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Fターム[2F065SS03]の内容

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Fターム[2F065SS03]に分類される特許

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【課題】計算の繰り返しをできるだけ排除して時間の無駄を排除しながら、より正確な分析結果を求めることが出来、しかも、その解を求めるための操作過程においてオペレータが使いやすい分光エリプソメータを提供する。
【解決手段】各フィッティングデータの実測データに対する一致度を選択可能に一覧表示し、選択された一致度に対応するフィッティングデータと実測データとを同一グラフ上に比較可能に表示するようにした。 (もっと読む)


【課題】撮像条件、照明条件、周期性パターンの設計条件などの影響をできる限り排除した欠陥検査方法を提供する。
【解決手段】周期性パターンを有する被検査体のスジ状ムラを検出するための欠陥検査方法であって、被検査体に光源からの照射で生じる回折光の強度分布の取得を複数の照明角度で行い、各照明角度における回折光の強度分布を検査画像として取得された被検査体への照明角度が異なる複数枚の検査画像に対し、照明角度の異なる複数の検査画像を比較し、被検査体への照射角度に応じて位置が変化するスジ状ムラと変化しないスジ状ムラとを抽出し、変化するスジ状ムラを検査の際に欠陥としない擬似欠陥とし、変化しないスジ状ムラを検査の際に欠陥として選別されたスジ状ムラに対し、それぞれの最大輝度とパターンピッチ正規化面積に基づいて欠陥規模の評価を行う欠陥検査方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成により低コストで導入することが可能であって、腹囲や胸囲などの身体測定を行うことが可能な身体測定装置の提供。
【解決手段】被測定者の身体表面までの距離を測定する距離計2と、被測定者の身体表面の測定位置を決定するために被測定者を撮像するカメラ3と、距離計2およびカメラ3を高さ調節可能に支持するホルダ4と、ホルダ4を被測定者の周囲で走行させるためのレール5と、ホルダ4をレール5上で走行させながら距離計2により被測定者の身体表面までの距離を測定し、身体表面の測定位置の周長を算出する手段とを有する。 (もっと読む)


【課題】ロールカリバー形状調整のための各カリバーロールのカリバー部分の相対位置関係を高精度に検出すること。
【解決手段】複数のカリバーロールを組み合わせて形成される圧延空間であるロールカリバーの全カリバーを含む圧延方向断面形状を取得する照明光源7,光ファイバ8,投光レンズ6,撮影レンズ9,撮像部10および画像入力部12と、取得された圧延方向断面形状をもとに各カリバーロールを識別する画像処理部13およびロール識別部14と、識別された各カリバーロールのカリバー部分の形状プロフィールを求め、各形状プロフィール内で圧延に寄与する有効カリバー曲線をそれぞれ抽出し、各有効カリバー曲線を描くための中心位置を算出する演算部15と、算出された各中心位置をもとに各カリバーロールの相対位置を算出して出力する表示部16と、を備える。 (もっと読む)


【課題】タイヤのトレッドパターンが変形した状態でのトレッド部の溝部の形状を測定する上で有利なタイヤ形状の測定方法を提供する。
【解決手段】予めトレッド部2Aの溝部2Cの表面202に沿って特定パターン50を形成する。透明な材料で形成された平板状の板体14の第1の面14Aにトレッド部2Aの外周面2Bを当接させ、第1、第2の撮像装置18A,18Bによって第1の面14Aと反対側に位置する第2の面14Bから板体14を介して特定パターン50を撮像することで取得した第1、第2の画像データD1,D2を演算処理することにより特定パターン50の3次元形状を得て溝部2Cの形状および/または表面歪を測定する。 (もっと読む)


【課題】リフロー後のハンダの三次元形状を正確に測定することは難しい。
【解決手段】走査ヘッド16は、基板1の検査面に投光する落射照明源と、基板1からの反射光を検知するラインセンサ34を有し、このラインセンサ34の走査により被検査体の検査面全体の画像を取得する。画像メモリ44は、走査ヘッド16により取得された基板1の検査面全体の画像を検査画像として格納する。ハンダ情報記憶部45は、検査面上のハンダの撮像画像の明度とハンダ面の傾斜角度の相関関係を示す相関マップ64を記憶する。傾斜角度算出部61は、相関マップ64を参照することにより、画像メモリ44に格納された検査画像41のハンダ撮像領域の明度から検査面上のハンダ面の傾斜角度を算出する。 (もっと読む)


【課題】 計測対象物体の位置及び姿勢の計測を、安定性と精度とを両立して行う為の技術を提供すること。
【解決手段】 センサ計測値入力部150は位置姿勢センサ140から撮像装置130の位置及び姿勢の計測値を取得する。画像入力部160は撮像装置130による撮像画像を取得する。指標検出部110は撮像画像に含まれている指標の画像座標を検出する。位置姿勢補正部120は、撮像画像に含まれている指標の現実空間中の位置を計測値に基づいて撮像画像上に投影した位置を推定画像座標として求める。そして、画像座標と推定画像座標との誤差から成る行列と、投影の為に用いた関数を用いて計算される画像ヤコビアンから成る行列と、計測値の補正量と、からなる連立方程式の逆問題を解くことで補正量を求める際には、正則化処理を伴う行列演算を利用する。 (もっと読む)


【課題】クリームはんだ印刷の3次元自動検査において陰面(オクルージョン)のない3次元画像の獲得を実現する。
【解決手段】基板面の上方において第1のカラーイメージセンサカメラおよび第2のカラーイメージセンサカメラが対向し、基板の同一領域を斜めの視軸(ビューイングアングル)で見下ろして撮像する両眼視システムと、基板を直上方向から照明する第3色相光光源と、第1カメラよりも低い位置にあって第1カメラと同じ方向から基板を照明する第1色相光光源と、第2カメラよりも低い位置にあって第2カメラと同じ方向から基板を照明する第2色相光源によって3次元撮像幾何光学配置を構成することにより、陰面(オクルージョン)のないクリームはんだ印刷品質の自動的な3次元画像検査ができるようにした。 (もっと読む)


【課題】量産部品の完成検査は、従来、目視によることを基本とし、検査員の育成・配備や検査時間が多大であると同時に、判別に対する個人差や誤認或いは見落としが避けられないため、判別検査を自動的に処理する画像処理システムを提供する。
【解決手段】被検査部品の各面に対応してカメラを設置し、照明板、コントロ−ラ、パ−ソナルコンピュ−タ−及びこれらをコントロ−ルするコンソ−ル並びにコントロ−ルマウスによって画像処理システムを構成し、適合の見本とする部品の各撮像面について、カメラの角度、照明の色調及び照明の明るさをプログラミングしたモデル画像による計測値9をメモリ−する。同時に、これを基準にして曖昧さの領域について上限レベル及び下限レベルを設定する。以上にもとづいて、被検査部品の画像をモデル画像及びその計測値9と対比し、被検査部品の適合又は不適合を自動的に判別する。 (もっと読む)


【課題】 一度セッティングするだけで全ての歯についての偏心度を測定できるようにし、測定精度を向上させるとともに、測定作業を容易にし、測定時間を大幅に短縮して、測定効率の向上を図る。
【解決手段】 外周2に基本中心軸を中心にして複数の歯3を加工し、基本中心軸が中心となるように孔4を加工してなる歯付回転体1の基本中心軸に対する孔4の孔中心軸の偏心度を測定する歯付回転体の偏心度測定方法において、歯付回転体1を、孔中心軸を中心に回転させ、回転する歯付回転体1の直径方向外側に設けられた光源21から歯3に向けて光を照射するとともに歯3からの反射光を受光して光源21と歯3の外周との距離を計測し、各歯3毎の距離の最短値である個別ピーク値を検出するとともに、検出された全ての歯3の個別ピーク値のうちの最大値と最小値との差を求める。 (もっと読む)


【課題】
光学系ユニットに設置した被検体の第1測定面と第2測定面間のレーリーリミット以下の傾き角θを検出し測定する。
【解決手段】
レーザ光源1からの光束を投光用コリメータレンズ3で平行光束とし、2つの被検体4、7に向かわせる。両被検体4、7の測定面5、8で反射した光束を往路に戻し、コリメータレンズ3から一次結像面6にスポットとして集光する。この集光位置は、被検体計測面5、8間に生じているレーリーリミット以下の傾き角θに応じた角θAで決められる位置p1、p2となる。これを任意倍率の受光用レンズ10でCCDなどの受光部6に結像することなく投影する。この投影されるとき2つのスポットにθBの角度を持たせてスポットの重なり部分に干渉縞を発生させる。この干渉縞本数を計数することで被検体計測面5、8間の傾き角θを求める。


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【課題】
従来技術による中空形状の測定方法は、物体の中空形状を一度に得ることができず、物体や光源を回転させる必要があり、装置が複雑になるだけでなく、精度面での問題もあった。
【解決手段】
本発明に係る測定装置は、中空筒状の軸方向である第1の方向に光を送光する送光部と、前記第1の方向と略直交する方向に前記光の方向を変換する変換部と、前記変換部で方向が変換された光のうち前記被測定物の内側で反射した光を検出する検出部と、前記検出部の検出結果に基づいて、所定基準位置からのずれを求めることにより前記被測定物の内側形状を測定する形状測定部と、前記被測定物の内側の全周に亘る前記ずれの偏りを小さくする位置調整部とを設けた。 (もっと読む)


方法は、試験対象物をモデル化するための異なるモデルパラメータに対応した複数のモデル信号の各々と、試験対象物の位置に対して得られた走査干渉法信号とを比較することを有する。各モデル信号に対して、比較することは、走査干渉法信号とモデル信号の間の相関関数を算出し、走査干渉法信号とモデル信号の間の表面高さオフセットを特定すること、および、特定した表面高さオフセットに基づいて、共通の表面高さに対する、走査干渉法信号とモデル信号の間の類似点を表わす高さオフセット補正済メリット値を算出することを有する。本方法は、異なるモデル信号に対する各々のメリット値に基づいて、試験対象物の位置での試験対象物パラメータを判定することをさらに有する。
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【課題】所定の空間内に配置されている物品の位置を、高い精度で個別に把握できる物品位置管理システムを提供する。
【解決手段】可視光通信タグ2が、LEDによって、メモリに記憶されている識別番号と荷物1の属性データとを送信すると、可視光通信機器3は、2次元イメージセンサにより受信された信号情報に基づき、可視光通信タグ2の位置を、2次元イメージセンサが捉えた画像に重畳して表示するための画像データを生成する。また、受信信号より可視光通信タグ2が送信した被変調信号を復調し、画像データにおける各可視光通信タグ2の位置に、復調された信号に基づき対応する識別番号を付して表示器に表示させる。 (もっと読む)


【課題】予めパターンが形成された基板の全面に塗布された塗布膜の膜厚を十分な精度で測定できる膜厚測定方法を提供することを目的とする。
【解決手段】ガラス基板等からなる基板1上にブラックマトリクス2とカラーフィルタ(3R、3G、3B)パターンとからなるパターン4と非パターン領域に膜厚測定用パターン5を形成し、処理基板10を作製する。さらに、スリットコート方式等により処理基板10上に塗布膜6を形成し膜厚測定用基板10aを作製し、分光干渉法で膜厚測定用パターン5上の塗布膜6の膜厚測定を行う。 (もっと読む)


【課題】被測定試料のパターン検査を高速に実行できるパターン検査装置を提供すること。
【解決手段】被測定試料のパターンに対応した測定データを生成する測定データ生成部と、被測定試料の設計データに基づいてイメージデータを生成し、イメージデータ上の図形の有無を検出するイメージデータ生成部と、イメージデータ上の図形の有無の情報を格納する図形有無情報格納部と、測定データとイメージデータを比較する比較処理部と、を備える、パターン検査装置。 (もっと読む)


【課題】本発明は、自動的に最適なカットオフフィルタ処理を選択することが出来る光学式3次元計測装置及びフィルタ処理方法を提供することを課題とする。
【解決手段】操作者が観察試料300を計測するための観察条件を表示部500で見ながら指示部600を用いて入力する。光学式3次元計測装置1000ではフィルタ処理部が観察条件に基づいて、最適なフィルタ処理を自動的に選択し、実行する。 (もっと読む)


【課題】透明板状体の表面反射像と裏面反射像が重なることなく、良好に分離して透明板状体の面形状を精度良く算出する。
【解決手段】形状測定装置10は、照明光学系12の配置位置を透明板状体Gの面に射影した位置と、撮像デバイス14の配置位置を透明板状体Gの面に射影した位置とを結ぶ方向を第1の方向というとき、ストライプパターン画像の、透明板状体Gの表面反射の像と裏面反射の像とが、第1の方向に位置ずれして少なくとも一部で分離されるように、照明光学系12は、ストライプパターン画像の直線状の暗部の線の延在方向が、第1の方向に一致するように照射する。ストライプパターン画像の一部をマスクすることで、表裏反射像を分離する。 (もっと読む)


【課題】
光学機器で使用される平行光束の平行度を測定し、平行光束の精度を向上する。
【解決手段】
光学ユニット1を被検体とし、この光学ユニットからの光を複数のピンホール6を持つピンホール板5経由で受光部7に投影する。その像をピンホール画像として制御ユニット8から表示部9に伝え表示する。この時、被検体からピンホール数に応じて分割抽出され、受光部7に向かった光束がみな平行な光束であれば表示部の決められた1つの表示原点に重畳してピンホール画像が表示される。平行性に不具合がある光束は表示原点から外れて表示される。この表示される表示原点とピンホール画像を画面で確認し、測定しながら光学ユニット1とピンホール板5の位置関係を調整し最適位置を求める。



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【課題】光走査装置のビームスポット形状等の結像状態を連続的に計測することができる方法と装置を提供する。
【解決手段】被走査面上を主走査方向に繰り返し移動する光走査装置100からの走査光ビームBによるビームスポットの特性を連続的に測定する走査光ビームスポット測定方法であって、開口幅が一定で主走査方向に対して角度をなしているスリット1aを主走査方向に走査光ビームBの移動速度に比較して遅い速度で移動させ、スリット1aの移動中にスリット1aを通過する光量のピーク値を主走査位置に応じて連続的に取得し、そのピーク値を主走査位置に応じて重畳表示する。 (もっと読む)


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