた好ましい。
【００１６】
このように、各直線上における画素値強度ムラ補正値分布は、離散値で表すことも可能であり、画素値強度ムラ補正値分布を離散値で表す方法は、画素値強度ムラの変化に急峻な部分がある場合にも対応しやすいという利点がある。なお、線上点の間隔は等間隔でなくてもよいが、演算量などの点から等間隔である方が好ましい。
【００１７】
（４）前記（１）〜（３）のいずれかに記載の画像データ処理方法においては、前記画素値強度ムラ領域の形状及び／又は大きさに応じて、前記複数の直線の本数、前記複数の直線の各直線間の間隔、前記複数の直線の各直線の長さ、前記複数の直線の方向を設定することが好ましい。
【００１８】
これにより、画素値強度ムラ領域の形状や大きさなどに応じて適切な直線を設定することができ、設定された直線上で画素値強度ムラ領域の形状や大きさに応じた適切な画素値強度ムラ補正値分布を設定することができる。
【００１９】
（５）前記（１）〜（４）のいずれかに記載の画像データ処理方法においては、前記複数の直線は、各直線が平行であることが好ましい。
【００２０】
このように、複数の直線の各直線を平行とすることにより、画素値強度ムラ補正値分布を算出するための演算を容易とすることができ、演算量及びデータ量も少なくすることができる。また、算出された画素値強度ムラ補正値を用いて、その後に行われる画素値強度ムラ補正値の算出も少ない演算量で行うことができる。
【００２１】
（６）前記（１）〜（４）のいずれかに記載の画像データ処理方法においては、前記各直線上における前記画素値強度ムラ補正値の分布に基づいて、前記画素値強度ムラ領域の任意の位置に対応する画素値強度ムラ補正値を算出するステップをさらに有することが好ましい。
【００２２】
このような画素値強度ムラ補正値を算出するステップを有することにより、それぞれの画素値強度ムラ領域に対応する画素値強度ムラ補正値を取得することがき、取得した画素値強度ムラ補正値を用いることにより、入力画像データの補正を行うことができる。
【００２３】
（７）前記（６）に記載の画像データ処理方法においては、前記複数の直線に交差する複数の補正値算出用直線を設定し、前記複数の直線と前記複数の補正値算出用との交点において、前記画素値強度ムラ補正値の分布から前記画素値強度ムラ補正値を求めることが好ましい。
【００２４】
これにより、画素値強度ムラ領域の任意の位置に対応する画素値強度ムラ補正値を取得することがきる。なお、交点以外の位置の画素値強度ムラ補正値については、画素値強度ムラ補正値を求めるべき位置の近傍の交点で求められた画素値強度ムラ補正値を用いて補間処理により求めることができる。
【００２５】
（８）前記（６）に記載の画像データ処理方法においては、前記画素値強度ムラ補正値を算出するステップは、前記画素値強度ムラ領域において前記画素値強度ムラ補正値を算出すべき位置から前記複数の直線に交差する補正値算出用直線を設定し、前記複数の直線と前記補正値算出用直線との交点のうち、前記画素値強度ムラ補正値を算出すべき位置から最も近い交点において得られる画素値強度ムラ補正値と２番目に近い交点において得られる画素値強度ムラ補正値との補間計算によって前記画素値強度ムラ補正値を算出すべき位置の画素値強度ムラ補正値を求めることもまた好ましい。
このような方法によっても前記（７）と同様、画素値強度ムラ領域の任意の位置における画素値強度ムラ補正値を取得することがきる。
【００２６】
（９）本発明の画像データ処理装置は、光変調素子に存在する画素値強度ムラを補正するための画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理装置であって、前記光変調素子に存在する画素値強度ムラ領域を取得する画素値強度ムラ領域取得部と、前記画素値強度ムラ領域を横切る複数の直線を設定する直線群設定部と、前記複数の直線の各直線上において前記画素値強度ムラ補正値の分布を設定する画素値強度ムラ補正値分布設定部とを有することを特徴とする。
【００２７】
本発明の画像データ処理装置によれば、前記（１）に記載の画像データ処理方法と同様の効果が得られる。なお、本発明の画像データ処理装置においても、（２）〜（８）に記載の画像データ処理方法の特徴を有することが好ましい。
【００２８】
（１０）本発明の画像データ処理プログラムは、光変調素子に存在する画素値強度ムラを補正するための画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理装置に前記画素値強度
ムラ補正値を生成する処理を実行させる画像データ処理プログラムであって、前記光変調素子に存在する画素値強度ムラ領域を取得するステップと、前記画素値強度ムラ領域を横切る複数の直線を設定するステップと、前記複数の直線の各直線上において前記画素値強度ムラ補正値の分布を設定するステップとを有することを特徴とする。
【００２９】
本発明の画像データ処理プログラムを画像データ処理装置に実行させることにより、前記（１）に記載の画像データ処理方法と同様の効果が得られる。なお、本発明の画像データ処理装置においても、（２）〜（８）に記載の画像データ処理方法の特徴を有することが好ましい。
【００３０】
（１１）本発明の画像データ補正方法は、光変調素子に入力する画像データを補正する画像データ補正方法であって、前記（６）〜（８）のいずれかに記載の画像データ処理方法によって生成された前記画素値強度ムラ補正値を用いて前記画像データを補正することを特徴とする。
【００３１】
このように、本発明の画像データ補正方法が、前記（６）〜（８）のいずれかに記載の画像データ処理方法によって生成された画素値強度ムラ補正値を用いて入力画像データを補正することにより、光変調素子に画素値強度ムラが存在しても画素値強度ムラの抑制された高品質な画像を出力することができる。
【００３２】
（１２）本発明の画像データ補正装置は、光変調素子に入力する画像データを補正する画像データ補正装置であって、前記（６）〜（８）のいずれかに記載の画像データ処理方法によって生成された前記画素値強度ムラ補正値を用いて前記画像データを補正する画素値強度ムラ補正処理部を有することを特徴とする。
本発明の画像データ補正装置によれば、前記（１１）に記載の画像データ補正方法と同様の効果が得られる。
【００３３】
（１３）本発明の画像表示装置は、光変調素子と、前記光変調素子に入力する画像データを補正する画像データ補正装置とを有する画像表示装置であって、前記画像データ補正装置として、前記（１２）に記載の画像データ補正装置を用いることを特徴とする。
【００３４】
例えばプロジェクタなどの画像表示装置の画像データ補正装置として、（１２）に記載の画像データ補正装置を用いることにより、画像表示装置が有する光変調素子に画素値強度ムラが存在しても画素値強度ムラの抑制された高品質な画像を表示させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３５】
以下、本発明の実施形態について説明する。なお、以下に説明する実施形態においては、光変調素子は液晶ライトバルブであるとして説明する。また、液晶ライトバルブの画素の特性のバラツキに起因する画素値強度ムラによって、表示画面には明るさムラ、輝度ムラ、色ムラなど各種のムラが発生する。
【００３６】
[実施形態１]
図１は液晶ライトバルブの全体領域に存在する画素値強度ムラの一例を示す図である。図１において、太線の枠で囲まれた領域は、液晶ライトバルブの全体領域Ｇであり、全体領域Ｇには、図１に示すように、局所的な画素値強度ムラを有する領域（画素値強度ムラ領域という）Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄが存在しているものとする。なお、これら画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄにおいては、当該画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの中央部に向かうほど明るさが小さくなっているものとする。
【００３７】
本発明は、液晶ライトバルブに存在する画素値強度ムラ領域を取得し、取得した画素値強度ムラ領域に対して、画素値強度ムラ領域を横切る複数の直線を設定し、この複数の直線の各直線上で画素値強度ムラ補正値分布を設定する。なお、本発明の実施形態では、複数の直線は隣り合う直線同士はそれぞれが平行であるとし、このような直線の集合を、以下では、平行直線群と呼ぶことにする。また、「画素値強度ムラ領域を横切る」というのは、画素値強度ムラ領域を水平方向（横方向）に横切るだけではなく、垂直方向（縦方向）や斜め方向に横切ることも含むものである。
【００３８】
図２は図１で示した画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに平行直線群を設定した例を示す図である。図２においては、平行直線群は所定本数（例えば５本とする）の平行な直線で構成されている。
【００３９】
すなわち、画素値強度ムラ領域Ａに対しては平行直線群を構成する５本の直線ＬＡ０〜ＬＡ４が設定され、画素値強度ムラ領域Ｂに対しては平行直線群を構成する５本の直線ＬＢ０〜ＬＢ４、画素値強度ムラ領域Ｃに対しては平行直線群を構成する５本の直線ＬＣ０〜ＬＣ４、画素値強度ムラ領域Ｄに対しては平行直線群を構成する５本の直線ＬＤ０〜ＬＤ４が設定されている。なお、図２における一点鎖線で示す矩形は、各画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを取り囲む領域であり、以下では矩形領域と呼ぶことにする。
【００４０】
図３は画素値強度ムラ領域を横切る平行直線群の各直線上で設定される画素値強度ムラ補正値分布を多項式で表す一例を示す図である。図３（ａ）は図２の画素値強度ムラ領域Ａを取り出して示すもので、ここでは、画素値強度ムラ領域Ａを例にとって説明する。
【００４１】
図３（ａ）における各直線ＬＡ０〜ＬＡ４の両端の黒丸は各直線ＬＡ０〜ＬＡ４の始端と終端を示すもので、各直線ＬＡ０〜ＬＡ４の始端位置の座標を（ｘ０ｓ，ｙ０ｓ），（ｘ１ｓ，ｙ１ｓ），・・・で表し、各直線ＬＡ０〜ＬＡ４の終端位置の座標を（ｘ０ｅ，ｙ０ｅ），（ｘ１ｅ，ｙ１ｅ），・・・で表す。
【００４２】
なお、各画素値強度ムラ領域は、中央部に近づくほど画素値強度が小さくなるような画素値強度ムラであるので、各画素値強度ムラ領域に対応する画素値強度ムラ補正値は、中央部に近づくほど画素値強度を大きくするような補正値となる。ここで、画素値強度ムラ領域Ａに設定された平行直線群ＬＡ０〜ＬＡ４の各直線上の画素値強度ムラ補正値ΔＩｉを多項式で表すと、下記（１）式のように表すことができる。
【数１】
【００４３】
図３（ｂ）は各直線ＬＡ０〜ＬＡ４のうちのある直線上における画素値強度ムラ補正値を多項式で表した場合の当該直線上におけるｘ方向の位置と画素値強度ムラ補正値との関係を示す図である。
画素値強度ムラ補正値を多項式で表す方法は、画素値強度ムラが滑らかに発生している
場合においては特に有効である。また、画素値強度ムラ補正値を多項式で表す方法は、画素値強度ムラ補正値を少ないデータ量で保持することができる利点もある。
【００４４】
図４は画素値強度ムラ領域を横切る平行直線群の各直線上で設定される画素値強度ムラ補正値分布を各直線上で離散値として表す例を示す図である。図４（ａ）は図２の画素値強度ムラ領域Ａを取り出して示すもので、これは図３（ａ）と同じものであるが、図４（ａ）においては、各直線ＬＡ０〜ＬＡ４上に複数の線上点（黒丸で示す）が設定されている。
【００４５】
図４（ｂ）は各直線ＬＡ０〜ＬＡ４のうちのある直線上で設定された各線上点（直線ＬＡ０〜ＬＡ４の各始端及び終端を含む）における画素値強度ムラ補正値を示す図である。この場合、各線上点間の画素値強度ムラ補正値は、各線上点に設定される画素値強度ムラ補正値を、例えば、線形補間することで求める。
【００４６】
画素値強度ムラ補正値を図４に示すように離散値として表す方法は、画素値強度ムラの変化に急峻な部分が存在する場合にも対応しやすいという利点がある。なお、線上点の間隔は等間隔でなくてもよいが、演算量などの点から等間隔である方が好ましい。
【００４７】
図５は様々な画素値強度ムラ領域に対する平行直線群の設定例について示す図である。図５（ａ）は円形の画素値強度ムラ領域に横方向に平行直線群を設定した例、図５（ｂ）は縦長の楕円形の画素値強度ムラ領域に横方向に平行直線群を設定した例、図５（ｃ）は楕円形の画素値強度ムラ領域に横方向に平行直線群を設定した例、図５（ｄ）は水平方向に対して所定角度（４５度とする）回転した楕円形の画素値強度ムラ領域に平行直線群を斜め方向に設定した例、図５（ｅ）は水平方向に対して９０度回転した状態の楕円形の画素値強度ムラ領域に平行直線群を縦方向に設定した例を示す図である。なお、図５（ａ）〜（ｅ）の例においては、いずれの場合も、平行直線群を構成する直線の本数は７本とした例が示されている。
【００４８】
図６は形状及び大きさが同じ画素値強度ムラ領域に平行直線群を設定する際に、平行直線群を構成する直線の本数を変化させた例を示す図である。図６は円形の画素値強度ムラ領域の場合であり、図６（ａ）は直線の本数を４本とした例、図６（ｂ）は直線の本数を７本とした例、図６（ｃ）は直線の本数を１３本とした例である。
【００４９】
図５及び図６に示すように、画素値強度ムラ領域の形状、大きさなどによって、直線の長さ、間隔、本数などは、様々に設定可能である。ただし、形状及び大きさが同じ画素値強度ムラ領域において、直線の本数を多くすれば、高精度な画素値強度ムラ補正値を得ることができるが、演算量やデータ量が多くなる。逆に、直線の本数を少なくすれば、演算量やデータ量を少なくできるが、精度の面でやや劣る場合も出てくる。したがって、画素値強度ムラ補正値の精度と演算量、データ量などを考慮して適切な平行直線群を設定することが好ましい。
【００５０】
図７は実施形態１に係る画像データ処理装置の構成を示す図である。本発明の画像データ処理装置は、その構成要素として、画素値強度ムラ領域取得部１０１と、平行直線群設定部１０２と、画素値強度ムラ補正値分布設定部１０３と、画素値ムラ補正値算出部１０４とを有している。
【００５１】
また、実施形態１に係る画像データ処理装置が行うべき処理に必要なデータ及び上述の各構成要素において得られるデータとしては、画素値強度ムラデータＤ１と、画素値強度ムラ領域取得用データＤ２と、画素値強度ムラ領域データＤ３と、平行直線群データＤ４と、画素値強度ムラ補正値分布データＤ５とがある。
【００５２】
画素値強度ムラデータＤ１は、特定の入力階調における液晶ライトバルブの各画素の画素値強度を示すデータである。また、画素値強度ムラ領域取得用データＤ２は、画素値強度ムラ領域を取得する際に参照するデータである。なお、画素値強度ムラ領域取得用データＤ２の具体例については図８により後述する。
【００５３】
画素値強度ムラ領域取得部１０１は、画素値強度ムラデータＤ１、画素値強度ムラ領域取得用データＤ２を用いて、画素値強度ムラ領域の特徴量などを画素値強度ムラ領域データＤ３として取得し、取得した画素値強度ムラ領域データＤ３を記憶部（図示せず）に格納する。なお、画素値強度ムラ領域データＤ３の具体例については図１１により後述する。
【００５４】
平行直線群設定部１０２は、画素値強度ムラデータＤ１と画素値強度ムラ領域データＤ３とを用いて、画素値強度ムラを横切る平行直線群を設定し、設定した平行直線群に関するデータを平行直線群データＤ４として記憶部（図示せず）に格納する。なお、平行直線群データＤ４の具体例については図１４により後述する。
【００５５】
画素値強度ムラ補正値分布設定部１０３は、画素値強度ムラデータＤ１と画素値強度ムラ領域データＤ３と平行直線群データＤ４とを用いて、平行直線群を構成する直線上で画素値強度ムラ補正値分布を算出し、算出した画素値強度ムラ補正値分布を画素値強度ムラ補正値分布データＤ５としてとして記憶部（図示せず）に格納する。なお、画素値強度ムラ補正値分布データＤ５の具体例については図１８及び図１９により後述する。
【００５６】
画素値強度ムラ補正値算出部１０４は、画素値強度ムラ補正値分布設定部１０３によって設定された画素値強度ムラ補正値分布データＤ５を用いて、液晶ライトバルブを構成する各画素の画素値強度ムラを補正する画素値強度ムラ補正値を算出する。
【００５７】
なお、画素値強度ムラ補正値算出部１０４により算出された画素値強度ムラ補正値を用いて、入力画像データを補正することにより、液晶ライトバルブに画素値強度ムラが存在しても画素値強度ムラの抑制された高品質な画像を表示させることができる。なお、入力画像データの補正については後述する。
【００５８】
図８は画素値強度ムラ領域取得用データＤ２の一例を示す図である。図８において、インデクス０，１，・・・は、各画素値強度ムラ領域を表すもので、それぞれのインデクスに対応して設定された特徴量α取得処理、特徴量β取得処理など様々な特徴量取得処理は、それぞれの画素値強度ムラ領域の特徴量を取得する処理を示し、それぞれの特徴量取得処理結果とその特徴量取得処理結果に対応する特徴量がそれぞれのインデクスに対応して格納されている。
【００５９】
特徴量α取得処理は、画素値強度ムラ領域の傾き角度を表す回転角度を取得する処理であり、この特徴量α取得処理は、画素値強度ムラ領域が図１におけるある方向（水平方向とする）に対して何度回転（時計方向を「＋」、反時計方向を「−」とする）した状態であるかを処理結果Φαとして取得し、取得した処理結果Φαをそのまま特徴量αとする。例えば、ある画素値強度ムラ領域が水平方向に対して反時計方向に３０度回転した状態であるとすれば、当該画素値強度ムラ領域における特徴量αは「Φα＝−３０度」となる。
【００６０】
なお、画素値強度ムラ領域のある方向（水平方向）に対する回転角度は、下記（２）式によって取得することができる。
【数２】
（２）式は分布の広がりを回転角度として取得することができる計算式であり、（２）式によって求められた「θ」を特徴量αとする。
【００６１】
特徴量β取得処理は、画素値強度ムラ領域を取り囲む矩形領域を設定する際、その矩形領域の横（ｘ）方向長さを取得する処理であり、処理結果（Φβ≦０，・・・，８＜Φβ≦１０，１０＜Φβ≦１２，・・・など）の範囲に対して設定される代表値（「０」，・・・，「１１」，「１３」，・・・）を特徴量βとする。例えば、Φβが１０＜Φβ≦１２の範囲である場合には、それよりも少し余裕を持たせた「１３」を当該矩形領域の横方向長さとして設定する。
【００６２】
特徴量γ取得処理は、矩形領域の縦（ｙ）方向長さを取得する処理であり、処理結果（ΦγＣ≦０，・・・，２＜Φγ≦４，４＜Φγ≦６，・・・など）の範囲に対して設定される代表値（「０」，・・・，「５」，「７」，・・・）を特徴量γとする。例えば、Φγが４＜Φγ≦６の範囲である場合には、それよりも少し余裕を持たせた「７」を当該矩形領域の縦方向長さとして設定する。
【００６３】
図９は画素値強度ムラ領域取得部１０１の処理の流れを示すフローチャートである。また、図１０は図９に示すフローチャートの処理を具体的に説明する図である。まず、画素値強度ムラデータＤ１を取得し（図９のステップＳ１、図１０（ａ））、取得した画素値強度ムラデータＤ１を二値化処理する（図９のステップＳ２、図１０（ｂ））。これらの処理によって、画素値強度ムラの生じていると考えられる領域と画素値強度ムラの生じていないと考えられる領域とを分けることができ、それによって、画素値強度ムラ領域を取得することができる。ここでは、画素値強度ムラ領域に対応する二値化要素Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄが取得されたとする。
【００６４】
そして、取得された二値化要素Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに対してラベリング処理を行い（図９のステップＳ３）、ラベル付けされたラベリング要素Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄが得られたとする（図１０（ｃ））。続いて、ラベル付けされたラベリング要素Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの特徴量について画素値強度ムラ領域取得用データＤ２を参照することによって取得し（図９のステップＳ４）、取得した特徴量を画素値強度ムラ領域データＤ３として記憶部（図示せず）に格納する（図９のステップＳ５）。
【００６５】
図１１は図１に示す画素値強度ムラ領域に対して設定された画素値強度ムラ領域データＤ３について説明する図である。図１１（ａ）は画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに対して設定された画素値強度ムラ領域データＤ３の具体例を示す図であり、画素値強度ムラ領域データＤ３は、画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを表すインデクスＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄと各画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの特徴量から構成されている。
【００６６】
画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの特徴量としては、図８で示した画素値強度ムラ領
域取得用データＤ２によって取得される回転角度（特徴量α）、横方向長さ（特徴量β）、縦方向長さ（特徴量γ）などの他に、画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの液晶ライトバルブ上における位置、画素値強度ムラである座標位置も各画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの特徴量とする。
【００６７】
画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの液晶ライトバルブ上における位置は、各画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを取り囲む各矩形領域の液晶ライトバルブ上における位置で表される。なお、各矩形領域の液晶ライトバルブ上における位置は、各矩形領域の重心の位置（重心位置という）で表され、各矩形領域の重心位置（Ｐで表す）は、各画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの中央部に対応する。
【００６８】
例えば、図１１における「位置」が（１２，６）というのは、矩形領域の重心位置であり、これは、画素値強度ムラ領域Ａの液晶ライトバルブ上における位置が、液晶ライトバルブの全体領域Ｇの左側端部から右（ｘ）方向へ「１２画素」、上側端部から下（ｙ）方向に「６画素」の位置であることを示している。
【００６９】
また、図１１（ａ）における「画素値強度ムラ領域を示す座標位置」は、各矩形領域内における画素値強度ムラを生じる位置の液晶ライトバルブ上における座標位置（画素位置）である。すなわち、各矩形領域は、画素値強度ムラを取り囲む領域であって、各矩形領域のすべての画素に画素値強度ムラが生じているわけではないので、各矩形領域において、画素値強度ムラの生じている位置(画素)のみの座標を取得して、取得した座標値を「画素値強度ムラである座標位置」として示している。
【００７０】
例えば、画素値強度ムラ領域Ａを示す座標位置（７，４），（８，４），・・・，（１７，８）というのは、画素値強度ムラ領域Ａを取り囲む矩形領域において、実際に画素値強度ムラの生じている位置（画素値強度ムラ領域Ａに対応する画素）が（７，４），（８，４），・・・，（１７，８）の位置であることを示している。
【００７１】
図１１（ｂ）は画素値強度ムラ領域Ｃとその矩形領域を取り出して示す図であり、画素値強度ムラ領域Ｃの画素値強度ムラ領域データは、図１１（ａ）に示すように、画素値強度ムラ領域Ｃの液晶ライトバルブ上における位置は（１２，１８）であり、これは、画素値強度ムラ領域Ｃの矩形領域の重心位置Ｐが「ｘ方向＝１２」、「ｙ方向＝１８」であることを意味している。また、画素値強度ムラ領域Ｃの矩形領域の横方向長さは「１９」、縦方向長さは「５」であり、画素値強度ムラ領域の回転量は「−３０度」である。
【００７２】
図１２は平行直線群設定部１０２が行う平行直線群設定処理の流れを示すフローチャートである。図１２において、まず、画素値強度ムラデータＤ１を取得するとともに画素値強度ムラ領域データＤ３を取得する（ステップＳ１１，Ｓ１２）。そして、ｉ＝０を設定し（ステップＳ１３）、設定されたｉ番目の画素値強度ムラ領域の特徴量を取得する（ステップＳ１４）。ここで、ｉは図１１のインデクスＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄに対応し、ｉ＝０は画素値強度ムラ領域Ａ、ｉ＝１は画素値強度ムラ領域Ｂ、ｉ＝２は画素値強度ムラ領域Ｃ、ｉ＝３は画素値強度ムラ領域Ｄに対応する。
【００７３】
続いて、設定されたｉ番目の画素値強度ムラ領域に対して、画素値強度ムラ領域に平行直線群を設定する際の基準位置（平行直線群基準位置という）、平行直線群を構成する直線の本数（直線本数という）をそれぞれ設定し（ステップＳ１５，Ｓ１６）、さらに、平行直線群を構成する直線の間隔（直線間隔という）、平行直線群を構成する直線の開始位置（直線開始位置という）、平行直線群を構成する直線の長さ（直線長さという）をそれぞれ算出する（ステップＳ１７，Ｓ１８，Ｓ１９）。また、画素値強度ムラ領域が回転した状態となっている場合には、平行直線群を構成する直線の回転角度を設定する（ステッ
プＳ２０）。
【００７４】
その後、全ての画素値強度ムラ領域について平行直線群を設定したか否かを判定し（ステップＳ２１）、全ての画素値強度ムラ領域について平行直線群を設定していれば、処理を終了し、全ての画素値強度ムラ領域について平行直線群を設定していなければ、「ｉ＝ｉ＋１」を行って（ステップＳ２２）、ステップＳ１４に戻る。
【００７５】
図１２におけるステップＳ１５の「平行直線群基準位置の設定」は、画素値強度ムラ領域データＤ３における特徴量の「位置」を平行直線群基準位置とする。例えば、画素値強度ムラ領域Ｃを例に取れば、画素値強度ムラ領域Ｃの液晶ライトバルブ上における位置は（１２，１８）であるので、平行直線群基準位置を（１２，１８）に設定する。また、ステップＳ１６の「直線本数の設定」は、直線本数として例えば５本を設定する。
【００７６】
また、ステップＳ１７の「直線間隔の算出」は、「直線間隔＝矩形領域の縦方向長さ÷（直線本数−１）」によって算出する。例えば、画素値強度ムラ領域Ｃを例に取れば、画素値強度ムラ領域Ｃにおける矩形領域の縦方向長さは「５」であるので、「５÷（５−１）≒１．６７」と求められるので、この場合、「１．６７」を丸めて「２」とする。すなわち、直線間隔は２画素とする。
【００７７】
また、ステップＳ１８の「直線開始位置の算出」は、平行直線群を構成する複数の直線の最上段の直線の縦（ｙ）方向の位置を算出するものであり、「直線開始位置＝矩形領域の縦（ｙ）方向の位置−矩形領域の縦方向長さ÷２」によって算出する。例えば、画素値強度ムラ領域Ｃを例に取れば、画素値強度ムラ領域Ｃにおける矩形領域の縦（ｙ）方向の位置は「１８」、矩形領域の縦方向長さ＝５であるので、「１８−５÷２＝１５．５」と求められるので、この場合、「１５．５」を丸めて「１５」とする。すなわち、画素値強度ムラ領域Ｃの直線開始位置は、液晶ライトバルブにおける縦（ｙ）方向の「１５」画素の位置とする。
【００７８】
また、ステップＳ１７の「直線長さの算出」は次のような手順によって行う。画素値強度ムラ領域Ｃのように、基準位置に対して所定角度（例えば、画素値強度ムラ領域Ｃは「-３０度」）回転した状態となっている場合には、まずは、下記（３）式を用いて、回転を打ち消すための回転処理を行う。
【数３】
【００７９】
そして、回転を打ち消した画素値強度ムラ領域において、図１１に示す画素値強度ムラ領域データＤ３の特徴量の１つである「画素値強度ムラ領域を示す座標位置」を算出する処理を行い、算出された「画素値強度ムラ領域を示す座標位置」に対応する領域に、先に算出した「直線本数」、「直線間隔」、「直線開始位置」に基づいて、所定本数の直線を重ね合わせ、重ね合わせた所定本数の直線長さが、少なくとも、画素値強度ムラ領域の横方向の両端部間に達する長さとなるように設定する。
【００８０】
図１３は直線長さを設定する処理の具体例について説明する図である。図１３は画素値強度ムラ領域Ｃに対する直線長さの設定例について説明する図である。まず、−３０度回転した状態となっている画素値強度ムラ領域Ｃ（図１３（ａ）参照）に対し、−３０度の
回転を打ち消すような回転処理を行う。
【００８１】
そして、回転を打ち消した画素値強度ムラ領域Ｃにおいて、「画素値強度ムラ領域を示す座標位置」を算出する処理を行い、算出された「画素値強度ムラ領域を示す座標位置」に対し、先に取得した「平行直線群基準位置」、「直線本数」、「直線間隔」、「直線開始位置」に基づいて、５本の直線を重ね合わせる（図１３（ｂ）参照）。
【００８２】
図１３（ｂ）に示す処理の段階では、５本の直線はすべて同じ長さ（初期長さａとする）に設定されている。また、５本の直線はそれぞれの中央部（ａ／２の位置）が平行直線群基準位置（矩形領域の重心位置Ｐ）を通る縦（ｙ）方向垂線ｈに対応するように設定する。なお、初期長さａは、回転を打ち消した画素値強度ムラ領域において算出された「画素値強度ムラ領域を示す座標位置」に基づいて、適当な値を設定することができる。
【００８３】
次に、図１３（ｃ）に示すように、５本の直線の個々の長さが、画素値強度ムラ領域の横方向の少なくとも両端位置に達する長さとなるように設定する。このような長さの設定処理を行う際は、回転を打ち消した画素値強度ムラ領域において算出された「画素値強度ムラ領域を示す座標位置」に基づいて行う。すなわち、５本の直線について、個々の直線の両端が、画素値強度ムラ領域の少なくとも両端位置に対応する座標位置に達するまで、各直線の中央部を基準にその長さを変化させて行く。なお、図１３（ｃ）は図１３（ｂ）を拡大して示している。図１３（ｃ）では、５本の直線ＬＣ０〜ＬＣ４は、縦（ｙ）方向垂線ｈを基点に左右方向にそれぞれ「ａ０／２」、「ａ１／２」、「ａ２／２」、「ａ３／２」、「ａ４／２」の長さを有する直線に設定された例が示されている。
【００８４】
図１４は平行直線群データＤ４の一例を示す図である。図１４のインデクスＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを表し、これらインデクスＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄに対応して設定される平行直線群データＤ４が格納されている。平行直線群データＤ４としては、「平行直線群基準位置」、「直線本数」、「直線間隔」、「回転角度」、「直線開始位置（縦方向）」、「直線長さ」が格納されている。なお、「平行直線群基準位置」は、画素値強度ムラ領域データＤ３の「位置」と同じであり、各画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄにおける矩形領域の重心位置Ｐの座標値である。
【００８５】
例えば、インデクスＣ（画素値強度ムラ領域Ｃ）における平行直線群基準位置は、液晶ライトバルブにおける（１２，６）の座標位置であり、また、直線本数は「５」、直線間隔は「２」、回転角度は「−３０度」、直線開始位置（回転を打ち消した状態での縦方向の直線開始位置）は「１５」である。また、直線長さは、「１１，１７，１９，１７，１１」が設定される。
【００８６】
なお、図１４における直線長さは、ある画素値強度ムラ領域に設定される複数本の直線のうちの最上段に位置する直線から順番にその長さが設定される。例えば、画素値強度ムラ領域Ｃにおける直線長さ「１１，１７，１９，１７，１１」は、画素値強度ムラ領域Ｃに設定される５本の直線ＬＣ０〜ＬＣ４のうちの最上段に位置する直線ＬＣ０から順にその長さを示す数値である。すなわち、「１１，１７，１９，１７，１１」は、ＬＣ０＝１１，ＬＣ１＝１７，ＬＣ２＝１９，ＬＣ３＝１７，ＬＣ４＝１１であることを示している。
【００８７】
図１５は画素値強度ムラ補正値分布設定部１０３が行う画素値強度ムラ補正値分布設定処理の手順を説明するフローチャートである。図１５において、まず、画素値強度ムラデータＤ１、画素値強度ムラ領域データＤ３、平行直線群データＤ４をそれぞれ取得する（ステップＳ３１，Ｓ３２，Ｓ３３）。
【００８８】
続いて、ｉ＝０を設定し（ステップＳ３４）、設定されたｉ番目の画素値強度ムラ領域を取得する（ステップＳ３５）。ここで、ｉは画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄのインデクスを表し、ｉ＝０は画素値強度ムラ領域Ａ、ｉ＝０は画素値強度ムラ領域Ａ、ｉ＝１は画素値強度ムラ領域Ｂ、ｉ＝２は画素値強度ムラ領域Ｃ、ｉ＝３は画素値強度ムラ領域Ｄに対応する。
【００８９】
次に、取得したｉ番目の画素値強度ムラ領域の画素値強度ムラを取得するとともにｉ番目の画素値強度ムラ領域の平行直線線群を取得する（ステップＳ３６，Ｓ３７）。そして、ｉ番目の画素値強度ムラ領域の平行直線群を構成する直線上での画素値強度ムラ補正値分布を算出し（ステップＳ３８）、すべての画素値強度ムラ領域について画素値強度ムラ補正値分布を算出したか否かを判定し（ステップＳ３９）、すべての画素値強度ムラ領域について画素値強度ムラ補正値分布を算出したら処理を終了するが、すべての画素値強度ムラ領域について画素値強度ムラ補正値分布を算出していなければ、「ｉ＝ｉ＋１」を行い（ステップＳ４０）、ステップＳ３５に戻る。
【００９０】
図１６は画素値強度ムラ補正値分布の算出手順を説明するフローチャートである。また、図１７は図１６に示すフローチャートの処理を具体的に説明する図である。なお、ここでは、画素値強度ムラ領域Ｃを例に取って説明する。
【００９１】
まず、図１７（ａ）に示すように回転状態となっている画素値強度ムラ領域Ｃに対して回転を打ち消す処理を行う。続いて、回転を打ち消した画素値強度ムラデータを生成し（図１６のステップＳ４１）、回転を打ち消した画素値強度ムラデータと平行直線群データＤ４とに基づいて、画素値強度ムラ領域Ｃに設定された各直線ＬＣ０〜ＬＣ４上での画素値強度ムラ補正値分布を作成する（図１６のステップＳ４２、図１７の（ｂ）〜（ｆ））。そして、作成された各直線ＬＣ０〜ＬＣ４上での画素値強度ムラ補正値分布を画素値強度ムラ領域Ｃの画素値強度ムラ補正値分布データＤ５として格納するとともに回転角度を示す回転角度データを格納する（図１６のステップＳ４３，Ｓ４４）。
【００９２】
図１７（ｂ）〜（ｆ）は、画素値強度ムラ領域Ｃに設定された各直線ＬＣ０〜ＬＣ４に対して設定された画素値強度ムラ補正値分布を示す図であり、各直線ＬＣ０〜ＬＣ４での画素値強度ムラ補正値分布が設定される。なお、図１７（ｂ）〜（ｆ）は前述した多項式（（１）式参照）による画素値強度ムラ補正値分布の例である。
【００９３】
図１８は画素値強度ムラ領域に対して設定される画素値強度ムラ補正値分布データＤ５（その１）を示す図である。図１８は画素値強度ムラ補正値分布を多項式（（１）式参照）で表す場合である。
【００９４】
図１８に示す画素値強度ムラ補正値分布データＤ５としては、画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを表すインデクスＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄと、これら各インデクスＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄに対応付けられた当該画素値強度ムラ領域の回転角度と、（１）式の多項式に必要なデータとが格納される。（１）式の多項式に必要なデータとしては、各直線（例えば、画素値強度ムラ領域Ａにおいては直線ＬＡ０〜ＬＡ４）のそれぞれ左側端部の位置（始端位置（ｘｓ）という）、右側端部の位置（終端位置（ｘｅ）という）、（１）式におけるａ，ｂ、Ｌ、係数Ｃｌ（ｌ＝０，１，２，・・・）である。（１）式におけるａは、ａ＝（ｘｓ＋ｘｅ）／２で求められ、ｂは、ｂ＝（｜ｘｅ−ｘｓ｜）／２で求められる。
【００９５】
なお、図１８では画素値強度ムラ領域Ａについてのみが示されているが、他の画素値強度ムラ領域Ｂ，Ｃ，Ｄについてもそれぞれの画素値強度ムラ領域に対する画素値強度ムラ補正値分布データが設定される。
【００９６】
図１９は画素値強度ムラ領域に対して設定される画素値強度ムラ補正値分布データＤ５（その２）を示す図である。図１９は画素値強度ムラ補正値分布を離散値として表す場合である。図１９に示す画素値強度ムラ補正値分布データとしては、画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを表すインデクスＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄと、これら各インデクスＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄに対応付けられた当該画素値強度ムラ領域の回転角度と、当該画素値強度ムラ領域に設定される各直線のそれぞれ始端位置（ｘｓ）、終端位置（ｘｅ）、直線間隔、複数の線上点（図３参照）に設定された離散的な画素値強度ムラ補正値ΔＩ０，ΔＩ１，ΔＩ２，・・・が格納される。
【００９７】
なお、図１９では画素値強度ムラ領域Ａについてのみが示されているが、他の画素値強度ムラ領域Ｂ，Ｃ，Ｄについてもそれぞれの画素値強度ムラ領域に対する画素値強度ムラ補正値分布データが設定される。
【００９８】
図２０は画素値強度ムラ補正値算出部１０４が行う画素値強度ムラ補正値算出処理の手順（その１）を説明するフローチャートである。また、図２１は図２０の処理を具体的に説明する図である。
【００９９】
図２０及び図２１を用いて画素値強度ムラ補正値の算出処理について説明する。まず、画素値強度ムラ補正値分布が設定されている平行直線群に交差（直交とする）する複数の補正値算出用直線Ｊを設定し、画素値強度ムラ補正値分布が設定されている平行直線群と各補正値算出用直線Ｊとの各交点を算出する（図２０のステップＳ５１，Ｓ５２、図２１（ａ））。
【０１００】
図２１（ａ）においては、画素値強度ムラ補正値分布が設定されている平行直線群を破線で示し、各補正値算出用直線Ｊを実線で示している。また、画素値強度ムラ補正値分布が設定されている平行直線群と各補正値算出用直線Ｊとの各交点を図示のように白丸で示す。また、図２１（ａ）に示す小さな黒丸は、平行直線群を構成する各直線の始端と終端を示す。なお、元々、所定の回転角度を有した状態となっている画素値強度ムラ領域（例えば、画素値強度ムラ領域Ｃ）は、その回転が打ち消された状態で画素値強度ムラ補正値分布が設定されているので、図２０のステップＳ５１，Ｓ５２の処理は、平行直線群が図２１（ａ）のように水平方向となっている状態で行われる。
【０１０１】
続いて、交点での画素値強度ムラ補正値の算出を行い（図２０のステップＳ５３）、回転処理を行って画素値強度ムラ領域を元の位置（所定の回転角度を有した状態の位置）に戻し、各交点の位置を画素値強度ムラ領域の元の位置（所定の回転角度を有した状態の位置）とする（図２０のステップＳ５４、図２１（ｂ））。そして、回転処理済みの交点（図２１（ｂ））の画素値強度ムラ補正値による補間処理から任意位置の画素値強度ムラ補正値を算出する（図２０のステップＳ５５）。
【０１０２】
図２０及び図２１に示すような処理を行うことにより、図２１（ｂ）における白丸の位置及び白丸以外の任意の位置の画素値強度ムラ補正値を得ることができる。なお、補正値算出用直線Ｊの数は、任意に設定することができ、補正値算出用直線Ｊの数を多くすれば、より多くの位置の画素値強度ムラ補正値を得ることができるが、その分、演算量も増えるので、演算量と精度とを考慮して設定することが好ましい。
【０１０３】
図２２は画素値強度ムラ補正値算出部１０４が行う画素値強度ムラ補正値算出処理の手順（その２）を説明するフローチャートである。また、図２３は図２２の処理を具体的に説明する図である。
【０１０４】
図２２及び図２３を用いて画素値強度ムラ補正値の算出処理について説明する。まず、
元々、所定の回転角度を有した状態となっている画素値強度ムラ領域（例えば、画素値強度ムラ領域Ｃ）は、その回転を打ち消した状態で、平行直線群を構成する直線上での画素値強度ムラ補正値分布が設定されている（図１７（ｂ）〜(ｆ)参照）。このように、元々の回転を打ち消した状態で画素値強度ムラ補正値分布が設定されている場合には、まず、回転処理を行って、平行直線群を元の位置（所定の回転角度を有した状態の位置）に戻す（図２２のステップＳ６１、図２３）。
【０１０５】
そして、画素値強度ムラ補正値を求めたい位置（画素値強度ムラ補正値算出位置Ｑという）から、回転処理済みの平行直線群に交差（直交とする）する補正値算出用直線Ｋを設定する（図２２のステップＳ６２、図２３）。なお、図２３においても、画素値強度ムラ補正値分布が設定されている平行直線群を破線で示し、平行直線群と直交する補正値算出用直線Ｋを実線で示している。
【０１０６】
続いて、回転処理済みの平行直線群と補正値算出用直線Ｋとの交点のうち、画素値強度ムラ補正値算出位置Ｑから最も近い交点と２番目に近い交点Ｒ０，Ｒ１のそれぞれの画素値強度ムラ補正値ΔＩ０，ΔＩ０との補間計算から、画素値強度ムラ補正値算出位置Ｑの画素値強度ムラ補正値を算出する（図２２のステップＳ６３、図２３）。
【０１０７】
画素値強度ムラ補正値算出位置Ｑの画素値強度ムラ補正値ΔＩは、下記（４）式により算出することができる。なお、（４）式において、ｄ０，ｄ１は画素値強度ムラ補正値算出位置Ｑから交点Ｒ０，Ｒ１までの距離、ΔＩ０は交点Ｒ０における画素値強度ムラ補正値、ΔＩ１は交点Ｒ１における画素値強度ムラ補正値である。
【数４】
【０１０８】
なお、画素値強度ムラ補正値算出位置Ｑは、任意の位置に設定可能であり、画素値強度ムラ補正値算出位置Ｑをより多くの位置に設定すれば、より多くの位置での画素値強度ムラ補正値を得ることができるが、その分、演算量も増えるので、演算量と精度とを考慮して設定することが好ましい。
また、図２０〜図２３の例では、補正値算出用直線は平行直線群に対して直交するように設定する例で説明したが、直交に限られるものではない。
【０１０９】
以上説明したように、実施形態１に係る画像データ処理装置によれば、画素値強度ムラ領域において、平行直線群を設定し、設定した平行直線群を構成する直線上での画素値強度ムラ補正値分布を算出し、算出した画素値強度ムラ補正値分布に基づいて、画素値強度ムラ領域の任意の位置における画素値強度ムラ補正値を算出するようにしている。これにより、液晶ライトバルブに存在する画素値強度ムラ領域の位置での画素値強度ムラ補正値を適切に設定することができる。また、実施形態１に係る画像データ処理装置によれば、画素値強度ムラ補正値のデータ量を抑えながら画素値強度ムラ領域における画素値強度ムラ補正値を可能な限り詳細に取得することができる。
【０１１０】
[実施形態２]
図２４は実施形態２に係る画像データ補正装置の構成を示す図である。実施形態２に係る画像データ補正装置２００は、図２４に示すように、図７に示した画素値強度ムラ補正値算出部１０４と、この画素値強度ムラ補正値算出部１０４で算出された画素値強度ムラ補正値を用いて、入力画像データＤ１０に対して画素値強度ムラ補正を行い、画素値強度
ムラ補正済み入力画像データＤ１１を出力する画素値強度ムラ補正処理部２０１を有している。
【０１１１】
なお、画素値強度ムラ補正値算出部１０４は、図１８又は図１９に示した画素値強度ムラ補正値分布データＤ５を用いて、図２０及び図２１又は図２２及び図２３で説明した手順によって画素値強度ムラ補正値を算出するものである。
【０１１２】
図２５は画像データ補正装置２００が行う画像データ補正処理の手順を示すフローチャートである。図２５において、まず、画素値強度ムラ補正値分布データＤ５を取得し（ステップＳ７１）、取得した画素値強度ムラ補正値分布データＤ５を用いて、図２０及び図２１又は図２２及び図２３で説明した手順によって画素値強度ムラ補正値を算出する（ステップＳ７２）。
【０１１３】
そして、補正処理すべき画像データ（入力画像データＤ１０）が存在するか否かを判定し（ステップＳ７３）、補正処理すべき画像データが存在しなければ、処理を終了するが、補正処理すべき画像データが存在すれば、補正処理すべき画像データを取得して（ステップＳ７４）、ステップＳ７２によって作成された画素値強度ムラ補正値を用いて当該画像データの画素値強度ムラ補正処理を行い（ステップＳ７５）、画素値強度ムラ補正済み画像データの転送を行う（ステップＳ７６）。
【０１１４】
以上説明したように、図２５に示す画像データ補正装置２００によれば、画素値強度ムラ補正値分布データＤ５を用いて、画素値強度ムラ補正値算出部１０４が画素値強度ムラ補正値を算出する。そして、画素値強度ムラ補正処理部２０１は、画素値強度ムラ補正値算出部１０４で算出された画素値強度ムラ補正値を用いて、入力画像データＤ１０に対して画素値強度ムラ補正を行う。このように、画素値強度ムラ補正値算出部１０４によって算出された画素値強度ムラ補正値を用いて、画素値強度ムラ補正処理部２０１が入力画像データを補正することにより、液晶ライトバルブに画素値強度ムラが存在しても、画素値強度ムラの抑制された高品質な画像を出力させることができる。
【０１１５】
なお、実施形態２に係る画像データ補正装置２００は、図２４に示したように、画素値強度ムラ補正値算出部１０４と、画素値強度ムラ補正処理部２０１とを有する構成としたが、画像データ補正装置２００は、画素値強度ムラ補正値算出部１０４を有しない構成とし、他の処理装置で生成された画素値強度ムラ補正値（図２０及び図２１又は図２２及び図２３で説明した手順によって算出された画素値強度ムラ補正値）を取得して、取得した画素値強度ムラ補正値を用いて入力画像の補正を行うというような構成とすることも可能である。
【０１１６】
例えば、図７に示す画像データ処理装置で生成された画素値強度ムラ補正値、すなわち、図７の画素値強度ムラ補正値算出部１０４で生成された画素値強度ムラ補正値を、画像データ補正装置２００の画素値強度ムラ補正処理部２０１が入力するような構成とすることも可能である。
【０１１７】
[実施形態３]
図２６は実施形態３に係る画像表示装置の構成を概略的に示す図である。図２６に示す画像表示装置は、画像データ補正装置として、図２４及び図２５で説明した画像データ補正装置２００を用いる。本発明の実施形態３に係る画像表示装置が例えばプロジェクタであれば、図２６に示すように、液晶ライトバルブなどの光変調素子３０１、光変調素子３０１を駆動する光変調素子駆動部３０２、光変調素子３０１に光を投射するための照明光学系（光源を含む）３０３、画像をスクリーンＳＣＲなどに投射する投射光学系３０４、図２４及び図２５で説明した画像データ補正装置２００を有する。
【０１１８】
図２６に示すような画像表示装置が有する画像データ補正装置として、図２４及び図２５で説明した画像データ補正装置２００を用いることにより、光変調素子３０１に画素値強度ムラが存在していても、画素値強度ムラを適切に補正することができ、スクリーンＳＣＲに表示される画像を高品質なものとすることができる。
【０１１９】
なお、本発明は上述の各実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施可能となるものである。たとえば、画素値強度ムラ領域に設定する直線本数の設定の仕方は、種々の方法が考えられる。
【０１２０】
直線本数を初期値として例えば５本と決めておく（手順１）。また、直線間隔の最大値を初期値として例えば２画素と決めておく（手順２）。そして、処理対象となる画素値強度ムラ領域に設定された画素値強度ムラ領域を取り囲む矩形領域の縦方向長さと手順１によって初期値として設定された直線本数（５本）から、直線間隔を計算する（手順３）。例えば、矩形領域の縦方向長さが２０画素であったとすれば、「２０÷（初期値の直線本数５本−１）」により、直線間隔（５画素）を得る。
【０１２１】
そして、手順２で決めた初期値としての直線間隔の最大値（２画素）と、手順３で求められた直線間隔とを比較し、「初期値としての直線間隔の最大値（２画素）≧手順３で求められた直線間隔」を満足した場合には、直線の本数は手順１で決めた初期値（５本）のままとするが、「初期値としての直線間隔の最大値（２画素）≧手順３で求められた直線間隔」を満足しなければ、手順２で決めた初期値としての直線間隔の最大値（２画素）に基づいて直線本数を再計算する（手順４）。
【０１２２】
ここでの例においては、手順３によって矩形領域の縦方向長さから求められた直線間隔は５画素であるので、「初期値としての直線間隔の最大値（２画素）≧手順３で求められた直線間隔」を満足しない。したがって、この場合は、直線本数を再計算する。すなわち、「矩形領域の縦方向長さ（２０画素）÷直線間隔（２画素）＋１」を計算することによって、「直線本数＝１１本」を得る。
以上説明した手順１から手順４を行うことによって直線本数を決定するようにしてもよい。
【０１２３】
また、前述の各実施形態において説明した画素値強度ムラ補正値の作成を行うための画像データ処理を画像データ処理装置に実行させるための画像データ処理プログラムを作成することが可能であり、また、作成した画像データ処理プログラムを各種の記録媒体に記録させておくことも可能である。
したがって、本発明は、これら画像データ処理プログラムとその画像データ処理プログラムを記録した記録媒体をも含むものである。また、画像データ処理プログラムはネットワークから取得するようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【０１２４】
【図１】液晶ライトバルブの全体領域に存在する画素値強度ムラの一例を示す図。
【図２】図１で示した画素値強度ムラ領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに平行直線群を設定した例を示す図。
【図３】画素値強度ムラ領域を横切る平行直線群の各直線上で設定される画素値強度ムラ補正値分布を多項式で表す一例を示す図。
【図４】画素値強度ムラ領域を横切る平行直線群の各直線上で設定される画素値強度ムラ補正値分布を各直線上で離散値として表す例を示す図。
【図５】様々な画素値強度ムラ領域に対する平行直線群の設定例について示す図。
【図６】形状及び大きさが同じ画素値強度ムラ領域に平行直線群を設定する際に、平行直線群を構成する直線の本数を変化させた例を示す図。
【図７】実施形態１に係る画像データ処理装置の構成を示す図。
【図８】画素値強度ムラ領域域取得用データの一例を示す図。
【図９】画素値強度ムラ領域取得部１０１の処理の流れを示すフローチャート。
【図１０】図９に示すフローチャートの処理を具体的に説明する図。
【図１１】図１に示す画素値強度ムラ領域に対して設定された画素値強度ムラ領域データＤ３について説明する図。
【図１２】平行直線群設定部１０２が行う平行直線群設定処理の流れを示すフローチャート。
【図１３】直線長さを設定する処理の具体例について説明する図。
【図１４】平行直線群データＤ４の一例を示す図。
【図１５】画素値強度ムラ補正値分布設定部１０３が行う画素値強度ムラ補正値分布設定処理の手順を説明するフローチャート。
【図１６】画素値強度ムラ補正値分布の算出手順を説明するフローチャート。
【図１７】図１６に示すフローチャートの処理を具体的に説明する図。
【図１８】画素値強度ムラ領域に対して設定される画素値強度ムラ補正値分布データＤ５（その１）を示す図。
【図１９】画素値強度ムラ領域に対して設定される画素値強度ムラ補正値分布データＤ５（その２）を示す図。
【図２０】画素値強度ムラ補正値算出部１０４が行う画素値強度ムラ補正値算出処理の手順（その１）を説明するフローチャート。
【図２１】図２０の処理を具体的に説明する図。
【図２２】画素値強度ムラ補正値算出部１０４が行う画素値強度ムラ補正値作成処理の手順（その２）を説明するフローチャートである。
【図２３】図２２の処理を具体的に説明する図。
【図２４】実施形態２に係る画像データ補正装置の構成を示す図。
【図２５】画像データ補正装置２００が行う画像データ補正処理の手順を示すフローチャート。
【図２６】実施形態３に係る画像表示装置の構成を概略的に示す図。
【符号の説明】
【０１２５】
１０１・・・画素値強度ムラ領域取得部、１０２・・・平行直線群設定部、１０３・・・画素値強度ムラ補正値分布設定部、１０４・・・画素値強度ムラ補正値算出部、２００・・・画像データ補正装置、２０１・・・画素値強度ムラ補正処理部、３００・・画像表示装置、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ・・・画素値強度ムラ領域、Ｇ・・・全体領域、Ｄ１・・・画素値強度ムラデータ、Ｄ２・・・画素値強度ムラ領域取得用データ、Ｄ３・・・画素値強度ムラ領域データ、Ｄ４・・・平行直線群データ、Ｄ５・・・画素値強度ムラ補正値分布データ、ＬＡ０〜ＬＡ４、ＬＢ０〜ＬＢ４、ＬＣ０〜ＬＣ４、ＬＤ０〜ＬＤ４・・・平行直線群を構成する直線
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光変調素子に存在する画素値強度ムラを補正するための画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理方法であって、
前記光変調素子に存在する画素値強度ムラ領域を取得するステップと、
前記画素値強度ムラ領域を横切る複数の直線を設定するステップと、
前記複数の直線の各直線上において前記画素値強度ムラ補正値の分布を設定するステップと、
を有することを特徴とする画像データ処理方法。
【請求項２】
請求項１に記載の画像データ処理方法において、
前記画素値強度ムラ補正値の分布は、多項式で与えられることを特徴とする画像データ処理方法。
【請求項３】
請求項１に記載の画像データ処理方法において、
前記画素値強度ムラ補正値の分布は、前記各直線上において設定した複数の線上点での離散値として与えられ、前記線上点間の前記画素値強度ムラ補正値は補間によって求めることを特徴とする画像データ処理方法。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれかに記載の画像データ処理方法において、
前記画素値強度ムラ領域の形状及び／又は大きさに応じて、前記複数の直線の本数、前記複数の直線の各直線間の間隔、前記複数の直線の各直線の長さ、前記複数の直線の方向を設定することを特徴とする画像データ処理方法。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれかに記載の画像データ処理方法において、
前記複数の直線は、各直線が平行であることを特徴とする画像データ処理方法。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれかに記載の画像データ処理方法において、
前記各直線上における前記画素値強度ムラ補正値の分布に基づいて、前記画素値強度ムラ領域の任意の位置に対応する画素値強度ムラ補正値を算出するステップをさらに有することを特徴とする画像データ処理方法。
【請求項７】
請求項６に記載の画像データ処理方法において、
前記画素値強度ムラ補正値を算出するステップは、
前記複数の直線に交差する複数の補正値算出用直線を設定し、前記複数の直線と前記複数の補正値算出用との交点において、前記画素値強度ムラ補正値の分布から前記画素値強度ムラ補正値を求めることを特徴とする画像データ処理方法。
【請求項８】
請求項６に記載の画像データ処理方法において、
前記画素値強度ムラ補正値を算出するステップは、
前記画素値強度ムラ領域において前記画素値強度ムラ補正値を算出すべき位置から前記複数の直線に交差する補正値算出用直線を設定し、前記複数の直線と前記補正値算出用直線との交点のうち、前記画素値強度ムラ補正値を算出すべき位置から最も近い交点において得られる画素値強度ムラ補正値と２番目に近い交点において得られる画素値強度ムラ補正値との補間計算によって前記画素値強度ムラ補正値を算出すべき位置の画素値強度ムラ補正値を求めることを特徴とする画像データ処理方法。
【請求項９】
光変調素子に存在する画素値強度ムラを補正するための画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理装置であって、
前記光変調素子に存在する画素値強度ムラ領域を取得する画素値強度ムラ領域取得部と
、
前記画素値強度ムラ領域を横切る複数の直線を設定する直線群設定部と、
前記複数の直線の各直線上において前記画素値強度ムラ補正値の分布を設定する画素値強度ムラ補正値分布設定部と、
を有することを特徴とする画像データ処理装置。
【請求項１０】
光変調素子に存在する画素値強度ムラを補正するための画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理装置に前記画素値強度ムラ補正値を生成する処理を実行させる画像データ処理プログラムであって、
前記光変調素子に存在する画素値強度ムラ領域を取得するステップと、
前記画素値強度ムラ領域を横切る複数の直線を設定するステップと、
前記複数の直線の各直線上において前記画素値強度ムラ補正値の分布を設定するステップと、
を有することを特徴とする画像データ処理プログラム。
【請求項１１】
光変調素子に入力する画像データを補正する画像データ補正方法であって、
請求項６〜８のいずれかに記載の画像データ処理方法によって生成された前記画素値強度ムラ補正値を用いて前記画像データを補正することを特徴とする画像データ補正方法。
【請求項１２】
光変調素子に入力する画像データを補正する画像データ補正装置であって、
請求項６〜８のいずれかに記載の画像データ処理方法によって生成された前記画素値強度ムラ補正値を用いて前記画像データを補正する画素値強度ムラ補正処理部を有することを特徴とする画像データ補正装置。
【請求項１３】
光変調素子と、前記光変調素子に入力する画像データを補正する画像データ補正装置とを有する画像表示装置であって、
前記画像データ補正装置として、請求項１２に記載の画像データ補正装置を用いることを特徴とする画像表示装置。
【請求項１】
光変調素子に存在する画素値強度ムラを補正するための画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理方法であって、
前記光変調素子に存在する画素値強度ムラ領域を取得するステップと、
前記画素値強度ムラ領域を横切る複数の直線を設定するステップと、
前記複数の直線の各直線上において前記画素値強度ムラ補正値の分布を設定するステップと、
を有することを特徴とする画像データ処理方法。
【請求項２】
請求項１に記載の画像データ処理方法において、
前記画素値強度ムラ補正値の分布は、多項式で与えられることを特徴とする画像データ処理方法。
【請求項３】
請求項１に記載の画像データ処理方法において、
前記画素値強度ムラ補正値の分布は、前記各直線上において設定した複数の線上点での離散値として与えられ、前記線上点間の前記画素値強度ムラ補正値は補間によって求めることを特徴とする画像データ処理方法。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれかに記載の画像データ処理方法において、
前記画素値強度ムラ領域の形状及び／又は大きさに応じて、前記複数の直線の本数、前記複数の直線の各直線間の間隔、前記複数の直線の各直線の長さ、前記複数の直線の方向を設定することを特徴とする画像データ処理方法。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれかに記載の画像データ処理方法において、
前記複数の直線は、各直線が平行であることを特徴とする画像データ処理方法。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれかに記載の画像データ処理方法において、
前記各直線上における前記画素値強度ムラ補正値の分布に基づいて、前記画素値強度ムラ領域の任意の位置に対応する画素値強度ムラ補正値を算出するステップをさらに有することを特徴とする画像データ処理方法。
【請求項７】
請求項６に記載の画像データ処理方法において、
前記画素値強度ムラ補正値を算出するステップは、
前記複数の直線に交差する複数の補正値算出用直線を設定し、前記複数の直線と前記複数の補正値算出用との交点において、前記画素値強度ムラ補正値の分布から前記画素値強度ムラ補正値を求めることを特徴とする画像データ処理方法。
【請求項８】
請求項６に記載の画像データ処理方法において、
前記画素値強度ムラ補正値を算出するステップは、
前記画素値強度ムラ領域において前記画素値強度ムラ補正値を算出すべき位置から前記複数の直線に交差する補正値算出用直線を設定し、前記複数の直線と前記補正値算出用直線との交点のうち、前記画素値強度ムラ補正値を算出すべき位置から最も近い交点において得られる画素値強度ムラ補正値と２番目に近い交点において得られる画素値強度ムラ補正値との補間計算によって前記画素値強度ムラ補正値を算出すべき位置の画素値強度ムラ補正値を求めることを特徴とする画像データ処理方法。
【請求項９】
光変調素子に存在する画素値強度ムラを補正するための画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理装置であって、
前記光変調素子に存在する画素値強度ムラ領域を取得する画素値強度ムラ領域取得部と
、
前記画素値強度ムラ領域を横切る複数の直線を設定する直線群設定部と、
前記複数の直線の各直線上において前記画素値強度ムラ補正値の分布を設定する画素値強度ムラ補正値分布設定部と、
を有することを特徴とする画像データ処理装置。
【請求項１０】
光変調素子に存在する画素値強度ムラを補正するための画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理装置に前記画素値強度ムラ補正値を生成する処理を実行させる画像データ処理プログラムであって、
前記光変調素子に存在する画素値強度ムラ領域を取得するステップと、
前記画素値強度ムラ領域を横切る複数の直線を設定するステップと、
前記複数の直線の各直線上において前記画素値強度ムラ補正値の分布を設定するステップと、
を有することを特徴とする画像データ処理プログラム。
【請求項１１】
光変調素子に入力する画像データを補正する画像データ補正方法であって、
請求項６〜８のいずれかに記載の画像データ処理方法によって生成された前記画素値強度ムラ補正値を用いて前記画像データを補正することを特徴とする画像データ補正方法。
【請求項１２】
光変調素子に入力する画像データを補正する画像データ補正装置であって、
請求項６〜８のいずれかに記載の画像データ処理方法によって生成された前記画素値強度ムラ補正値を用いて前記画像データを補正する画素値強度ムラ補正処理部を有することを特徴とする画像データ補正装置。
【請求項１３】
光変調素子と、前記光変調素子に入力する画像データを補正する画像データ補正装置とを有する画像表示装置であって、
前記画像データ補正装置として、請求項１２に記載の画像データ補正装置を用いることを特徴とする画像表示装置。
【図７】
【図８】
【図９】
【図１２】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２４】
【図２５】
【図２６】
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図１０】
【図１１】
【図１３】
【図１７】
【図８】
【図９】
【図１２】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２４】
【図２５】
【図２６】
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図１０】
【図１１】
【図１３】
【図１７】
【公開番号】特開２００８−２０３７１０（Ｐ２００８−２０３７１０Ａ）
【公開日】平成２０年９月４日（２００８．９．４）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００７−４１８４４（Ｐ２００７−４１８４４）
【出願日】平成１９年２月２２日（２００７．２．２２）
【出願人】（０００００２３６９）セイコーエプソン株式会社 (51,324)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２０年９月４日（２００８．９．４）
【国際特許分類】
【出願日】平成１９年２月２２日（２００７．２．２２）
【出願人】（０００００２３６９）セイコーエプソン株式会社 (51,324)
【Ｆターム（参考）】
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