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Fターム[2F065GG21]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 光源 (11,799) | 波長 (2,573)

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【課題】複数の検査対象部位を有する検査対象物の検査を行う場合でも、各検査対象部位に対してそれぞれ適切に照明して、検査精度を良好に維持しつつ検査時間を短縮する。
【解決手段】互いに異なる色の光を出射する複数の光源装置LG、LB、LRと、各光源装置からの光を変調する空間光変調素子25と、空間光変調素子からの光を基板Sの被検査面Saに投射する投射光学系28と、空間光変調素子を所定の映像信号にしたがって制御することにより、投射光学系からの光の投射パターンを形成する画像表示制御部74とを備え、投影パターンを形成するための映像信号は、被検査面における検査対象部位の位置情報に基づき生成され、これにより、空間光変調素子制御部が、検査対象部位に対応する画像領域を含む投射パターンを形成する構成とする。 (もっと読む)


【課題】より広範囲かつ高速に対象を検出することが可能な対象検出装置および対象検出方法を提供する。
【解決手段】対象検出装置101は、検出対象の物性に応じて予め選択された複数の波長帯について、2次元画像を撮像するための撮像部11と、2次元画像の各画素における物質を検出するための検出部12とを備え、撮像部11は、設定されたラインごとに2次元画像を撮像する。 (もっと読む)


【課題】欠陥予備軍であっても発熱検査によって特定することができる配線欠陥検査方法および装置を提供する。
【解決手段】本発明の一形態に係る配線欠陥検査装置100は、半導体基板の配線経路に電圧を印加して、短絡欠陥に至っていない短絡予備軍を短絡させた後、電圧無印加状態を所定時間維持した後で、該半導体基板に印加して該短絡欠陥を含む配線もしくは配線間を発熱させ温度上昇させた後、該半導体基板を赤外線カメラで撮影する。 (もっと読む)


【課題】対象物体上の外表面形状によらず、対象物体までの距離を利用した適正な制御や処理を実現することを課題とする。
【解決手段】自動車に搭載された2つのカメラ10A,10Bで自車両周囲の撮像領域を撮像して得られる複数の撮像画像を解析して対象物体までの距離を算出する際、撮像領域に向けて互いに異なる方向から非可視光を照射する2つの光照射部21,22の光照射時期が互いに重複しないように交互に非可視光を照射し、当該非可視光の照射によって対象物体の外表面に生じる非可視光の照射領域と非照射領域との境界線C1,C2上の同一の地点を映し出す対応点を光照射時期ごとにそれぞれ特定し、光照射時期ごとに、対応点のズレ量に基づいて距離を算出する。 (もっと読む)


【課題】製造現場で使われる汎用的な組み込み装置でも実施できるような、少ない計算コストで物品の3次元位置姿勢を認識できる認識装置及び認識方法の提供。
【解決手段】カメラ20で複数の物品22がバラ積みされた領域全体の2次元画像を取得し、レンジセンサ18でカメラ20と略同じ領域の3次元情報を取得する。取得した3次元情報から、取り出すべき物品が存在するであろう空間を対象空間として大まかに限定し、該対象空間に基づいて2次元画像処理で物品を探索するための探索条件を設定し、該探索条件に基づいて物品の画像上での2次元位置情報を取得する。次に該2次元位置情報を用いて、物品の3次元位置姿勢の認識に使用する3次元点データを選定し、カメラ20の焦点から該物品に向かう3次元空間上の視線を計算し、該3次元点データと視線とに基づいて物品の3次元の位置姿勢を計算する。 (もっと読む)


【課題】空気によって少なくとも部分的に吸収される光を使用するよう設計され、かつ、より能率的なパージングシステムを有する、光学ツールのための方法を開発する。
【解決手段】試験体の測定のための方法において、該試験体の反射率測定データおよび分光偏光解析データを測定する工程と、該反射率測定データから、該試験体上に形成された窒化酸化物ゲート誘電体の厚さを判定する工程と、該厚さおよび該分光偏光解析データから、窒化酸化物ゲート誘電体の屈折率を判定する工程と、該屈折率から、該窒化酸化物ゲート誘電体の窒素濃度を判定する工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】作業者に負担をかけることなく、比較的安価な構成で透明で且つ膜厚が薄い紙材料からなる印刷物の膜厚測定を正確に行うことができる膜厚測定装置を提供する。
【解決手段】膜厚測定装置1は、大略、光源2、受光サンサ3及び受光センサ3と電気的に接続された演算処理部4を備えてなり、紙材料からなる基材6上に形成された塗布膜8の表面に所定波長の光を出射し、該塗布膜8から反射した反射光の光量、すなわち電圧を測定し、塗布膜8の厚みに対応する電圧と塗布材の膜厚とが関連付けられた検量線に基づき膜厚を演算する。光源2として波長が570nm〜592nmにピークを有する光を用いると共に、塗布膜8に入射する入射光と該入射光の入射点における塗布膜8に垂直な仮想垂線14とでなす角度を0度〜10度としたので、透明で且つ膜厚が0.5μm〜2.0μm以下の印刷物を測定した場合でも、正確な膜厚の値を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】熱源の大きさが赤外線カメラ1画素の検出範囲よりはるかに小さな場合であっても、赤外線カメラの画素数を増やすことなくカメラから熱源までの位置角度を精度良く求める。
【解決手段】検出範囲の最も赤外線カメラから遠くにあり、1画素の検出範囲よりもはるかに小さな熱源であっても、赤外線カメラのレンズの焦点をずらし、3画素に赤外線が入射させ3画素が出力するデータの大小を比較することにより精度の高い熱源の角度検出を行う。 (もっと読む)


【課題】本発明の課題は、被験者の視線を推定・追跡することで、評価対象印刷物の掲載情報または陳列棚の商品の注目度を分析評価するシステムを提供することである。
【解決手段】
メガネを通して見るシーン画像とシーン画像上の注視点座標を視線分析装置に送信する視線追跡メガネと、基準画像および基準画像の分割画像の、特徴点の座標と特徴量を記憶する手段と、視線追跡メガネからシーン画像と注視点座標を受信する手段と、シーン画像の特徴点の特徴量と分割画像の特徴点の特徴量とに基づき最も類似度評価の高い特徴点を組み合せる手段と、最も多い組合せ個数を持つ分割画像の特徴点の座標とシーン画像の特徴点の座標に基づいて座標変換行列を算出する手段と、座標変換行列とシーン画像上の注視点座標から算出した分割画像上の注視点座標を、基準画像に変換して注視点マークを合成する手段と、を備える視線分析装置と、特徴とする視線計測システムである。 (もっと読む)


【課題】画像解析の処理負荷および精度を改善するための画像処理装置、画像処理方法、プログラム、および画像処理システムを提供する。
【解決手段】距離画像センサにより取得される対象空間における各位置の距離が表現された距離画像の解析結果に基づき、前記対象空間を撮像する撮像装置により取得される撮像画像から注目領域を決定する注目領域決定部と、前記注目領域決定部により決定された前記注目領域を画像解析する画像解析部と、を備える画像処理装置。 (もっと読む)


【課題】測定対象物の寸法を電子的に測定可能な電子測定器を提供する。
【解決手段】等ピッチで1列に並べられた受光素子アレイ20と、受光素子アレイ20に結像するレンズ系16と、測定対象物25へ光を照射する光源26と、測定対象物25から反射した光を受光素子アレイ20により受光して出力されるアナログ信号をディジタル処理する信号処理部28と、信号処理部28によって得られたディジタル計数値DSを表示する表示部12とを備え、ディジタル計数値DSにより、測定対象物25の大きさを表示することを特徴とする電子測定器10。 (もっと読む)


【課題】チャックテーブルに保持された被加工物の高さ位置を正確に検出することができる高さ位置検出装置および高さ位置検出装置を装備したレーザー加工機を提供する。
【解決手段】発光源81と、強度分布を整形するNDフィルター83と、集光して被加工物Wに照射する集光器7と、第1の経路と第2の経路に導く第1のビームスプリッター84と、第3の経路と第4の経路に分光する第2のビームスプリッター86と、第3の経路に分光された反射光を受光する第1のホトデテクター88aと、第4の経路の反射光を帯状に通過させるスリット891を備えたマスク89と、マスクを通過した反射光を受光する第2のホトデテクター88bと、第1のホトデテクターによって受光した光量と第2のホトデテクターによって受光した光量との比率を求め、比率に基づいてチャックテーブル36に保持された被加工物の高さ位置を求める制御手段とを具備している。 (もっと読む)


【課題】ブランクマスクの欠陥等に起因する測定値の誤り発生を招くこと無しに、ブランクマスクの所望領域の表面粗さを迅速に測定する。
【解決手段】露光用マスクを作製するためのブランクマスクの表面粗さを測定するマスク表面粗さ測定方法であって、ブランクマスクに測定光を入射させ、該マスクによる暗視野像を取得する光学系を用い、該マスク上の任意領域の暗視野像を取得する第1のステップと、任意領域内の注目位置における暗視野像の像強度が予め定めておいたしきい値未満の場合に、該注目位置の周辺領域の像強度と予め定めておいた関係式とを用いて表面粗さを求める第2のステップと、任意領域の全ての点において第2のステップを繰り返し、得られた表面粗さを平均化する第3のステップと、第3のステップで得られた平均値を、任意領域の表面粗さとして出力する第4のステップと、を含む。 (もっと読む)


【課題】貼合わせウェハ全体について厚さを測定できる装置の提供。
【解決手段】貼合わせウェハ1の厚さ測定光学系及び観察光学系と、測定光学系から出力される信号を用いて貼合わせウェハ1の厚さを算出する信号処理装置とを具え、測定光学系は、第1の波長域の測定用光源30と、この測定光を投射して光スポットを形成する対物レンズ17と、その反射光の光検出手段40とを有し、観察光学系は、前記第1の波長域とは異なる第2の波長域の観察用照明光を放出する照明光源41と、照明光を投射する対物レンズ17と、その反射光を受光して2次元画像を撮像する撮像装置48とを有する。これらで共通の対物レンズ17と測定光源及び観察光源との間の光路中には、前記測定光学系と観察光学系とを光学的に結合する波長選択性を有するカップリング素子34を配置する。撮像装置48は、前記測定光により形成された光スポットの像が重畳された像を撮像する。 (もっと読む)


【課題】検出光の進行方向および検出光の進行方向に交差する方向の双方における検出範囲を拡張することのできる光学式位置検出装置、位置検出システム、および入力機能付き表示システムを提供すること。
【解決手段】位置検出システム1において、光源部12は、検出光L2を放射状に出射するとともに、検出光L2の放射角度範囲において一方側から他方側に向かって強度が変化する光強度分布を形成し、受光部13は、光強度分布が形成された検出対象空間10Rに位置する対象物体Obで反射した検出光L2を受光する。光源はレーザー光源14であり、レーザー光源14から出射されたレーザー光(検出光L2)を可動ミラー11によって走査する。 (もっと読む)


【課題】測定対象物に塗布された塗布物質の塗布状態をより簡単に精度よく測定する。
【解決手段】測定対象物を撮像して測定対象物のスペクトル画像を取得する画像取得ステップS01と、画像取得ステップにより得られたスペクトル画像に基づいて、塗布物質の種類を判別する塗布物判別ステップS02と、画像取得ステップにより得られた前記スペクトル画像に基づいて、塗布物質の塗布量を測定する塗布量測定ステップS03と、を備える。 (もっと読む)


【課題】プラットフォームの位置を識別するための方法および装置を提供する。
【解決手段】プラットフォームが動いている間、プラットフォームに関連するカメラシステムによって生成された一連の画像内の特徴が識別される。カメラシステムのパースペクティブの移動が、一連の画像内の特徴の位置の移動から識別される。プラットフォームの位置の変化が、パースペクティブの移動に基づいて識別される。 (もっと読む)


【課題】温度に依存する長さの変化を正確に測定することができる膨張計を提供する。
【解決手段】試料3を固定することのできる試料ホルダ4、14と、試料3を加熱するために試料3に配置される少なくとも1つの誘導コイル5と、試料3の温度を測定する少なくとも1つのセンサとを備える、金属試料3を測定する膨張計1であって、試料3の長さの変化を検出する光学測定装置6、9が備えられている。これにより、温度に依存する、試料の長さの変化を正確に測定することができる。 (もっと読む)


【課題】車軸検出装置における車軸の検出精度を向上させる。
【解決手段】車両進行方向に対して垂直方向に被写体に対して赤外線を照射する赤外線照射部(101a〜101d)と、前記被写体からの反射光をそれぞれ受光して被写体像を取得する画像取得部(104a、104b)と、取得された複数の被写体像に基づいて、前記被写体までの距離を演算する距離演算部(107)と、被写体に車両が含まれない場合の該被写体までの距離を記憶する距離データ記憶部(109)と、演算された前記被写体までの距離と記憶された距離との比較結果に基づいて車軸を検出する車軸判別部(110)と、を具備し、距離データ記憶部(109)は、前記被写体に車両が含まれない場合で演算された前記被写体までの距離の信頼性が所定条件を満足する場合、前記演算された距離に記憶内容を更新する。 (もっと読む)


【課題】被加工物の厚みを正確に検出することができる非接触式の厚み検出装置および厚み検出装置を装備した研削機を提供する。
【解決手段】被加工物に対して透過性を有する所定の波長領域を有する発光体と、集光器とを備えた検出光照射手段と、検出光照射手段によって照射されチャックテーブルに保持された被加工物の上面および下面で反射した反射光を集光する集光レンズと、集光レンズによって集光された反射光の干渉を回折する回折格子と、回折格子によって回折した反射光の所定の波長域における光強度を検出するイメージセンサーと、イメージセンサーからの検出信号に基づいて分光干渉波形を求め、被加工物の上面で反射した反射光の光路長と被加工物の下面で反射した反射光の光路長との光路長差に基づいて被加工物の厚みを求める制御手段とを具備し、検出光照射手段は、P偏光を被加工物の上面に対して所定の入射角をもって照射する。 (もっと読む)


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