試験対象装置、試験システム、テスト方法及びプログラム
【課題】本発明は、不揮発メモリ、入力部、表示部に不良があってもテストを行える試験対象装置、試験システム、テスト方法及びプログラムを提供することを課題とする。
【解決手段】
試験対象装置１に接続されたダウンロード用ＰＣ２から、内蔵メモリ５にテストプログラム８をダウンロードすると共にテストプログラム８を起動する。これにより不揮発メモリ４にプログラムを書き込むことができない試験対象装置１に対して試験を行なうことが出来る。
【解決手段】
試験対象装置１に接続されたダウンロード用ＰＣ２から、内蔵メモリ５にテストプログラム８をダウンロードすると共にテストプログラム８を起動する。これにより不揮発メモリ４にプログラムを書き込むことができない試験対象装置１に対して試験を行なうことが出来る。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験対象装置上でテストプログラムを実行するテスト方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在機器の異常発生に対処する様々な手法が開示されている。
例えば特許文献１には、ランプの点灯の仕方を変化させることにより異常を通知するマイコンガスメータが提案されている。
【０００３】
また特許文献２には、メモリーカード記憶領域の一部故障に対処するため、記憶領域を複数のブロックに分割し、ブロック毎に有効／無効の管理を行う方法が開示されている。
更に特許文献３には、起動用のプログラムが書き込まれているフラッシュメモリの書き換え中の停電等に対処するため、フラッシュメモリを主データ保持部分と従データ保持部分とに分け、従データ保持部分に最新データを書き込み、書き込みが完了すると主データ保持部分と従データ保持部分のアドレスを入れ替えることで対処する方法が開示されている。
【０００４】
一方、携帯電話等内部にメモリを備える機器では、外部ＰＣよりテストプログラムを携機器の不揮発メモリに書き込み、不揮発メモリ上からテストプログラムを起動してテストを行う。そして起動したテストプログラムは、機器上のキーパッド等の入力部を操作して動作を制御し、テスト結果を示すメッセージは機器上のメインＬＣＤ等の表示部上に表示する。
【特許文献１】特開２００４−７７２６５号公報
【特許文献２】特開平１１−３９１５１号公報
【特許文献３】特開平６−１１９２５４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
このような内部メモリを備える機器に対する従来のテストの仕方では、テストを実行するためにはプログラムを書き込む不揮発メモリが正常に書き込める必要がある。またエラー情報の通知や試験の制御に用いるＬＣＤやキーパッドなど、試験を実行するためのデバイスが正常に動作する必要があった。
【０００６】
そのため不揮発メモリ上のプログラムをダウンロードする領域が破損しプログラムが書き込めない場合や、メインＬＣＤやキーパッドに不具合がある場合に正常にテストプログラムを実行できない問題があった。
【０００７】
そこで本発明は、不揮発メモリ、キーパッド等の入力部、メインＬＣＤ等の表示部に不良があってもテストを行える試験対象装置、試験システム、テスト方法及びプログラムを提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本試験対象装置はテストプログラムに基づいて、自身のテストを実行する試験対象装置であって、上記課題を解決するため、記憶部、通信部及び処理部を含む。
記憶部は、外部装置から前記テストプログラムをダウンロードするためのプログラムが記録する。
【０００９】
通信部は、外部装置との通信を行う。
処理部は、前記ダウンロードするためのプログラムを起動して、前記通信部を介して前記外部装置からダウンロードされるテストプログラムを前記記憶部に格納すると共に、前記テストプログラムを動作させて前記情報処理装置のテストを実行する。
【００１０】
また本発明は、試験システム、テスト方法やプログラムもその範囲に含む。
【発明の効果】
【００１１】
本試験装置によれば、テストプログラムを不揮発メモリ上にダウンロードしても正常に動作しない場合においても、外部から送り込んだテストプログラムを直接実行することで障害箇所の特定をおこなう。
・ＳＤＲＡＭ上の特定の領域が故障している。
・不揮発メモリ上の特定の領域が故障している。
・プログラムは動作しているがＬＣＤ本体および制御線の障害により表示されない。
・キー制御デバイスの故障によりキー入力ができない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下に図面を参照しながら本発明の一実施形態について説明する。
なお以下の説明では、本実施形態のテスト方法でテストされる試験対象装置として携帯電話をテストする例を挙げて説明するが、本実施形態のテスト方法でテストされる試験対象装置は携帯電話に限定されるものではなく、揮発性メモリと不揮発メモリを内部に備える機器であれば他のものでも良い。
【００１３】
図１は、本実施形態における試験システムについての概略を示す図である。
図１の試験システムでは、試験対象装置１と、外部より試験対象装置１にテストプログラムを送り込むダウンロード用ＰＣ２で構成される。そして試験対象装置１とダウンロード用ＰＣ２はＵＳＢケーブル３で接続される。
【００１４】
試験対象装置１には、不揮発メモリ４内に端末側ＤＬ用プログラム６があらかじめ用意され、ＰＣ側にも同様にＰＣ側ＤＬ用プログラム７と、試験対象装置１にダウンロードするテストプログラム８のバイナリファイルが記憶されている。なお端末側ＤＬ用プログラム６は、外部からプログラムなどを試験対象装置１にダウンロードする際に用いられるプログラムであり、工場出荷時にすでに不揮発メモリ上に書き込まれており、正常に動作するものとする。
【００１５】
ＰＣ側ＤＬ用プログラム７は、ＵＳＢケーブル３を介して試験対象装置１をリブートし、端末側ＤＬ用プログラム６を起動する。
起動された端末側ＤＬ用プログラム６は、ダウンロード用ＰＣ２とのＵＳＢ等の回線によって試験対象装置１が接続されていることを認識すると、ＰＣ側ＤＬ用プログラム７と通信し、ダウンロード用ＰＣ２側に格納されているテストプログラム８を試験対象装置１内の揮発性の内蔵メモリ５に展開する。
【００１６】
そして端末側ＤＬ用プログラム６は、テストプログラムを内蔵メモリ５に展開後、テストプログラムの先頭に分岐する。これにより、テストプログラム８が自動的に実行され、試験対象装置１に対するテストが実行される。
【００１７】
図２は、テストプログラムの起動フローの概略を示す図である。
テストは以下の順番で実行される。なお、試験対象装置１にエラーを検出すると、試験対象装置１は直ちに停止し障害箇所を通知するものとする。
【００１８】
まずステップＳ１として、ダウンロード用ＰＣ２上のＰＣ側ＤＬ用プログラム７が試験
対象装置１をリブートする。
再起動した試験対象装置１は、自己の不揮発メモリ４に記憶されている端末側ＤＬ用プログラム６を起動する。
【００１９】
そして端末側ＤＬ用プログラム６は、試験対象装置１がダウンロード用ＰＣ２と接続されていることを認識すると、ＰＣ側ＤＬ用プログラム７とやり取りを行う。このやりとりに応じて、ステップＳ３としてＰＣ側ＤＬ用プログラム７は、テストプログラム８のバイナリデータを試験対象装置１に対して送信する。
【００２０】
端末側ＤＬ用プログラム６は、ステップＳ４としてダウンロード用ＰＣ２から送信されたテストプログラム８のバイナリデータを受信し、ステップＳ５としてこれを試験対象装置１の内臓メモリ５に展開する。
【００２１】
そして端末側ＤＬ用プログラム６は、ステップＳ６としてステップＳ５で内蔵メモリ５に展開したテストプログラム８の先頭に処理を分岐する。これによりテストプログラム８は自動的に起動される（ステップＳ７）。
【００２２】
以下テストプログラム８は、自己に記載された処理に基づいて試験対象装置１に対する種々の項目のテストを行ってゆき、試験対象装置１にエラーを検出すると障害箇所を通知すると共に直ちに処理を停止する。なおテスト結果の通知は、試験対象装置１の表示部に表示する構成としても、ダウンロードＰＣ２の表示部に表示する構成としても良い。
【００２３】
このように本実施形態によるテスト方法では、テストプログラム８は外部装置から試験対象装置１の内蔵メモリ５に展開されるので、試験対象装置１の不揮発メモリ４の特定領域に不具合があってもテストを行なうことが出来る。
【００２４】
また試験対象装置１の内部メモリ５に展開されたテストプログラム８は、内蔵メモリ５に展開されると共に自動的に実行され、テストを行ってゆくので、ユーザが入力指示を行う必要が無く、試験対象装置１の入力部が故障していてもテストを行なうことが出来る。
【００２５】
次に本実施形態におけるテスト方法についてより詳細に説明する。
図３は、本実施形態における試験対象装置１の構成例を示す図である。
図３において、試験対象装置１は、ＵＳＢコントローラ１１、第１のＣＰＵ１２、第１のＣＰＵ側ＳＤＲＡＭ１３、第１のＣＰＵ側不揮発メモリ１４、共有メモリ１５、周辺制御インタフェース（ＩＦ）１６、第２のＣＰＵ１７、第２のＣＰＵ側ＳＤＲＡＭ１８、第２のＣＰＵ側不揮発メモリ１９及び周辺デバイス２１を備えている。
【００２６】
ＵＳＢコントローラ１１は、ＵＳＢ接続を制御するコントローラである。ダウンロード用ＰＣ２は、試験対処装置１とＵＳＢコントローラ１１を介して接続される。第１のＣＰＵ１２は、試験対象装置１の基本機能を司る。例えば試験対象装置１が携帯電話であったなら、第１のＣＰＵ１２は電話としての機能を実現するための処理を司るＣＰＵである。第１のＣＰＵ１２は、内部ＲＡＭ２０を備えている。第１のＣＰＵ側ＳＤＲＡＭ１３は、第１のＣＰＵ１２によってワークメモリとして読み書きされる揮発性のメモリである。第１のＣＰＵ側不揮発メモリ１４は、第１のＣＰＵ１２によって読み書きされる不揮発性のメモリである。共有メモリ１５は、第１のＣＰＵ１２と第２のＣＰＵ１７で共用されるメモリである。周辺制御インタフェース（ＩＦ）１６は、周辺デバイス２１との接続を行うインタフェースである。第２のＣＰＵ１７は、周辺デバイス２１に対する制御を行うＣＰＵである。第２のＣＰＵ１７は、テストプログラム８を実行する際のメインＣＰＵとなる。第２のＣＰＵ側ＳＤＲＡＭ１８は、第２のＣＰＵ１７によってワークメモリとして読み書きされる揮発性のメモリである。第２のＣＰＵ側不揮発メモリ１９は、第２のＣＰＵ１７によって読み書きされる不揮発性のメモリである。
【００２７】
周辺デバイス２１は、試験対象装置１の入出力を司るデバイスで、例えば試験対象装置１が携帯電話であったなら、ＬＣＤ、ＬＥＤ、キーパッドなどが該当する。
図４は、図３のような構成の試験対象装置１に対してテストを行う際の、試験対象装置１内の各構成要素の動作を示すフローチャートである。
【００２８】
図４の処理は、試験対象装置１とダウンロード用ＰＣ２がＵＳＢによって接続状態にあり、ダウンロード用ＰＣ２から試験対象装置１が試験実施通知を受けると開始される。
図４の処理が開始されるとまずＣＰＵ１は、ステップＳ１１として、ＣＰＵ１の内部ＲＡＭ２０内にあるローダ分岐フラグを書き込みＯＮにする。そしてＣＰＵ１は、ステップＳ１２として、ＣＰＵ１自身をリブートする。なおこのとき内部ＲＡＭ２０内の内容は保持される。
【００２９】
リブートされたＣＰＵ１は、ステップＳ１３としてＣＰＵ１側不揮発メモリ１４内のブートプログラムを実行する。そして次にＣＰＵ１はブートプログラムに基づいて、ステップＳ１４として、内部ＲＡＭ２０内のローダ分岐フラグをチェックする。その結果、ローダ分岐フラグがＯＦＦだった場合（ステップＳ１４、通常ブートモード）、通常のブート処理を行う。
【００３０】
またステップＳ１４において、ローダ分岐フラグがＯＮであった場合（ステップＳ１４、通常ロードモード）、第１のＣＰＵ１２は通常ロードモードに入る。
そして第１のＣＰＵ１２は、第１のＣＰＵ側不揮発メモリ２４内の端末側ＤＬ用プログラムに従って、第１のＣＰＵ側不揮発メモリ１４に保持されている第２のＣＰＵブートプログラムを共有ＲＡＭ１５にコピーする。そして第１のＣＰＵ１２は、第２のＣＰＵ１７のリセットを解除する（ステップＳ１６）。この後、第１のＣＰＵ１２は第２のＣＰＵ１７からの応答待ち状態に入る。
【００３１】
リセットを解除された第２のＣＰＵ１７は、ステップＳ２１として共有ＲＡＭ１５上の第２のＣＰＵブートプログラムを実行する。そしてステップＳ２２として第１のＣＰＵ１２に、自己が起動したことを通知する。
【００３２】
第２のＣＰＵ１７からの通知を受けて第１のＣＰＵ１２は、ステップＳ１６として第２のＣＰＵ１７からの応答待ち状態から抜け、ステップＳ１７としてダウンロード用ＰＣ２とＵＳＢにより再接続する。
【００３３】
そして第１のＣＰＵ１２は、ステップＳ１９としてダウンロード用ＰＣ２内のＰＣ側ＤＬ用プログラム７とやり取りを行い、ダウンロード用ＰＣ２からテストプログラム８のバイナリデータを受信し、バイナリデータを第２のＣＰＵ１７側に送信する。
【００３４】
第２のＣＰＵ１７では、ステップＳ２３として第１のＣＰＵ１２から受信したテストプログラム８を第２のＣＰＵ側ＳＤＲＡＭ１８に展開する。そしてステップＳ２４として、第２のＣＰＵ１７はテストプログラムの先頭に処理を分岐する。これにより第２のＣＰＵ１７によって、テストプログラム８が自動的に実行され、試験対象装置１に対するテストが開始される。
【００３５】
以降第２のＣＰＵ１７は、テストプログラム８に基づいて試験対象装置１に対するテスト項目を順次行ってゆき、不具合を発見するとそれをユーザに通知すると共に処理を停止する。
【００３６】
このような処理により本実施形態のテスト方法では、テストプログラム８は第２のＣＰＵ側ＳＤＲＡＭ１８に展開されるので、第２のＣＰＵ１７側不揮発性メモリ１９に不具合があっても試験対象装置１に対するテストを行なうことが出来る。
【００３７】
またこのテストプログラム８は、第２のＣＰＵ１７側ＳＤＲＡＭ１８に展開されると共に自動的に実行され、テスト項目を実行してゆくので、ユーザが入力指示を行う必要が無く、試験対象装置１の入力部が故障していてもテストを行なうことが出来る。
【００３８】
また第２のＣＰＵ側ＳＤＲＡＭ１８に展開されるテストプログラム８を小さく出来るので、第２のＣＰＵ側ＳＤＲＡＭ１８の一部に不具合があってもテストを行なうことが出来る。
【００３９】
次にテストプログラム８によって行われる具体的なテスト項目について説明する。
図５は試験対象装置１を携帯電話とした場合の、試験対象装置１の構成例を示す図である。
【００４０】
図５において携帯電話１００は、ＳＤＲＡＭ３１、不揮発性メモリ３２、ＬＣＤ制御ＣＰＵ３３、メイン制御ＣＰＵ３４、ＬＣＤ制御デバイス３５、ＬＥＤ制御デバイス３６、キー制御デバイス３７、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）３８、発光ダイオード（ＬＥＤ）３９及びキーパッド４０を備えている。
【００４１】
ＳＤＲＡＭ３１は、図３のＣＰＵ２側ＳＤＲＡＭ１８に相当するもので、メイン制御ＣＰＵ３４によってワークメモリとして用いられる揮発性メモリである。また本実施形態のテスト方法では、ダウンロード用ＰＣ２から受信したテストプログラム８がＳＤＲＡＭ３１に展開される。不揮発性メモリ３２は、図３の第２のＣＰＵ側不揮発性メモリ１９に相当するもので、メイン制御ＣＰＵ３４によって読み書きされる不揮発性のメモリである。ＬＣＤ制御ＣＰＵ３３は、ＬＣＤ３８の表示を制御するＣＰＵである。ＬＣＤ制御ＣＰＵ３３は、図３の周辺制御ＩＦ１６の一部に相当する。メイン制御ＣＰＵ３４は、図３の第２のＣＰＵ１７に相当するもので、ＬＣＤ３８、ＬＥＤ３９及びキーパッド４０等の周辺機器の制御を行う。またメイン制御ＣＰＵ３４は、ダウンロード用ＰＣ２から読み込んだテストプログラム８を実行して、携帯電話１００に対するテストを実行する。ＬＣＤ制御デバイス３５は、ＬＣＤ３８とのインタフェースとなる制御デバイスである。このＬＣＤ制御デバイス３５は、図３の周辺制御インタフェース１６の一部に相当する。ＬＥＤ制御デバイス３６は、ＬＥＤ３９の表示を制御する制御デバイスである。ＬＥＤ制御デバイス３６は、図３の周辺制御インタフェース１６の一部に相当する。キー制御デバイス３７は、キーパッド４０からの入力やキーパッド４０のバックライト点灯を制御する制御デバイスである。キー制御デバイス３７は、図３の周辺制御インタフェース１６の一部に相当する。
【００４２】
ＬＣＤ３８は、ユーザに様々な情報を表示する表示部である。ＬＣＤ３８は、図３の周辺デバイス２１の１つに相当する。発光ダイオード３９は、点灯によりバッテリーの状態等をユーザに知らせる表示部である。発光ダイオード３９は、図３の周辺デバイス２１の１つに相当する。キーパッド４０は、ユーザが携帯電話１００に対して電話番号等を入力する入力キーである。またキーパッド４０は、バックライトを発光することにより、ユーザにテストの進行具合やテスト結果等の情報を通知することが出来る。キーパッド４０の入力制御とバックライトの点灯制御は異なる制御系統なので、キーパッド４０の入力機能に不具合があってもバックライトの点灯による通知は行なうことが出来る。キーパッド４０は、図３の周辺デバイス２１の１つに相当する。
【００４３】
図５のような構成の携帯電話１００において、図４に示したようなフローで、ＳＤＲＡ
Ｍ３１に外部からダウンロードされたテストプログラムが展開される。展開されたテストプログラムが実行されると、まずメイン制御ＣＰＵ３４は、ＳＤＲＡＭ３１のテストを行う。ＳＤＲＡＭ３１のテストでは、ＳＤＲＡＭ３１各アドレスに対してＲｅａｄ、Ｗｒｉｔｅ動作を確認する。なおＳＤＲＡＭ３１のテストでは、テストプログラムが用いている領域以外の部分に対してテストを行う。ＳＤＲＡＭ３１のテストでは、テストプログラムそのものは小さいので、ほとんどのメモリ領域のテストを行なうことが出来る。
【００４４】
次にメイン制御ＣＰＵ３４は、不揮発性メモリ３２に対するテストを行う。不揮発性メモリ３２に対するテストでは、不揮発性メモリ３２の各アドレスに対してＲｅａｄ、Ｗｒｉｔｅ動作を確認、及びＥｒａｓｅ動作の確認を行う。
【００４５】
次にメイン制御ＣＰＵ３４は、ＬＣＤ制御ＣＰＵ３３に対するテストを行う。ＬＣＤ制御ＣＰＵ３３に対するテストでは、ＬＣＤ制御ＣＰＵ３３に対する起動診断を行う。
そして次にメイン制御ＣＰＵ３４は、自己の内部にある内蔵ＲＡＭのテストを行う。内蔵ＲＡＭのテストでは、内臓ＲＡＭの各アドレスに対してＲｅａｄ、Ｗｒｉｔｅ動作を確認する。
【００４６】
次にメイン制御ＣＰＵ３４は、パワーオンやリセット等のＩ／Ｏ状態の確認を行う。Ｉ／Ｏ状態の確認では、各Ｉ／Ｏの出力状態のダンプを取り確認を行う。
そして次にメイン制御ＣＰＵ３４は、ＬＥＤ制御デバイス３６を動かす時に使うシリアル通信インタフェースであるＩ２Ｃのテストを行う。Ｉ２Ｃのテストでは、Ｉ２ＣデバイスであるＬＥＤ制御デバイス３６内の制御レジスタアクセスに対するアクセス確認を行う。
【００４７】
次にメイン制御ＣＰＵ３４は、ＬＥＤ３９のテストを行う。ＬＥＤ３９のテストではＬＥＤ３９が正常に点灯するかどうかを調べる。
そして次にメイン制御ＣＰＵ３４は、キー制御デバイス３７に対するテストを行う。キー制御デバイス３７のテストでは、メイン制御ＣＰＵ３４はキー制御デバイス３７の制御レジスタに対するアクセス確認を行う。
【００４８】
次にメイン制御ＣＰＵ３４は、ＬＣＤ制御デバイス３５のテストを行う。ＬＣＤ制御デバイス３５のテストでは、メイン制御ＣＰＵ３４はＬＣＤ制御デバイス３５の制御レジスタに対するアクセス確認を行う。
【００４９】
そして最後にメイン制御ＣＰＵ３４は、ＬＣＤ３８に対するテストを行う。ＬＣＤ３８のテストでは、ＬＣＤ３８が正常に表示を行なえるか表示動作確認を行う。
テストの進行状況やテストの結果は、キーパッド４０のバックライトの点灯の仕方で試験者に通知する。なおＬＥＤ３９やＬＣＤ３８の診断が終了した後は、テスト結果はＬＥＤ３９あるいはＬＣＤ３８を用いて通知するようにしても良い。あるいは、携帯電話１００が接続されているダウンロード用ＰＣにテスト結果やテストの進行状況を送り、ダウンロード用ＰＣの表示部からテストの進行状況などを表示するようにしても良い。
【００５０】
この様に本実施形態では、ＳＤＲＡＭや不揮発メモリなどのテストプログラムが動作する上で必要なデバイスから順番に試験され、次いでＬＣＤ表示、キー制御、ＬＥＤ点灯まで試験を自動で実行する。
【００５１】
そして本実施形態のテストプログラムによるテストが完了して、ＬＣＤ表示、キー制御、ＬＥＤ点灯までの試験手法が使用できることが確認されると、電話器としての機能、カメラ機能、各種スイッチ等より詳細なテストが行われる。
【００５２】
図６は、本実施形態における記憶媒体とその利用形態を示す図である。
本実施形態における試験対象装置４８に、ＵＳＢ等の有線あるいはＢｌｕｅｔｏｏｔｈ等の無線による回線４９によって接続された情報処理装置４１では、媒体読み取り装置４７により磁気テープ、フレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤ等の記憶媒体４８に記憶されている上述した端末側ＤＬ用プログラムを、回線４９を介して試験対象装置４８の不揮発性メモリにロードする。
【００５３】
また、図６に示した情報処理装置では、ＣＤ−ＲＯＭ等の記憶媒体４５を用いてプログラムソフトの交換が行われる場合がある。よって、本発明は、試験対象装置や試験方法、プログラムに限らず、試験対象装置により使用されたときに、上述した実施形態の機能を試験対象装置に行なわせるための、情報処理装置４１が読み出し可能な記憶媒体４６やプログラムとして構成することもできる。
【００５４】
この場合、「記憶媒体」には、ＣＤ−ＲＯＭ、フレキシブルディスク、あるいはＭＯ、ＤＶＤ、メモリーカード、リムーバブルハードディスク等の媒体駆動装置４７に脱着可能な可搬記憶媒体４６や、ネットワーク回線４３経由で送信されるサーバのような外部の装置内のデータベースなどの記憶部４２、あるいは情報処理装置４１の本体４４内のＲＡＭ又はハードディスク等のメモリ４５等が含まれる。可搬記憶媒体４６や記憶部４２に記憶されているプログラムは、回線４９を介して試験対象装置４８にロードされる。
【００５５】
あるいは「記憶媒体」には、試験対象装置４８の交換可能な不揮発性メモリ５０も含まれる。
また、既に説明したＣＤ−ＲＯＭやＤＶＤ−ＲＯＭ等の記憶媒体には、上記に例として挙げたものの他にも、例えば、Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ（登録商標）やＡＯＤ（Ａｄｖａｎｃｅｄ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｄｉｓｃ）などの青色レーザーを用いた次世代光ディスク記憶媒体、赤色レーザーを用いるＨＤ−ＤＶＤ９、青紫色レーザーを用いるＢｌｕｅ Ｌａｓｅｒ ＤＶＤ、ホログラムなど、今後開発される種々の大容量記憶媒体を用いて本発明を実施することも可能である。
【００５６】
このように本実施形態における試験システムによれば、揮発性メモリや不揮発性メモリの特定箇所が故障していたり、入力デバイスの故障により入力指示ができなかったり、表示器の制御線の障害等によって、テストプログラムを不揮発メモリ上にダウンロードしても正常に動作しない場合においても、外部から送り込んだテストプログラムを直接実行することで障害箇所の特定を行なうことが出来る。
【００５７】
以上の実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。
（付記１）
テストプログラムに基づいて、自身のテストを実行する試験対象装置において、
外部装置から前記テストプログラムをダウンロードするためのプログラムが記録された記憶部と、
外部装置との通信を行う通信部と、
前記ダウンロードするためのプログラムを起動して、前記通信部を介して前記外部装置からダウンロードされるテストプログラムを前記記憶部に格納すると共に、前記記憶部に格納されたテストプログラムを動作させて前記情報処理装置のテストを実行する処理部と
を備えたことを特徴とする試験対象装置。
（付記２）
前記記憶部は、不揮発性の第１の記憶部を含み、
前記ダウンロードするためのプログラムは、前記第１の記憶部に格納されている付記１に記載の試験対象装置。
（付記３）
前記記憶部は、揮発性の第２の記憶部を含み、
前記ダウンロードプログラムは、前記テストプログラムを前記第２の記憶部にダウンロードすることを特徴とする付記２に記載の試験対象装置。
（付記４）
前記処理部は、前記の試験対象装置起動時に、前記外部装置と接続されているか否かを判別し、前記試験対象装置が前記外部装置と接続されていると判別された場合に、前記ダウンロードするためのプログラムを起動させることを特徴とする付記１に記載の情報処理装置。
（付記５）
前記処理部は、前記外部装置から試験実行の通知を受けると、内部フラグを立てると共に、自己を再起動し、当該再起動後前記内部フラグがたっているのを確認すると前記ダウンロードするためのプログラムを起動させることを特徴とする付記４に記載の情報処理装置。
（付記６）
前記試験対象装置は携帯電話であり、前記テストプログラムによるテストの結果は、前記携帯電話のキーバッドのバックライトの点灯によって通知することを特徴とする付記１に記載の試験対象装置。
（付記７）
前記携帯電話の表示器のテストが終了するまでは、前記テストプログラムによるテストの結果は、前記携帯電話のキーバッドのバックライトの点灯によって通知し、前記表示器のテストが終了後のテストの結果は、当該表示器によって通知することを特徴とする付記６に記載の試験対象装置。
（付記８）
試験対象装置と外部装置が接続された構成の試験システムにおいて、
前記試験対象装置は、
外部装置から前記テストプログラムをダウンロードするための第１のダウンロードプログラムが記録された第１の記憶部と、
前記外部装置との通信を行う第１の通信部と、
前記第１のダウンロードプログラムを起動して、前記第１の通信部を介して前記外部装置からダウンロードされるテストプログラムを前記第１の記憶部に格納すると共に、格納された前記テストプログラムを起動させて前記情報処理装置のテストを実行する第１の処理部と、
を備え、
前記外部装置は、
前記試験対象装置をテストするテストプログラム、及び当該テストプログラムを前記試験対象装置に送信する第２のダウンロードプログラムを記憶する第２の記憶部と、
前記試験対象装置との通信を行う第２の通信部と、
前記試験対象装置からの前記テストプログラムのダウンロード要求に対して、前記第２のダウンロードプログラムを起動して、前記第２の通信部を介して前記テストプログラムを前記第２の記憶部から前記試験対象装置に送信する第２の処理部と、
を備えることを特徴とする試験システム。
（付記９）
試験対象装置のテスト方法において、
前記試験対象装置に接続された外部装置に格納されたプログラムをダウンロードするためのダウンロード用プログラムを起動して、前記外部装置からテストプログラムをダウンロードし、
前記テストプログラムを、前記試験対象装置内の記憶部に格納し、
前記試験対象装置で前記テストプログラムを起動して、前記試験対象装置のテストを実行する試験対象装置のテスト方法。
（付記１０）
前記外部装置は、前記試験対象装置を再起動させ、
前記試験対象装置は、再起動時に前記ダウンロード用プログラムを起動させることを特徴とする付記９に記載の試験対象装置のテスト方法。（付記１１）
外部装置と接続された試験対象装置内で実行されるプログラムであって
前記外部装置からテストプログラムを前記プログラムが記憶されている第１の記憶部とは別の第２の記憶部にダウンロードし、
ダウンロードした前記テストプログラムを起動させる
ことを前記試験対象装置に実行させるプログラム。
（付記１２）
前記第１の記憶部は不揮発メモリであり、前記第２の記憶部は揮発メモリであることを特徴とする付記１１に記載のプログラム。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】本実施形態におけるテスト方法についての概略を示す図である。
【図２】テストプログラムの起動フローの概略を示す図である。
【図３】本実施形態における試験対象装置の構成例を示す図である。
【図４】本実施形態における試験対象装置に対してテストを行う際の試験対象装置内の各構成要素の動作を示すフローチャートである。
【図５】本実施形態における試験対象装置を携帯電話とした場合の構成例を示す図である。
【図６】記憶媒体の例を示す図である。
【符号の説明】
【００５９】
１ 試験対象装置
２ ダウンロード用ＰＣ
３ ＵＳＢケーブル
４ 不揮発メモリ
５ 内蔵メモリ
６ 端末側ＤＬ用プログラム
７ ＰＣ側ＤＬ用プログラム
８ テストプログラム
１１ ＵＳＢコントローラ
１２ 第１のＣＰＵ
１３ 第１のＣＰＵ側ＳＤＲＡＭ
１４ 第１のＣＰＵ側不揮発メモリ
１５ 共有ＲＡＭ
１６ 周辺制御インタフェース
１７ 第２のＣＰＵ
１８ 第２のＣＰＵ側ＳＤＲＡＭ
１９ 第２のＣＰＵ側不揮発メモリ
２０ 内部ＲＡＭ
２１ 周辺デバイス
３１ ＳＤＲＡＭ
３２ 不揮発メモリ
３３ ＬＣＤ制御ＣＰＵ
３４ メイン制御ＣＰＵ
３５ ＬＣＤ制御デバイス
３６ ＬＥＤ制御デバイス
３７ キー制御デバイス
３８ ＬＣＤ
３９ ＬＥＤ
４０ キーパッド
１００ 携帯電話
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験対象装置上でテストプログラムを実行するテスト方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在機器の異常発生に対処する様々な手法が開示されている。
例えば特許文献１には、ランプの点灯の仕方を変化させることにより異常を通知するマイコンガスメータが提案されている。
【０００３】
また特許文献２には、メモリーカード記憶領域の一部故障に対処するため、記憶領域を複数のブロックに分割し、ブロック毎に有効／無効の管理を行う方法が開示されている。
更に特許文献３には、起動用のプログラムが書き込まれているフラッシュメモリの書き換え中の停電等に対処するため、フラッシュメモリを主データ保持部分と従データ保持部分とに分け、従データ保持部分に最新データを書き込み、書き込みが完了すると主データ保持部分と従データ保持部分のアドレスを入れ替えることで対処する方法が開示されている。
【０００４】
一方、携帯電話等内部にメモリを備える機器では、外部ＰＣよりテストプログラムを携機器の不揮発メモリに書き込み、不揮発メモリ上からテストプログラムを起動してテストを行う。そして起動したテストプログラムは、機器上のキーパッド等の入力部を操作して動作を制御し、テスト結果を示すメッセージは機器上のメインＬＣＤ等の表示部上に表示する。
【特許文献１】特開２００４−７７２６５号公報
【特許文献２】特開平１１−３９１５１号公報
【特許文献３】特開平６−１１９２５４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
このような内部メモリを備える機器に対する従来のテストの仕方では、テストを実行するためにはプログラムを書き込む不揮発メモリが正常に書き込める必要がある。またエラー情報の通知や試験の制御に用いるＬＣＤやキーパッドなど、試験を実行するためのデバイスが正常に動作する必要があった。
【０００６】
そのため不揮発メモリ上のプログラムをダウンロードする領域が破損しプログラムが書き込めない場合や、メインＬＣＤやキーパッドに不具合がある場合に正常にテストプログラムを実行できない問題があった。
【０００７】
そこで本発明は、不揮発メモリ、キーパッド等の入力部、メインＬＣＤ等の表示部に不良があってもテストを行える試験対象装置、試験システム、テスト方法及びプログラムを提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本試験対象装置はテストプログラムに基づいて、自身のテストを実行する試験対象装置であって、上記課題を解決するため、記憶部、通信部及び処理部を含む。
記憶部は、外部装置から前記テストプログラムをダウンロードするためのプログラムが記録する。
【０００９】
通信部は、外部装置との通信を行う。
処理部は、前記ダウンロードするためのプログラムを起動して、前記通信部を介して前記外部装置からダウンロードされるテストプログラムを前記記憶部に格納すると共に、前記テストプログラムを動作させて前記情報処理装置のテストを実行する。
【００１０】
また本発明は、試験システム、テスト方法やプログラムもその範囲に含む。
【発明の効果】
【００１１】
本試験装置によれば、テストプログラムを不揮発メモリ上にダウンロードしても正常に動作しない場合においても、外部から送り込んだテストプログラムを直接実行することで障害箇所の特定をおこなう。
・ＳＤＲＡＭ上の特定の領域が故障している。
・不揮発メモリ上の特定の領域が故障している。
・プログラムは動作しているがＬＣＤ本体および制御線の障害により表示されない。
・キー制御デバイスの故障によりキー入力ができない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下に図面を参照しながら本発明の一実施形態について説明する。
なお以下の説明では、本実施形態のテスト方法でテストされる試験対象装置として携帯電話をテストする例を挙げて説明するが、本実施形態のテスト方法でテストされる試験対象装置は携帯電話に限定されるものではなく、揮発性メモリと不揮発メモリを内部に備える機器であれば他のものでも良い。
【００１３】
図１は、本実施形態における試験システムについての概略を示す図である。
図１の試験システムでは、試験対象装置１と、外部より試験対象装置１にテストプログラムを送り込むダウンロード用ＰＣ２で構成される。そして試験対象装置１とダウンロード用ＰＣ２はＵＳＢケーブル３で接続される。
【００１４】
試験対象装置１には、不揮発メモリ４内に端末側ＤＬ用プログラム６があらかじめ用意され、ＰＣ側にも同様にＰＣ側ＤＬ用プログラム７と、試験対象装置１にダウンロードするテストプログラム８のバイナリファイルが記憶されている。なお端末側ＤＬ用プログラム６は、外部からプログラムなどを試験対象装置１にダウンロードする際に用いられるプログラムであり、工場出荷時にすでに不揮発メモリ上に書き込まれており、正常に動作するものとする。
【００１５】
ＰＣ側ＤＬ用プログラム７は、ＵＳＢケーブル３を介して試験対象装置１をリブートし、端末側ＤＬ用プログラム６を起動する。
起動された端末側ＤＬ用プログラム６は、ダウンロード用ＰＣ２とのＵＳＢ等の回線によって試験対象装置１が接続されていることを認識すると、ＰＣ側ＤＬ用プログラム７と通信し、ダウンロード用ＰＣ２側に格納されているテストプログラム８を試験対象装置１内の揮発性の内蔵メモリ５に展開する。
【００１６】
そして端末側ＤＬ用プログラム６は、テストプログラムを内蔵メモリ５に展開後、テストプログラムの先頭に分岐する。これにより、テストプログラム８が自動的に実行され、試験対象装置１に対するテストが実行される。
【００１７】
図２は、テストプログラムの起動フローの概略を示す図である。
テストは以下の順番で実行される。なお、試験対象装置１にエラーを検出すると、試験対象装置１は直ちに停止し障害箇所を通知するものとする。
【００１８】
まずステップＳ１として、ダウンロード用ＰＣ２上のＰＣ側ＤＬ用プログラム７が試験
対象装置１をリブートする。
再起動した試験対象装置１は、自己の不揮発メモリ４に記憶されている端末側ＤＬ用プログラム６を起動する。
【００１９】
そして端末側ＤＬ用プログラム６は、試験対象装置１がダウンロード用ＰＣ２と接続されていることを認識すると、ＰＣ側ＤＬ用プログラム７とやり取りを行う。このやりとりに応じて、ステップＳ３としてＰＣ側ＤＬ用プログラム７は、テストプログラム８のバイナリデータを試験対象装置１に対して送信する。
【００２０】
端末側ＤＬ用プログラム６は、ステップＳ４としてダウンロード用ＰＣ２から送信されたテストプログラム８のバイナリデータを受信し、ステップＳ５としてこれを試験対象装置１の内臓メモリ５に展開する。
【００２１】
そして端末側ＤＬ用プログラム６は、ステップＳ６としてステップＳ５で内蔵メモリ５に展開したテストプログラム８の先頭に処理を分岐する。これによりテストプログラム８は自動的に起動される（ステップＳ７）。
【００２２】
以下テストプログラム８は、自己に記載された処理に基づいて試験対象装置１に対する種々の項目のテストを行ってゆき、試験対象装置１にエラーを検出すると障害箇所を通知すると共に直ちに処理を停止する。なおテスト結果の通知は、試験対象装置１の表示部に表示する構成としても、ダウンロードＰＣ２の表示部に表示する構成としても良い。
【００２３】
このように本実施形態によるテスト方法では、テストプログラム８は外部装置から試験対象装置１の内蔵メモリ５に展開されるので、試験対象装置１の不揮発メモリ４の特定領域に不具合があってもテストを行なうことが出来る。
【００２４】
また試験対象装置１の内部メモリ５に展開されたテストプログラム８は、内蔵メモリ５に展開されると共に自動的に実行され、テストを行ってゆくので、ユーザが入力指示を行う必要が無く、試験対象装置１の入力部が故障していてもテストを行なうことが出来る。
【００２５】
次に本実施形態におけるテスト方法についてより詳細に説明する。
図３は、本実施形態における試験対象装置１の構成例を示す図である。
図３において、試験対象装置１は、ＵＳＢコントローラ１１、第１のＣＰＵ１２、第１のＣＰＵ側ＳＤＲＡＭ１３、第１のＣＰＵ側不揮発メモリ１４、共有メモリ１５、周辺制御インタフェース（ＩＦ）１６、第２のＣＰＵ１７、第２のＣＰＵ側ＳＤＲＡＭ１８、第２のＣＰＵ側不揮発メモリ１９及び周辺デバイス２１を備えている。
【００２６】
ＵＳＢコントローラ１１は、ＵＳＢ接続を制御するコントローラである。ダウンロード用ＰＣ２は、試験対処装置１とＵＳＢコントローラ１１を介して接続される。第１のＣＰＵ１２は、試験対象装置１の基本機能を司る。例えば試験対象装置１が携帯電話であったなら、第１のＣＰＵ１２は電話としての機能を実現するための処理を司るＣＰＵである。第１のＣＰＵ１２は、内部ＲＡＭ２０を備えている。第１のＣＰＵ側ＳＤＲＡＭ１３は、第１のＣＰＵ１２によってワークメモリとして読み書きされる揮発性のメモリである。第１のＣＰＵ側不揮発メモリ１４は、第１のＣＰＵ１２によって読み書きされる不揮発性のメモリである。共有メモリ１５は、第１のＣＰＵ１２と第２のＣＰＵ１７で共用されるメモリである。周辺制御インタフェース（ＩＦ）１６は、周辺デバイス２１との接続を行うインタフェースである。第２のＣＰＵ１７は、周辺デバイス２１に対する制御を行うＣＰＵである。第２のＣＰＵ１７は、テストプログラム８を実行する際のメインＣＰＵとなる。第２のＣＰＵ側ＳＤＲＡＭ１８は、第２のＣＰＵ１７によってワークメモリとして読み書きされる揮発性のメモリである。第２のＣＰＵ側不揮発メモリ１９は、第２のＣＰＵ１７によって読み書きされる不揮発性のメモリである。
【００２７】
周辺デバイス２１は、試験対象装置１の入出力を司るデバイスで、例えば試験対象装置１が携帯電話であったなら、ＬＣＤ、ＬＥＤ、キーパッドなどが該当する。
図４は、図３のような構成の試験対象装置１に対してテストを行う際の、試験対象装置１内の各構成要素の動作を示すフローチャートである。
【００２８】
図４の処理は、試験対象装置１とダウンロード用ＰＣ２がＵＳＢによって接続状態にあり、ダウンロード用ＰＣ２から試験対象装置１が試験実施通知を受けると開始される。
図４の処理が開始されるとまずＣＰＵ１は、ステップＳ１１として、ＣＰＵ１の内部ＲＡＭ２０内にあるローダ分岐フラグを書き込みＯＮにする。そしてＣＰＵ１は、ステップＳ１２として、ＣＰＵ１自身をリブートする。なおこのとき内部ＲＡＭ２０内の内容は保持される。
【００２９】
リブートされたＣＰＵ１は、ステップＳ１３としてＣＰＵ１側不揮発メモリ１４内のブートプログラムを実行する。そして次にＣＰＵ１はブートプログラムに基づいて、ステップＳ１４として、内部ＲＡＭ２０内のローダ分岐フラグをチェックする。その結果、ローダ分岐フラグがＯＦＦだった場合（ステップＳ１４、通常ブートモード）、通常のブート処理を行う。
【００３０】
またステップＳ１４において、ローダ分岐フラグがＯＮであった場合（ステップＳ１４、通常ロードモード）、第１のＣＰＵ１２は通常ロードモードに入る。
そして第１のＣＰＵ１２は、第１のＣＰＵ側不揮発メモリ２４内の端末側ＤＬ用プログラムに従って、第１のＣＰＵ側不揮発メモリ１４に保持されている第２のＣＰＵブートプログラムを共有ＲＡＭ１５にコピーする。そして第１のＣＰＵ１２は、第２のＣＰＵ１７のリセットを解除する（ステップＳ１６）。この後、第１のＣＰＵ１２は第２のＣＰＵ１７からの応答待ち状態に入る。
【００３１】
リセットを解除された第２のＣＰＵ１７は、ステップＳ２１として共有ＲＡＭ１５上の第２のＣＰＵブートプログラムを実行する。そしてステップＳ２２として第１のＣＰＵ１２に、自己が起動したことを通知する。
【００３２】
第２のＣＰＵ１７からの通知を受けて第１のＣＰＵ１２は、ステップＳ１６として第２のＣＰＵ１７からの応答待ち状態から抜け、ステップＳ１７としてダウンロード用ＰＣ２とＵＳＢにより再接続する。
【００３３】
そして第１のＣＰＵ１２は、ステップＳ１９としてダウンロード用ＰＣ２内のＰＣ側ＤＬ用プログラム７とやり取りを行い、ダウンロード用ＰＣ２からテストプログラム８のバイナリデータを受信し、バイナリデータを第２のＣＰＵ１７側に送信する。
【００３４】
第２のＣＰＵ１７では、ステップＳ２３として第１のＣＰＵ１２から受信したテストプログラム８を第２のＣＰＵ側ＳＤＲＡＭ１８に展開する。そしてステップＳ２４として、第２のＣＰＵ１７はテストプログラムの先頭に処理を分岐する。これにより第２のＣＰＵ１７によって、テストプログラム８が自動的に実行され、試験対象装置１に対するテストが開始される。
【００３５】
以降第２のＣＰＵ１７は、テストプログラム８に基づいて試験対象装置１に対するテスト項目を順次行ってゆき、不具合を発見するとそれをユーザに通知すると共に処理を停止する。
【００３６】
このような処理により本実施形態のテスト方法では、テストプログラム８は第２のＣＰＵ側ＳＤＲＡＭ１８に展開されるので、第２のＣＰＵ１７側不揮発性メモリ１９に不具合があっても試験対象装置１に対するテストを行なうことが出来る。
【００３７】
またこのテストプログラム８は、第２のＣＰＵ１７側ＳＤＲＡＭ１８に展開されると共に自動的に実行され、テスト項目を実行してゆくので、ユーザが入力指示を行う必要が無く、試験対象装置１の入力部が故障していてもテストを行なうことが出来る。
【００３８】
また第２のＣＰＵ側ＳＤＲＡＭ１８に展開されるテストプログラム８を小さく出来るので、第２のＣＰＵ側ＳＤＲＡＭ１８の一部に不具合があってもテストを行なうことが出来る。
【００３９】
次にテストプログラム８によって行われる具体的なテスト項目について説明する。
図５は試験対象装置１を携帯電話とした場合の、試験対象装置１の構成例を示す図である。
【００４０】
図５において携帯電話１００は、ＳＤＲＡＭ３１、不揮発性メモリ３２、ＬＣＤ制御ＣＰＵ３３、メイン制御ＣＰＵ３４、ＬＣＤ制御デバイス３５、ＬＥＤ制御デバイス３６、キー制御デバイス３７、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）３８、発光ダイオード（ＬＥＤ）３９及びキーパッド４０を備えている。
【００４１】
ＳＤＲＡＭ３１は、図３のＣＰＵ２側ＳＤＲＡＭ１８に相当するもので、メイン制御ＣＰＵ３４によってワークメモリとして用いられる揮発性メモリである。また本実施形態のテスト方法では、ダウンロード用ＰＣ２から受信したテストプログラム８がＳＤＲＡＭ３１に展開される。不揮発性メモリ３２は、図３の第２のＣＰＵ側不揮発性メモリ１９に相当するもので、メイン制御ＣＰＵ３４によって読み書きされる不揮発性のメモリである。ＬＣＤ制御ＣＰＵ３３は、ＬＣＤ３８の表示を制御するＣＰＵである。ＬＣＤ制御ＣＰＵ３３は、図３の周辺制御ＩＦ１６の一部に相当する。メイン制御ＣＰＵ３４は、図３の第２のＣＰＵ１７に相当するもので、ＬＣＤ３８、ＬＥＤ３９及びキーパッド４０等の周辺機器の制御を行う。またメイン制御ＣＰＵ３４は、ダウンロード用ＰＣ２から読み込んだテストプログラム８を実行して、携帯電話１００に対するテストを実行する。ＬＣＤ制御デバイス３５は、ＬＣＤ３８とのインタフェースとなる制御デバイスである。このＬＣＤ制御デバイス３５は、図３の周辺制御インタフェース１６の一部に相当する。ＬＥＤ制御デバイス３６は、ＬＥＤ３９の表示を制御する制御デバイスである。ＬＥＤ制御デバイス３６は、図３の周辺制御インタフェース１６の一部に相当する。キー制御デバイス３７は、キーパッド４０からの入力やキーパッド４０のバックライト点灯を制御する制御デバイスである。キー制御デバイス３７は、図３の周辺制御インタフェース１６の一部に相当する。
【００４２】
ＬＣＤ３８は、ユーザに様々な情報を表示する表示部である。ＬＣＤ３８は、図３の周辺デバイス２１の１つに相当する。発光ダイオード３９は、点灯によりバッテリーの状態等をユーザに知らせる表示部である。発光ダイオード３９は、図３の周辺デバイス２１の１つに相当する。キーパッド４０は、ユーザが携帯電話１００に対して電話番号等を入力する入力キーである。またキーパッド４０は、バックライトを発光することにより、ユーザにテストの進行具合やテスト結果等の情報を通知することが出来る。キーパッド４０の入力制御とバックライトの点灯制御は異なる制御系統なので、キーパッド４０の入力機能に不具合があってもバックライトの点灯による通知は行なうことが出来る。キーパッド４０は、図３の周辺デバイス２１の１つに相当する。
【００４３】
図５のような構成の携帯電話１００において、図４に示したようなフローで、ＳＤＲＡ
Ｍ３１に外部からダウンロードされたテストプログラムが展開される。展開されたテストプログラムが実行されると、まずメイン制御ＣＰＵ３４は、ＳＤＲＡＭ３１のテストを行う。ＳＤＲＡＭ３１のテストでは、ＳＤＲＡＭ３１各アドレスに対してＲｅａｄ、Ｗｒｉｔｅ動作を確認する。なおＳＤＲＡＭ３１のテストでは、テストプログラムが用いている領域以外の部分に対してテストを行う。ＳＤＲＡＭ３１のテストでは、テストプログラムそのものは小さいので、ほとんどのメモリ領域のテストを行なうことが出来る。
【００４４】
次にメイン制御ＣＰＵ３４は、不揮発性メモリ３２に対するテストを行う。不揮発性メモリ３２に対するテストでは、不揮発性メモリ３２の各アドレスに対してＲｅａｄ、Ｗｒｉｔｅ動作を確認、及びＥｒａｓｅ動作の確認を行う。
【００４５】
次にメイン制御ＣＰＵ３４は、ＬＣＤ制御ＣＰＵ３３に対するテストを行う。ＬＣＤ制御ＣＰＵ３３に対するテストでは、ＬＣＤ制御ＣＰＵ３３に対する起動診断を行う。
そして次にメイン制御ＣＰＵ３４は、自己の内部にある内蔵ＲＡＭのテストを行う。内蔵ＲＡＭのテストでは、内臓ＲＡＭの各アドレスに対してＲｅａｄ、Ｗｒｉｔｅ動作を確認する。
【００４６】
次にメイン制御ＣＰＵ３４は、パワーオンやリセット等のＩ／Ｏ状態の確認を行う。Ｉ／Ｏ状態の確認では、各Ｉ／Ｏの出力状態のダンプを取り確認を行う。
そして次にメイン制御ＣＰＵ３４は、ＬＥＤ制御デバイス３６を動かす時に使うシリアル通信インタフェースであるＩ２Ｃのテストを行う。Ｉ２Ｃのテストでは、Ｉ２ＣデバイスであるＬＥＤ制御デバイス３６内の制御レジスタアクセスに対するアクセス確認を行う。
【００４７】
次にメイン制御ＣＰＵ３４は、ＬＥＤ３９のテストを行う。ＬＥＤ３９のテストではＬＥＤ３９が正常に点灯するかどうかを調べる。
そして次にメイン制御ＣＰＵ３４は、キー制御デバイス３７に対するテストを行う。キー制御デバイス３７のテストでは、メイン制御ＣＰＵ３４はキー制御デバイス３７の制御レジスタに対するアクセス確認を行う。
【００４８】
次にメイン制御ＣＰＵ３４は、ＬＣＤ制御デバイス３５のテストを行う。ＬＣＤ制御デバイス３５のテストでは、メイン制御ＣＰＵ３４はＬＣＤ制御デバイス３５の制御レジスタに対するアクセス確認を行う。
【００４９】
そして最後にメイン制御ＣＰＵ３４は、ＬＣＤ３８に対するテストを行う。ＬＣＤ３８のテストでは、ＬＣＤ３８が正常に表示を行なえるか表示動作確認を行う。
テストの進行状況やテストの結果は、キーパッド４０のバックライトの点灯の仕方で試験者に通知する。なおＬＥＤ３９やＬＣＤ３８の診断が終了した後は、テスト結果はＬＥＤ３９あるいはＬＣＤ３８を用いて通知するようにしても良い。あるいは、携帯電話１００が接続されているダウンロード用ＰＣにテスト結果やテストの進行状況を送り、ダウンロード用ＰＣの表示部からテストの進行状況などを表示するようにしても良い。
【００５０】
この様に本実施形態では、ＳＤＲＡＭや不揮発メモリなどのテストプログラムが動作する上で必要なデバイスから順番に試験され、次いでＬＣＤ表示、キー制御、ＬＥＤ点灯まで試験を自動で実行する。
【００５１】
そして本実施形態のテストプログラムによるテストが完了して、ＬＣＤ表示、キー制御、ＬＥＤ点灯までの試験手法が使用できることが確認されると、電話器としての機能、カメラ機能、各種スイッチ等より詳細なテストが行われる。
【００５２】
図６は、本実施形態における記憶媒体とその利用形態を示す図である。
本実施形態における試験対象装置４８に、ＵＳＢ等の有線あるいはＢｌｕｅｔｏｏｔｈ等の無線による回線４９によって接続された情報処理装置４１では、媒体読み取り装置４７により磁気テープ、フレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤ等の記憶媒体４８に記憶されている上述した端末側ＤＬ用プログラムを、回線４９を介して試験対象装置４８の不揮発性メモリにロードする。
【００５３】
また、図６に示した情報処理装置では、ＣＤ−ＲＯＭ等の記憶媒体４５を用いてプログラムソフトの交換が行われる場合がある。よって、本発明は、試験対象装置や試験方法、プログラムに限らず、試験対象装置により使用されたときに、上述した実施形態の機能を試験対象装置に行なわせるための、情報処理装置４１が読み出し可能な記憶媒体４６やプログラムとして構成することもできる。
【００５４】
この場合、「記憶媒体」には、ＣＤ−ＲＯＭ、フレキシブルディスク、あるいはＭＯ、ＤＶＤ、メモリーカード、リムーバブルハードディスク等の媒体駆動装置４７に脱着可能な可搬記憶媒体４６や、ネットワーク回線４３経由で送信されるサーバのような外部の装置内のデータベースなどの記憶部４２、あるいは情報処理装置４１の本体４４内のＲＡＭ又はハードディスク等のメモリ４５等が含まれる。可搬記憶媒体４６や記憶部４２に記憶されているプログラムは、回線４９を介して試験対象装置４８にロードされる。
【００５５】
あるいは「記憶媒体」には、試験対象装置４８の交換可能な不揮発性メモリ５０も含まれる。
また、既に説明したＣＤ−ＲＯＭやＤＶＤ−ＲＯＭ等の記憶媒体には、上記に例として挙げたものの他にも、例えば、Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ（登録商標）やＡＯＤ（Ａｄｖａｎｃｅｄ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｄｉｓｃ）などの青色レーザーを用いた次世代光ディスク記憶媒体、赤色レーザーを用いるＨＤ−ＤＶＤ９、青紫色レーザーを用いるＢｌｕｅ Ｌａｓｅｒ ＤＶＤ、ホログラムなど、今後開発される種々の大容量記憶媒体を用いて本発明を実施することも可能である。
【００５６】
このように本実施形態における試験システムによれば、揮発性メモリや不揮発性メモリの特定箇所が故障していたり、入力デバイスの故障により入力指示ができなかったり、表示器の制御線の障害等によって、テストプログラムを不揮発メモリ上にダウンロードしても正常に動作しない場合においても、外部から送り込んだテストプログラムを直接実行することで障害箇所の特定を行なうことが出来る。
【００５７】
以上の実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。
（付記１）
テストプログラムに基づいて、自身のテストを実行する試験対象装置において、
外部装置から前記テストプログラムをダウンロードするためのプログラムが記録された記憶部と、
外部装置との通信を行う通信部と、
前記ダウンロードするためのプログラムを起動して、前記通信部を介して前記外部装置からダウンロードされるテストプログラムを前記記憶部に格納すると共に、前記記憶部に格納されたテストプログラムを動作させて前記情報処理装置のテストを実行する処理部と
を備えたことを特徴とする試験対象装置。
（付記２）
前記記憶部は、不揮発性の第１の記憶部を含み、
前記ダウンロードするためのプログラムは、前記第１の記憶部に格納されている付記１に記載の試験対象装置。
（付記３）
前記記憶部は、揮発性の第２の記憶部を含み、
前記ダウンロードプログラムは、前記テストプログラムを前記第２の記憶部にダウンロードすることを特徴とする付記２に記載の試験対象装置。
（付記４）
前記処理部は、前記の試験対象装置起動時に、前記外部装置と接続されているか否かを判別し、前記試験対象装置が前記外部装置と接続されていると判別された場合に、前記ダウンロードするためのプログラムを起動させることを特徴とする付記１に記載の情報処理装置。
（付記５）
前記処理部は、前記外部装置から試験実行の通知を受けると、内部フラグを立てると共に、自己を再起動し、当該再起動後前記内部フラグがたっているのを確認すると前記ダウンロードするためのプログラムを起動させることを特徴とする付記４に記載の情報処理装置。
（付記６）
前記試験対象装置は携帯電話であり、前記テストプログラムによるテストの結果は、前記携帯電話のキーバッドのバックライトの点灯によって通知することを特徴とする付記１に記載の試験対象装置。
（付記７）
前記携帯電話の表示器のテストが終了するまでは、前記テストプログラムによるテストの結果は、前記携帯電話のキーバッドのバックライトの点灯によって通知し、前記表示器のテストが終了後のテストの結果は、当該表示器によって通知することを特徴とする付記６に記載の試験対象装置。
（付記８）
試験対象装置と外部装置が接続された構成の試験システムにおいて、
前記試験対象装置は、
外部装置から前記テストプログラムをダウンロードするための第１のダウンロードプログラムが記録された第１の記憶部と、
前記外部装置との通信を行う第１の通信部と、
前記第１のダウンロードプログラムを起動して、前記第１の通信部を介して前記外部装置からダウンロードされるテストプログラムを前記第１の記憶部に格納すると共に、格納された前記テストプログラムを起動させて前記情報処理装置のテストを実行する第１の処理部と、
を備え、
前記外部装置は、
前記試験対象装置をテストするテストプログラム、及び当該テストプログラムを前記試験対象装置に送信する第２のダウンロードプログラムを記憶する第２の記憶部と、
前記試験対象装置との通信を行う第２の通信部と、
前記試験対象装置からの前記テストプログラムのダウンロード要求に対して、前記第２のダウンロードプログラムを起動して、前記第２の通信部を介して前記テストプログラムを前記第２の記憶部から前記試験対象装置に送信する第２の処理部と、
を備えることを特徴とする試験システム。
（付記９）
試験対象装置のテスト方法において、
前記試験対象装置に接続された外部装置に格納されたプログラムをダウンロードするためのダウンロード用プログラムを起動して、前記外部装置からテストプログラムをダウンロードし、
前記テストプログラムを、前記試験対象装置内の記憶部に格納し、
前記試験対象装置で前記テストプログラムを起動して、前記試験対象装置のテストを実行する試験対象装置のテスト方法。
（付記１０）
前記外部装置は、前記試験対象装置を再起動させ、
前記試験対象装置は、再起動時に前記ダウンロード用プログラムを起動させることを特徴とする付記９に記載の試験対象装置のテスト方法。（付記１１）
外部装置と接続された試験対象装置内で実行されるプログラムであって
前記外部装置からテストプログラムを前記プログラムが記憶されている第１の記憶部とは別の第２の記憶部にダウンロードし、
ダウンロードした前記テストプログラムを起動させる
ことを前記試験対象装置に実行させるプログラム。
（付記１２）
前記第１の記憶部は不揮発メモリであり、前記第２の記憶部は揮発メモリであることを特徴とする付記１１に記載のプログラム。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】本実施形態におけるテスト方法についての概略を示す図である。
【図２】テストプログラムの起動フローの概略を示す図である。
【図３】本実施形態における試験対象装置の構成例を示す図である。
【図４】本実施形態における試験対象装置に対してテストを行う際の試験対象装置内の各構成要素の動作を示すフローチャートである。
【図５】本実施形態における試験対象装置を携帯電話とした場合の構成例を示す図である。
【図６】記憶媒体の例を示す図である。
【符号の説明】
【００５９】
１ 試験対象装置
２ ダウンロード用ＰＣ
３ ＵＳＢケーブル
４ 不揮発メモリ
５ 内蔵メモリ
６ 端末側ＤＬ用プログラム
７ ＰＣ側ＤＬ用プログラム
８ テストプログラム
１１ ＵＳＢコントローラ
１２ 第１のＣＰＵ
１３ 第１のＣＰＵ側ＳＤＲＡＭ
１４ 第１のＣＰＵ側不揮発メモリ
１５ 共有ＲＡＭ
１６ 周辺制御インタフェース
１７ 第２のＣＰＵ
１８ 第２のＣＰＵ側ＳＤＲＡＭ
１９ 第２のＣＰＵ側不揮発メモリ
２０ 内部ＲＡＭ
２１ 周辺デバイス
３１ ＳＤＲＡＭ
３２ 不揮発メモリ
３３ ＬＣＤ制御ＣＰＵ
３４ メイン制御ＣＰＵ
３５ ＬＣＤ制御デバイス
３６ ＬＥＤ制御デバイス
３７ キー制御デバイス
３８ ＬＣＤ
３９ ＬＥＤ
４０ キーパッド
１００ 携帯電話
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テストプログラムに基づいて、自身のテストを実行する試験対象装置において、
外部装置から前記テストプログラムをダウンロードするためのプログラムが記録された記憶部と、
外部装置との通信を行う通信部と、
前記ダウンロードするためのプログラムを起動して、前記通信部を介して前記外部装置からダウンロードされるテストプログラムを前記記憶部に格納すると共に、前記テストプログラムを動作させて前記情報処理装置のテストを実行する処理部と
を備えたことを特徴とする試験対象装置。
【請求項２】
前記記憶部は、不揮発性の第１の記憶部を含み、
前記ダウンロードするためのプログラムは、前記第１の記憶部に格納されている請求項１に記載の試験対象装置。
【請求項３】
試験対象装置と外部装置が接続された構成の試験システムにおいて、
前記試験対象装置は、
外部装置から前記テストプログラムをダウンロードするための第１のダウンロードプログラムが記録された第１の記憶部と、
前記外部装置との通信を行う第１の通信部と、
前記第１のダウンロードプログラムを起動して、前記第１の通信部を介して前記外部装置からダウンロードされるテストプログラムを前記第１の記憶部に格納すると共に、格納された前記テストプログラムを起動させて前記情報処理装置のテストを実行する第１の処理部と、
を備え、
前記外部装置は、
前記試験対象装置をテストするテストプログラム、及び当該テストプログラムを前記試験対象装置に送信する第２のダウンロードプログラムを記憶する第２の記憶部と、
前記試験対象装置との通信を行う第２の通信部と、
前記試験対象装置からの前記テストプログラムのダウンロード要求に対して、前記第２のダウンロードプログラムを起動して、前記第２の通信部を介して前記テストプログラムを前記第２の記憶部から前記試験対象装置に送信する第２の処理部と、
を備えることを特徴とする試験システム。
【請求項４】
試験対象装置のテスト方法において、
前記試験対象装置に接続された外部装置に格納されたプログラムをダウンロードするためのダウンロード用プログラムを起動して、前記外部装置からテストプログラムをダウンロードし、
前記テストプログラムを、前記試験対象装置内の記憶部に格納し、
前記試験対象装置で前記テストプログラムを起動して、前記試験対象装置のテストを実行する試験対象装置のテスト方法。
【請求項５】
外部装置と接続された試験対象装置内で実行されるプログラムであって
前記外部装置からテストプログラムを前記プログラムが記憶されている第１の記憶部とは別の第２の記憶部にダウンロードし、
ダウンロードした前記テストプログラムを起動させる
ことを前記試験対象装置に実行させるプログラム。
【請求項１】
テストプログラムに基づいて、自身のテストを実行する試験対象装置において、
外部装置から前記テストプログラムをダウンロードするためのプログラムが記録された記憶部と、
外部装置との通信を行う通信部と、
前記ダウンロードするためのプログラムを起動して、前記通信部を介して前記外部装置からダウンロードされるテストプログラムを前記記憶部に格納すると共に、前記テストプログラムを動作させて前記情報処理装置のテストを実行する処理部と
を備えたことを特徴とする試験対象装置。
【請求項２】
前記記憶部は、不揮発性の第１の記憶部を含み、
前記ダウンロードするためのプログラムは、前記第１の記憶部に格納されている請求項１に記載の試験対象装置。
【請求項３】
試験対象装置と外部装置が接続された構成の試験システムにおいて、
前記試験対象装置は、
外部装置から前記テストプログラムをダウンロードするための第１のダウンロードプログラムが記録された第１の記憶部と、
前記外部装置との通信を行う第１の通信部と、
前記第１のダウンロードプログラムを起動して、前記第１の通信部を介して前記外部装置からダウンロードされるテストプログラムを前記第１の記憶部に格納すると共に、格納された前記テストプログラムを起動させて前記情報処理装置のテストを実行する第１の処理部と、
を備え、
前記外部装置は、
前記試験対象装置をテストするテストプログラム、及び当該テストプログラムを前記試験対象装置に送信する第２のダウンロードプログラムを記憶する第２の記憶部と、
前記試験対象装置との通信を行う第２の通信部と、
前記試験対象装置からの前記テストプログラムのダウンロード要求に対して、前記第２のダウンロードプログラムを起動して、前記第２の通信部を介して前記テストプログラムを前記第２の記憶部から前記試験対象装置に送信する第２の処理部と、
を備えることを特徴とする試験システム。
【請求項４】
試験対象装置のテスト方法において、
前記試験対象装置に接続された外部装置に格納されたプログラムをダウンロードするためのダウンロード用プログラムを起動して、前記外部装置からテストプログラムをダウンロードし、
前記テストプログラムを、前記試験対象装置内の記憶部に格納し、
前記試験対象装置で前記テストプログラムを起動して、前記試験対象装置のテストを実行する試験対象装置のテスト方法。
【請求項５】
外部装置と接続された試験対象装置内で実行されるプログラムであって
前記外部装置からテストプログラムを前記プログラムが記憶されている第１の記憶部とは別の第２の記憶部にダウンロードし、
ダウンロードした前記テストプログラムを起動させる
ことを前記試験対象装置に実行させるプログラム。
【図２】
【図３】
【図４】
【図６】
【図１】
【図５】
【図３】
【図４】
【図６】
【図１】
【図５】
【公開番号】特開２００９−２４５２９２（Ｐ２００９−２４５２９２Ａ）
【公開日】平成２１年１０月２２日（２００９．１０．２２）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００８−９２７６５（Ｐ２００８−９２７６５）
【出願日】平成２０年３月３１日（２００８．３．３１）
【公序良俗違反の表示】
（特許庁注：以下のものは登録商標）
１．Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ
【出願人】（０００００５２２３）富士通株式会社 (25,993)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２１年１０月２２日（２００９．１０．２２）
【国際特許分類】
【出願日】平成２０年３月３１日（２００８．３．３１）
【公序良俗違反の表示】
（特許庁注：以下のものは登録商標）
１．Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ
【出願人】（０００００５２２３）富士通株式会社 (25,993)
【Ｆターム（参考）】
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