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Fターム[2F065CC01]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 対象物−個別例 (8,635) | プリント基板 (376)

Fターム[2F065CC01]に分類される特許

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【課題】高さの校正を迅速に行う。
【解決手段】三次元形状計測システム10は、計測対象に投影された光パタンを解析することによって、計測対象の三次元形状を計測する装置であり、光パタンを画像として読み取るためのラインセンサを備えた撮像ユニット15と、計測対象を移動させる移動ユニット11と、移動ユニット11を制御すると共に、ラインセンサにより読み取られた画像を解析することにより、計測対象の三次元形状を計測する画像解析・処理ユニット16とを備える。高さの校正は、複数の平面を段状に有する校正用ターゲット21を計測対象として行われる。画像解析・処理ユニット16は、校正用ターゲット21における或る平面に光パタンを投影させて、投影された光パタンをラインセンサによって画像として読み取り、これを、校正用ターゲット21における別の平面に対しても繰り返す。 (もっと読む)


【課題】電子部品の位置が誤ってずれていても、電子部品の高さ計測を可能とする。
【解決手段】電子部品にレーザをパルス点灯させたライン光を走査して、光切断法により端子の高さを計測するための電子部品の端子高さ計測方法において、レーザを連続点灯させたライン光を、端子先端のずれ予想範囲に亘って走査しながら、拡散反射光を撮像し、撮像された画像に基づいて電子部品の端子位置を取得し、その位置情報から端子高さを計測するためのレーザ点灯位置補正を行なう際、端子表面からの拡散反射光が弱い電子部品に対しては、前記レーザの連続点灯によるライン光の、リニアアクチュエータによる走査速度を遅くする。 (もっと読む)


【課題】画像処理対象物を吸着した吸着ノズルが画像処理対象物からはみ出した場合であっても、画像処理対象物の傾き及び中心を正確に求めることができるようにする。
【解決手段】画像処理対象物の輪郭エッジ点を取得して、隣り合う輪郭エッジ点を両端とする線分を作成し、作成した線分のうち基準線に対する傾きが所定の角度範囲内にあり、且つ、前記線分のうち隣り合うものの内側端点同士が所定の範囲内にあるものを抽出し、抽出した線分の端点のうち、最も外側に位置する2点を両端とする1つの合成線分を作成し、前記合成線分のうち長さが一定値以上あり、かつ、基準線に対する傾きが所定の角度範囲内にあるものを抽出し、抽出した合成線分のうち、最も外側に位置する2つの合成線分を選択して結合し、1つの結合線分を作成する。 (もっと読む)


【課題】回路基板表面の部品実装状態の画像を取り込む撮像装置を、電子部品実装機内の装着ヘッド以外の部分の空きスペースを有効に利用して搭載する。
【解決手段】電子部品実装機のXYスライド機構12のうちの回路基板15の上方をX方向にスライド動作するYスライド13に、回路基板15の表面を該Yスライド13のスライド方向と直角方向(Y方向)に走査する一次元イメージセンサ18と、その走査領域を照明する照明光源とを取り付ける。Yスライド13を回路基板15の一端の真上の位置から副走査方向(X方向)に一定速度で移動させて、一次元イメージセンサ18が副走査方向に一定ピッチ移動する毎に、その移動方向と直角方向(Y方向)に主走査を行い、回路基板15表面の画像を一次元イメージセンサ18によってライン状に読み取るという処理を繰り返すことで、回路基板15表面の部品実装状態の画像を取り込む。 (もっと読む)


【課題】目視判定における良否判定の基準を安定させ、検査効率を高める。
【解決手段】本発明の外観検査装置1は、プリント基板Pを撮像するカメラ52と、プリント基板Pの状態の良否を判定するための基準となる基準画像データを記憶する記憶部61と、カメラ52により撮像されたプリント基板Pの撮像画像の画像データと記憶部61に記憶された基準画像データとを比較して差分をとり、この差分に基づく差分画像を作成するコントロールユニット60と、差分画像を表示する液晶モニタ4とを備えている。図8は表示画面の一例であって、左上の表示領域に左側ずれ限度画像を、右上の表示領域に差分画像(差分領域D2)及びプリント基板Pの撮像画像を、左下の表示領域に標準画像を、右下の表示領域に差分画像(差分領域D1)及びプリント基板Pの撮像画像をそれぞれ同時に表示させたものである。 (もっと読む)


【課題】タクトタイムを長くすること無く部品実装装置の吸着ノズルに保持された部品の3次元の位置検出を行うことが可能な部品認識方法を提供する。
【解決手段】実装ヘッドに保持された部品121を撮像する認識カメラ106a及び106bとを備える部品実装装置における部品121の3次元位置の認識方法であって、部品121に対して第1位置にある認識カメラ106aにより部品121に対して第1角度で撮像し、さらに部品121に対して第2位置にある認識カメラ106bにより部品121に対して第2角度で撮像し、2つの撮像結果から、撮像が行われた部品121の3次元位置を認識する。 (もっと読む)


【課題】
本発明は、液晶表示装置のシーリング剤ディスペンサ用センサーに係り、シーリング剤の吐き出されるノズルと基板との間の高さを正確に測定できる変位測定センサーに関する。
【解決手段】
本発明による変位測定センサーは、レーザービームを基板に向けて出力する発光部と、前記発光部から出力されたレーザーの受信される受光部とを含むが、前記発光部及び受光部は、互いに離隔されて一体型とからなり、前記発光部と受光部との間には、ディスペンサのシリンジ下部が取り付けられる結合孔が形成されたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】検査対象物(フレキシブルプリント回路基板)の過検出を減らすことができるプリント回路基板の自動光学検査方法を提供する。
【解決手段】前記プリント回路基板上に形成されたパターン検査時に、一次に斜線方向に光を照射して得た第1反射イメージを用いて、パターン成分と空間成分をまず区別してパターン形状検査をまず行い、2次に垂直方向に光を照射して得た第2反射イメージを用いて、前記第1反射イメージから得たパターン成分の領域を参考にして表面の窪みを中心に検査する。 (もっと読む)


【課題】簡易にして常に安定した外観検査を行うことができる外観検査方法を提供する。
【解決手段】カメラにより被検査物の所定領域を撮影してその画像情報を得て所定階調値のグレースケール画像情報に処理し、階調値ごとの出現頻度を求めてそのヒストグラムを作成して複数のモードを求める。そして各モードにおける出現頻度を示す階調値の下限値に掛かる下限閾値およびその階調値の上限値に掛かる上限閾値をそれぞれ求め、各モードにそれぞれ掛かる構成部材の配置領域情報をそれぞれ得て、構成部材の配置領域におけるモードの下限閾値以下および上限閾値以上のグレースケール画像情報との論理和演算を実行して合成画像情報を得て、構成部材の配置領域情報との論理積演算により複合画像情報を得る。そうして得られた複合画像情報に特異点があるとき外観検査装置は、被検査物に異常があると判定する。 (もっと読む)


【課題】プリント配線板および各種半導体パッケージ基板等の個々の製品が多面付けされた多面付け基板の個々の製品を精度良く、且つ効率よく位置合わせして、導通検査を行う導通検査装置を提供することを目的とする。
【解決手段】少なくともアライメントステージ10と、検査ステージ20と、カメラ30と、カメラ40と、検査治具50と、搬送手段60と、ホッパ70a、ストッカ70bと、データ処理・制御手段80とで構成されたプリント配線板及び各種半導体パッケージ基板等の個々の製品が多面付けされた多面付け基板の個々の製品の電気的導通を行う導通検査装置である。 (もっと読む)


【課題】基本的にはドーム型照明方式の考え方を用い、ローアングル光照明方式の不具合を解消しながらも、その場合に生じ得る照度不足や照度ムラといった新たな問題点を解決し、配線基板の検査をより精度良く行えるようにする。
【解決手段】光透過性及び光拡散性を有し、検査用カメラ300が撮影する検査領域20aを覆うように近接配置される概略平板状又はドーム状をなす光拡散部材2と、その光拡散部材2の外側に離間して配置され、前記検査領域20aに当該光拡散部材2を透過させて光を照射する複数の光照射部材4と、前記光拡散部材2に設けられた撮影用観測孔2aの周囲からカメラの方向に延びる筒状体3と、を備え、前記カメラが、それら筒状体3及び観測孔2aを介し前記検査領域20aを撮影できるように構成するとともに、前記筒状体3のカメラ側開口に、前記光照射部材4からの直射光が入らないように構成した。 (もっと読む)


【課題】半導体ウェハやガラス、フィルムなどの基板と基板との接続で、アライメントマークの形成時にエッチング不足やオーバーエッチングが生じたり、アライメントマーク上の一部に不透明な粒子等が存在する場合でも、アライメントマークを正確に認識し、位置合せを精度よく行う。
【解決手段】アライメントマークを有する部材上に、粒子を含有する樹脂層が形成され、樹脂層を介して撮像したアライメントマーク画像にもとづいてアライメントマークの位置を検出するアライメントマークの認識方法であって、樹脂層に含まれる粒子のフェレー径の最大値を算出し、次いで撮像したアライメントマーク画像を2値化した後、2値化されたアライメントマーク画像を、粒子のフェレー径の最大値に対応する画素数分だけ収縮する処理、または膨張する処理を有し、2値化されたアライメントマーク画像から雑音を除去し、アライメントマークの位置を検出する。 (もっと読む)


【課題】 検出精度向上するとともに、処理の高速化および必要なメモリ容量の縮小を実現する画像処理方法、画像処理装置、画像処理プログラムおよび画像処理プログラムを記録する記録媒体を提供する。
【解決手段】 ステップS1では、前処理として平滑化処理を行い、ステップS2では、画素を飛ばしながらSobelオペレータによるエッジ強度を求め、その強度が閾値範囲内となる画素について、エッジ方向と位置座標とを登録する。ステップS3では、一定の回転角度刻みの粗サーチとして一般化Hough変換を実行し、投票数の多い順に候補画素を選択する。ステップS4では、座標および回転角度とも近似した複数の画素を同じクラスタとし、その中から代表画素を選出する。ステップS5では、粗サーチにおける刻み角度よりも小さな回転角度で中間サーチとして一般化Hough変換の再投票を行い、ステップ6で正規化相関を用いた最終サーチを行う。 (もっと読む)


【課題】画像認識によって電子部品の端子の状態を判別する場合に誤判定の可能性を低くする。
【解決手段】電子部品に設けられた端子 をカメラにより複数の方向から撮像し、この撮像により得られた撮像方向が異なる複数の画像に基づいて端子の高さ位置を検出する端子検査シーケンスを実行する。その端子検査シーケンスの実行において、端子の高さ位置の検出不良が生じたとき又は検出された高さ位置が基準値に近いグレーゾーンにあるときには、端子検査シーケンスを再度実行する。 (もっと読む)


【課題】経時変化にかかわらず、クリームはんだの状態を検出することができる検査装置および検査方法を提供する。
【解決手段】設定部95bは、はんだ相関データ96dおよびLED相関データ96eに基づいて、照明装置5から照射される赤外光の強度を設定する。これにより、撮像装置6は、クリームはんだの所定の厚さに対応する画素が所定の光強度を有する基板表面からの反射光を検出することができる。この撮像装置6による画像に基づいて、クリームはんだの断面を検出することができる。したがって、クリームはんだや赤外線LED5aの経時変化にかかわらずクリームはんだの状態を検出することができる。 (もっと読む)


【課題】クリームはんだの3次元形状を検出することができる検査装置および検査方法を提供する。
【解決手段】照明装置5は、クリームはんだが塗布された基板に対して複数の異なる強度の赤外光を照射する。撮像装置6は、赤外光が照射された基板を赤外光の強度毎に撮像する。これにより、基板に照射された赤外光の強度が異なる複数の画像を取得するができ、これらからクリームはんだの3次元形状を検出することができる。このため、クリームはんだの内部の状態に応じて、基板を搬出したり警告を行ったりすることにより、不良のクリームはんだが塗布された基板が搬出されるのを防ぐことができる。 (もっと読む)


【課題】 画像認識において、背景による各種外乱の影響を取り除き安定したパターン検出を可能とし、パターンマッチングの処理負荷を削減し処理時間を短縮させる。
【解決手段】 対象物と背景とを分離しそれらの濃度として各原画像の平均濃度を指定する。予めパターン画像の自己相関係数の計算を行う。パターン画像によるスキャン過程で、入力画像の自己相関係数とパターン画像・入力画像間の相互相関係数を計算する。パターン画像から背景部分を除外して対象部分のみでパターンマッチングを行うことにより、背景の外乱の影響が取り除け、計算時間も短縮する。
(もっと読む)


【課題】クリームはんだの組成にかかわらず、クリームはんだの状態を検出することができる検査装置および検査方法を提供する。
【解決手段】照明設定部95bは、クリームはんだの組成に応じて照明装置5により照射する赤外光の強度を設定する。撮像装置6は、照明装置5により設定された光強度の赤外光をクリームはんだが塗布された基板に照射する。撮像装置6は、照明装置5により赤外光が照射された基板を撮像する。これにより、基板表面からの反射光の像を含む画像を取得することができる。 (もっと読む)


【課題】ピンあるいは端子の先端部のように、周囲と段差のある比較的小さな部材についても、正確且つ高速に高さを測定できる外観検査装置及び外観検査方法を提供する。
【解決手段】外観検査装置(1)は、被検査物に対して所定の方向に周期的な濃淡パターンを投影する光源部(2)と、濃淡パターンを所定の方向に所定量ずつずらして投影された被検査物を撮影した複数の検査画像を取得する撮像部(3)と、複数の検査画像に基づいて、濃淡パターンの位相のずれ量を表す位相画像を形成する位相画像作成手段(51)と、位相画像又は被検査物を撮影した位置決め画像に基づいて、被検査物の少なくとも一つの測定部位の位置を特定する位置特定手段(52)と、特定された少なくとも一つの測定部位の位置に対応する位相画像の画素値に基づいて、少なくとも一つの測定部位の高さを測定する高さ測定手段(53)とを有する。 (もっと読む)


【課題】ソルダーレジスト印刷のずれの検査時間が短縮でき、ヒューマンエラーの発生を防止できる基板用印刷装置を実現する。
【解決手段】印刷ヘッドがプリント基板上に所定の情報を印刷し、印刷した所定の情報をカメラで撮影する基板用印刷装置において、前記プリント基板の所定箇所の金属パッドの中心座標とこの金属パッドの周囲を囲むソルダーレジストの中心座標とを求めるカメラと、このカメラの情報から前記金属パッドに対するソルダーレジストのずれを判定する判定手段とを具備したことを特徴とする基板用印刷装置である。 (もっと読む)


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