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Fターム[2F065FF61]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 測定方法 (22,691) | 標準物の利用 (810)

Fターム[2F065FF61]に分類される特許

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【課題】最小限の塗布膜の破壊によって塗布膜の厚さを測定できる膜厚測定装置を提供する。
【解決手段】先端が針形状である少なくとも2つ測定刃31・31と、測定対象にレーザ光を照射し、該測定対象からの反射光を検出するレーザ変位計40と、レーザ変位計40によって塗布膜の厚さを測定するコントローラ50と、を具備し、コントローラ50は、測定刃31を塗布膜内に侵入させた状態で、レーザ変位計40によって、塗布膜の表面にレーザ光を照射し、塗布膜の表面からの反射光を検出することにより得た値を用いて、塗布膜の厚さを測定する。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成で容易に撮像面の傾斜状態を検出可能な傾斜検出方法を提供する。
【解決手段】2つの撮像装置のそれぞれについて、撮像装置の傾斜状態を検出する傾斜検出工程と、撮像装置の傾斜を調整する傾斜調整工程と、撮像装置の位置を検出する位置検出工程と、撮像装置の位置を調整する位置調整工程と、を有し、傾斜検出工程は、均等間隔で設けられたパターンを、撮像装置の焦点位置を順次変化させて撮像し、撮像画像におけるパターン位置を検出してパターン領域を設定し、パターン領域における各画素の輝度値を検出し、検査方向に沿って画素間の輝度変化量を算出し、各パターン領域における輝度変化量の積算値を算出し、積算値が最大となる撮像画像に対応した焦点一致位置を検出し、焦点一致位置に基づいて、撮像装置の傾斜状態を検出することを特徴とする調整方法。 (もっと読む)


【課題】特定のランドマークを設置しないでも、精度良く撮像装置の姿勢パラメータを取得可能な姿勢キャリブレーションを実現する。
【解決手段】撮像部により撮像された画像に含まれる物体を検出し、検出された少なくとも2つの物体について、それぞれ撮像された画像における正立状態からの回転角度を算出し、算出された前記少なくとも2つの物体の回転角度から撮像装置の設置角度に関する姿勢パラメータを算出する。 (もっと読む)


【課題】 走査型干渉計による非球面測定において、被検非球面の頂点付近反射光を使用せずに被検非球面の走査量を高精度に測定する。
【解決手段】 被検面を多段階にステップ走査し、ステップ走査ごとに、撮像手段にて取得した干渉縞の形状測定領域に対応する位相、及び波長測定器にて前記光の波長、をそれぞれ計測する。
その後、被検面上の任意の点と参照球面の曲率中心との距離を、計測された前記位相と前記波長とをパラメータとして含む波数(整数)の関数として定義したうえで、隣接するステップ間の前記関数の関係から各ステップにおける波数を算出し、各ステップ間の移動量を算出する。
さらに、波数とその関数から被検面上の点Mと参照球面の曲率中心Oとの距離の測定値を算出すると共に、算出された移動量を用いて点Mと曲率中心Oの距離の設計値を算出し、前記測定値と設計値の差分より被検面の形状誤差を算出する。 (もっと読む)


【課題】撮像装置のキャブリレーションに用いる校正基準点を、小規模な装置環境で高精度に取得する。
【解決手段】校正対象の撮像装置20に対してレーザ光のような広がりのない光を照射する発光装置10、撮像装置10の向きを調節する角度調節装置30、該角度調節装置30に角度指令を与える角度制御装置40、撮像装置20より得られる撮像画像から集光点位置を検出し、校正基準点を算出する画像処理装置50を有する。 (もっと読む)


【課題】複層塗膜の内部構造及び内部欠陥を、非接触非破壊且つ簡便に測定、解析することができる複層塗膜の非接触非破壊評価方法及びそれを用いた装置を提供すること。
【解決手段】本評価方法は、光源1からの光を参照光と複層塗膜4への入射光とに分岐する分岐ステップと、前記参照光の光学距離を調整する調整ステップと、前記複層塗膜からの反射光と前記参照光とを干渉せしめる干渉ステップと、前記複層塗膜からの前記反射光を含む干渉光を検出して前記干渉光の強度信号を出力する検出ステップと、前記強度信号を解析する解析ステップと、を含む。 (もっと読む)


【課題】検査対象物の向きにかかわらず、凹部に存在する突起や付着物などの寸法が許容範囲にあるか否かを短時間で、複数の対象物を連続して検査する。
【解決手段】第一の照明手段13により検査対象物5の第一の面51に略平行に光を照射しながら第一の撮像手段11により検査対象物5の第一の面51を撮像して第一の画像データを生成し、画像処理手段17が、第一の画像データに写っている凹部511の輪郭を抽出して凹部511の位置を特定し、第二の照明手段14により検査対象物5の第一の面51に対して所定の角度をもって傾斜する方向から光を照射しながら第一の撮像手段11により検査対象物5の第一の面51を撮像して第二の画像データを生成し、画像処理手段17が第二の画像データに含まれる凹部511を抽出し、閾値を超える輝度値を有する領域の面積を算出し、面積に基づいて、検査対象物5が良品であるか不良品であるかを判定する。 (もっと読む)


【課題】ラインセンサにより高さのみ及び高さと変位の両方を高精度に測定することができ、設置作業が容易な測定装置を提供する。
【解決手段】測定装置において、5つ以上の高さ方向の絶対座標が分かるキャリブレーションターゲット2と、前記キャリブレーションターゲット2の画像を撮像し、撮像した画像の画像信号を出力するラインセンサ1と、前記画像信号に基づき画像情報を作成する入力画像作成部と、前記画像情報に基づきターゲット座標を検出するターゲット検出部と、前記ターゲット座標及び予め取得した絶対座標に基づきDLT法の係数を算出する係数算出部と、前記係数に基づき前記ラインセンサ1の姿勢を計算する姿勢計算部と、前記係数に基づき前記ラインセンサ1の焦点距離を計算する焦点距離計算部と、前記係数に基づき前記ラインセンサ1の位置を計算する位置計算部とを備えた。 (もっと読む)


【課題】自動改札機等のゲートに取り付けられたステレオカメラ等の校正で校正用マーカを簡単に設置でき、校正作業の手間を軽減きるようにしたカメラ校正装置を提供する。
【解決手段】カメラ校正装置は、ゲート通路11を有しかつカメラ12A,12Bと物体検知センサ13を備えるゲート10でカメラの校正を行うカメラ校正装置であって、ゲート通路を自在に移動する台車21と、高さ位置が既知であるマーカ22A,22B,22Cが取り付けられたマーカ支柱22を備える校正用マーカ装置20と、物体検知センサで校正用マーカ装置の位置を検知したとき、カメラの撮影で得た画像情報からマーカの情報を取り出し、マーカの情報に基づき校正用カメラパラメータを算出するカメラ校正用処理装置14とを備える。 (もっと読む)


【課題】全面走査の誤差を蓄積することなく、被検体の表面形状を精度よく測定することができるようにする。
【解決手段】被検体1における複数の注目領域2のうち、1つの注目領域2が回転中心上に位置するように被検体1が載置され、1つの注目領域2を中心にして、被検体1を回転させる回転台3と、被検体1における複数の注目領域2のいずれかに光を照射する光照射部及び注目領域2に反射された光を検出する光検出部を有する複数の光センサ5とを備える。 (もっと読む)


【課題】1回の撮影で視野全体の3次元形状について、その特徴を漏れなく計測することができる3次元計測装置及び3次元計測方法を提供する。
【解決手段】 複数方向の複数の直線及び/又は曲線状のレーザラインにより構成されるレーザパタンをレーザ投影手段から計測対象物に投影し、該レーザパタンが投影された計測対象物を異なる方向から撮影して第1の画像及び第2の画像を取得し、この第1の画像及び前記第2の画像からレーザラインを抽出し、第1の画像のレーザライン点に対応する第2の画像のレーザライン点の対応点候補の3次元座標を夫々求め、該3次元座標を前記レーザ投影手段に設定される投影手段座標系に変換して前記レーザパタンが構成されているレーザパタン平面に射影した夫々の射影点が前記レーザパタン上にあるか否かを判定することにより、対応点を求める。 (もっと読む)


【課題】自由度の高い画像測定装置及び画像測定方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る画像測定装置は、撮像手段と、撮像手段によって被測定対象を撮像して得られた画像情報から被測定対象の座標情報を算出する演算手段とを有し、演算手段は、撮像手段によって被測定対象を撮像して得られた画像情報を、撮像手段に固有の誤差情報によって補正して補正画像情報を得る誤差補正手段と、補正画像情報から被測定対象の座標情報を算出する座標算出手段とを備える。 (もっと読む)


【課題】複数方向から計測対象物を計測して取得した3次元点群を自動的に合成することの可能な3次元点群の合成方法を提供する。
【解決手段】計測対象物の近傍または表面に配置された個体識別する複数の計測用ターゲットを、3次元計測手段を用いて計測して3次元の点群として取得する3次元計測ステップ(S2)と、点群から計測用ターゲットに該当するターゲット点群を抽出し、いずれの計測用ターゲットに該当するかを判別する個体点群判別ステップ(S3)と、3次元計測手段の位置を変えて複数の方向から3次元計測ステップと個体点群判別ステップとを繰り返した後、個体点群判別ステップにより一方向において判別した各ターゲット点群及び各他方向において判別したターゲット点群の中で同一性状を示すターゲット点群同士を合成する点群合成ステップ(S4)とを備える。 (もっと読む)


【課題】 回転体の回転軸心の運動の軌跡を計測する方法を提供する。
【解決手段】 主軸に回転体を取り付けることと、前記回転体の前記回転軸心に垂直な垂直面内に、前記回転体の一部を挟んで対向する3組の発光部及び受光部の組を配置することと、回転体を、前記主軸と一体的に回転させつつエッジ光の光量を測定することと、エッジ光の光量に基づいて、回転体の断面形状と異なる仮想断面形状を求めることと、エッジ光の光量及び仮想断面形状に基づいて、回転体の回転軸心の運動の軌跡を求めることとを備える方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】コネクタのピン曲がりを高精度に検出する。
【解決手段】y軸方向に沿って所定間隔で配列された複数のピン32を有するピン列を保持する保持面34が設けられたコネクタ30を、y軸方向に移動する搬送・圧入装置10と、x軸方向に延びる撮像領域を有し、コネクタが移動されている間に、ピン画像を撮像するラインセンサカメラ16と、ラインセンサカメラによる撮像結果から得られるピンのy軸方向に関する間隔を、撮像ピン間隔Py(i,j)として取得するとともに、撮像ピン間隔のy軸方向に関する変化を近似して、ピン間隔近似曲線fy’(j)を算出する近似曲線算出部56と、撮像ピン間隔Py(i,j)とピン間隔近似曲線fy’(j)とに基づいて、ピンの曲がりを判定する判定部58と、を備える。 (もっと読む)


【課題】 メモリ容量が問題とならない位置ずれ量の検出を行い、位置ずれ量に基づき基板の位置を補正し基板の外観検査を行う。
【解決手段】 参照テーブル424に基づいて、推定基準点位置設定部413により推定基準点位置および仮基準点位置設定部415により仮基準点位置が設定される。距離指標値算出部414が推定基準点位置と仮基準点位置との距離の標準偏差を求め、該標準偏差が最小となるときの回転角および仮基準点位置と基準点位置との位置差分値を位置ずれ量425として取得する。該位置ずれ量425に基づき被検査基板6の位置合わせを行うことで、メモリの使用容量を増やすことなく、確実に位置合わせを行うことができるとともに、外観検査を行うことができる。 (もっと読む)


【課題】 運転者の視点位置の算出に係る信頼性の向上を図る。
【解決手段】本発明は、運転者の視点位置EPを算出する視点位置算出装置1であって、右サイドミラーRの角度と車両の運転席着座中心面Tとに基づいて第1の推定視点位置EPRSを算出する第1推定視点位置算出部12と、左サイドミラーLの角度と車両の運転席着座中心面Tとに基づいて第2の推定視点位置EPLSを算出する第2推定視点位置算出部13と、推定視点位置EPRS,EPRSが一致するか否かを判定する一致条件判定部15と、推定視点位置EPRS,EPRSが一致すると判定された場合、当該推定視点位置を運転者の視点位置EPとして算出する視点位置算出部16とを備え、視点位置算出部16は、各推定視点位置EPRS,EPRSが一致しないと判定された場合、推定視点位置EPRS,EPLSに基づいて視点位置EPを算出する。 (もっと読む)


【課題】光制御板に形成された凹凸形状を簡易に評価することが可能な形状評価方法を提供する。
【解決手段】凹凸形状13が形成された第1の面11と当該第1の面11と反対側に位置する第2の面12とを有し、凹凸形状13が第1の方向11に延在しているサンプル光制御板1の凹凸形状13を評価する形状評価方法は、第1の面11から光を入射した場合の第1の全光線透過率Tt1及び第2の面12から光を入射した場合の第2の全光線透過率Tt2の少なくとも一方を用いて規定される指標を凹凸形状13を表す指標とし、サンプル光制御板1に対して、第1及び第2の全光線透過率Tt1,Tt2の少なくとも一方を測定して上記指標を取得する取得工程と、凹凸形状が既知の基準光制御板に対して予め取得した指標と凹凸形状との相関関係に基づき、取得工程で取得した上記指標から、サンプル光制御板1の凹凸形状13を評価する評価工程とを有している。 (もっと読む)


【課題】照明部と撮像部の校正時からの変化を異常として検知する。
【解決手段】対象物体の三次元形状モデルの情報を保持する保持部と、撮像部により撮像された対象物体の距離情報を取得する距離情報取得部と、撮像部により撮像された対象物体の濃淡画像を取得する濃淡画像取得部と、保持部に保持された三次元形状モデルの情報と、距離情報とに基づいて対象物体の位置および姿勢を推定する第1位置姿勢推定部と、保持部に保持された三次元形状モデルの情報を濃淡画像上に投影した投影情報と、濃淡画像の幾何特徴とに基づいて対象物体の位置および姿勢を推定する第2位置姿勢推定部と、第1位置姿勢推定部により推定された第1推定値と第2位置姿勢推定部により推定された第2推定値との差分値が閾値より大きいか判定する判定部と、判定部により差分値が閾値より大きいと判定された場合に、撮像部による撮像条件の校正が必要な状態であることを報知する報知部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】 ワークのエッジ位置に沿って誤差を識別することができるとともに、ワーク画像との対応関係を容易に把握することができる画像測定装置を提供する。
【解決手段】 ワーク画像からエッジを抽出するエッジ抽出手段と、ワークの輪郭情報及び輪郭位置の公差を含む測定設定データを保持する測定設定データ記憶手段と、ワーク画像及び輪郭情報を位置合わせし、ワーク画像上のエッジ位置とこのエッジ位置に対応する輪郭位置との変位量を示す誤差を算出する誤差算出手段と、算出された誤差を公差と比較し、良否判定を行う誤差判定手段と、抽出されたエッジ及び良否判定の結果をワーク画像上に表示する測定結果表示手段により構成される。測定結果表示手段は、誤差が不良と判定されたエッジ位置について、誤差の大きさが極大となるエッジ位置の誤差を数値表示する。 (もっと読む)


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