遠隔で被検証品の真贋を判定する鑑定方法
【課題】目視では視認が困難である光学的異方性を利用した潜像が設けられている偽造防止媒体に対して、第三者に知られることなく、該偽造防止媒体の真贋の判定を遠隔で実施できる鑑定方法を提供すること。
【解決手段】光学的異方性を利用した潜像が設けられている偽造防止媒体、又は該潜像が設けられていない別媒体である被検証品の真贋の判定を遠隔で行う鑑定方法であって、該被検証品に一方向の偏光を持った不可視光領域の光を照射し、該被検証品で反射する反射光を、その光路上に配置した偏光板を通過させ、該偏光板を通過した光を観測又は撮影することによって、遠隔で被検証品の真贋を判定する鑑定方法。
【解決手段】光学的異方性を利用した潜像が設けられている偽造防止媒体、又は該潜像が設けられていない別媒体である被検証品の真贋の判定を遠隔で行う鑑定方法であって、該被検証品に一方向の偏光を持った不可視光領域の光を照射し、該被検証品で反射する反射光を、その光路上に配置した偏光板を通過させ、該偏光板を通過した光を観測又は撮影することによって、遠隔で被検証品の真贋を判定する鑑定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、自然光の下で観察したときには文字等の画像パターンは認識できないが、偏光板を通すと文字等の画像パターンを認識することができる潜像が設けられている偽造防止媒体、及び該潜像が設けられていない別媒体の何れかである被検証品の真贋の判定を遠隔で行なう鑑定方法に関し、詳しくは、該被検証品に強い偏光を照射し、該被検証品からの反射光の光路上に配置した偏光板を通過した光を観測又は撮影することにより、遠隔で被検証品の真贋判定を可能とする鑑定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
物品の偽造は、小売業界及びクレジットカード業界等における積年の国際的問題であり、効果的な偽造防止対策の必要性に迫られている。物品が真正であることを示す一手段としては、印刷技術の使用が挙げられる。例えば、債券、株券、商品券、図書券、宝くじ等の有価証券類の他、パスポート、クレジットカード、ＩＣカード、会員証、鑑賞券、商品用の封印シール、タグ類に至るまで、精巧な印刷技術等を駆使して製造されている。しかしながら、真正品と区別のつかない偽造品が市場に出回っており、偽造防止の強化が求められている。
【０００３】
偽造防止方法は年々複雑なものになっているが、技術の発達に伴い真正品と区別のつかない偽造品が市場に出回ることが多い。最高レベルの偽造防止が図られている貨幣でさえ例外ではない。どんなに複雑な偽造防止を図っても、偽造防止方法を見破られた時点でこの偽造防止はほぼ無効化されてしまう。従って、優れた偽造防止方法とは、第三者に偽造防止がされていることを容易に知られないことである。
【０００４】
現在利用されている偽造防止方法としては、液晶材料の持つ複屈折率を利用して潜像画像を形成する方法がある。この方法においては、例えば、サーモトロピックな高分子液晶材料を用いて、画像パターンに沿って加熱及び加圧することで高分子液晶材料の一部又は全面を配向せしめて、該画像パターンからなる潜像を設けたり、あるいは、重合性液晶材料を用いて、画像パターンに沿って配向後、重合して固定化することで、該画像パターンからなる潜像を設ける。このような液晶材料は、無色透明であり、数μｍと極めて薄い膜から、数ｍｍ程度の十分厚く強い力学的強度を有する板まで、任意の厚みに成形可能である。そのため、該液晶材料から形成した膜を、ホログラム等の真贋識別表示機能を持つものの上に貼付する等して、複数の偽造防止対策を組み合わせて偽造防止の強化を図ることも可能である。
【０００５】
上記潜像画像を有する偽造防止媒体の鑑定方法に関し、特許文献１には、偏光を潜像画像に照射する手段、潜像画像に偏光を照射して反射した反射光の光路上に偏光板を配置して、該偏光板を通過した光を観察する手段からなる検証器が提案されている。
【０００６】
また、特許文献２には、光活性分子層と二色性色素層を有し、二色性色素層に偏光情報を記録して、この記録部分を、偏光を照射するか又は偏光板を通して観察することによって鑑定する方法が提案されている。
【０００７】
ところで、人間の目は透過又は反射した光の総量で明るさや色を識別することができるが、その光が自然光か偏光であるかは区別することが出来ない。つまり、明るい環境の中では、潜像画像から反射された偏光は周囲の光の中に埋没してしまうため、人間の目は該偏光を直接視認することはできず、潜像画像を認識することができない。潜像画像から反射された偏光を直接視認するためには、潜像画像からの反射光以外の環境光が入らないような条件下で観察したり、特許文献１及び２に示されているように、潜像画像に直接偏光板をかざしたりする必要がある。しかし、偏光板をかざす行為によって、第三者に偽造防止がされている箇所を知られてしまう等の問題があった。
【０００８】
第三者に偽造防止がされていることを知られないためには、偽造防止がされている箇所から離れて鑑定できることが望まれる。偽造防止方法は種々検討されているものの、鑑定を遠隔でかつ秘密裏に行う方法は従来知られていなかった。
【０００９】
【特許文献１】特開２００５−５５２７２号公報
【特許文献２】特開平９−１８３２８７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
従って、本発明の目的は、かかる背景技術に鑑み、目視では視認が困難である光学的異方性を利用した潜像が設けられている偽造防止媒体に対して、第三者に知られることなく、該偽造防止媒体の真贋の判定を遠隔で実施できる鑑定方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明（請求項１に係る発明）は、光学的異方性を利用した潜像が設けられている偽造防止媒体、又は該潜像が設けられていない別媒体である被検証品の真贋の判定を遠隔で行う鑑定方法であって、該被検証品に一方向の偏光を持った不可視光領域の光を照射し、該被検証品で反射する反射光を、その光路上に配置した偏光板を通過させ、該偏光板を通過した光を観測又は撮影することによって、遠隔で被検証品の真贋を判定する鑑定方法を提供することによって、上記目的を達成したものである。
【００１２】
また、本発明（請求項２に係る発明）は、上記不可視光領域の光が、近赤外領域の光（波長０．８〜３．０μｍ）である請求項１記載の鑑定方法を提供するものである。
また、本発明（請求項３に係る発明）は、上記偽造防止媒体が、薄膜又は薄板状の支持体の少なくとも片面に、潜像形成層が形成されているものである請求項１又は２記載の鑑定方法を提供するものである。
【００１３】
また、本発明（請求項４に係る発明）は、上記偽造防止媒体が、薄膜又は薄板状の支持体の少なくとも片面に、該支持体に近い方から潜像形成層及び保護層が形成されているものである請求項１又は２記載の鑑定方法を提供するものである。
また、本発明（請求項５に係る発明）は、上記偽造防止媒体が、薄膜又は薄板状の支持体の少なくとも片面に、該支持体に近い方から反射層、潜像形成層及び保護層がこの順に形成されているものである請求項１又は２記載の鑑定方法を提供するものである。
【００１４】
また、本発明（請求項６に係る発明）は、上記潜像形成層は、サーモトロピックな高分子液晶材料により形成されており、上記潜像の画像パターンと同一の形状を有する、該潜像形成層の一部領域を加熱及び加圧して、該一部領域を形成している該高分子液晶材料を配向せしめたことにより、該潜像形成層に、該画像パターンからなる上記潜像が設けられている請求項３〜５の何れかに記載の鑑定方法を提供するものである。
【００１５】
また、本発明（請求項７に係る発明）は、上記潜像形成層は、重合性液晶材料により形成されており、上記潜像の画像パターンと同一の形状を有する、該潜像形成層の一部領域を形成する該重合性液晶材料を配向させた後、該重合性液晶材料を重合して固定化させたことにより、該潜像形成層に、該画像パターンからなる上記潜像が設けられている請求項３〜５の何れかに記載の鑑定方法を提供するものである。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、目視では視認が困難であるが、偏光板を介すと視認が可能となるように光学的異方性を利用した潜像が設けられている偽造防止媒体の真贋の判定が、遠隔で実施できる非常に簡便な鑑定方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明について、好ましい実施形態に基づいて詳述する。
本発明の鑑定方法においては、被検証品に不可視光領域の光を照射する。上記被検証品に照射する上記不可視光領域の光は、可視光領域（波長：３６０ｎｍ〜０．７μｍ）を含まない光であり、好ましくは近赤外領域（波長：０．８μｍ〜３．０μｍ）の光である。
【００１８】
上記不可視光領域の光の光源は、不可視光領域である単一の波長の光を照射できるものに限らず、上記可視光領域の光をカットできるフィルタを光源に設置したものであってもよい。具体的な光源としては、例えば、半導体レーザー、ガスレーザー、発光ダイオード、放電管等の比較的波長分布の狭い光源、白熱灯、蛍光灯、ハロゲンランプ、キセノンランプ等の広い波長分布を持つ光源が挙げられ、これらの光源を複数組み合わせたものであってもよい。好ましい光源としては、近赤外領域（波長：０．８μｍ〜３．０μｍ）の光を照射できる光源が挙げられ、特に好ましい光源としては、キセノン（フラッシュ）ランプ、（タングステン）ハロゲンランプが挙げられる。上記可視光領域の光をカットできるフィルタとしては、可視光領域の光をカットできるものであれば特に制限無く使用することができ、市販の赤外線フィルタを使用してもよい。
【００１９】
上記被検証品に照射する上記不可視光領域の光は、一方向の偏光を持ったものである。上記光源に偏光板を設ければ、一方向の偏光を持った不可視光領域の光を照射することができる。該偏光板は、特に制限されるものではなく、例えば、反射光の観測又は撮影の際に用いる偏光板として後に挙げるものを用いることができる。
【００２０】
遠隔で鑑定を行なう上で、被検証品から離れた位置に上記光源を設置し、上記不可視光領域の光を照射することが好ましい。上記光源と上記被検証品との距離は、用いる光源の性能にも依存し、観測又は撮影を行なうのに充分な反射光を反射させることができる範囲であれば特に制限されるものではないが、実用的には０．１〜２０ｍの範囲から選択することが好ましい。
【００２１】
本発明の鑑定方法においては、上記不可視光領域の光を上記被検証品で反射させ、その反射光を、その光路上に配置した偏光板に通過させる。
反射光の光路上に配置する上記偏光板（偏光子）としては、ポリビニルアルコール（ＰＶＡ）延伸フィルムにヨウ素を吸収させたＰＶＡ−ヨウ素型偏光板、アントラキノン系、水溶性ジスアゾ系等の二色性染料型偏光板、金属又は金属化合物含有型偏光板、コレステリック高分子液晶を螺旋軸が垂直に配向した状態での積層物、結晶性ナフタレンジカルボン酸ポリエステルとポリマーとの交互多層化フィルム等が挙げられ、特に、ＰＶＡ−ヨウ素型偏光板、二色性染料型偏光板が好ましい。また、これらの偏光板（偏光フィルム）は、その上に１／４波長フィルムを重ねた円偏光フィルムとして用いてもよい。円偏光フィルムを用いると、観測又は撮影の際に、観測又は撮影の角度に依存することなく、容易に潜像を視認することができる。また、上記偏光フィルムは、物理的強度が弱いため、トリアセチルセルロース等のポリマーで偏光フィルムの両面を挟んだものが好ましく用いられる。
【００２２】
反射光を通過させる上記偏光板は、遠隔で鑑定を行なう上で、可能な限り観測位置又は撮影位置の近くに配置することが好ましい。
【００２３】
本発明の鑑定方法においては、上記偏光板を通過した光を、上記被検証品から離れた位置から観測又は撮影する。観測又は撮影する位置と上記被検証品との間の距離は、遠隔で鑑定を行なうという本発明の目的を達成する上で０．１ｍ以上、特に０．３ｍ以上であることが好ましく、観測・撮影の条件等にもよるが、現実性を考慮すると５ｍ以下であることが好ましい。
【００２４】
偏光板を通過した光を観測する場合、目視により観測してもよいし、単眼鏡、双眼鏡等の望遠鏡を用いて観測してもよい。偏光板を通過した光を観測する際に、上記被検証品からの反射光を通過させる上記偏光板を、偏光眼鏡として用いたり、望遠鏡のレンズに取り付けて用いれば、容易に本発明の鑑定方法を実施することができる。また、望遠鏡を用いて観測する場合、後述の撮影の場合と同様に、上記不可視光領域の光の光源として、遠距離を照射できる照明用光源を用いれば、数１０ｍ離れた距離でも、被検証品の真贋の判定が可能である。
【００２５】
偏光板を通過した光を撮影する場合、近赤外領域に感度を有するカメラが好ましく用いられ、特に近赤外領域の感度を高めたものが好ましい。尚、カメラの種類は、特に制限されず、動画カメラでも静止画カメラでもよいし、フィルムカメラでもデジタルカメラでもよい。また、カメラのレンズに上記被検証品からの反射光を通過させる上記偏光板を取り付けて撮影すれば、容易に本発明の鑑定方法を実施することができる。
そして、撮影距離は、カメラに搭載されたレンズの性能、及び上記不可視光領域の光の光源の性能に依存するが、通常のカメラであれば、１〜５ｍ離れた距離で撮影しても、被検証品の真贋の判定が可能である。望遠レンズを搭載し、且つ、上記不可視光領域の光の光源として用いることができる、高輝度ガリウムアルミニウム砒素ＬＥＤを用いた赤外線投光器又は近赤外線レーザー等の遠距離を照射できる照明用光源を備えたカメラを用いる場合は、数１０ｍ離れた距離でも、被検証品の真贋の判定が可能である。
【００２６】
本発明の鑑定方法の鑑定対象である光学異方性を利用した潜像が設けられている上記偽造防止媒体は、従来公知の方法によって作製することができるものである。上記偽造防止媒体の好ましい例について、以下に説明する。
上記偽造防止媒体は、例えば、支持体の表面の一部又は全面に、潜像形成層を設けることによって作製することができる。さらに、該潜像記録層の表面を保護するための保護層を設けることが好ましい。
【００２７】
透過型の偽造防止媒体として利用する場合は、上記支持体は透明であるものが好ましく、ガラス、石英等の無機物の他、酢酸セルロース、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル、ポリエチレン、ポリプロピレン等のポリオレフィン等の各種プラスチックを用いることができる。
また、反射型の偽造防止媒体として利用する場合には、上記支持体の表面に、反射層として、金属酸化物や反射能の高い金属により薄膜を形成したものを用いることができる。この場合、上記支持体として、透明な上記の無機物又は各種プラスチックの他、紙、木材等の不透明なものを用いてもよい。また、アルミ、ステンレス、スチール等の金属材料を、支持体兼反射層として用いることもできる。
本発明の鑑定方法は、偽造防止媒体からの反射光が強い方が、より遠隔で鑑定を行うことができるので、反射型の偽造防止媒体に対して好適に行なうことができる。
【００２８】
上記支持体の形状は、上記潜像形成層を固定化できるものであればよく、例えば、シート、フィルム、プレート、カード等の薄膜・薄板状の形状が好ましく用いられる。上記支持体や反射層の厚みは、偽造防止媒体を構成する物品によって、適宜選択することができる。
【００２９】
上記保護層は、上記潜像形成層を保護し、画像形成時の熱圧時の画像形成痕による潜像画像の視認を防ぐ役割を持つもので、樹脂により形成される。該樹脂としては、アクリル系樹脂、ウレタン系樹脂、塩化ビニル樹脂−酢酸ビニル共重合体樹脂、ポリエステル系樹脂、メラミン系樹脂、エポキシ系樹脂、ポリスチレン系樹脂、ポリイミド系樹脂等の従来公知の熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、紫外線又は電子線硬化樹脂を、単独で或いは混合物として用いることができる。上記保護層の厚みは、適宜選択することができるが、好ましくは０．１〜１０μｍから選択する。
更に、サーマルヘッド等による画像形成時の印字痕防止のために、上記樹脂を架橋する硬化剤、ポリエチレンワックス、カルナバワックス、シリコンワックス等のワックス類、炭酸カルシウム、ステアリン酸亜鉛、シリカ、アルミナ、タルク等の顔料、シリコーン油脂等の油脂類を、該保護層の透明性を損なわない範囲で上記樹脂に添加することができる。
【００３０】
上記保護層は、上記樹脂を、グラビア印刷法、スクリーン印刷法、ノズルコーター等の既知の塗布手段、又はオフセット印刷法、フレキソ印刷法等の印刷手段により塗工することで形成することもできるし、上記樹脂により保護シートを作成し、該保護シートを潜像形成層に貼付することにより形成することもできる。
【００３１】
上記潜像形成層は、例えば高分子液晶材料及び／又は重合性液晶材料により形成することができる。
上記高分子液晶材料としては、例えば、テレフタル酸、イソフタル酸、２，６−ナフタレンジカルボン酸、４，４’−ビベンゾイック酸、１，８−ナフタレンジカルボン酸、エチレングリコール、ヒドロキノン、レゾルシノール、４，４’−ビフェノール、２，６−ジヒドロキシナフタレン、１，８−ジヒドロキシナフタレン、ビスフェノール−Ａ、ビスフェノール−Ｓ、４−ヒドロキシ安息香酸、６−ヒドロキシ−２−ナフトエ酸及びｔ−ブチル−４−ヒドロキシ安息香酸からなる群から選択される少なくとも一種以上を繰り返し単位として含むポリマーが挙げられ、サーモトロピックなもの、特に４０℃乃至２００℃の範囲内に液晶相を示すものが好ましく用いられる。また、上記高分子液晶材料は、重合性液晶化合物及び／又は重合性液晶類似化合物並びに上記ポリマーを共重合したものであってもよい。
【００３２】
上記ポリマーの例としては、特に制限するものではないが、ポリエステル、ポリエステルアミド、ポリカーボネート、ポリアミド、ポリイミド等を主鎖の構成単位として含み、該主鎖中にメソゲン基である上記繰り返し単位を含む主鎖型ポリマー、及び、側鎖にメソゲン基である上記繰り返し単位を有するポリ（メタ）アクリレート、ポリシロキサン、ポリマロネート、ポリスチレン、ポリエーテル、ポリオキセタン、ポリマレイミド等の側鎖型ポリマーが挙げられる。
上記側鎖型ポリマーは、加工性及び配向制御が良好であるので、上記潜像形成層の形成に好ましく使用される。上記側鎖型ポリマーのより具体的な例としては、特開昭５５−２１４７９号公報、特公昭６３−４１４００号公報、特開平1−３０８４８７号公報、特開平５−３２７３６号公報、特開平７−１０９３５１号公報、特開平１０−８７５６５号公報及び特開２００１−２７９２４５号公報等に記載されている高分子液晶化合物が挙げられる。
【００３３】
上記重合性液晶材料は、重合性官能基を有する液晶化合物の少なくとも１種以上を含有するものであり、必要に応じて他の重合性単量体を含有していてもよい。上記重合性液晶材料において、重合性官能基を有する液晶化合物の含有量は、好ましくは５〜１００質量％である。上記重合性官能基としては、（メタ）アクリロイルオキシ基、フルオロアクリル基、クロロアクリル基、トリフルオロメチルアクリル基、オキシラン環（エポキシ）、オキセタン環、スチレン化合物（スチリル基）、ビニル基、ビニルエーテル基、ビニルケトン基、マレイミド基、フェニルマレイミド基等が挙げられるが、重合反応に優れ、透明な重合膜が得られる（メタ）アクリロイルオキシ基を重合性官能基として有する化合物が好ましい。
上記重合性官能基を有する液晶化合物としては、重合性液晶化合物として通常一般に使用されるものを用いることができ、その具体例としては、特に制限するものではないが、下記[化１]〜[化１１]に示す化合物が挙げられる。
【００３４】
【化１】
【００３５】
【化２】
【００３６】
【化３】
【００３７】
【化４】
【００３８】
【化５】
【００３９】
【化６】
【００４０】
【化７】
【００４１】
【化８】
【００４２】
【化９】
【００４３】
【化１０】
【００４４】
【化１１】
【００４５】
上記重合性液晶材料に必要に応じて含有させる上記他の重合性単量体の具体的例としては、４−アクリロイルオキシ−４’−デシルビフェニル、４−アクリロイルオキシ−４’−シアノビフェニル、４−アクリロイルオキシ−４’−ブチルビシクロヘキシル、４−アクリロイルオキシ−４’−プロピルシクロヘキシルフェニル、４−メタクリロイル−４’−ブチルビシクロヘキシル、４−アクリロイル−４’−アミルトラン、４−アクリロイル−４’−（３，４−ジフルオロフェニル）ビシクロヘキシル等のモノアクリレート化合物、１，４−ビス（４−（６−アクリロイルオキシヘキシルオキシ）ベンゾイルオキシ）ベンゼン、１，４−ビス（４−（２−アクリロイルオキシエチルオキシ）ベンゾイルオキシエチルオキシ）フェニル）テレフタレート、４−（４−アクリロイルオキシヘキシルオキシフェニル）カルボニルオキシベンゼン、４−アクリロイルオキシ安息香酸−４−（３−アクリロイルオキシプロピル）フェニルエステル等のジアクリレート化合物、４−（２−アクリロイルオキシエチルオキシ）安息香酸−４−（３’、４’−ビス（アクリロイルオキシ）ベンゾイルオキシフェニル）エステル、４−（６−アクリロイルオキシヘキシルオキシ）安息香酸−４−（３’，４’−ビス（アクリロイルオキシ）安息香酸エステル等のトリアクリレート化合物が挙げられる。上記他の重合性単量体を使用する場合、その使用量は上記重合性液晶材料中で８０質量％以下とすることが好ましい。
【００４６】
また、上記高分子液晶材料及び上記重合性液晶材料には、他の液晶化合物を使用してもよい。該液晶化合物としては、通常一般に使用される液晶化合物を使用することができ、該液晶化合物の具体例としては、特に制限するものではないが、例えば、下記〔化１２〕に示す液晶化合物等が挙げられる。他の液晶化合物を使用する場合、その使用量は、上記高分子液晶材料又は上記重合性液晶材料中、５０質量％以下とすることが好ましい。
尚、〔化１２〕中のＷ1は水素原子、分岐を有してもよい炭素原子数１〜８のアルキル基、分岐を有してもよい炭素原子数１〜８のアルコキシ基、分岐を有してもよい炭素原子数２〜８のアルケニル基、分岐を有してもよい炭素原子数２〜８のアルケニルオキシ基、分岐を有してもよい炭素原子数２〜８のアルコキシアルキル基、分岐を有してもよい炭素原子数２〜８のアルカノイルオキシ基又は分岐を有してもよい炭素原子数２〜８のアルコキシカルボニル基を表し、Ｗ3はシアノ基、ハロゲン原子、分岐を有してもよい炭素原子数１〜８のアルキル基、分岐を有してもよい炭素原子数２〜８のアルカノイルオキシ基又は分岐を有してもよい炭素原子数２〜８のアルコキシカルボニル基を表し、Ｗ2及びＷ4は水素原子、ハロゲン原子又はニトリル基を表す。
【００４７】
【化１２】
【００４８】
上記高分子液晶材料又は上記重合性液晶材料は、例えば、適宜な溶媒に溶解し、バーコーター等を用いて上記支持体上に塗工されて、上記潜像形成層を形成する。塗工は上記支持体の全面でも一部でもよく、また潜像の画像パターンの形状に塗工してもよい。上記潜像形成層の厚みは、好ましくは０．０１〜５μｍである。また、上記潜像形成層を形成する上記支持体上に、予めポリビニルアルコール系配向膜又はポリイミド系配向膜を形成しておくと、上記高分子液晶材料又は上記重合性液晶材料の配向制御性が良好になる。
【００４９】
上記潜像形成層をサーモトロピックな高分子液晶材料により形成した場合、上記潜像形成層を加熱及び加圧することにより、潜像形成層に潜像を設けることができる。加熱及び加圧すると、潜像形成層の加熱及び加圧された領域を形成している高分子液晶材料のみが配向し、加熱及び加圧しなかった領域を形成している高分子液晶材料は配向しない。本発明の鑑定方法を実施すると、加熱及び加圧により高分子液晶材料が配向した領域が、潜像として視認される。従って、加熱及び加圧する領域の形状は、潜像の画像パターンの形状と同一である。
加熱及び加圧の際の加熱温度、加える圧力、加熱・加圧時間等の条件は、使用した高分子液晶材料の液晶相発現温度等によって適宜選択すればよいが、例えば感熱印字装置（好ましくはパルス幅０．１〜数十ｍｓｅｃ）を用いると、簡便に潜像の形成を行なうことができる。
【００５０】
上記潜像形成層を上記重合性液晶材料により形成した場合、以下のようにして潜像形成層に潜像を設けることができる。
先ず、潜像形成層を形成している重合性液晶材料を配向させる。重合性液晶材料を配向させるには、上記配向膜を設けた支持体を用い、配向膜上に重合性液晶材料を塗工すればよい。また、潜像形成層を形成する重合性液晶材料に磁場や電場等を印加することによっても配向させることができる。
次に、配向させた重合性液晶材料のうち、潜像としたい領域を形成している重合性液晶材料のみを重合して固定化させる。重合方法としては、光、電磁波又は熱を用いる公知の方法を適用できるが、光又は電磁波による重合反応によれば、重合性液晶材料が液晶相を示す条件下で重合することが容易である。例えば、公知のラジカル重合開始剤を好ましくは０．１〜５質量％含有させた重合性液晶材料を用いて潜像形成層を形成し、所望の画像パターンを切り抜いたマスクで該潜像形成層を覆い、紫外線、可視光線、赤外線等の光を照射すれば、画像パターンと同一形状の領域を形成している重合性液晶材料のみを重合して固定化させることができる。本発明の鑑定方法を実施すると、この固定化された領域が、潜像として視認される。
【００５１】
上記潜像の画像パターンは、特に制限されず、文字、記号、図柄、模様等の任意の形状とすることができる。
【００５２】
被検証品である上記偽造防止媒体は、各種の商品、重要書類、各種ＩＣカード、クレジットカード、金券、証券、パスポート、紙幣、シールあるいは切手等の物品とすることができる。これらの被検証品には、ロゴ、ロットナンバー、バーコード等の印刷がされ、あるいは凹凸やエンボス加工による図柄及び模様や、ホログラム等が付与されていてもよい。この場合、これらの印刷や加工によるロゴや図柄等は、上記潜像を介して観察できるように印刷又は付与することが好ましい。
【実施例】
【００５３】
以下、実施例及び比較例をもって本発明を更に説明する。しかしながら、本発明は以下の実施例等によって制限を受けるものではない。
【００５４】
〔実施例１〕偽造防止媒体１の鑑定
下記の手順（［１−１］高分子液晶材料溶液の調製、［１−２］支持体の製作、［１−３］光学フィルム１の作製、［１−４］潜像画像の印字）に従って、偽造防止媒体１を作製し、該偽造防止媒体１に対して本発明の鑑定方法を実施した。
【００５５】
［１−１］高分子液晶材料溶液の調製
下記〔化１３〕の記載に従ってモノマーを配合し、常法により重合して共重合体（側鎖型ポリマー）を得た。この共重合体は、数平均分子量Ｍｎ＝２２，４００、（重量平均分子量Ｍｗ）／（数平均分子量Ｍｎ）＝２．４３、液晶相発現温度範囲６８℃乃至１０３℃であった。この共重合体０．６ｇを溶媒（２−ブタノン）５．４ｇに添加して溶解後、フィルター（孔径：１．０μｍ）でろ過処理を実施して、高分子液晶材料溶液を調製した。
【００５６】
【化１３】
【００５７】
［１−２］支持体の製作
ポリエチレンテレフタレート基板（厚み０．５ｍｍ）にポリビニルアルコール５％水溶液をバーコーターで均一に塗工し、１００℃で３分間乾燥させた後、室温にて冷却した。冷却後、ポリエチレンテレフタレート基板に支持されたポリビニルアルコールの表面をレーヨン布で一定方向に擦り、支持体を製作した。
【００５８】
［１−３］光学フィルム１（潜像形成層）の作製
上記［１−２］で製作した支持体上に、上記［１−１］で調製した高分子液晶材料溶液をバーコーターで塗工した。塗工後、ホットプレートを用いて１００℃で３分間乾燥し、室温下で３分間冷却して、膜厚が０．９０μｍの光学フィルム１（潜像形成層）を上記支持体上に作製した。
【００５９】
［１−４］潜像画像の印字
感熱印字装置（ＴＭ−ＰＭＤ；（株）大倉電気製）を用いて、上記［１−３］で製作した光学フィルム１にパルス幅０．８ ｍｓｅｃで［ＡＩＳＴ ＡＤＥＫＡ］と印字することにより潜像を形成して、偽造防止媒体１を製作した。該偽造防止媒体１に印字されている潜像画像は目視では全く視認することができなかった。
【００６０】
次に、上記の偽造防止媒体１の鑑定を実施した。
光源（ハロゲンランプ）に赤外線フィルタ（ＩＲ−Ｄ８０Ａ；東芝硝子（株）製（現在：旭テクノグラス（株）））及び偏光板を設けた照明用光源を備え、且つレンズに偏光板を設置したビデオカメラ（ＤＣＲ−ＴＲＶ１８；ソニー（株）製）を用い、該照明用光源により上記偽造防止媒体１に光を照射し、その反射光をナイトショットモードにて撮影したところ、被検証品から２ｍ離れた距離でも潜像画像を確認することができた。
【００６１】
［実施例２］偽造防止媒体２の鑑定
下記の手順（［２−１］重合性液晶材料溶液の調製、［２−２］支持体の製作、［２−３］光学フィルム２の作製、［２−４］潜像画像の印字）に従って偽造防止媒体２を作製し、該偽造防止媒体２に対して本発明の鑑定方法を実施した。
【００６２】
［２−１］重合性液晶材料溶液の調製
下記〔化１４〕に記載の重合性液晶化合物１．０ｇ及びラジカル重合開始剤（イルガキュア９０７；チバ・スペシャルティ・ケミカルズ（株）製）０．０２ｇを溶媒（２−ブタノン）４．０ｇに添加して溶解させ、フィルター（孔径：０．４５μｍ）でろ過処理を実施し、重合性液晶材料溶液を調製した。
【００６３】
【化１４】
【００６４】
［２−２］支持体の製作
上記［１−２］と同様の手順で、支持体を製作した。
【００６５】
［２−３］光学フィルム２（潜像形成層）の作製
上記［２−２］で製作した支持体上に、上記［２−１］で調製した重合性液晶材料溶液をバーコーターで塗工した。塗工後、ホットプレートを用いて１００℃で３分間乾燥し、室温下で３分間冷却して、膜厚が１．１μｍの光学フィルム２（潜像形成層）を上記支持体上に作製した。
【００６６】
［２−４］潜像画像の印字
上記［２−３］で製作した支持体上の光学フィルム２において、印字する部分以外をマスクで覆い、マスクの上から高圧水銀灯で紫外線（１２０Ｗ／ｃｍ2）を２０秒間照射した。照射後、マスクを外して９０℃まで加熱し、さらに光学フィルム２の表面全体に紫外線（１２０Ｗ／ｃｍ2）を２０秒間照射し、室温下で冷却することにより、潜像を形成して、偽造防止媒体２を製作した。該偽造防止媒体２に記録されている潜像画像は目視では全く視認することができなかった。
【００６７】
次に、上記の手順で製造した偽造防止媒体２の鑑定を実施した。
光源（ハロゲンランプ）に赤外線フィルタ（ＩＲ−Ｄ８０Ａ；東芝硝子（株）製（現在：旭テクノグラス（株）））及び偏光板を設けた照明用光源を備え、且つレンズに偏光板を設置したビデオカメラ（ＤＣＲ−ＴＲＶ１８；ソニー（株）製）を用い、該照明用光源により上記偽造防止媒体２に光を照射し、その反射光をナイトショットモードにて撮影したところ、被検証品から２ｍ離れた距離でも潜像画像を確認することができた。
【００６８】
〔比較例１〕
上記実施例１で製造した偽造防止媒体１に対して、
光源（ハロゲンランプ）に赤外線フィルタ（ＩＲ−Ｄ８０Ａ；東芝硝子（株）製（現在：旭テクノグラス（株）））及び偏光板を設けた照明用光源を備え、且つレンズに偏光板を設置していないビデオカメラ（ＤＣＲ−ＴＲＶ１８；ソニー（株）製）を用い、該照明用光源により上記偽造防止媒体１に光を照射し、その反射光をナイトショットモードにて撮影したところ、潜像画像は全く確認できず、目視でも視認することができなかった。
【００６９】
実施例１及び２においては、光源に可視光領域の光をカットする赤外線フィルタを貼り、その上に偏光板を設けた照明用光源を用い、カメラのレンズ部に偏光板を設置して撮影することにより、第三者に偽造防止がなされていることを悟られることなく、被検証品の真贋の鑑定を行い得ることが確認できた。以上より、本発明の鑑定方法によれば、目視では視認が困難である光学的異方性を利用して潜像が設けられている偽造防止媒体を、遠隔で鑑定可能であることが分かる。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、自然光の下で観察したときには文字等の画像パターンは認識できないが、偏光板を通すと文字等の画像パターンを認識することができる潜像が設けられている偽造防止媒体、及び該潜像が設けられていない別媒体の何れかである被検証品の真贋の判定を遠隔で行なう鑑定方法に関し、詳しくは、該被検証品に強い偏光を照射し、該被検証品からの反射光の光路上に配置した偏光板を通過した光を観測又は撮影することにより、遠隔で被検証品の真贋判定を可能とする鑑定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
物品の偽造は、小売業界及びクレジットカード業界等における積年の国際的問題であり、効果的な偽造防止対策の必要性に迫られている。物品が真正であることを示す一手段としては、印刷技術の使用が挙げられる。例えば、債券、株券、商品券、図書券、宝くじ等の有価証券類の他、パスポート、クレジットカード、ＩＣカード、会員証、鑑賞券、商品用の封印シール、タグ類に至るまで、精巧な印刷技術等を駆使して製造されている。しかしながら、真正品と区別のつかない偽造品が市場に出回っており、偽造防止の強化が求められている。
【０００３】
偽造防止方法は年々複雑なものになっているが、技術の発達に伴い真正品と区別のつかない偽造品が市場に出回ることが多い。最高レベルの偽造防止が図られている貨幣でさえ例外ではない。どんなに複雑な偽造防止を図っても、偽造防止方法を見破られた時点でこの偽造防止はほぼ無効化されてしまう。従って、優れた偽造防止方法とは、第三者に偽造防止がされていることを容易に知られないことである。
【０００４】
現在利用されている偽造防止方法としては、液晶材料の持つ複屈折率を利用して潜像画像を形成する方法がある。この方法においては、例えば、サーモトロピックな高分子液晶材料を用いて、画像パターンに沿って加熱及び加圧することで高分子液晶材料の一部又は全面を配向せしめて、該画像パターンからなる潜像を設けたり、あるいは、重合性液晶材料を用いて、画像パターンに沿って配向後、重合して固定化することで、該画像パターンからなる潜像を設ける。このような液晶材料は、無色透明であり、数μｍと極めて薄い膜から、数ｍｍ程度の十分厚く強い力学的強度を有する板まで、任意の厚みに成形可能である。そのため、該液晶材料から形成した膜を、ホログラム等の真贋識別表示機能を持つものの上に貼付する等して、複数の偽造防止対策を組み合わせて偽造防止の強化を図ることも可能である。
【０００５】
上記潜像画像を有する偽造防止媒体の鑑定方法に関し、特許文献１には、偏光を潜像画像に照射する手段、潜像画像に偏光を照射して反射した反射光の光路上に偏光板を配置して、該偏光板を通過した光を観察する手段からなる検証器が提案されている。
【０００６】
また、特許文献２には、光活性分子層と二色性色素層を有し、二色性色素層に偏光情報を記録して、この記録部分を、偏光を照射するか又は偏光板を通して観察することによって鑑定する方法が提案されている。
【０００７】
ところで、人間の目は透過又は反射した光の総量で明るさや色を識別することができるが、その光が自然光か偏光であるかは区別することが出来ない。つまり、明るい環境の中では、潜像画像から反射された偏光は周囲の光の中に埋没してしまうため、人間の目は該偏光を直接視認することはできず、潜像画像を認識することができない。潜像画像から反射された偏光を直接視認するためには、潜像画像からの反射光以外の環境光が入らないような条件下で観察したり、特許文献１及び２に示されているように、潜像画像に直接偏光板をかざしたりする必要がある。しかし、偏光板をかざす行為によって、第三者に偽造防止がされている箇所を知られてしまう等の問題があった。
【０００８】
第三者に偽造防止がされていることを知られないためには、偽造防止がされている箇所から離れて鑑定できることが望まれる。偽造防止方法は種々検討されているものの、鑑定を遠隔でかつ秘密裏に行う方法は従来知られていなかった。
【０００９】
【特許文献１】特開２００５−５５２７２号公報
【特許文献２】特開平９−１８３２８７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
従って、本発明の目的は、かかる背景技術に鑑み、目視では視認が困難である光学的異方性を利用した潜像が設けられている偽造防止媒体に対して、第三者に知られることなく、該偽造防止媒体の真贋の判定を遠隔で実施できる鑑定方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明（請求項１に係る発明）は、光学的異方性を利用した潜像が設けられている偽造防止媒体、又は該潜像が設けられていない別媒体である被検証品の真贋の判定を遠隔で行う鑑定方法であって、該被検証品に一方向の偏光を持った不可視光領域の光を照射し、該被検証品で反射する反射光を、その光路上に配置した偏光板を通過させ、該偏光板を通過した光を観測又は撮影することによって、遠隔で被検証品の真贋を判定する鑑定方法を提供することによって、上記目的を達成したものである。
【００１２】
また、本発明（請求項２に係る発明）は、上記不可視光領域の光が、近赤外領域の光（波長０．８〜３．０μｍ）である請求項１記載の鑑定方法を提供するものである。
また、本発明（請求項３に係る発明）は、上記偽造防止媒体が、薄膜又は薄板状の支持体の少なくとも片面に、潜像形成層が形成されているものである請求項１又は２記載の鑑定方法を提供するものである。
【００１３】
また、本発明（請求項４に係る発明）は、上記偽造防止媒体が、薄膜又は薄板状の支持体の少なくとも片面に、該支持体に近い方から潜像形成層及び保護層が形成されているものである請求項１又は２記載の鑑定方法を提供するものである。
また、本発明（請求項５に係る発明）は、上記偽造防止媒体が、薄膜又は薄板状の支持体の少なくとも片面に、該支持体に近い方から反射層、潜像形成層及び保護層がこの順に形成されているものである請求項１又は２記載の鑑定方法を提供するものである。
【００１４】
また、本発明（請求項６に係る発明）は、上記潜像形成層は、サーモトロピックな高分子液晶材料により形成されており、上記潜像の画像パターンと同一の形状を有する、該潜像形成層の一部領域を加熱及び加圧して、該一部領域を形成している該高分子液晶材料を配向せしめたことにより、該潜像形成層に、該画像パターンからなる上記潜像が設けられている請求項３〜５の何れかに記載の鑑定方法を提供するものである。
【００１５】
また、本発明（請求項７に係る発明）は、上記潜像形成層は、重合性液晶材料により形成されており、上記潜像の画像パターンと同一の形状を有する、該潜像形成層の一部領域を形成する該重合性液晶材料を配向させた後、該重合性液晶材料を重合して固定化させたことにより、該潜像形成層に、該画像パターンからなる上記潜像が設けられている請求項３〜５の何れかに記載の鑑定方法を提供するものである。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、目視では視認が困難であるが、偏光板を介すと視認が可能となるように光学的異方性を利用した潜像が設けられている偽造防止媒体の真贋の判定が、遠隔で実施できる非常に簡便な鑑定方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明について、好ましい実施形態に基づいて詳述する。
本発明の鑑定方法においては、被検証品に不可視光領域の光を照射する。上記被検証品に照射する上記不可視光領域の光は、可視光領域（波長：３６０ｎｍ〜０．７μｍ）を含まない光であり、好ましくは近赤外領域（波長：０．８μｍ〜３．０μｍ）の光である。
【００１８】
上記不可視光領域の光の光源は、不可視光領域である単一の波長の光を照射できるものに限らず、上記可視光領域の光をカットできるフィルタを光源に設置したものであってもよい。具体的な光源としては、例えば、半導体レーザー、ガスレーザー、発光ダイオード、放電管等の比較的波長分布の狭い光源、白熱灯、蛍光灯、ハロゲンランプ、キセノンランプ等の広い波長分布を持つ光源が挙げられ、これらの光源を複数組み合わせたものであってもよい。好ましい光源としては、近赤外領域（波長：０．８μｍ〜３．０μｍ）の光を照射できる光源が挙げられ、特に好ましい光源としては、キセノン（フラッシュ）ランプ、（タングステン）ハロゲンランプが挙げられる。上記可視光領域の光をカットできるフィルタとしては、可視光領域の光をカットできるものであれば特に制限無く使用することができ、市販の赤外線フィルタを使用してもよい。
【００１９】
上記被検証品に照射する上記不可視光領域の光は、一方向の偏光を持ったものである。上記光源に偏光板を設ければ、一方向の偏光を持った不可視光領域の光を照射することができる。該偏光板は、特に制限されるものではなく、例えば、反射光の観測又は撮影の際に用いる偏光板として後に挙げるものを用いることができる。
【００２０】
遠隔で鑑定を行なう上で、被検証品から離れた位置に上記光源を設置し、上記不可視光領域の光を照射することが好ましい。上記光源と上記被検証品との距離は、用いる光源の性能にも依存し、観測又は撮影を行なうのに充分な反射光を反射させることができる範囲であれば特に制限されるものではないが、実用的には０．１〜２０ｍの範囲から選択することが好ましい。
【００２１】
本発明の鑑定方法においては、上記不可視光領域の光を上記被検証品で反射させ、その反射光を、その光路上に配置した偏光板に通過させる。
反射光の光路上に配置する上記偏光板（偏光子）としては、ポリビニルアルコール（ＰＶＡ）延伸フィルムにヨウ素を吸収させたＰＶＡ−ヨウ素型偏光板、アントラキノン系、水溶性ジスアゾ系等の二色性染料型偏光板、金属又は金属化合物含有型偏光板、コレステリック高分子液晶を螺旋軸が垂直に配向した状態での積層物、結晶性ナフタレンジカルボン酸ポリエステルとポリマーとの交互多層化フィルム等が挙げられ、特に、ＰＶＡ−ヨウ素型偏光板、二色性染料型偏光板が好ましい。また、これらの偏光板（偏光フィルム）は、その上に１／４波長フィルムを重ねた円偏光フィルムとして用いてもよい。円偏光フィルムを用いると、観測又は撮影の際に、観測又は撮影の角度に依存することなく、容易に潜像を視認することができる。また、上記偏光フィルムは、物理的強度が弱いため、トリアセチルセルロース等のポリマーで偏光フィルムの両面を挟んだものが好ましく用いられる。
【００２２】
反射光を通過させる上記偏光板は、遠隔で鑑定を行なう上で、可能な限り観測位置又は撮影位置の近くに配置することが好ましい。
【００２３】
本発明の鑑定方法においては、上記偏光板を通過した光を、上記被検証品から離れた位置から観測又は撮影する。観測又は撮影する位置と上記被検証品との間の距離は、遠隔で鑑定を行なうという本発明の目的を達成する上で０．１ｍ以上、特に０．３ｍ以上であることが好ましく、観測・撮影の条件等にもよるが、現実性を考慮すると５ｍ以下であることが好ましい。
【００２４】
偏光板を通過した光を観測する場合、目視により観測してもよいし、単眼鏡、双眼鏡等の望遠鏡を用いて観測してもよい。偏光板を通過した光を観測する際に、上記被検証品からの反射光を通過させる上記偏光板を、偏光眼鏡として用いたり、望遠鏡のレンズに取り付けて用いれば、容易に本発明の鑑定方法を実施することができる。また、望遠鏡を用いて観測する場合、後述の撮影の場合と同様に、上記不可視光領域の光の光源として、遠距離を照射できる照明用光源を用いれば、数１０ｍ離れた距離でも、被検証品の真贋の判定が可能である。
【００２５】
偏光板を通過した光を撮影する場合、近赤外領域に感度を有するカメラが好ましく用いられ、特に近赤外領域の感度を高めたものが好ましい。尚、カメラの種類は、特に制限されず、動画カメラでも静止画カメラでもよいし、フィルムカメラでもデジタルカメラでもよい。また、カメラのレンズに上記被検証品からの反射光を通過させる上記偏光板を取り付けて撮影すれば、容易に本発明の鑑定方法を実施することができる。
そして、撮影距離は、カメラに搭載されたレンズの性能、及び上記不可視光領域の光の光源の性能に依存するが、通常のカメラであれば、１〜５ｍ離れた距離で撮影しても、被検証品の真贋の判定が可能である。望遠レンズを搭載し、且つ、上記不可視光領域の光の光源として用いることができる、高輝度ガリウムアルミニウム砒素ＬＥＤを用いた赤外線投光器又は近赤外線レーザー等の遠距離を照射できる照明用光源を備えたカメラを用いる場合は、数１０ｍ離れた距離でも、被検証品の真贋の判定が可能である。
【００２６】
本発明の鑑定方法の鑑定対象である光学異方性を利用した潜像が設けられている上記偽造防止媒体は、従来公知の方法によって作製することができるものである。上記偽造防止媒体の好ましい例について、以下に説明する。
上記偽造防止媒体は、例えば、支持体の表面の一部又は全面に、潜像形成層を設けることによって作製することができる。さらに、該潜像記録層の表面を保護するための保護層を設けることが好ましい。
【００２７】
透過型の偽造防止媒体として利用する場合は、上記支持体は透明であるものが好ましく、ガラス、石英等の無機物の他、酢酸セルロース、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル、ポリエチレン、ポリプロピレン等のポリオレフィン等の各種プラスチックを用いることができる。
また、反射型の偽造防止媒体として利用する場合には、上記支持体の表面に、反射層として、金属酸化物や反射能の高い金属により薄膜を形成したものを用いることができる。この場合、上記支持体として、透明な上記の無機物又は各種プラスチックの他、紙、木材等の不透明なものを用いてもよい。また、アルミ、ステンレス、スチール等の金属材料を、支持体兼反射層として用いることもできる。
本発明の鑑定方法は、偽造防止媒体からの反射光が強い方が、より遠隔で鑑定を行うことができるので、反射型の偽造防止媒体に対して好適に行なうことができる。
【００２８】
上記支持体の形状は、上記潜像形成層を固定化できるものであればよく、例えば、シート、フィルム、プレート、カード等の薄膜・薄板状の形状が好ましく用いられる。上記支持体や反射層の厚みは、偽造防止媒体を構成する物品によって、適宜選択することができる。
【００２９】
上記保護層は、上記潜像形成層を保護し、画像形成時の熱圧時の画像形成痕による潜像画像の視認を防ぐ役割を持つもので、樹脂により形成される。該樹脂としては、アクリル系樹脂、ウレタン系樹脂、塩化ビニル樹脂−酢酸ビニル共重合体樹脂、ポリエステル系樹脂、メラミン系樹脂、エポキシ系樹脂、ポリスチレン系樹脂、ポリイミド系樹脂等の従来公知の熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、紫外線又は電子線硬化樹脂を、単独で或いは混合物として用いることができる。上記保護層の厚みは、適宜選択することができるが、好ましくは０．１〜１０μｍから選択する。
更に、サーマルヘッド等による画像形成時の印字痕防止のために、上記樹脂を架橋する硬化剤、ポリエチレンワックス、カルナバワックス、シリコンワックス等のワックス類、炭酸カルシウム、ステアリン酸亜鉛、シリカ、アルミナ、タルク等の顔料、シリコーン油脂等の油脂類を、該保護層の透明性を損なわない範囲で上記樹脂に添加することができる。
【００３０】
上記保護層は、上記樹脂を、グラビア印刷法、スクリーン印刷法、ノズルコーター等の既知の塗布手段、又はオフセット印刷法、フレキソ印刷法等の印刷手段により塗工することで形成することもできるし、上記樹脂により保護シートを作成し、該保護シートを潜像形成層に貼付することにより形成することもできる。
【００３１】
上記潜像形成層は、例えば高分子液晶材料及び／又は重合性液晶材料により形成することができる。
上記高分子液晶材料としては、例えば、テレフタル酸、イソフタル酸、２，６−ナフタレンジカルボン酸、４，４’−ビベンゾイック酸、１，８−ナフタレンジカルボン酸、エチレングリコール、ヒドロキノン、レゾルシノール、４，４’−ビフェノール、２，６−ジヒドロキシナフタレン、１，８−ジヒドロキシナフタレン、ビスフェノール−Ａ、ビスフェノール−Ｓ、４−ヒドロキシ安息香酸、６−ヒドロキシ−２−ナフトエ酸及びｔ−ブチル−４−ヒドロキシ安息香酸からなる群から選択される少なくとも一種以上を繰り返し単位として含むポリマーが挙げられ、サーモトロピックなもの、特に４０℃乃至２００℃の範囲内に液晶相を示すものが好ましく用いられる。また、上記高分子液晶材料は、重合性液晶化合物及び／又は重合性液晶類似化合物並びに上記ポリマーを共重合したものであってもよい。
【００３２】
上記ポリマーの例としては、特に制限するものではないが、ポリエステル、ポリエステルアミド、ポリカーボネート、ポリアミド、ポリイミド等を主鎖の構成単位として含み、該主鎖中にメソゲン基である上記繰り返し単位を含む主鎖型ポリマー、及び、側鎖にメソゲン基である上記繰り返し単位を有するポリ（メタ）アクリレート、ポリシロキサン、ポリマロネート、ポリスチレン、ポリエーテル、ポリオキセタン、ポリマレイミド等の側鎖型ポリマーが挙げられる。
上記側鎖型ポリマーは、加工性及び配向制御が良好であるので、上記潜像形成層の形成に好ましく使用される。上記側鎖型ポリマーのより具体的な例としては、特開昭５５−２１４７９号公報、特公昭６３−４１４００号公報、特開平1−３０８４８７号公報、特開平５−３２７３６号公報、特開平７−１０９３５１号公報、特開平１０−８７５６５号公報及び特開２００１−２７９２４５号公報等に記載されている高分子液晶化合物が挙げられる。
【００３３】
上記重合性液晶材料は、重合性官能基を有する液晶化合物の少なくとも１種以上を含有するものであり、必要に応じて他の重合性単量体を含有していてもよい。上記重合性液晶材料において、重合性官能基を有する液晶化合物の含有量は、好ましくは５〜１００質量％である。上記重合性官能基としては、（メタ）アクリロイルオキシ基、フルオロアクリル基、クロロアクリル基、トリフルオロメチルアクリル基、オキシラン環（エポキシ）、オキセタン環、スチレン化合物（スチリル基）、ビニル基、ビニルエーテル基、ビニルケトン基、マレイミド基、フェニルマレイミド基等が挙げられるが、重合反応に優れ、透明な重合膜が得られる（メタ）アクリロイルオキシ基を重合性官能基として有する化合物が好ましい。
上記重合性官能基を有する液晶化合物としては、重合性液晶化合物として通常一般に使用されるものを用いることができ、その具体例としては、特に制限するものではないが、下記[化１]〜[化１１]に示す化合物が挙げられる。
【００３４】
【化１】
【００３５】
【化２】
【００３６】
【化３】
【００３７】
【化４】
【００３８】
【化５】
【００３９】
【化６】
【００４０】
【化７】
【００４１】
【化８】
【００４２】
【化９】
【００４３】
【化１０】
【００４４】
【化１１】
【００４５】
上記重合性液晶材料に必要に応じて含有させる上記他の重合性単量体の具体的例としては、４−アクリロイルオキシ−４’−デシルビフェニル、４−アクリロイルオキシ−４’−シアノビフェニル、４−アクリロイルオキシ−４’−ブチルビシクロヘキシル、４−アクリロイルオキシ−４’−プロピルシクロヘキシルフェニル、４−メタクリロイル−４’−ブチルビシクロヘキシル、４−アクリロイル−４’−アミルトラン、４−アクリロイル−４’−（３，４−ジフルオロフェニル）ビシクロヘキシル等のモノアクリレート化合物、１，４−ビス（４−（６−アクリロイルオキシヘキシルオキシ）ベンゾイルオキシ）ベンゼン、１，４−ビス（４−（２−アクリロイルオキシエチルオキシ）ベンゾイルオキシエチルオキシ）フェニル）テレフタレート、４−（４−アクリロイルオキシヘキシルオキシフェニル）カルボニルオキシベンゼン、４−アクリロイルオキシ安息香酸−４−（３−アクリロイルオキシプロピル）フェニルエステル等のジアクリレート化合物、４−（２−アクリロイルオキシエチルオキシ）安息香酸−４−（３’、４’−ビス（アクリロイルオキシ）ベンゾイルオキシフェニル）エステル、４−（６−アクリロイルオキシヘキシルオキシ）安息香酸−４−（３’，４’−ビス（アクリロイルオキシ）安息香酸エステル等のトリアクリレート化合物が挙げられる。上記他の重合性単量体を使用する場合、その使用量は上記重合性液晶材料中で８０質量％以下とすることが好ましい。
【００４６】
また、上記高分子液晶材料及び上記重合性液晶材料には、他の液晶化合物を使用してもよい。該液晶化合物としては、通常一般に使用される液晶化合物を使用することができ、該液晶化合物の具体例としては、特に制限するものではないが、例えば、下記〔化１２〕に示す液晶化合物等が挙げられる。他の液晶化合物を使用する場合、その使用量は、上記高分子液晶材料又は上記重合性液晶材料中、５０質量％以下とすることが好ましい。
尚、〔化１２〕中のＷ1は水素原子、分岐を有してもよい炭素原子数１〜８のアルキル基、分岐を有してもよい炭素原子数１〜８のアルコキシ基、分岐を有してもよい炭素原子数２〜８のアルケニル基、分岐を有してもよい炭素原子数２〜８のアルケニルオキシ基、分岐を有してもよい炭素原子数２〜８のアルコキシアルキル基、分岐を有してもよい炭素原子数２〜８のアルカノイルオキシ基又は分岐を有してもよい炭素原子数２〜８のアルコキシカルボニル基を表し、Ｗ3はシアノ基、ハロゲン原子、分岐を有してもよい炭素原子数１〜８のアルキル基、分岐を有してもよい炭素原子数２〜８のアルカノイルオキシ基又は分岐を有してもよい炭素原子数２〜８のアルコキシカルボニル基を表し、Ｗ2及びＷ4は水素原子、ハロゲン原子又はニトリル基を表す。
【００４７】
【化１２】
【００４８】
上記高分子液晶材料又は上記重合性液晶材料は、例えば、適宜な溶媒に溶解し、バーコーター等を用いて上記支持体上に塗工されて、上記潜像形成層を形成する。塗工は上記支持体の全面でも一部でもよく、また潜像の画像パターンの形状に塗工してもよい。上記潜像形成層の厚みは、好ましくは０．０１〜５μｍである。また、上記潜像形成層を形成する上記支持体上に、予めポリビニルアルコール系配向膜又はポリイミド系配向膜を形成しておくと、上記高分子液晶材料又は上記重合性液晶材料の配向制御性が良好になる。
【００４９】
上記潜像形成層をサーモトロピックな高分子液晶材料により形成した場合、上記潜像形成層を加熱及び加圧することにより、潜像形成層に潜像を設けることができる。加熱及び加圧すると、潜像形成層の加熱及び加圧された領域を形成している高分子液晶材料のみが配向し、加熱及び加圧しなかった領域を形成している高分子液晶材料は配向しない。本発明の鑑定方法を実施すると、加熱及び加圧により高分子液晶材料が配向した領域が、潜像として視認される。従って、加熱及び加圧する領域の形状は、潜像の画像パターンの形状と同一である。
加熱及び加圧の際の加熱温度、加える圧力、加熱・加圧時間等の条件は、使用した高分子液晶材料の液晶相発現温度等によって適宜選択すればよいが、例えば感熱印字装置（好ましくはパルス幅０．１〜数十ｍｓｅｃ）を用いると、簡便に潜像の形成を行なうことができる。
【００５０】
上記潜像形成層を上記重合性液晶材料により形成した場合、以下のようにして潜像形成層に潜像を設けることができる。
先ず、潜像形成層を形成している重合性液晶材料を配向させる。重合性液晶材料を配向させるには、上記配向膜を設けた支持体を用い、配向膜上に重合性液晶材料を塗工すればよい。また、潜像形成層を形成する重合性液晶材料に磁場や電場等を印加することによっても配向させることができる。
次に、配向させた重合性液晶材料のうち、潜像としたい領域を形成している重合性液晶材料のみを重合して固定化させる。重合方法としては、光、電磁波又は熱を用いる公知の方法を適用できるが、光又は電磁波による重合反応によれば、重合性液晶材料が液晶相を示す条件下で重合することが容易である。例えば、公知のラジカル重合開始剤を好ましくは０．１〜５質量％含有させた重合性液晶材料を用いて潜像形成層を形成し、所望の画像パターンを切り抜いたマスクで該潜像形成層を覆い、紫外線、可視光線、赤外線等の光を照射すれば、画像パターンと同一形状の領域を形成している重合性液晶材料のみを重合して固定化させることができる。本発明の鑑定方法を実施すると、この固定化された領域が、潜像として視認される。
【００５１】
上記潜像の画像パターンは、特に制限されず、文字、記号、図柄、模様等の任意の形状とすることができる。
【００５２】
被検証品である上記偽造防止媒体は、各種の商品、重要書類、各種ＩＣカード、クレジットカード、金券、証券、パスポート、紙幣、シールあるいは切手等の物品とすることができる。これらの被検証品には、ロゴ、ロットナンバー、バーコード等の印刷がされ、あるいは凹凸やエンボス加工による図柄及び模様や、ホログラム等が付与されていてもよい。この場合、これらの印刷や加工によるロゴや図柄等は、上記潜像を介して観察できるように印刷又は付与することが好ましい。
【実施例】
【００５３】
以下、実施例及び比較例をもって本発明を更に説明する。しかしながら、本発明は以下の実施例等によって制限を受けるものではない。
【００５４】
〔実施例１〕偽造防止媒体１の鑑定
下記の手順（［１−１］高分子液晶材料溶液の調製、［１−２］支持体の製作、［１−３］光学フィルム１の作製、［１−４］潜像画像の印字）に従って、偽造防止媒体１を作製し、該偽造防止媒体１に対して本発明の鑑定方法を実施した。
【００５５】
［１−１］高分子液晶材料溶液の調製
下記〔化１３〕の記載に従ってモノマーを配合し、常法により重合して共重合体（側鎖型ポリマー）を得た。この共重合体は、数平均分子量Ｍｎ＝２２，４００、（重量平均分子量Ｍｗ）／（数平均分子量Ｍｎ）＝２．４３、液晶相発現温度範囲６８℃乃至１０３℃であった。この共重合体０．６ｇを溶媒（２−ブタノン）５．４ｇに添加して溶解後、フィルター（孔径：１．０μｍ）でろ過処理を実施して、高分子液晶材料溶液を調製した。
【００５６】
【化１３】
【００５７】
［１−２］支持体の製作
ポリエチレンテレフタレート基板（厚み０．５ｍｍ）にポリビニルアルコール５％水溶液をバーコーターで均一に塗工し、１００℃で３分間乾燥させた後、室温にて冷却した。冷却後、ポリエチレンテレフタレート基板に支持されたポリビニルアルコールの表面をレーヨン布で一定方向に擦り、支持体を製作した。
【００５８】
［１−３］光学フィルム１（潜像形成層）の作製
上記［１−２］で製作した支持体上に、上記［１−１］で調製した高分子液晶材料溶液をバーコーターで塗工した。塗工後、ホットプレートを用いて１００℃で３分間乾燥し、室温下で３分間冷却して、膜厚が０．９０μｍの光学フィルム１（潜像形成層）を上記支持体上に作製した。
【００５９】
［１−４］潜像画像の印字
感熱印字装置（ＴＭ−ＰＭＤ；（株）大倉電気製）を用いて、上記［１−３］で製作した光学フィルム１にパルス幅０．８ ｍｓｅｃで［ＡＩＳＴ ＡＤＥＫＡ］と印字することにより潜像を形成して、偽造防止媒体１を製作した。該偽造防止媒体１に印字されている潜像画像は目視では全く視認することができなかった。
【００６０】
次に、上記の偽造防止媒体１の鑑定を実施した。
光源（ハロゲンランプ）に赤外線フィルタ（ＩＲ−Ｄ８０Ａ；東芝硝子（株）製（現在：旭テクノグラス（株）））及び偏光板を設けた照明用光源を備え、且つレンズに偏光板を設置したビデオカメラ（ＤＣＲ−ＴＲＶ１８；ソニー（株）製）を用い、該照明用光源により上記偽造防止媒体１に光を照射し、その反射光をナイトショットモードにて撮影したところ、被検証品から２ｍ離れた距離でも潜像画像を確認することができた。
【００６１】
［実施例２］偽造防止媒体２の鑑定
下記の手順（［２−１］重合性液晶材料溶液の調製、［２−２］支持体の製作、［２−３］光学フィルム２の作製、［２−４］潜像画像の印字）に従って偽造防止媒体２を作製し、該偽造防止媒体２に対して本発明の鑑定方法を実施した。
【００６２】
［２−１］重合性液晶材料溶液の調製
下記〔化１４〕に記載の重合性液晶化合物１．０ｇ及びラジカル重合開始剤（イルガキュア９０７；チバ・スペシャルティ・ケミカルズ（株）製）０．０２ｇを溶媒（２−ブタノン）４．０ｇに添加して溶解させ、フィルター（孔径：０．４５μｍ）でろ過処理を実施し、重合性液晶材料溶液を調製した。
【００６３】
【化１４】
【００６４】
［２−２］支持体の製作
上記［１−２］と同様の手順で、支持体を製作した。
【００６５】
［２−３］光学フィルム２（潜像形成層）の作製
上記［２−２］で製作した支持体上に、上記［２−１］で調製した重合性液晶材料溶液をバーコーターで塗工した。塗工後、ホットプレートを用いて１００℃で３分間乾燥し、室温下で３分間冷却して、膜厚が１．１μｍの光学フィルム２（潜像形成層）を上記支持体上に作製した。
【００６６】
［２−４］潜像画像の印字
上記［２−３］で製作した支持体上の光学フィルム２において、印字する部分以外をマスクで覆い、マスクの上から高圧水銀灯で紫外線（１２０Ｗ／ｃｍ2）を２０秒間照射した。照射後、マスクを外して９０℃まで加熱し、さらに光学フィルム２の表面全体に紫外線（１２０Ｗ／ｃｍ2）を２０秒間照射し、室温下で冷却することにより、潜像を形成して、偽造防止媒体２を製作した。該偽造防止媒体２に記録されている潜像画像は目視では全く視認することができなかった。
【００６７】
次に、上記の手順で製造した偽造防止媒体２の鑑定を実施した。
光源（ハロゲンランプ）に赤外線フィルタ（ＩＲ−Ｄ８０Ａ；東芝硝子（株）製（現在：旭テクノグラス（株）））及び偏光板を設けた照明用光源を備え、且つレンズに偏光板を設置したビデオカメラ（ＤＣＲ−ＴＲＶ１８；ソニー（株）製）を用い、該照明用光源により上記偽造防止媒体２に光を照射し、その反射光をナイトショットモードにて撮影したところ、被検証品から２ｍ離れた距離でも潜像画像を確認することができた。
【００６８】
〔比較例１〕
上記実施例１で製造した偽造防止媒体１に対して、
光源（ハロゲンランプ）に赤外線フィルタ（ＩＲ−Ｄ８０Ａ；東芝硝子（株）製（現在：旭テクノグラス（株）））及び偏光板を設けた照明用光源を備え、且つレンズに偏光板を設置していないビデオカメラ（ＤＣＲ−ＴＲＶ１８；ソニー（株）製）を用い、該照明用光源により上記偽造防止媒体１に光を照射し、その反射光をナイトショットモードにて撮影したところ、潜像画像は全く確認できず、目視でも視認することができなかった。
【００６９】
実施例１及び２においては、光源に可視光領域の光をカットする赤外線フィルタを貼り、その上に偏光板を設けた照明用光源を用い、カメラのレンズ部に偏光板を設置して撮影することにより、第三者に偽造防止がなされていることを悟られることなく、被検証品の真贋の鑑定を行い得ることが確認できた。以上より、本発明の鑑定方法によれば、目視では視認が困難である光学的異方性を利用して潜像が設けられている偽造防止媒体を、遠隔で鑑定可能であることが分かる。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学的異方性を利用した潜像が設けられている偽造防止媒体、又は該潜像が設けられていない別媒体である被検証品の真贋の判定を遠隔で行う鑑定方法であって、該被検証品に一方向の偏光を持った不可視光領域の光を照射し、該被検証品で反射する反射光を、その光路上に配置した偏光板を通過させ、該偏光板を通過した光を観測又は撮影することによって、遠隔で被検証品の真贋を判定する鑑定方法。
【請求項２】
上記不可視光領域の光が、近赤外領域の光（波長０．８〜３．０μｍ）である請求項１記載の鑑定方法。
【請求項３】
上記偽造防止媒体が、薄膜又は薄板状の支持体の少なくとも片面に、潜像形成層が形成されているものである請求項１又は２記載の鑑定方法。
【請求項４】
上記偽造防止媒体が、薄膜又は薄板状の支持体の少なくとも片面に、該支持体に近い方から潜像形成層及び保護層が形成されているものである請求項１又は２記載の鑑定方法。
【請求項５】
上記偽造防止媒体が、薄膜又は薄板状の支持体の少なくとも片面に、該支持体に近い方から反射層、潜像形成層及び保護層がこの順に形成されているものである請求項１又は２記載の鑑定方法。
【請求項６】
上記潜像形成層は、サーモトロピックな高分子液晶材料により形成されており、上記潜像の画像パターンと同一の形状を有する、該潜像形成層の一部領域を加熱及び加圧して、該一部領域を形成している該高分子液晶材料を配向せしめたことにより、該潜像形成層に、該画像パターンからなる上記潜像が設けられている請求項３〜５の何れかに記載の鑑定方法。
【請求項７】
上記潜像形成層は、重合性液晶材料により形成されており、上記潜像の画像パターンと同一の形状を有する、該潜像形成層の一部領域を形成する該重合性液晶材料を配向させた後、該重合性液晶材料を重合して固定化させたことにより、該潜像形成層に、該画像パターンからなる上記潜像が設けられている請求項３〜５の何れかに記載の鑑定方法。
【請求項１】
光学的異方性を利用した潜像が設けられている偽造防止媒体、又は該潜像が設けられていない別媒体である被検証品の真贋の判定を遠隔で行う鑑定方法であって、該被検証品に一方向の偏光を持った不可視光領域の光を照射し、該被検証品で反射する反射光を、その光路上に配置した偏光板を通過させ、該偏光板を通過した光を観測又は撮影することによって、遠隔で被検証品の真贋を判定する鑑定方法。
【請求項２】
上記不可視光領域の光が、近赤外領域の光（波長０．８〜３．０μｍ）である請求項１記載の鑑定方法。
【請求項３】
上記偽造防止媒体が、薄膜又は薄板状の支持体の少なくとも片面に、潜像形成層が形成されているものである請求項１又は２記載の鑑定方法。
【請求項４】
上記偽造防止媒体が、薄膜又は薄板状の支持体の少なくとも片面に、該支持体に近い方から潜像形成層及び保護層が形成されているものである請求項１又は２記載の鑑定方法。
【請求項５】
上記偽造防止媒体が、薄膜又は薄板状の支持体の少なくとも片面に、該支持体に近い方から反射層、潜像形成層及び保護層がこの順に形成されているものである請求項１又は２記載の鑑定方法。
【請求項６】
上記潜像形成層は、サーモトロピックな高分子液晶材料により形成されており、上記潜像の画像パターンと同一の形状を有する、該潜像形成層の一部領域を加熱及び加圧して、該一部領域を形成している該高分子液晶材料を配向せしめたことにより、該潜像形成層に、該画像パターンからなる上記潜像が設けられている請求項３〜５の何れかに記載の鑑定方法。
【請求項７】
上記潜像形成層は、重合性液晶材料により形成されており、上記潜像の画像パターンと同一の形状を有する、該潜像形成層の一部領域を形成する該重合性液晶材料を配向させた後、該重合性液晶材料を重合して固定化させたことにより、該潜像形成層に、該画像パターンからなる上記潜像が設けられている請求項３〜５の何れかに記載の鑑定方法。
【公開番号】特開２００９−２００５２（Ｐ２００９−２００５２Ａ）
【公開日】平成２１年１月２９日（２００９．１．２９）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００７−１８４４５０（Ｐ２００７−１８４４５０）
【出願日】平成１９年７月１３日（２００７．７．１３）
【出願人】（３０１０２１５３３）独立行政法人産業技術総合研究所 (6,529)
【出願人】（００００００３８７）株式会社ＡＤＥＫＡ (987)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２１年１月２９日（２００９．１．２９）
【国際特許分類】
【出願日】平成１９年７月１３日（２００７．７．１３）
【出願人】（３０１０２１５３３）独立行政法人産業技術総合研究所 (6,529)
【出願人】（００００００３８７）株式会社ＡＤＥＫＡ (987)
【Ｆターム（参考）】
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