本発明は、固体（１）の表面形状（Ｐ）を非接触で動的に記録する方法に関する。この発明によれば、レーザ装置（２）によって発生され、少なくとも１つの線光帯（３）を形成するために拡げられた少なくとも１つの光ビームが、前記レーザ装置（２）を通過する前記個体（１、１ａ）の表面の少なくとも１つの領域上に投射され、前記個体（１、１ａ）から反射した光（ＲＬ）は画像装置（５）に集束するようになっており、前記画像装置（５）は、前記レーザ装置（２）の投射軸（Ｏ−Ｏ）に対して固定された三角測量角度（φ）にある光軸（Ａ−Ａ）を有し、当該光軸（Ａ−Ａ）が前記レーザ装置（２）の投射軸（Ｏ−Ｏ）から固定された基本距離（Ｂ）に位置しており、前記反射した光（ＲＬ）は、前記画像装置（５）の平面光吸収素子（６）によって、前記固体（１）の運動速度（ｖ）に対して高い周波数で検出される。その後、前記表面形状（Ｐ）の測定値（ｚ_Ｂ）が、処理装置において、三角法関係および固体（１）の運動割合に応じて決定される補正値の組み合わせによって、三角測量角度（φ）および基本距離（Ｂ）に応じて前記平面光吸収素子（６）により出力される信号からデータ処理装置によって得られ、前記測定値はプロフィログラム（ＰＧ）形態でデータ処理装置内に記憶される方法において、画像取り込み（１０６Ａ、１０６Ｂ、１０６Ｃ）の決定が、受信ループ（１００）内において行われ、そのために、前記平面受光素子（６）による出力信号が、前記表面形状（Ｐ）の前記測定値（ｚ_Ｂ）を得るために選択される。 （もっと読む）

【課題】トロリー線の磨耗量や水平変移量を高い精度で検出する。
【手段】トロリー線３は、当該トロリー線３と重なって延びるＴ形架台１３に押さえ固定されており、Ｔ形架台１３の下面はトロリー線３の外側に露出している。トロリー線３とＴ形架台１３とには検測車に設けたレーザー投光器１８からレーザー光線が照射され、トロリー線３及びＴ形架台１３にスリット線Ｓとして表れる。これらスリット線Ｓを含んだ状態でトロリー線３とＴ形架台１３とをＣＣＤカメラで撮影し、Ｔ形架台１３とトロリー線３とのスリット線Ｓの画像上のずれから、実際のＴ形架台１３の下面からトロリー線３の下面までの突出寸法ｈ２を演算し、この寸法ｈ２を初期突出寸法ｈ０から減ずることで磨耗量を得る。 （もっと読む）

【課題】 光学式タッチパネル等において、発光素子及び受光素子の配置間隔より細かい座標位置情報を得ることができ、指やペン等が高速に移動した場合でも、その位置を検出できるようにする。
【解決手段】 座標位置検出装置１は、表示面１０に対する水平方向及び垂直方向に沿って所定の走査領域内でそれぞれ検出ビームを用いて所定の走査精度で走査する走査部（走査手段）４０を備え、表示面１０上の遮光物の位置を遮光された検出ビームの走査位置に対応させて検出する座標位置検出装置であり、走査部４０は、走査精度の異なる複数の走査モードの切り替えを行う駆動制御部２３と、遮光物の移動速度を検出する移動速度検出部２４と、を備え、移動速度検出部２４により検出された遮光物の移動速度に応じて、複数の走査モードの中から所定の走査モードを選択して走査を行う。 （もっと読む）

【課題】
本発明の目的は、個人認証装置の高さ方向を小さくしても画像歪を発生することなく血管パターンを撮像でき、安価に構成できる個人認証装置を提供することにある。
【解決手段】
指７の先端部と根元部を搭載する指搭載台２３の下部に指の透過光を横方向に屈折させるミラー８を配置する。ミラー８で横方向に屈折された透過光により指の血管パターンをカメラモジュール４により撮像する。 （もっと読む）

【課題】従来の技術のタイプの方法および装置を、歯科技工用の物体の形状を無接触で容易に決定することができるように改善することである。
【解決手段】マトリックスカメラ（３２，３４）は、第１の、第２のおよび第３のピクセルを有するカラーマトリックスカメラであり、マトリックスカメラによって、一方の種類のピクセル（第１のピクセル）に実質的に特徴的な波長範囲にある光を検出し、２つの第１の位置座標（Ｙ座標およびＺ座標）を決定するために、他方の種類のピクセル（第２のおよび第３のピクセル）のうちの少なくとも１の値を分析する。 （もっと読む）

【課題】部品の厚さに関係なく、焦点の合った部品画像を取得できる部品の画像取得方法及び装置を提供する。
【解決手段】吸着ノズル１ａで吸着した部品３０が、撮像装置２０上方から撮像装置の合焦面Ｆ２に向けて下降され、部品の下面が、合焦面より所定距離Ｌ１上方にある検出面Ｆ１を通過したか否かが検出される。部品下面が検出面Ｆ１を通過後、吸着ノズルを更に所定距離Ｌ１下降させて停止させ、その停止位置で部品を撮像する。このような構成では、部品の厚さに関係なく、部品の被撮像面（下面）を撮像装置の合焦面に一致させて部品を撮像することができるので、部品の厚さが変わっても、常にピントの合った部品画像を取得でき、部品認識精度を向上させることができる。 （もっと読む）

【課題】 プロキシミティ露光を行う露光機で露光する前にカラーフィルタ形成用の基板上の未露光の着色層の異物を検知する異物検査装置で、未露光の着色層に影響しないように検査を行うことができ、且つ、製造ラインのレイアウトや機器構成にも制約を多く与えない異物検査装置を提供する。
【解決手段】 未露光の着色層を配設した基板を被検査基板として、被検査基板を水平状態で載置する載置台と、被検査基板の側面側に、未露光の着色層の所望の検査領域を、傾けた角度でレーザ光を照射する、１以上のレーザ光照射部と、被検査基板の前記未露光の着色層形成面と直交する方向、上側に配され、前記レーザ光照射部から照射されたレーザ光の、異物における散乱光を撮影し、前記検査領域全体にわたり、散乱光による撮影画像データを取得する、１以上の撮影手段と、前記各撮影手段にて取得された各撮影画像データを画像処理し、前記検査領域全体の、前記未露光の着色層における異物を抽出する画像処理部とを、備えている。 （もっと読む）

【課題】 非接触式のプローブを具備することで、穴の内部を短時間で容易に測定することができる光学式測定装置を提供する。
【解決手段】プローブ１５の基体３１の内部には、光源としての発光ダイオード３２（ＬＥＤ）と、透過部としてのピンホール（第１ピンホール３３ａ）と、受光素子としてのＰＳＤ３４とが収容されている。そして、プローブ１５を穴２１の内部に挿入し、ＰＳＤ３４上における散乱光の受光位置に基づいて仮想円を求めることで、穴２１の内径が算出される。 （もっと読む）

【課題】 被測定対象面が拡散反射しにくい鏡面で構成されている面の形状を測定する測定装置を提供すること。
【解決手段】 鏡面反射する被測定対象面に光線を投影する光源体と、該光源体の被測定対象による鏡面反射像を撮影するカメラと、該カメラによる撮影画像を処理して鏡面反射部分の表面形状を算出する演算処理装置を具備したことを特徴としている。特に、本発明は被測定対象の鏡面反射領域は黒色、暗褐色等の拡散反射が起こりにくい暗黒色表面又は完全鏡面で拡散反射が起こりにくい表面で構成されている場合に好適である。 （もっと読む）

【課題】 簡易に物体の位置を特定し、耐久性のある物体位置検知装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 検知部２０１〜２１０は、検知距離の短い順に、センサＡ、Ｂ、Ｃを有する。制御ユニット１００は、検知部と各検知部のセンサとの組合せと位置情報とを対応づけて管理している。制御ユニット１００は対象物体を検知した検知部とかかる検知部のいずれのセンサが対象物体を検知したかに基づき対象物体５３１の位置情報を特定する。各検知部の複数のセンサが対象物体を検知した場合、検知距離の短いセンサに対応する位置を対象物体の位置と特定する。上位制御装置３００は、特定された座標に応じて、ディスプレイに種種の情報を表示する。 （もっと読む）

移動する不織布材料のウェブの繊維配向を測定する画像ベースの技術であって、（ａ）異なる偏光特性を有する少なくとも４つの平面偏光された実質的に垂直の入射光ビームを用いて、ウェブの一方の側上の少なくとも４つの光スポットを本質的に同時に照射するステップと、（ｂ）対応する平面偏光された入射光ビームの偏光平面に対して既知の角度である少なくとも１つの直線区間に沿ったウェブの反対側上の出射光スポットの分散を測定するステップであって、少なくとも１つのこの直線区間が、透過出射光スポットの中心を実質的に横切って位置し、透過出射光スポットの幅を実質的に横切って延在する、ステップと、（ｃ）少なくとも４つの平面偏光された光ビームに対して、透過出射光スポットの分散のばらつきを計算するステップと、（ｄ）そのばらつきから繊維配向を推定するステップとを含む技術。 （もっと読む）

【課題】鋼板が斜行して搬送された場合に長さの補正機能を有する高精度の長さ測定装置。
【解決手段】搬送ライン上方に設置され、且つ、搬送ラインの搬送方向と直行するライン幅方向に並ぶ複数個の光スイッチを用いて、被測定物体の搬送方向と交差する方向に延びる先尾端の幅方向剪断線に、これらの各光スイッチが反応するタイミングをそれぞれ検出し、各光スイッチが反応するタイミングと、各光スイッチの位置と、被測定物体の搬送速度とから、被測定物体の搬送方向と交差する方向に延びる先尾端の幅方向剪断線の位置を算出し、この位置データから最小二乗法を適用し、幅方向剪断線の縁を形成する直線を算出する。この直線と搬送ライン幅方向に並ぶ複数個の光スイッチの設置ラインとの間の交差角度を算出し、搬送ライン上に設置された測長計により測定された測長値を、前記交差角度を使って補正する板状被測定物の長さ補正方法。 （もっと読む）

【課題】 小型で安全な３次元カメラを用いて、高精度に測定対象物の３次元データを取得し、精度の高い３次元モデルを作製する３次元ハードコピー装置を提供する。
【解決手段】 ３次元ハードコピー装置１０は、光強度を時間変調させたレーザ光を測定対象物に照射する光源と、前記測定対象物で反射された前記レーザ光の受光部と、前記反射光の光路に設けられ平面上に配列した複数のマイクロミラー４０と、前記マイクロミラー４０のＯＮ／ＯＦＦ状態を制御するマイクロミラー制御器４２と、前記受光部で受光した前記反射光の位相ずれ情報と前記ＯＮ状態の前記マイクロミラー４０の位置情報とに基づいて前記測定対象物の３次元画像情報を求めるデータ処理部とを備えた３次元カメラ１２と、前記３次元画像情報に基づいて加工対象物を加工し、前記測定対象物に相似する３次元モデルを得るモデリングマシーン１００と、を備えた構成である。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、回転体部に複雑なアナログ回路を不要とし、信号をロジックレベルで取り扱い可能とすることにより、装置の小型化、生産コストの低減化を図ることのできるレベル計測装置を提供することを目的としている。
【解決手段】 ワイヤドラム１と共に回転する第一の板部材８と、検出軸６と共に回転する第二の板部材９とを有し、該第一および第二の板部材８，９を対向して配置し、それぞれ回転中心を中心とする同一半径の円周上に円弧状のスリット８ａ，９ａを設け、ワイヤドラム１側の回転変位と検出軸６側の回転変位のずれを第一および第二の板部材に設けたスリットの重なりである通光部14の幅によって検知し、これに基づいてワイヤドラム１の回転量と検出軸６の回転量が同じになるように制御する。 （もっと読む）

【目的】
デザインや配色上の制約をなくし、低コストかつ高強度で、検出方法を自由に選択できると共に素子の故障等にも対応し得る装置を提供する。
【構成】
光学的検出装置の透明板２３の周縁部に、一体的にかつ発光素子６及び受光素子７側へ拡大してフィルタ部２３Ｃを形成した。このフィルタ部２３Ｃは各素子６，７への外部からの不要な光の侵入を防ぐと共に上側面が保護カバー２１に広い面積で接着される。フィルタ部２３Ｃの内側には装置の外観等に合わせた色の着色部を設けた。選択手段で一方向と他方向の素子対を選択的に駆動させ、各素子の使用頻度を抑える。隣接素子作動手段で故障素子に代えて隣接する素子を作動させ、一部の故障等に対する抵抗力を強めて信頼性を向上させる。 （もっと読む）

本発明は、とくには製品の幅を測定するために、製品によって影響される光の伝搬を割り出すことによって製品の縁を光学的に検出するためのセンサ・アセンブリに関する。本発明によれば、位置が定められた個々に制御することができる点状の光源からなる列が、製品の片側に配置される。該光源の列は、該光源の列と平行に延びており、該光源の列から光学的に絶縁されており、該光源によって発せられて製品によって反射されたそれぞれの光を光学的に接続する少なくとも１つの光ファイバ・ユニットと組み合わせて使用される。さらに、少なくとも１つの光検出器が、光ファイバ・ユニットに接続される。選択されるそれぞれの光源の位置が既知であり、前記点状の光源が順次または選択的に制御され、あるいは小さなグループにて制御されるため、縁の検出が以下のやり方で行われる。ｎ番目の点状光源の制御の際に、反射信号が光ファイバに入って光検出器へと導かれ、したがって製品ウェブの縁の位置を、今まさに制御されたそれぞれの光源が位置に関して一意に割り当てされている結果として、割り出すことができる。製品の幅情報についての分解能は、点状光源の最小のそれぞれのユニット、前記ユニット間の距離、または開口の関係によって決定される。
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【課題】 簡易な構成で測定対象物Ｗの２次元的な深度を測定可能な光学測定装置、光学顕微鏡及び光学測定方法を提供する。
【解決手段】 ＬＤアレイ１１の一列状の投光素子から順次投光された光を回転可能に配されたイメージローテータ１５の異なる回転角度において透過させることで、回転角度に応じて透過した光の像を回転させた後、収束レンズ１６で収束させ測定対象物Ｗに照射し、測定対象物Ｗで反射した光が再びイメージローテータ１５を透過することで投光時の光の像の向きに戻り、一列状に受光素子が配されてなる一次元イメージセンサ１７に受光され、一次元イメージセンサ１７における受光量に基づいて測定対象物Ｗ表面の２次元的な深度を測定する。 （もっと読む）

【課題】 塗布ノズルへのセンサの取り付け、調整が容易であり、また塗布ノズルと基板との衝突を回避することができる安価な塗布膜形成装置を提供する。
【解決手段】 レジスト膜形成装置１０は、基板Ｇの載置台１１と、レジストノズル１２と、ノズル１２を移動させる水平駆動機構１４および昇降機構１５と、ノズルギャップの変化を検出する光学式のセンサ２１を備えたセンサアレイ２０と、ノズル１２をレジスト液の吐出開始位置に配置したときのセンサ２１の出力信号をセンサ２１ごとに標準出力信号に設定し、その標準出力信号と基板Ｇにレジスト液を吐出してレジスト膜を形成しているときの各センサ２１からの出力信号との差に基づいてギャップの変化を監視する副制御部６０と、副制御部６０からギャップの変化に関する信号を取り込み、ノズル１２と基板Ｇとの接触が回避されるように、ノズル１２の動作を制御する主制御部５０と、を具備する。 （もっと読む）

【課題】 基板面内の光量分布のムラを低減し欠陥検出精度を向上した、基板の欠陥検出方法および欠陥検出装置を提供する。
【解決手段】 欠陥検出装置２０では、検出用の光２７を基板２５内において発散させるレンズ部２２と、前記検出用の光２７の導光領域を重複させる機能を有する光源部２１とを有し、レンズ部２２によって、検出用の光２７は基板２５内を発散した状態で進行させ、光源２８の配置位置によって導光領域を重複させて複数の検出用の光２７を重畳させることによって、光量の分布を均一にすることができ、光量の分布によって差異が生ずることを防いで、欠陥２６に起因して散乱する光を確実に検出し、欠陥２６を高精度に検出する。 （もっと読む）

対象物（６）を少なくとも一次元で非接触で測定する方法であって、対象物（６）を走査ビームフィールド（１）の空間的に制限された有効範囲内で走査し、走査ビーム（Ｌ）の１本又は複数本の遮断を検出して測定次元での対象物（６）の大きさを推定するようにした前記方法を提案する。走査ビームフィールド（１）は直接アドレス化可能な複数本の個々のビーム（Ｌ）から構成されている。走査ビームフィールド（１）の空間的に制限された有効範囲のビームによる走査は、予め設定可能なステップのパターンにしたがって非線形ソーティング方法を使用して行なう。好ましい方法は二等分探索方法の適用にある。
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