説明

複合誘電体材料及びこれを用いたプリプレグ、金属箔塗工物、成形体、複合誘電体基板、多層基板、並びに複合誘電体材料の製造方法

【課題】 高い比誘電率εrとQ値を有し、比誘電率の温度変化率の小さな複合誘電体材料を提供する。
【解決手段】 誘電体セラミックスと有機高分子材料とを含有する複合誘電体材料であって、前記誘電体セラミックスは、一般式(M,Li,RE)TiO(ただし、MはBa,Sr,Caから選択される少なくとも1種、REはLa,Ce,Pr,Nd,Sm,Yb,Dyから選択される少なくとも1種、0.9≦x≦1.05。)で表される組成を有する酸化物粉末を含有する。前記酸化物粉末の基本組成成分は、aBaTiO−bSrTiO−cCaTiO−dLi1/2RE1/2TiO−eLi1/2Nd1/2TiO[ただし、REはLa,Ce,Prから選択される少なくとも1種、a〜eは各成分の配合比率(モル%)。]で表され、0≦a≦3、0≦b≦30、5≦c≦35、0≦d≦20、55≦e≦80、a+b+c+d+e=100、である。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、誘電体セラミックスと有機高分子材料とを複合化した複合誘電体材料に関する。また、係る複合誘電体材料を用い回路基板材料に適したプリプレグ、金属箔塗工物、成形体、複合誘電体基板、及び多層基板に関する。さらには、係る複合誘電体材料の製造方法に関する。
【背景技術】
【0002】
例えば、情報通信分野においては、使用周波数帯域が高周波数に移行する傾向にあり、衛星放送や衛星通信、携帯電話や自動車電話等の移動体通信では、ギガヘルツ(GHz)帯の高周波が使用されている。
【0003】
前述のような高周波帯域で使用される機器に搭載される回路基板や電子部品等では、使用する誘電体材料は、Qが高く高周波伝送特性に優れた低損失材料であることが必要である。さらに、回路基板や電子部品の高性能化や小型化を図るためには、使用周波数帯域において高比誘電率εrを有する誘電体材料が必要である。特に小型化の点については、誘電体材料中の電磁波の波長が1/√εrによって短縮されるという原理に基づくものであり、比誘電率εrの大きい誘電体材料ほど回路基板や電子部品の小型化が可能である。また、コンデンサ機能を持たせた基板の要求もあることから、そのような誘電体材料を用いた高誘電率基板も必要とされている。
【0004】
誘電体材料としては、無機材料である誘電体セラミックスが広く用いられており、必要な特性に応じて様々な組成を有する誘電体セラミックスが開発されている。ただし、前記誘電体セラミックスを回路基板や電子部品に用いる場合、バルク焼結体の形態で用いるのが一般的であり、高温での焼成が必要なことから、適用範囲が制約されるという問題がある。また、高温での焼成工程で生ずる収縮や変形、さらには例えば内部導体の酸化による特性劣化等も問題になる。
【0005】
このような状況から、誘電体セラミックス粉末と有機高分子材料とを組み合わせた複合誘電体材料が提案されている(例えば、特許文献1や特許文献2等を参照)。複合誘電体材料は、高温での焼成が不要であることから、広範な用途に使用可能であり、バルク焼結体の製造工程の一つにある焼成工程において収縮や変形、内部導体の特性劣化の問題もない。また、有機高分子材料を含有することから形状加工性の自由度が増し、軽量で、誘電体セラミックス粉末の配合割合により比誘電率εr等を任意に変えることができる等の利点を有する。
【0006】
例えば、特許文献1記載の発明には、樹脂(ポリビニルベンジルエーテル化合物)中にBaTiO系等のセラミックスを分散した複合誘電体が開示されている。特許文献1記載の発明においては、セラミックスの含有量を30体積%以上とすることで、10MHz以上の高周波数帯域で比誘電率10以上が実現されている。
【0007】
一方、特許文献2は、誘電体起電流型アンテナ用複合材料に関するものであり、比誘電率の温度変化特性が正の誘電体セラミックスと、比誘電率の温度変化特性が負の誘電体セラミックスと、高分子材料とを、全体の比誘電率の温度変化が±50ppm/℃以下となるように混合した誘電体起電流型アンテナ用複合材料が開示されている。
【特許文献1】特開2001−181027号公報
【特許文献2】特開平4−161461号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0008】
ところで、複合誘電体材料に要求される特性としては、比誘電率εrが高いことの他、損失の指標となるQ値が高いこと、温度係数が小さいこと等を挙げることができる。そして、回路基板や電子部品のさらなる高性能化を実現するためには、用いる複合誘電体材料は、これらの特性のいずれもが基準を満たすことが必要になる。
【0009】
このような観点から見たときに、例えば高い比誘電率εrを実現しながら高いQ値を得、さらには比誘電率εrの温度係数τεの絶対値を小さくすることは困難であり、いずれかの特性を犠牲にせざるを得ないのが実情である。例えば、特許文献1記載の発明では、ある程度の比誘電率εrは得られているが、Q値及び温度係数τεについては検討されていない。特許文献2記載の発明では、温度係数が重視されており、比誘電率εrについては、いずれの試料でも10以下である。Q値についても検討されていない。例えばアンテナ等の利得が重要なものには、高いQを有する低損失な誘電体材料が必要とされており、その改善が望まれる。
【0010】
本発明は、前述の実情に鑑みて提案されたものである。すなわち、本発明は、高い比誘電率εrを実現し、高いQ値を有するとともに、比誘電率の温度変化率の小さな複合誘電体材料を提供することを目的とする。また、本発明は、前記複合誘電体材料の特性向上を利用して、例えば回路基板に使用した場合にこれを高性能化することが可能なプリプレグ、金属箔塗工物、成形体、複合誘電体基板、多層基板を提供することを目的とする。さらに、本発明は、優れた流動性を示し、例えば回路基板等の製造が容易な複合誘電体材料の製造方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0011】
本発明者らは、前述の課題を解決するために長期に亘り鋭意研究を行った結果、チタン酸塩において、いわゆるAサイトにLiと希土類元素を同時に含有させることで正の温度特性τεを持たせることができることに着目し、BaTiO、SrTiO、CaTiO、Li1/2RE1/2TiO(REは希土類元素)等のチタン酸塩を適正な割合で固溶させることで、基本的に単相のペロブスカイト構造を持つ酸化物誘電体からなり、誘電率、Q特性、温度特性の各特性についてバランス良く良好な値を示す酸化物を開発した。そしてさらに検討を進めた結果、この酸化物を複合誘電体材料において有機高分子材料と組み合わせる誘電体セラミックとして用いることで、誘電率、Q特性、温度特性の各特性について、バランス良く良好な値を示す複合誘電体材料が得られるとの知見を得、本発明を完成させるに至った。
【0012】
すなわち、本発明に係る複合誘電体材料は、誘電体セラミックスと有機高分子材料とを含有する複合誘電体材料であって、前記誘電体セラミックスとして、一般式(M,Li,RE)TiO(ただし、MはBa,Sr,Caから選択される少なくとも1種を表し、REはLa,Ce,Pr,Nd,Sm,Yb,Dyから選択される少なくとも1種を表す。また、0.9≦x≦1.05である。)で表される組成を有する酸化物粉末を含有することを特徴とする。
【0013】
複合誘電体材料における誘電体セラミックスとして用いられる酸化物粉末は、アルカリ土類金属元素Mとして例えばBaTiO、SrTiO、CaTiO等を含むことで、高い比誘電率εrを示す。また、これら高い比誘電率εrをもたらすBaTiO、SrTiO、CaTiOのうち、特に、CaTiOは高いQ特性を持ち、BaTiOやSrTiOは、CaTiOを越える高い比誘電率εrを持つ。したがって、酸化物粉末においてアルカリ土類金属元素MとしてBa,Sr,Caを適宜選択して用いることで、高いQ特性と高い比誘電率εrを兼ね備えるものとなる。
【0014】
また、アルカリ土類金属元素MとしてのBaTiO、SrTiO、CaTiO等が負の温度特性を有するのに対して、Li及びRE(REは希土類元素)としての例えばLi1/2RE1/2TiOは正の温度特性を有する。したがって、これらを同時に含有することで、酸化物粉末において比誘電率εrの温度特性τεがフラットになる。
【0015】
本発明では、以上のように比誘電率εr、温度特性τε及びQ特性のバランスのよい酸化物粉末を誘電体セラミックスとして用いる。前記酸化物粉末を有機高分子材料と複合化することで、比誘電率εrやQ特性が高く、比誘電率εrの温度特性τεが小さな複合誘電体材料が実現される。
【0016】
また、本発明に係る複合誘電体材料の製造方法は、原料組成物を所定の焼成温度で保持して焼成物を得る焼成工程と、前記焼成物を気流式粉砕機を用いて粉砕する粉砕工程とを経て一般式(M,Li,RE)TiO(ただし、MはBa,Sr,Caから選択される少なくとも1種を表し、REはLa,Ce,Pr,Nd,Sm,Yb,Dyから選択される少なくとも1種を表す。また、0.9≦x≦1.05である。)で表される組成を有する酸化物粉末を作製し、前記酸化物粉末を含む誘電体セラミックスと有機高分子材料とを混合することを特徴とする。
【0017】
誘電体セラミックスを作製するための粉砕の際、気流式粉砕機を用いることで、他の粉砕機を用いる場合に比べ極めて微細な粉末の発生が抑制され、極微細な粉末の含有量の少ない酸化物粉末が得られる。このような酸化物粉末を誘電体セラミックスとして用いると、有機高分子材料と混合した混合物において良好な流動性が発揮され、例えば回路基板の製造が容易となる。
【発明の効果】
【0018】
本発明によれば、一般式(M,Li,RE)TiO(ただし、MはBa,Sr,Caから選択される少なくとも1種を表し、REはLa,Ce,Pr,Nd,Sm,Yb,Dyから選択される少なくとも1種を表す。また、0.9≦x≦1.05である。)で表される酸化物粉末を誘電体セラミックスとして用いることで、高い比誘電率εrを有し、例えば200を超える高いQ値を有し、さらには比誘電率εrの温度変化率が小さな複合誘電体材料を提供することが可能である。
【0019】
また、本発明によれば、比誘電率εr、Q値及び比誘電率εrの温度変化率の各特性について優れた複合誘電体材料を用いることで、高性能なプリプレグ、金属箔塗工物、成形体、複合誘電体基板及び多層基板を提供することができる。
【0020】
さらに、本発明によれば、一般式(M,Li,RE)TiOで表される酸化物粉末を作製する際に気流式粉砕機を使用することで、比誘電率εr、Q値及び比誘電率εrの温度変化率のいずれの特性にも優れた複合誘電体材料を容易に製造することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0021】
以下、本発明に係る複合誘電体材料及びこれを用いたプリプレグ、金属箔塗工物、成形体、複合誘電体基板、多層基板、並びに複合誘電体材料の製造方法について詳細に説明する。
【0022】
本発明の複合誘電体材料は、誘電体セラミックスと有機高分子材料(樹脂)とを複合化したものである。ここで、先ず、誘電体セラミックスと組み合わせる有機高分子材料としては、熱可塑性樹脂や熱硬化性樹脂等を挙げることができる。これら樹脂の中から所望の特性等に応じて任意の樹脂を選択すればよいが、例えば、熱可塑性樹脂としては、ポリプロピレン系樹脂、ポリスチレン系樹脂、ポリエーテルイミド系樹脂、ポリエーテルスルホン系樹脂、ポリアセタール系樹脂、シクロペンタジエン系樹脂、液晶ポリマー、及びこれらの混合物等を挙げることができる。前記熱可塑性樹脂は、高周波域において比較的低損失(高Q)の樹脂群である。
【0023】
熱硬化性樹脂としては、フェノール系樹脂、エポキシ系樹脂、不飽和ポリエステル系樹脂、ビニルエステル系樹脂、ポリイミド系樹脂、マレイミド系樹脂、ポリフェノールのポリシアナート樹脂、ビニルベンジル系樹脂、及びこれらの混合物等を挙げることができる。これらの樹脂も、高周波域において比較的低損失(高Q)の樹脂群であるが、熱硬化性樹脂を用いた場合、はんだプロセス等での耐熱性に優れた複合誘電体材料となる。特に、ポリビニルベンジルエーテル化合物等のビニルベンジル系樹脂は、温度や吸湿性に依存しにくい誘電特性を有し、耐熱性にも優れた材料である。なお、熱硬化性樹脂を硬化させる際には硬化剤を存在させてもよく、例えば、過酸化ベンゾイル、メチルエチルケトンパーオキサイド、ジクミルパーオキサイド等の公知のラジカル重合開始剤を使用することができる。
【0024】
一方、誘電体セラミックスとしては、一般式(M,Li,RE)TiO(ただし、MはBa,Sr,Caから選択される少なくとも1種を表し、REはLa,Ce,Pr,Nd,Sm,Yb,Dyから選択される少なくとも1種を表す。また、0.9≦x≦1.05である。)で表される組成を有する酸化物の粉末を用いる。この酸化物粉末は、BaTiO、SrTiO、CaTiO、Li1/2RE1/2TiO(REは希土類元素)等のチタン酸塩を所定の割合で固溶させたペロブスカイト構造を持つ酸化物誘電体の粉末である
【0025】
前記一般式(M,Li,RE)TiOで表される酸化物中、M、Li及びREの比率xは、0.9〜1.05とする。前記一般式においてxは基本的には1であるが、xが1以外の値をとる場合、すなわち化学量論組成からずれる場合もある。そこで、本発明では、許容される化学量論組成からのズレの程度を規定する趣旨で、xを前記範囲に定めることとする。
【0026】
一般式(M,Li,RE)TiOで表される酸化物の基本組成は、aBaTiO−bSrTiO−cCaTiO−dLi1/2RE1/2TiO−eLi1/2Nd1/2TiO[ただし、REはLa,Ce,Prから選択される少なくとも1種を表し、a〜eは各成分の配合比率(モル%)を表す。]で表すことができる。各成分は、以下の条件を満たすことが好ましい。
0≦a≦3
0≦b≦30
5≦c≦35
0≦d≦20
55≦e≦80
a+b+c+d+e=100
【0027】
前記基本組成成分における、各成分の組成の限定理由について説明すると、先ず、BaTiOについては、比誘電率εrを向上する効果を有するが、BaTiOの配合比率aが3モル%を越えると、比誘電率εrの温度変化率(温度特性)τεの悪化が著しく、Q値も低下する。したがって、BaTiOの配合比率aは、0モル%以上、3モル%以下とすることが好ましい。BaTiOの配合比率aは、場合によってはゼロであってもよい。
【0028】
次に、SrTiOの配合比率bであるが、SrTiOも比誘電率εrを向上する効果を有している。SrTiOの配合比率bが30モル%を越えると、比誘電率εrの温度特性τεが悪化し、Q特性が低下するおそれがある。したがって、前記SrTiOの配合比率bは、0モル%以上、30モル%以下とすることが好ましい。
【0029】
CaTiOは、Q特性の向上に効果があり、比誘電率εrについても、ある程度高い値をもたらす効果を有する。ただし、CaTiOが多すぎると、比誘電率εrの温度特性τεが悪くなるおそれがある。したがって、これらの観点から、CaTiOの配合比率cは、5モル%以上、35モル%以下とする。
【0030】
一方、Li1/2RE1/2TiOであるが、この成分は、Li1/2Nd1/2TiOとともに温度特性τεを制御する機能を有する。また、Li1/2RE1/2TiOは、比誘電率εrを向上する効果も有している。したがって、その配合比率dは、複合誘電体材料の温度特性τεや比誘電率εrを考慮して設定すればよいが、あまり配合比率dが大きすぎるとQ特性が悪くなることから、0モル%以上、20モル%以下とすることが好ましい。
【0031】
Li1/2Nd1/2TiOは、複合誘電体材料の温度特性τεの向上に寄与する。ただし、その配合比率eが大きすぎると、比誘電率εrが低下するおそれがある。したがって、Li1/2Nd1/2TiOの配合比率eは、55モル%以上、80モル%以下とする必要がある。
【0032】
以上をまとめると、誘電体セラミックスとして用いる酸化物粉末の基本組成成分をaBaTiO−bSrTiO−cCaTiO−dLi1/2RE1/2TiO−eLi1/2Nd1/2TiOで表したとき、各成分の配合比率を以下の範囲とすることが好ましい。
0≦a≦3
0≦b≦30
5≦c≦35
0≦d≦20
55≦e≦80
a+b+c+d+e=100
【0033】
また、特に良好な温度特性τεを得る観点から、各成分の配合比率を以下の範囲とすることがより好ましい。
0≦a≦3
2≦b≦17
7≦c≦17
4≦d≦10
65≦e≦76
【0034】
以上が誘電体セラミックスとして用いる酸化物粉末を構成する各成分の組成についての限定理由であるが、さらに、Li1/2RE1/2TiOとLi1/2Nd1/2TiOの比率を適正に設定することが好ましい。Li1/2Nd1/2TiOの配合比率eがLi1/2RE1/2TiOの配合比率dの10倍量を越えると、すなわちd/e<1/10であると、比誘電率εrを向上する効果と、温度特性τεの改善効果が少なくなるおそれがある。逆に、Li1/2Nd1/2TiOの配合比率eがLi1/2RE1/2TiOの配合比率dの2倍量未満であると、すなわちd/e>1/2であると、温度特性τεはプラス方向での絶対値が大きくなり、Q特性も低下するおそれがある。したがって、前記配合比率d,eは、d:e=1:2〜1:10とすることが好ましい。
【0035】
また、前記酸化物粉末においては、前記基本組成成分のうち、Li1/2Nd1/2TiOにおいて、Ndの一部がランタニド族元素(Pm,Sm,Eu,Gd,Dy,Ho,Er,Yb,Yから選択される少なくとも1種)によって置換されていてもよい。Ndの一部をこれらのより小さいイオン半径を持つランタニド族元素で置換することにより、Qf特性の向上という効果を付与することができる。
【0036】
ところで、誘電体セラミックスとして用いる酸化物粉末の比表面積は、有機高分子材料と混合した後の混合物の流動性に影響を及ぼす。酸化物粉末の比表面積を低下させると、混合物の流動性が向上し、Q特性の向上効果や、例えば基板等を製造する際に成形性を向上させ、製造を容易とする効果等が得られる。こうした観点から、酸化物粉末の比表面積(SSA)は9m/cm以下であることが好ましい。
【0037】
なお、本発明における比表面積は、密度の異なる粒子(粉末)同士の比較を行うため、下記式(1)に基づいて単位体積あたりの値に換算して示している。
【0038】
SSA(m/cm)=SSA(m/g)×ρ(g/cm) …(1)
SSA(m/g):BET法により測定した粒子の比表面積
ρ:比重ビンを用いて測定した粒子の密度
【0039】
本発明の複合誘電体材料において、酸化物粉末の粒径については、特に制限はないが、有機高分子材料との混合を考えると、適正に選定することが好ましい。例えば、使用する誘電体セラミックスの粒径が小さくなりすぎると、有機高分子材料との混練が困難になるおそれがある。逆に、誘電体セラミックスの粒径が大きくなりすぎると、有機高分子材料との混合状態が不均一になり、誘電特性も不均一になるおそれがある。また、誘電体セラミックスの含有量が多い場合には、緻密な複合誘電体材料が得られなくなる可能性がある。これらの事項を考慮して、誘電体セラミックスとして用いる酸化物粉末の平均粒子径は、0.2μm以上、100μm以下とすることが好ましい。
【0040】
以下、前記のような構成の複合誘電体材料の製造方法について説明する。先ず、誘電体セラミックスとして使用する、一般式(M,Li,RE)TiO(ただし、MはBa,Sr,Caから選択される少なくとも1種を表し、REはLa,Ce,Pr,Nd,Sm,Yb,Dyから選択される少なくとも1種を表す。また、0.9≦x≦1.05である。)で表される酸化物の粉末を作製する。
【0041】
前記酸化物粉末を作製する際には、先ず、主成分の原料粉末を所定量秤量し、これらを混合して原料組成物を得る。主成分の原料粉末としては、酸化物粉末の他、加熱により酸化物となる化合物、例えば炭酸塩、水酸化物、蓚酸塩、硝酸塩等の粉末を用いることができる。この場合、1種類の金属の酸化物(化合物)に限らず、例えば2種類以上の金属を含む複合酸化物の粉末を原料粉末としてもよい。また、仮焼成物を原料組成物とすることができる。仮焼成物は、最終組成になるように秤量した原料粉末を所定温度に保持することにより仮焼成したものである。なお、仮焼成物に添加物等の副成分を添加し、これを原料組成物としてもよい。各原料粉末の平均粒径は、例えば0.1μm〜5.0μmの範囲内で適宜選択すればよい。
【0042】
次に、原料組成物を焼成する焼成工程を行う。その焼成温度及び保持時間は、酸化物粉末の組成等に応じて適宜設定すればよい。
【0043】
焼成工程の後、粉砕工程を行う。焼成工程で得られた焼成物を粉砕することにより、酸化物粉末が得られる。
【0044】
ところで一般に、粉砕により得られる粉末(粉砕物)の粒径は不均一であり、粉砕物には極微細な粉末も含まれている。酸化物粉末を作製する際に例えばボールミル等を用いた場合、この極微細な粉末をさらに繰り返し粉砕してしまうため、粉砕物中に極微細な粉末が比較的大量に含まれることになり、比表面積の増大を招く。結果として、粉砕物である酸化物粉末と有機高分子材料とを混合したとき、混合物の流動性を悪化させるおそれがある。
【0045】
そこで本発明では、粉砕機として気流式粉砕機を使用することが好ましい。気流式粉砕機は、一般に分級機能を備えているため、極微細な粉末の過剰な粉砕を抑制することができる。なお、粉砕工程においては、気流式粉砕機を使用する粉砕(微粉砕)に先立ち、粗粉砕を行ってもよい。
【0046】
以上のように、焼成工程及び粉砕工程を1回行うことで、誘電体セラミックスとしての酸化物粉末を得ることができるが、本発明では、1回目の焼成及び粉砕の後、焼成及び粉砕を再度行うことが好ましい。すなわち、焼成工程及び粉砕工程を繰り返すことが好ましい。最終的に得られる酸化物粉末の比表面積を小さくし、有機高分子材料と混合した混合物の流動性を良好なものとすることができる。結果として、複合誘電体材料を用いた基板等の製造が容易となり、また、Q特性等の向上を図ることができる。
【0047】
また、焼成工程及び粉砕工程を繰り返し行う場合、さらなる誘電特性の向上を図る観点から、1回目の焼成工程における焼成温度を相対的に高温に設定し、2回目以降の焼成工程における焼成温度をそれより低温とすることが好ましい。
【0048】
このように焼成温度を制御する場合、1回目の焼成工程における焼成温度は、比較的高温に設定することができる。1回目の焼成工程における焼成温度は、酸化物粉末の組成等に応じて適宜設定すればよいが、例えば1300℃〜1650℃とすることができる。その保持時間は、酸化物粉末の組成等に応じて適宜設定すればよい。
【0049】
2回目以降の焼成工程では、その焼成温度を1回目の焼成工程における焼成温度より低くする。2回目以降の焼成工程における焼成温度は、1回目より低温であればよいが、例えば1100℃〜1300℃とすることができる。その保持時間は、酸化物粉末の組成等に応じて適宜設定すればよい。
【0050】
例えば1回目の焼成工程において、前述のような比較的高温で焼成を行った場合、粉砕して得られる粉砕物には極微細な粉末が多量に含まれる。極微細な粉末が発生しやすい理由は、高温の焼成により得られる焼成物が硬く、粉砕に過大なエネルギーが必要となるからである。粉砕物中に極微細な粉末が多量に含まれる結果、得られる粉砕物(酸化物粉末)の比表面積が9m/cmを大きく上回り、有機高分子材料と混合したときに流動性の悪化を招くおそれがある。粉砕時に気流式粉砕機を用いた場合であっても、こうした比表面積の増大を解消することは難しい。
【0051】
そこで、1回目の粉砕工程後、相対的に低温な焼成温度で2回目の焼成を行う。低温で再度焼成を行うことで、1回目の粉砕工程で発生した酸化物の極微細な粉末は、それよりも粒径の大きい酸化物の粉末に一体化する。2回目の粉砕工程でこの一体化した焼成物を再度粉砕することとなるが、2回目の焼成温度を相対的に低温としているので、2回目の焼成工程で得られる焼成物の硬度は1回目に比べて低く、相対的に小さなエネルギーで粉砕することができる。したがって、2回目の粉砕では極微細な粉末の発生が抑制され、例えば比表面積が9m/cm以下の酸化物粉末を容易に得ることができる。焼成工程及び粉砕工程をさらに繰り返すことで、より高い効果を得ることができる。
【0052】
このとき、1回目の焼成工程における焼成温度と2回目以降の焼成工程における焼成温度との差を50℃以上とすることが好ましい。焼成温度の差が50℃未満である場合、比表面積の低下やQ特性の向上効果が不十分となるおそれがある。1回目の焼成工程における焼成温度と2回目以降の焼成工程における焼成温度との差を100℃以上とすることがより好ましい。
【0053】
本発明の複合誘電体材料は、前述した一般式(M,Li,RE)TiOで表される酸化物粉末を含有する誘電体セラミックスと有機高分子材料(樹脂)とを混合することにより得られる。このとき、誘電体セラミックスの混合割合は、任意に設定することができるが、20体積%以上、70体積%未満とすることが好ましい。有機高分子材料の混合割合は、30体積%以上、80体積%未満である。誘電体セラミックスの割合が20体積%未満であると、比誘電率εrが高い前記酸化物を含有させることの効果を十分に発現させることができなくなるおそれがある。逆に、誘電体セラミックスの割合が70体積%以上になると、得られる複合誘電体材料の緻密性が悪くなり、例えば水分の侵入が容易となって誘電特性が劣化する等の問題が生ずるおそれがある。
【0054】
また、誘電体セラミックス粉末と有機高分子材料の混合に際しては、最終的に得られる複合誘電体材料の比誘電率εrを考慮して、その配合を設定することが好ましい。具体的には、複合誘電体材料のマイクロ波域での比誘電率εrが10以上となるように配合比を調整することが好ましく、誘電体セラミックス粉末の割合は、40体積%以上、70体積%未満であることがより好ましい。これにより、誘電体セラミックスとして用いる酸化物粉末が有する誘電特性を、複合誘電体材料において十分に発揮させることが可能である。
【0055】
本発明の複合誘電体材料は、誘電体セラミックスのみからなるバルク焼結体とは異なり、誘電体セラミックスの粉末を有機高分子材料と複合化することにより構成される。したがって、比重を小さくすることができ、材料の軽量化を図ることが可能である。また、200℃程度の低温で複合誘電体材料を作製できることから、高温での焼成によって生ずる収縮や変形等は見られず、例えば銀や銅等からなる内部導体の特性劣化も防ぐことができる。
【0056】
以上の構成を有する複合誘電体材料は、例えば回路基板や回路基板用プリプレグ、各種電子部品等に用いることができる。例えば、回路基板に用いる場合には、いわゆるベースとなる基板に前記複合誘電体材料を用い、この上に配線パターンを形成し、必要な部品を実装することで、高周波用回路基板を構築することができる。また、前記複合誘電体材料からなる基板を複数層積層することで、多層基板とすることも可能である。例えば、前記複合誘電体材料をプリプレグとして用い、これを介して複合誘電体材料からなる基板を積層すれば、高性能な多層基板を構築することが可能である。
【0057】
以下、本発明の複合誘電体材料の使用形態としてのプリプレグや金属箔塗工物、成形体、さらにはこれらを用いた複合誘電体基板、多層基板について説明する。
【0058】
先ず、プリプレグを作製する場合についての好ましい方法について述べる。プリプレグを作製するには、有機高分子材料として、例えばポリビニルベンジルエーテル化合物を用い、質量百分率で表して、40〜60%の溶液を調製する。この時に使用する溶剤はトルエン、キシレン、メチルエチルケトン等の揮発性溶剤が好ましい。その後、混合攪拌機にて前記誘電体セラミックス粉末を添加混合する。混合はボールミル等での混合も可能で、最終的には粘度調整のためにトルエン等の揮発性溶剤を加え、混合攪拌機にて10〜20分撹拌する。この時、脱気しながら撹拌することが望ましい。これにより、複合誘電体基板材料組成溶液(スラリー)を得ることができる。
【0059】
このようにして得られた複合誘電体材料組成物溶液(スラリー)をガラスクロス等のクロス基材に塗工する。特に、クロス基材としては、ガラスクロスの使用が好ましい。ガラスクロスは市販されている布質量40g/m以下、厚み50μm以下のもの(例えば、商品名旭シュエーベル等)が、誘電体セラミックス粉末の充填率を向上する上で好ましい。布質量の下限及び厚みの下限に特に制限はないが、それぞれ25g/m及び30μm程度である。
【0060】
前記ガラスクロスは、電気的な特性に応じてEガラスクロス、Dガラスクロス、Hガラスクロス等を使い分けることができる。また、層間密着力向上等の目的で、ガラスクロスに対してカップリング処理等を行ってもよい。なお、クロス基材としては、前記ガラスクロスの他に、ヤーンを織ったアラミドやポリエステル等の不織布等を用いて強化材としてもよい。この場合、厚み等はガラスクロスと同様とすればよい。
【0061】
前記塗工の際の塗工厚みとしては、現実的には、Bステージ化した後の厚みで50〜200μmとすることが好ましいが、板厚、フィラー含有率に従い適時選択することが可能である。また、塗工方法は、縦型塗工機で所定の厚みに塗工する方法、ドクターブレードコート法によりクロス基材に塗工する方法等、公知のいずれの方法であってもよく、用途に応じた生産法を選択することができる。このため生産性が高い。このような方法でフィルム化されたものを100〜120℃、0.5〜3時間熱処理し、プリプレグ(Bステージ)を得る。この際の条件は、樹脂コンテスト、所望の流動性等によって適時選択すればよい。
【0062】
ここで得られたプリプレグを使用し、例えば両面銅箔基板を作製する場合について説明すると、所定厚みとなるように、プリプレグを重ね、その積層体の両面を銅箔で挟持して成形する。成形方法は、熱プレス等の公知の方法にて行う。成形条件は100〜200℃、9.8×10〜7.8×10Pa、0.5〜10時間が好ましく、必要に応じてステップキュアしてもよい。
【0063】
このときに使用する金属箔は、一般的には銅を用いるが、これに限らず、例えば金、銀、アルミ等から選択することも可能である。また、ピール強度を確保したい場合は電解箔を、高周波特性を重視したい場合は表面凹凸による表皮効果の少ない圧延箔を使用することが好ましい。金属箔の厚みに関しては、8〜70μmであり、用途、要求特性(パターン幅及び精度、直流抵抗等)に応じて適正な厚さのものを選定して使用すればよい。
【0064】
また、前述のような銅箔等の金属箔上に前記の複合誘電体材料組成物溶液をドクターブレードコート法等により塗工し、乾燥し、金属箔塗工物を得てもよく、これにより複合誘電体基板を作製してもよい。この場合の塗工厚みは、前記のプリプレグと同様にすればよい。乾燥は、100〜120℃で0.5〜3時間程度とすればよい。
【0065】
また、プレス成形によって板状の成形体を作製する場合は、混合方法等は前述した方法と同じであるが、混合したスラリーを90〜120℃で乾燥し、混合体の固まりを作製する。さらに、この固まりを乳鉢または公知の方法で粉砕し、混合体の粉末を得る。この混合粉末を金型にて100〜150℃、9.8×10〜7.8×10Pa、0.1〜3時間でプレス成形し板状成形体を得る。板状成形体の厚みとしては、0.05〜5mmであることが好ましく、所望の板厚、誘電体セラミックス粉末含有率に応じて適時選択する。この成形体を100〜200℃、9.8×10〜7.8×10Pa、0.5〜10時間硬化させる。また、必要に応じてステップキュアしてもよい。
【0066】
以上のようにして作製したプリプレグ、銅箔等の金属箔塗工物、板状の成形体や、銅箔等の金属箔、ガラスクロス等のクロス基材等を適宜組み合わせて成形を行い、複合誘電体基板を作製する。成形条件は、100〜200℃、9.8×10〜7.8×10Pa、30〜120分とする。あるいは、前記プリプレグ、金属箔塗工物、成形体や、銅箔等の金属箔、ガラスクロス等のクロス基材等、さらにはこれらによって作製される複合誘電体基板等を積層要素とし、多層に重ねて積層することで、多層基板を構築することも可能である。
【0067】
以上の他、本発明の複合誘電体材料は、多層コンデンサや共振器、インダクタ、アンテナ等、種々の電子部品にも使用することが可能である。例えば、共振器の場合、前記複合誘電体材料からなる積層体の表面や積層体間に、ストリップ線路やグランドプレーン、外部導体、内部導体等を形成し、必要箇所を電気的に接続すればよい。本発明の複合誘電体材料を用いた共振器は、ハイパスフィルタ、ローパスフィルタ、バンドパスフィルタ、バンドエリミネーションフィルタ等の各種フィルタや、これらフィルタを組み合わせた分波フィルタ、ディプレクサ、電圧制御発振器等に応用が可能である。また、本発明の複合誘電体基板及び多層基板は、500MHz以上の高周波帯域で用いられて好適である。なお、本発明の複合誘電体材料をこれら電子部品に使用する場合、誘電体セラミックスと有機高分子材料の配合比を調整することにより、使用環境に合わせて比誘電率εrの温度変化係数τεを制御することも可能である。
【実施例】
【0068】
以下、本発明を適用した具体的な実施例について、実験結果に基づいて説明する。
【0069】
<複合誘電体材料の作製>
誘電体セラミックス粉末と有機高分子材料(ポリビニルベンジルエーテル化合物)の体積比が所定の比率(誘電体セラミックス粉末40体積%)となるように、誘電体セラミックス(平均粒子径1.5μm〜3.0μm)とポリビニルベンジルエーテル化合物を秤量し、トルエン中で十分に混合した。これを110℃で乾燥した後に粉砕して、誘電体セラミックスとポリビニルベンジルエーテル化合物の混合粉末を得た。この粉末を金型に入れて、200℃で熱硬化し、板状の複合誘電体を作製した。そして、棒状試料(1mm×1mm×9mm)を切り出し、測定試料とした。
【0070】
<評価>
作製した各試料について、空洞共振器摂動法(使用測定器:ヒューレットパッカード社製、商品名83620A、8757C、及び恒温槽デスパッチ製900シリーズ)により、2GHzでの比誘電率εrとQを温度20℃で測定した。また、比誘電率εrについて、−30℃〜+85℃の温度範囲で測定を行い、温度特性τεを求めた。
【0071】
<実験1:誘電体セラミックスの組成の検討>
先ず、複合誘電体材料に使用する誘電体セラミックスを以下のように作製した。
原料粉末として、LiCO、CaCO、SrCO、BaCO、La(OH)、Nd(OH)、Sm(OH)、TiO等を用意した。これら原料粉末を所定のモル比で所定の値となるように秤量し、湿式ボールミルを使用して16時間混合した。この混合物を1380℃で2時間保持し、仮焼成を行った。仮焼成後、得られた仮焼成物を湿式ボールミルを使用して16時間粉砕し、粉砕物を得た。
【0072】
次に、焼成工程を行った。この焼成工程では、原料組成物(粉砕物)を1380℃、4時間保持する熱処理を行った。焼成工程後、粉砕工程を行った。粉砕工程では、目開き1mmのメッシュを通過するまで乳鉢を用いて焼成物の粗粉砕を行い、それから気流式粉砕機を用いて微粉砕を行った。
【0073】
前記粉砕工程を終了した後、さらに、2回目の焼成工程、2回目の粉砕工程、3回目の焼成工程、3回目の粉砕工程を順次行った。すなわち、粉砕工程、焼成工程を3回繰り返した。なお、2回目以降の焼成工程における焼成条件は、焼成温度1200℃、保持時間2時間とした。以上の手順に従い、誘電体セラミックス粉末として用いられる一般式(M,Li,RE)TiOで表される酸化物粉末を得た。
【0074】
得られた酸化物粉末を誘電体セラミックスとして用い、前記複合誘電体材料の作製に関する説明に従って、表1に示すサンプル1〜サンプル15及び表2に示すサンプル16〜サンプル25の試料を作製した。また、誘電体セラミックスとして用いた酸化物粉末の組成を、表1及び表2に示す。酸化物粉末の組成は、当該酸化物粉末を一般式(M,Li,RE)TiOで表したときのAサイト元素の配合比率で表した。
そして、これらサンプルについて、誘電特性を評価した。結果を表1及び表2に併せて示す。
【0075】
【表1】

【0076】
【表2】

【0077】
表1及び表2から明らかなように、誘電体セラミックスとして一般式(M,Li,RE)TiOで表される酸化物を使用することで、大部分のサンプルにおいてある程度高い比誘電率εrが得られ、また、Q値及び温度特性τεについても比較的良好な結果が得られている。
【0078】
特に、表1に示すサンプル1〜サンプル15では、基本組成をaBaTiO−bSrTiO−cCaTiO−dLi1/2RE1/2TiO−eLi1/2Nd1/2TiOで表したとき、各成分が好ましい範囲内とされた酸化物粉末を誘電体セラミックスとして用いている。これらのサンプルでは、ある程度高い比誘電率εrが得られている。また、Q値については、表1に示す全てのサンプルにおいて200以上が達成されている。さらに、温度特性τεも、表1に示す全てのサンプルにおいて−250ppm/℃以内である。このように、前記基本組成における各成分を好ましい範囲内とすることにより、優れた誘電特性が達成されることがわかる。表1の中でも、前記基本組成における各成分を特に好ましい範囲内としたサンプル1〜サンプル4及びサンプル7では、温度特性τεの絶対値200ppm/℃以内が実現されている。
【0079】
<実験2:誘電体セラミックスの製造方法の検討>
次に、複合誘電体材料に使用される誘電体セラミックスの最適な製造方法について、検討を行った。なお、実験2で検討する酸化物粉末の組成は、実験1のサンプル12で用いた酸化物粉末の組成と同じである。
【0080】
本実験では、酸化物粉末を作製する際の条件を表3に示すように変化させたこと以外、実験1と同様にして酸化物粉末を作製し、前記複合誘電体材料の作製に関する説明に従って複合誘電体材料(サンプル31〜サンプル36)を作製した。
【0081】
ここで、表3中、サンプル31及びサンプル34は、酸化物粉末を作製するに際し焼成工程及び粉砕工程を1回行った例である。サンプル32及びサンプル35は、酸化物粉末を作製するに際し焼成工程及び粉砕工程を2回行った例である。サンプル33及びサンプル36は、酸化物粉末を作製するに際し焼成工程及び粉砕工程を3回行った例である。また、例えば「1380℃4h」とは、焼成温度を1380℃とし、保持時間を4時間としたことを示す。前記条件で得られた酸化物粉末の粉体特性を表3に示す。
【0082】
また、得られた酸化物粉末と有機高分子材料との混合物の流動性を評価した。流動性は、混合物の最低熔融粘度で評価した。誘電体セラミックス粉末と有機高分子材料として熱硬化性樹脂とからなる混合物の温度を室温から上げていくと、熱硬化性樹脂の部分において粘度が低下していくが、樹脂の硬化温度に達すると増大に転じる。最低熔融粘度は、前記過程における混合物の最低の粘度のことである。具体的には、酸化物粉末をビニルベンジル樹脂に対して体積比で40%添加した後に、最低熔融粘度を測定した。
【0083】
そして、これらサンプルについて、誘電特性を評価した。結果を併せて表3に示す。
【0084】
【表3】

【0085】
表3から明らかなように、焼成と粉砕とを繰り返すことで酸化物粉末の比表面積が低下し、酸化物粉末と樹脂との混合物の流動性が向上している。また、Q特性の向上も見られる。
【0086】
ところで、1回目の焼成工程における焼成温度を比較的高温とした場合、焼成及び粉砕を1回だけ行ったサンプル31では、酸化物粉末の比表面積が著しく増大し、流動性が悪化している。これに対して、2回目以降の焼成温度を1回目より低温とし、焼成及び粉砕を繰り返したサンプル32及びサンプル33では、得られる酸化物粉末の比表面積が大幅に低下し、流動性も良好な値を示している。特にサンプル33では、1回目の焼成工程と2回目以降の焼成工程とで焼成温度を変更していないサンプル36に比べて、混合物における流動性がさらに良好となり、Q特性の大幅な向上が図られている。
【0087】
以上、実験2の結果から、誘電体セラミックスとして用いられる酸化物粉末を作製する際、焼成及び粉砕を繰り返すとともに、1回目の焼成温度を高温とし、2回目以降の焼成温度を1回目より低温とすることで、非常に優れた特性を有する複合誘電体材料を得られることがわかる。
【0088】
<実験3:クロス基材塗工プリプレグ及びこれを用いた複合誘電体基板の作製>
実験1のサンプル1〜サンプル4,サンプル7及びサンプル10で使用した各種の誘電体セラミックス粉末と有機高分子材料(ポリビニルベンジルエーテル化合物)を体積比が所定の比率となるように、トルエン中で十分に混合した。このスラリーを布質量40g/m、厚み50μmのガラスクロス(旭シュエーベル製)に塗工機で塗工し、110℃で乾燥した後、これをプリプレグとした。このプリプレグの厚みは160μmであった。
【0089】
次に、作製したプリプレグ10枚を重ねて150℃でプレス圧4.0×10Paの加圧をした後、200℃で熱硬化を行い、厚み1.4mmの複合誘電体基板を作製した。そして、棒状試料(1.4mm×1.4mm×9mm)を切り出し、測定試料とした。
【0090】
これら試料について、比誘電率εr、Q値及び温度特性τεを評価した。結果を表4に示す。
【0091】
【表4】

【0092】
プリプレグを用いて作製された複合誘電体基板においても、比誘電率εr、Q値、温度特性τの各特性について、優れた特性が発揮されている。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
誘電体セラミックスと有機高分子材料とを含有する複合誘電体材料であって、
前記誘電体セラミックスとして、一般式(M,Li,RE)TiO(ただし、MはBa,Sr,Caから選択される少なくとも1種を表し、REはLa,Ce,Pr,Nd,Sm,Yb,Dyから選択される少なくとも1種を表す。また、0.9≦x≦1.05である。)で表される組成を有する酸化物粉末を含有することを特徴とする複合誘電体材料。
【請求項2】
前記酸化物粉末の基本組成成分が、aBaTiO−bSrTiO−cCaTiO−dLi1/2RE1/2TiO−eLi1/2Nd1/2TiO[ただし、REはLa,Ce,Prから選択される少なくとも1種を表し、a〜eは各成分の配合比率(モル%)を表す。]で表され、
0≦a≦3
0≦b≦30
5≦c≦35
0≦d≦20
55≦e≦80
a+b+c+d+e=100
であることを特徴とする請求項1記載の複合誘電体材料。
【請求項3】
前記配合比率a,b,c,d,eが、
0≦a≦3
2≦b≦17
7≦c≦17
4≦d≦10
65≦e≦76
であることを特徴とする請求項2記載の複合誘電体材料。
【請求項4】
前記基本組成成分のうち、Li1/2Nd1/2TiOにおいて、Ndの一部がPm,Sm,Eu,Gd,Dy,Ho,Er,Yb,Yから選択される少なくとも1種によって置換されていることを特徴とする請求項2又は3記載の複合誘電体材料。
【請求項5】
前記配合比率d,eが、d:e=1:2〜1:10であることを特徴とする請求項2から4のいずれか1項記載の複合誘電体材料。
【請求項6】
前記酸化物粉末の比表面積が9m/cm以下であることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項記載の複合誘電体材料。
【請求項7】
前記有機高分子材料が熱可塑性樹脂であることを特徴とする請求項1から6のいずれか1項記載の複合誘電体材料。
【請求項8】
前記有機高分子材料が熱硬化性樹脂であることを特徴とする請求項1から6のいずれか1項記載の複合誘電体材料。
【請求項9】
前記熱硬化性樹脂がビニルベンジル系樹脂であることを特徴とする請求項8記載の複合誘電体材料。
【請求項10】
前記ビニルベンジル系樹脂は、ポリビニルベンジルエーテル化合物を主体とするものであることを特徴とする請求項9記載の複合誘電体材料。
【請求項11】
請求項1から10のいずれか1項記載の複合誘電体材料を溶剤に分散させたスラリーがクロス基材に塗工され、乾燥されてなるプリプレグ。
【請求項12】
前記クロス基材がガラスクロスであることを特徴とする請求項11記載のプリプレグ。
【請求項13】
前記ガラスクロスは、布質量が40g/m以下であり、厚みが50μm以下であることを特徴とする請求項12記載のプリプレグ。
【請求項14】
請求項1から10のいずれか1項記載の複合誘電体材料を溶剤に分散させたスラリーが金属箔上に塗工され、乾燥されてなる金属箔塗工物。
【請求項15】
前記金属箔が銅箔であることを特徴とする請求項14記載の金属箔塗工物。
【請求項16】
請求項1から10のいずれか1項記載の複合誘電体材料を溶剤に分散させたスラリーを乾燥し、成形したことを特徴とする成形体。
【請求項17】
請求項1から10のいずれか1項記載の複合誘電体材料を用いたことを特徴とする複合誘電体基板。
【請求項18】
請求項11から13のいずれか1項記載のプリプレグを加熱及び加圧することにより形成されたことを特徴とする請求項17記載の複合誘電体基板。
【請求項19】
請求項11から13のいずれか1項記載のプリプレグを金属箔間に挟み込んだ状態で加熱及び加圧することにより形成され、両面に金属箔を有することを特徴とする請求項17記載の複合誘電体基板。
【請求項20】
前記金属箔が銅箔であることを特徴とする請求項19記載の複合誘電体基板。
【請求項21】
請求項14又は15記載の金属箔塗工物がクロス基材の両面にそれぞれ塗工面が接するように貼り合わされ、この状態で加熱及び加圧することにより形成され、両面に金属箔を有することを特徴とする請求項17記載の複合誘電体基板。
【請求項22】
前記クロス基材がガラスクロスであることを特徴とする請求項21記載の複合誘電体基板。
【請求項23】
前記ガラスクロスは、布質量が40g/m以下であり、厚みが50μm以下であることを特徴とする請求項22記載の複合誘電体基板。
【請求項24】
請求項16記載の成形体を加熱及び加圧することにより形成されたことを特徴とする請求項17記載の複合誘電体基板。
【請求項25】
請求項16記載の成形体を金属箔間に挟み込んだ状態で加熱及び加圧することにより形成され、両面に金属箔を有することを特徴とする請求項17記載の複合誘電体基板。
【請求項26】
前記金属箔が銅箔であることを特徴とする請求項25記載の複合誘電体基板。
【請求項27】
500MHz以上の高周波帯域で用いられることを特徴とする請求項17から26のいずれか1項記載の複合誘電体基板。
【請求項28】
請求項11から13のいずれか1項記載のプリプレグ、請求項14又は15記載の金属箔塗工物、請求項16記載の成形体、請求項17から26のいずれか1項記載の複合誘電体基板から選択される少なくとも1種を積層要素とし、当該積層要素を含む多層構造を有することを特徴とする多層基板。
【請求項29】
500MHz以上の高周波帯域で用いられることを特徴とする請求項28記載の多層基板。
【請求項30】
原料組成物を所定の焼成温度で保持して焼成物を得る焼成工程と、前記焼成物を気流式粉砕機を用いて粉砕する粉砕工程とを経て一般式(M,Li,RE)TiO(ただし、MはBa,Sr,Caから選択される少なくとも1種を表し、REはLa,Ce,Pr,Nd,Sm,Yb,Dyから選択される少なくとも1種を表す。また、0.9≦x≦1.05である。)で表される組成を有する酸化物粉末を作製し、
前記酸化物粉末を含む誘電体セラミックスと有機高分子材料とを混合することを特徴とする複合誘電体材料の製造方法。
【請求項31】
前記焼成工程及び前記粉砕工程を繰り返し行うことを特徴とする請求項30記載の複合誘電体材料の製造方法。
【請求項32】
2回目以降の焼成工程における焼成温度を1回目の焼成工程における焼成温度より低温とすることを特徴とする請求項31記載の複合誘電体材料の製造方法。
【請求項33】
1回目の焼成工程における焼成温度と2回目以降の焼成工程における焼成温度との差を50℃以上とすることを特徴とする請求項32記載の複合誘電体材料の製造方法。
【請求項34】
1回目の焼成工程における焼成温度と2回目以降の焼成工程における焼成温度との差を100℃以上とすることを特徴とする請求項33記載の複合誘電体材料の製造方法。

【公開番号】特開2006−331675(P2006−331675A)
【公開日】平成18年12月7日(2006.12.7)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2005−149300(P2005−149300)
【出願日】平成17年5月23日(2005.5.23)
【出願人】(000003067)TDK株式会社 (7,238)
【Fターム(参考)】