説明

財団法人福岡県産業・科学技術振興財団により出願された特許

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【課題】ピッキング対象物体の置かれる向きに関わらず、ピッキング対象物体の識別処理時間を大幅に短縮することが可能なピッキングシステムおよびピッキング方法の提供。
【解決手段】入力画像から閉領域を抽出する閉領域抽出手段13と、入力画像から閉領域の特異点を取得する特異点取得手段14と、特異点からいくつかの等しい距離上に存在する閉領域内の画素の含有度をそれぞれ算出することで、特異点周りの等距離画素強度パラメータを導出するパラメータ導出手段15と、ピッキング対象物体について等距離画素強度パラメータを予め導出したテンプレートデータを記憶するテンプレート記憶手段16と、導出された等距離画素強度パラメータをテンプレート記憶手段16に記憶されたテンプレートデータと照合し、ピッキング対象物体を識別する識別手段17とを含む。 (もっと読む)


【課題】3次元空間における任意の一又は複数の座標を簡単な操作で正確に特定することができる3次元座標特定装置等を提供する。
【解決手段】3次元座標空間において任意の基準面31を設定する基準面設定部22と、設定した基準面31における任意の点の座標値を決定する基準点決定部23と、決定した基準点32から、任意の角度で仮想の光線33を照射する光線照射部25と、照射した光線上の任意の点を特定する点特定部26と、特定した点の3次元座標を演算する座標演算部27とを備える。 (もっと読む)


【課題】配線パターンにおける部品相互間の関連情報を、部品間で生じる陰影情報として保持すると共に、陰影情報の表示態様を工夫することで配線パターンを正確に、且つ設計者に見やすい態様で表示する配線情報管理装置等を提供する
【解決手段】回路を構成する各要素の情報を記憶する回路情報記憶部22と、空間内の任意の位置に仮想の光源を設定する光源情報設定部23と、任意の複数の要素について、設定した光源からの光により生じる要素間の陰影状態を検出する陰影状態検出部24と、任意の複数の要素間の関連情報を演算する関連情報演算部25と、陰影状態に関する情報、及び関連情報を、複数の要素間の陰影情報として記憶する陰影情報記憶部26と、回路情報記憶部22、及び陰影情報記憶部26が記憶する情報の表示を制御する表示制御部27とを備える。 (もっと読む)


【課題】GI型とGII型とを同時に検出可能なノロウイルスの検出技術を提供することを課題とする。
【解決手段】ノロウイルスの公開されている塩基配列から、ORF1とORF2のジャンクション領域付近の塩基配列が特に保存されていることを見出し、この領域を増幅するプライマーセットを設計した。次いでこのプライマーセットを用いてノロウイルス臨床株についてRT-PCRを行い、得られた増幅産物の塩基配列をすべて決定した。そして、先の公開株と臨床株とを合わせてジャンクション領域付近の相同性検索を行なった結果、遺伝子型によらず高度に保存されている領域を見出し、本発明のPCR用プライマーセットを設計した。 (もっと読む)


【課題】振動させたMEMSの多数の箇所に同時にレーザ光を照射して、MEMSの多数の測定点における所定時点の振動状態を同様に測定でき、確実にMEMS各部の振動の特徴を把握できるMEMS測定装置を提供する。
【解決手段】それぞれ周波数の異なる多数のレーザ光を、振動しているMEMS80の多数箇所に対し同時に照射し、MEMS80の各照射位置からの反射光を干渉光とした状態で光検出部50で検出し、得られた検出信号より取出せる情報から、MEMS80の各照射位置での振動状態を求められることから、MEMSにおける複数箇所の同じ時点での振動状態を検出でき、MEMS80の所定時点における各部の振動変位を測定して、そのMEMS80の構造に基づいてあらわれる振動の特徴を確実に把握できる。 (もっと読む)


【課題】ビアチェーンを設けた基板に応力を加えた際に可逆的な抵抗変化が見出されたことを利用して、基板やこの基板を固定した測定対象物に加わる応力をビアチェーンの抵抗変化に基づいて測定する応力測定方法を提供する。
【解決手段】所定の基板10上にビアチェーン15とこれに接続するパッド17、18を備えたものを測定対象物に固定し、パッド間の電気抵抗を測定することにより、測定対象物に加わる応力が同時に基板10にも加わる中、この応力の大きさに対応したビアチェーン15の抵抗変化を外部から検知できることとなり、あらかじめ応力の変化とビアチェーン15の抵抗変化との関係を把握しておくことでビアチェーン15の抵抗値から応力の値を取得でき、同じ応力に対しピエゾ抵抗効果の場合に比べ大きく抵抗が変化する性質に基づいて、感度よく測定対象物に加わる応力の測定が行える。 (もっと読む)


【課題】識別対象物体の置かれる向きに関わらず、識別対象物体の識別処理時間を大幅に短縮することが可能な識別装置および識別方法の提供。
【解決手段】入力画像から特異点を取得する特異点取得手段13と、入力画像からエッジを抽出するエッジ抽出手段14と、特異点からいくつかの等しい距離に存在するエッジ点の個数をそれぞれ算出することで、特異点周りの等距離エッジ点強度パラメータを導出するパラメータ導出手段15と、識別対象物体について等距離エッジ点強度パラメータを予め導出したテンプレートデータを記憶するテンプレート記憶手段16と、導出された等距離エッジ点強度パラメータをテンプレート記憶手段16に記憶されたテンプレートデータと照合し、識別対象物体を識別する識別手段17とを含む。 (もっと読む)


【課題】電源・温度の変動に対する感度を極めて低めた効率的に設計することが可能な基準回路の提供。
【解決手段】pMOS MとpMOS MとからなりpMOS M,Mのソースが電源ノードに接続された第1電流ミラー回路と、pMOS MとpMOS Mとからなり、pMOS M,Mのドレイン側にカスコード接続された第2電流ミラー回路と、ソースが電源に接続されゲートがpMOS Mのゲートに接続されたpMOS Mと、飽和領域のnMOS M及び三極管領域のnMOS M,Mとを備え、M,M,MはMのドレインから接地にかけて直列に接続され、各々のゲートはMのドレインに共通に接続されており、MのソースはMのソース及びMのドレインとの共通接続ノードに接続されており、Mのソースは、Mのソース及びMのドレインとの共通接続ノードに接続された構成とした。 (もっと読む)


【課題】対向配置された対象物同士の相対的な傾きをを高精度にかつ容易に調整することができる傾き調整の技術を提供することを目的とする。
【解決手段】基板55には第1検出部である電極が形成され、基板56には第2検出部である電極が基板55の電極と対を構成する位置に形成されている。そして、基板55および基板56をステージ部15の保持部29およびヘッド部39の保持部44にそれぞれ保持し、基板55および基板56の電極の対の間の静電容量を検出部50により検出する。そして、検出された静電容量が所定の値になるように、X−Yテーブル制御部52によってX−Yステージ機構11を移動させ、基板55および基板56の相対的な傾きを調整する。 (もっと読む)


【課題】使用者に指紋や顔の画像を撮影された印象を与えることなく指紋画像や顔画像を取得することができ、認証精度の高い認証装置を提供する。
【解決手段】使用者がサインを指書きする指書板を素内、指書板の裏面側から指紋画像と、顔画像を撮影するとともに、指書板上で使用者がサインを指書きしたきにその軌跡情報を取得する。これらの情報を登録されたテンプレート情報と照合することによって、使用者が登録者であるか否かの判定を行う。 (もっと読む)


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