過電圧検出回路、過電圧保護回路
【課題】簡単な構成により過電圧検出をできる技術を提供すること、その過電圧検出技術
を用いた過電圧保護技術を提供する。
【解決手段】定電圧回路１の出力Ａに抵抗Ｒ１の一端を接続し、定電圧回路２の出力Ｂに
抵抗Ｒ２の一端を接続し、直列に接続された抵抗Ｒ１の他端と抵抗Ｒ２の他端との接続点
Ｃを比較機１の入力に接続する。抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２は、定電圧回路１の出力、定電圧回
路２の出力に対して過負荷にならないように大きな定数の抵抗値に設定する。比較機１の
設定電圧Ｖ１は、定電圧回路１の出力Ａに接続される回路、および定電圧回路２の出力Ｂ
に接続される回路が破壊に至る電圧よりも低い電圧に設定する。
を用いた過電圧保護技術を提供する。
【解決手段】定電圧回路１の出力Ａに抵抗Ｒ１の一端を接続し、定電圧回路２の出力Ｂに
抵抗Ｒ２の一端を接続し、直列に接続された抵抗Ｒ１の他端と抵抗Ｒ２の他端との接続点
Ｃを比較機１の入力に接続する。抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２は、定電圧回路１の出力、定電圧回
路２の出力に対して過負荷にならないように大きな定数の抵抗値に設定する。比較機１の
設定電圧Ｖ１は、定電圧回路１の出力Ａに接続される回路、および定電圧回路２の出力Ｂ
に接続される回路が破壊に至る電圧よりも低い電圧に設定する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、定電圧回路から出力される異常電圧を検出する過電圧検出回路、その過電圧
検出回路を用いた過電圧保護回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、一つの定電圧回路に対して、出力される異常電圧を検出するためには一つの過電
圧検出回路が必要で有った。そして、過電圧検出回路としては、ツェナーダイオード、ト
ランジスター等の幾つかの部品を組み合わせて回路を構成するか（例えば、特許文献１）
、集積回路（ＩＣ）を利用して回路を構成していた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平６−１３３５３８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、一つの定電圧回路に対して、一つの過電圧検出回路が必要なうえ、ツェ
ナーダイオード、トランジスター等の幾つかの部品を組み合わせて回路を構成していたの
で、基板において過電圧検出回路が占める面積が大きくなるという問題が有った。また、
基板を製作する価格が高くなるという問題も有していた。
本発明は、上記した課題を踏まえ、簡単な構成により過電圧検出をできる技術を提供す
ること、その過電圧検出技術を用いた過電圧保護技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の
形態または適用例として実現することが可能である。
【０００６】
[適用例１]適用例１の過電圧検出回路は、第１の定電圧回路の出力に接続された第１の
抵抗素子と、第２の定電圧回路の出力に接続された第２の抵抗素子と、が直列に接続され
、前記第１の抵抗素子と前記第２の抵抗素子との接続点の電圧を比較器の入力端子に入力
することを特徴とする。適用例１の過電圧検出回路よれば、定電圧回路から出力される電
圧の異常を検出することが可能となる。また、定電圧回路の数よりも少ない数の過電圧検
出回路によって、異常電圧の検出が可能となる。さらに、簡素な構成の過電圧検出回路が
可能となる。
【０００７】
[適用例２]適用例１の過電圧検出回路と、前記比較器の出力に基づいて、前記第１の定
電圧回路および前記第２の定電圧回路への電源供給を遮断する手段とを備えて、過電圧保
護回路としても良い。適用例２の過電圧保護回路によれば、簡素な構成の回路が可能とな
る。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】過電圧検出回路、その回路を用いた過電圧保護回路を示す回路図である。
【図２】他の過電圧検出回路、その回路を用いた過電圧保護回路を示す回路図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以上説明した本発明の構成および作用を一層明らかにするために、以下本発明を適用し
た過電圧検出回路、その回路を用いた過電圧保護回路について説明する。
【００１０】
Ａ．実施例
図１は、過電圧検出回路、その回路を用いた過電圧保護回路を示す回路図である。定電
圧回路１の出力Ａに抵抗Ｒ１の一端を接続し、定電圧回路２の出力Ｂに抵抗Ｒ２の一端を
接続し、直列に接続された抵抗Ｒ１の他端と抵抗Ｒ２の他端との接続点Ｃを比較機１の入
力に接続する。抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２は、定電圧回路１の出力、定電圧回路２の出力に対し
て過負荷にならないように大きな定数の抵抗値に設定する。比較機１の設定電圧Ｖ１は、
定電圧回路１の出力Ａに接続される回路、および定電圧回路２の出力Ｂに接続される回路
が破壊に至る電圧よりも低い電圧に設定する。
例えば、定電圧回路１の出力電圧を５Ｖ、定電圧回路２の出力電圧を３Ｖ、抵抗Ｒ１と
抵抗Ｒ２の抵抗値をそれぞれ１００キロオームとする。ここで、定電圧回路１の出力Ａに
接続されている回路が動作不能に至る電圧が１０Ｖ以上とすると、Ａ点の電圧が１０Ｖに
なった時には、電圧異常として検出する必要がある。Ａ点の電圧を１０Ｖとし、Ｂ点の電
圧を３Ｖとすると、Ｃ点の電圧は６．５Ｖとなる。比較機１（ＩＣ１）のリファレンス電
圧Ｖ１を例えば６Ｖに設定しておくと、定電圧回路１の出力Ａに接続されている回路が破
壊される前に異常が検出され、回路の保護が可能となる。
【００１１】
比較機１の出力をトランジスターＱ１のベースに接続する。トランジスターＱ１のエミ
ッターをＧＮＤに接続し、コレクターとＶｃｃ間に抵抗Ｒ３を接続する。Ｃ点の電圧が６
．５Ｖの時には、トランジスターＱ１が導通状態となり、コレクターの出力Ｄがロー（Ｌ
ｏｗ）となる。このとき、トランジスターＱ１はスイッチング素子として機能している。
トランジスターＱ１のコレクターは制御ＩＣ１０に接続されており、コレクター出力Ｄが
ローの場合は、制御ＩＣ１０によってスイッチＳＷ１が開放され、電源Ｖから定電圧回路
１および定電圧回路２への電圧供給が遮断される。従って、定電圧回路１からの異常電圧
の供給が停止されるので、定電圧回路１の出力Ａに接続されている回路が保護される。
【００１２】
Ｂ．その他の実施例
図２は、その他の過電圧検出回路、その回路を用いた過電圧保護回路を示す回路図であ
る。定電圧回路１の出力Ａに抵抗Ｒ１の一端を接続し、定電圧回路２の出力Ｂに抵抗Ｒ２
の一端を接続し、抵抗Ｒ１の他端と抵抗Ｒ２の他端との接続点Ｃを比較機１と比較機２の
入力に接続する。抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２は、定電圧回路１の出力、定電圧回路２の出力に対
して過負荷にならないように大きな定数の抵抗値に設定する。比較機１の設定電圧Ｖ１は
、定電圧回路１の出力Ａに接続される回路、および定電圧回路２の出力Ｂに接続される回
路が破壊に至る電圧よりも低い電圧に設定する。また、比較機２の設定電圧Ｖ２は、定電
圧回路１の出力Ａに接続されている回路、および定電圧回路２の出力Ｂに接続されている
回路が動作不能に至る電圧よりも高い電圧に設定する。
例えば、定電圧回路１の出力電圧を５Ｖ、定電圧出力２の出力電圧を３Ｖ、抵抗Ｒ１と
抵抗Ｒ２の抵抗値を１００キロオームとする。ここで、定電圧回路１の出力Ａに接続され
ている回路が動作不能に至る電圧が１０Ｖ以上とすると、Ａ点の電圧が１０Ｖになった時
には、電圧異常として検出する必要がある。Ａ点の電圧を１０Ｖとし、Ｂ点の電圧を３Ｖ
とすると、Ｃ点の電圧は６．５Ｖとなる。比較機１（ＩＣ１）のリファレンス電圧Ｖ１を
例えば６Ｖに設定しておくと、定電圧回路１の出力Ａに接続されている回路が破壊される
前に異常が検出され、回路の保護が可能となる。
【００１３】
また、定電圧回路２の出力Ｂに接続されている回路が動作不能に至る電圧が１Ｖ以下と
すると、Ｂ点の電圧が１Ｖになった時には、電圧異常として検出する必要がある。Ａ点の
電圧を５Ｖ、Ｂ点の電圧を１Ｖとすると、Ｃ点の電圧は３Ｖとなる。比較機２（ＩＣ２）
のリファレンス電圧Ｖ２を例えば４Ｖに設定しておくと、定電圧回路２の出力Ｂに接続さ
れている回路が動作不能に至る前に異常が検出され、回路動作の維持が可能となる。
比較機１の出力７をＡＮＤ回路５の入力３に接続し、比較機２の出力１をＡＮＤ回路５
の入力２に接続する。ＡＮＤ回路５の出力１は制御ＩＣ１０に接続されている。定電圧回
路１の出力または定電圧回路２の出力に異常があると、Ｃ点の電圧がそれぞれ比較器２の
入力２、比較器１の入力５に入力され、ＡＮＤ回路５の出力１にロー（Ｌｏｗ）が出力さ
れる（通常のＡＮＤ回路５の出力１はハイ（Ｈｉｇｈ）となる）。ＡＮＤ回路５の出力１
は制御ＩＣ１０に接続されているので、ＡＮＤ回路５の出力１がローの場合は、制御ＩＣ
１０によってスイッチＳＷ１が開放され、電源Ｖから定電圧回路１および定電圧回路２へ
の電圧供給が遮断される。従って、定電圧回路１からの異常電圧の供給が停止されるので
、定電圧回路１の出力Ａに接続されている回路が保護される。
【００１４】
Ｃ．その他の実施形態
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明はこうした実施の形態に何ら限
定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において様々な形態で実施し得
ることは勿論である。
例えば、定電圧回路の出力電圧の違いを問わず、また、定電圧回路の数が三つ以上であ
っても、本発明を実施し得る。
【符号の説明】
【００１５】
１…定電圧回路１、２…定電圧回路２、３…比較機１、４…比較機２、
５…ゲートＩＣ（ＩＣ３）、６…抵抗Ｒ１、７…抵抗Ｒ２、８…抵抗Ｒ３
９…トランジスターＱ１、１０…制御ＩＣ。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、定電圧回路から出力される異常電圧を検出する過電圧検出回路、その過電圧
検出回路を用いた過電圧保護回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、一つの定電圧回路に対して、出力される異常電圧を検出するためには一つの過電
圧検出回路が必要で有った。そして、過電圧検出回路としては、ツェナーダイオード、ト
ランジスター等の幾つかの部品を組み合わせて回路を構成するか（例えば、特許文献１）
、集積回路（ＩＣ）を利用して回路を構成していた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平６−１３３５３８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、一つの定電圧回路に対して、一つの過電圧検出回路が必要なうえ、ツェ
ナーダイオード、トランジスター等の幾つかの部品を組み合わせて回路を構成していたの
で、基板において過電圧検出回路が占める面積が大きくなるという問題が有った。また、
基板を製作する価格が高くなるという問題も有していた。
本発明は、上記した課題を踏まえ、簡単な構成により過電圧検出をできる技術を提供す
ること、その過電圧検出技術を用いた過電圧保護技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の
形態または適用例として実現することが可能である。
【０００６】
[適用例１]適用例１の過電圧検出回路は、第１の定電圧回路の出力に接続された第１の
抵抗素子と、第２の定電圧回路の出力に接続された第２の抵抗素子と、が直列に接続され
、前記第１の抵抗素子と前記第２の抵抗素子との接続点の電圧を比較器の入力端子に入力
することを特徴とする。適用例１の過電圧検出回路よれば、定電圧回路から出力される電
圧の異常を検出することが可能となる。また、定電圧回路の数よりも少ない数の過電圧検
出回路によって、異常電圧の検出が可能となる。さらに、簡素な構成の過電圧検出回路が
可能となる。
【０００７】
[適用例２]適用例１の過電圧検出回路と、前記比較器の出力に基づいて、前記第１の定
電圧回路および前記第２の定電圧回路への電源供給を遮断する手段とを備えて、過電圧保
護回路としても良い。適用例２の過電圧保護回路によれば、簡素な構成の回路が可能とな
る。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】過電圧検出回路、その回路を用いた過電圧保護回路を示す回路図である。
【図２】他の過電圧検出回路、その回路を用いた過電圧保護回路を示す回路図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以上説明した本発明の構成および作用を一層明らかにするために、以下本発明を適用し
た過電圧検出回路、その回路を用いた過電圧保護回路について説明する。
【００１０】
Ａ．実施例
図１は、過電圧検出回路、その回路を用いた過電圧保護回路を示す回路図である。定電
圧回路１の出力Ａに抵抗Ｒ１の一端を接続し、定電圧回路２の出力Ｂに抵抗Ｒ２の一端を
接続し、直列に接続された抵抗Ｒ１の他端と抵抗Ｒ２の他端との接続点Ｃを比較機１の入
力に接続する。抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２は、定電圧回路１の出力、定電圧回路２の出力に対し
て過負荷にならないように大きな定数の抵抗値に設定する。比較機１の設定電圧Ｖ１は、
定電圧回路１の出力Ａに接続される回路、および定電圧回路２の出力Ｂに接続される回路
が破壊に至る電圧よりも低い電圧に設定する。
例えば、定電圧回路１の出力電圧を５Ｖ、定電圧回路２の出力電圧を３Ｖ、抵抗Ｒ１と
抵抗Ｒ２の抵抗値をそれぞれ１００キロオームとする。ここで、定電圧回路１の出力Ａに
接続されている回路が動作不能に至る電圧が１０Ｖ以上とすると、Ａ点の電圧が１０Ｖに
なった時には、電圧異常として検出する必要がある。Ａ点の電圧を１０Ｖとし、Ｂ点の電
圧を３Ｖとすると、Ｃ点の電圧は６．５Ｖとなる。比較機１（ＩＣ１）のリファレンス電
圧Ｖ１を例えば６Ｖに設定しておくと、定電圧回路１の出力Ａに接続されている回路が破
壊される前に異常が検出され、回路の保護が可能となる。
【００１１】
比較機１の出力をトランジスターＱ１のベースに接続する。トランジスターＱ１のエミ
ッターをＧＮＤに接続し、コレクターとＶｃｃ間に抵抗Ｒ３を接続する。Ｃ点の電圧が６
．５Ｖの時には、トランジスターＱ１が導通状態となり、コレクターの出力Ｄがロー（Ｌ
ｏｗ）となる。このとき、トランジスターＱ１はスイッチング素子として機能している。
トランジスターＱ１のコレクターは制御ＩＣ１０に接続されており、コレクター出力Ｄが
ローの場合は、制御ＩＣ１０によってスイッチＳＷ１が開放され、電源Ｖから定電圧回路
１および定電圧回路２への電圧供給が遮断される。従って、定電圧回路１からの異常電圧
の供給が停止されるので、定電圧回路１の出力Ａに接続されている回路が保護される。
【００１２】
Ｂ．その他の実施例
図２は、その他の過電圧検出回路、その回路を用いた過電圧保護回路を示す回路図であ
る。定電圧回路１の出力Ａに抵抗Ｒ１の一端を接続し、定電圧回路２の出力Ｂに抵抗Ｒ２
の一端を接続し、抵抗Ｒ１の他端と抵抗Ｒ２の他端との接続点Ｃを比較機１と比較機２の
入力に接続する。抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２は、定電圧回路１の出力、定電圧回路２の出力に対
して過負荷にならないように大きな定数の抵抗値に設定する。比較機１の設定電圧Ｖ１は
、定電圧回路１の出力Ａに接続される回路、および定電圧回路２の出力Ｂに接続される回
路が破壊に至る電圧よりも低い電圧に設定する。また、比較機２の設定電圧Ｖ２は、定電
圧回路１の出力Ａに接続されている回路、および定電圧回路２の出力Ｂに接続されている
回路が動作不能に至る電圧よりも高い電圧に設定する。
例えば、定電圧回路１の出力電圧を５Ｖ、定電圧出力２の出力電圧を３Ｖ、抵抗Ｒ１と
抵抗Ｒ２の抵抗値を１００キロオームとする。ここで、定電圧回路１の出力Ａに接続され
ている回路が動作不能に至る電圧が１０Ｖ以上とすると、Ａ点の電圧が１０Ｖになった時
には、電圧異常として検出する必要がある。Ａ点の電圧を１０Ｖとし、Ｂ点の電圧を３Ｖ
とすると、Ｃ点の電圧は６．５Ｖとなる。比較機１（ＩＣ１）のリファレンス電圧Ｖ１を
例えば６Ｖに設定しておくと、定電圧回路１の出力Ａに接続されている回路が破壊される
前に異常が検出され、回路の保護が可能となる。
【００１３】
また、定電圧回路２の出力Ｂに接続されている回路が動作不能に至る電圧が１Ｖ以下と
すると、Ｂ点の電圧が１Ｖになった時には、電圧異常として検出する必要がある。Ａ点の
電圧を５Ｖ、Ｂ点の電圧を１Ｖとすると、Ｃ点の電圧は３Ｖとなる。比較機２（ＩＣ２）
のリファレンス電圧Ｖ２を例えば４Ｖに設定しておくと、定電圧回路２の出力Ｂに接続さ
れている回路が動作不能に至る前に異常が検出され、回路動作の維持が可能となる。
比較機１の出力７をＡＮＤ回路５の入力３に接続し、比較機２の出力１をＡＮＤ回路５
の入力２に接続する。ＡＮＤ回路５の出力１は制御ＩＣ１０に接続されている。定電圧回
路１の出力または定電圧回路２の出力に異常があると、Ｃ点の電圧がそれぞれ比較器２の
入力２、比較器１の入力５に入力され、ＡＮＤ回路５の出力１にロー（Ｌｏｗ）が出力さ
れる（通常のＡＮＤ回路５の出力１はハイ（Ｈｉｇｈ）となる）。ＡＮＤ回路５の出力１
は制御ＩＣ１０に接続されているので、ＡＮＤ回路５の出力１がローの場合は、制御ＩＣ
１０によってスイッチＳＷ１が開放され、電源Ｖから定電圧回路１および定電圧回路２へ
の電圧供給が遮断される。従って、定電圧回路１からの異常電圧の供給が停止されるので
、定電圧回路１の出力Ａに接続されている回路が保護される。
【００１４】
Ｃ．その他の実施形態
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明はこうした実施の形態に何ら限
定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において様々な形態で実施し得
ることは勿論である。
例えば、定電圧回路の出力電圧の違いを問わず、また、定電圧回路の数が三つ以上であ
っても、本発明を実施し得る。
【符号の説明】
【００１５】
１…定電圧回路１、２…定電圧回路２、３…比較機１、４…比較機２、
５…ゲートＩＣ（ＩＣ３）、６…抵抗Ｒ１、７…抵抗Ｒ２、８…抵抗Ｒ３
９…トランジスターＱ１、１０…制御ＩＣ。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の定電圧回路の出力に接続された第１の抵抗素子と、
第２の定電圧回路の出力に接続された第２の抵抗素子と、が直列に接続され、
前記第１の抵抗素子と前記第２の抵抗素子との接続点の電圧を比較器の入力端子に入力
する過電圧検出回路。
【請求項２】
請求項１に記載の過電圧検出回路と、
前記比較器の出力に基づいて、前記第１の定電圧回路および前記第２の定電圧回路への
電源供給を遮断する手段と、を備える過電圧保護回路。
【請求項１】
第１の定電圧回路の出力に接続された第１の抵抗素子と、
第２の定電圧回路の出力に接続された第２の抵抗素子と、が直列に接続され、
前記第１の抵抗素子と前記第２の抵抗素子との接続点の電圧を比較器の入力端子に入力
する過電圧検出回路。
【請求項２】
請求項１に記載の過電圧検出回路と、
前記比較器の出力に基づいて、前記第１の定電圧回路および前記第２の定電圧回路への
電源供給を遮断する手段と、を備える過電圧保護回路。
【図１】
【図２】
【図２】
【公開番号】特開２０１０−２３１５０９（Ｐ２０１０−２３１５０９Ａ）
【公開日】平成２２年１０月１４日（２０１０．１０．１４）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００９−７８３９５（Ｐ２００９−７８３９５）
【出願日】平成２１年３月２７日（２００９．３．２７）
【出願人】（０００００２３６９）セイコーエプソン株式会社 (51,324)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年１０月１４日（２０１０．１０．１４）
【国際特許分類】
【出願日】平成２１年３月２７日（２００９．３．２７）
【出願人】（０００００２３６９）セイコーエプソン株式会社 (51,324)
【Ｆターム（参考）】
[ Back to top ]