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Fターム[2G020CB23]の内容

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Fターム[2G020CB23]に分類される特許

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【課題】それらの間にスリットを画成する2枚のブレードを具え、それぞれのブレードが他方に対して独立に移動可能である光スリット装置を提供する。
【解決手段】光スリットを分光システムにおける光ビームの中心に位置合わせする本発明による光スリットの位置合わせ方法は、光ビームを検出器に向け、光スリットの少なくとも一方の端縁を光路を横切って移動させ、検出器における伝播光の強度を光スリットの少なくとも1つの端縁の複数の位置に対して検出し、スリット位置を調整する信号をフィードバックすることを具えている。 (もっと読む)


【課題】ラマンライダーシステムの計測精度の向上を図ること。
【解決手段】本発明に係る分光ユニットは、対象光に基づいて回折光を生じさせる回折格子(32)と、相互間に間隙を設け、当該間隙を前記回折光の光路上に配置される2つのウェッジミラー(35,36)と、前記2つのウェッジミラーの前記間隙を通る通過光の光路上に配置される第1の干渉フィルタ(44,45)と、前記2つのウェッジミラーの少なくとも一方によって生じる反射光の光路上に配置される第2の干渉フィルタ(38,39)と、を備える。 (もっと読む)


光学材料を特定するための光学特定システムが開示されている。当該システムは、通常回折エレメント(104)、検出器(106)、及び光学エレメント(102)を備える。光学エレメント(102)は、材料の照射レスポンスである照射ビームを受光するために適用される。当該光学エレメント(102)は、通常照射ビームを屈折により平行化して回折エレメント(104)に入射させるための屈折表面と、回折された照射ビームを反射して検出器(106)に入射させるための反射表面とを備える。光学エレメント(102)は、さらに照射ビームを受光するための受光サイドと反対側の、上記光学エレメント(102)の同じサイドに配置された回折エレメント(104)及び検出器(106)と協同するために適用される。
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【課題】それぞれ異なる波長にピークを有する複数のスペクトル要素を含む光の品位を評価する。
【解決手段】露光装置は、計測器6によって計測されたスペクトルに基づいて露光光の中心波長を導出する処理部21と、露光光の中心波長に基づいて露光光の品位を評価する主制御系(評価部)21とを備える。処理部21は、計測器6によって計測されたスペクトルに含まれる複数のスペクトル要素のそれぞれの中心波長に基づいて露光光の中心波長を導出する。 (もっと読む)


【課題】フォトキャパシタンス測定技術、テラヘルツ光発生技術および計測技術などを組み合わせて、テラヘルツ光の微弱光計測、高速イメージング計測、広帯域・高分解能計測などを可能にする、特に、強い低温がなくても長波長が測れるという長所をもつセンシング手段を提供する。
【解決手段】所定の波長と強度をもつテラヘルツ光を受光すると、所定のエネルギー準位がイオン化するフォトダイオードと、該イオン化により変化する該フォトダイオードのフォトキャパシタンスを計測する手段とを備える。 (もっと読む)


【課題】装置全体をコンパクトに構成できる分光器およびこれを用いた共焦点光学系、走査型光学顕微鏡を提供することを目的とする。
【解決手段】分光器を、複数の波長を含んだ発散光を実質的に点光源として出射する出射端と、該出射端から出射された発散光を略平行光にする第1の光学系と、該第1の光学系により略平行光になった光束を分光する分光素子と、該分光素子により分光された光束を焦点面近傍に集光する第2の光学系とを備え、前記第1の光学系が負の焦点距離をもつ第1のレンズ群と正の焦点距離をもつ第2のレンズ群とから構成する。 (もっと読む)


【課題】従来の偏光感受光画像計測装置では、異なった偏光状態毎にそれぞれ断層画像を計測し、複数枚の断層画像を入手しなければならないという問題を解決することを目的とし、入射ビーム光の偏光状態を、EO変調器(偏光変調器)を用いて連続的に変調し、1回のBスキャンによって、試料17の偏光情報(複屈折分布)を計測する。
【解決手段】
光源2からの光を偏光子3で直線偏光し、この偏光をEO変調器4によって、Bスキャンと同期して連続的に変調し、この連続変調ビームをガルバノ鏡16で試料17(被検体)のBスキャンを行い、参照光と試料アーム7からの物体光の重畳したビームを分光器8の回折格子19で分光し、そのスペクトル干渉成分のうち、垂直偏光成分と水平偏光成分を2つのラインCCDカメラ22、23で同時に検出し、試料17の偏光特性を表すジョーンズベクトルを得る。 (もっと読む)


【課題】光ファイバから漏れた紫外光による不所望なガスの発生を抑制し、これにより、光学系の汚損を低減させるための技術を提供する。
【解決手段】本発明による光ファイバケーブル10は、波長が155nm以上400nm以下の光を伝送可能に形成された複数の光ファイバ1の束と、複数の光ファイバ1の端が挿入されている挿入孔4、7を有するキャピラリ2、3とを具備する。キャピラリ2、3は金属で形成されている。キャピラリ2、3の挿入孔4、7には、その内側方向に突出する突出部6、9が形成されている。この突出部6、9は、複数の光ファイバ1の束の側面に沿った曲面形状を挿入孔4、7に与えるように形成されている。 (もっと読む)


【課題】光線の波長よりも短い周期の格子定数のプレナー回折格子を含む合波干渉型光学装置および光エンコーダを提供すること。
【解決手段】本発明の合波干渉型光学装置は、コヒーレント光を照射する光源30と、光源30からのコヒーレント光を回折し、光学キャビティを形成する第1の凹凸部を備えた分波器32と、当該コヒーレント光の波長よりも短い周期で形成された光学キャビティを形成する第2の凹凸部を備えたメインスケール34と、第3の凹凸部を備えた合波干渉器36と、合波干渉器36から出力されたコヒーレント光を受光する検出器38とを備えており、メインスケール34から回折される+1次と−1次の2つの回折光を合波干渉させて正弦波信号として検出する。また、本発明は、メインスケールの相対的変位を検出する合波干渉型の光エンコーダを提供する。 (もっと読む)


マイクロミラーアレイ(MMA)および2つの別個の光チャンネルおよび検出器等の適応的光学素子を利用するように設計された分光器。この機器は、信号のリアルタイムおよび準リアルタイムスケーリングおよび標準化を提供できる。

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【課題】偏光をより早くて効果的に測定できる楕円分光器、偏光測定装置および偏光状態測定方法を提供する。
【解決手段】偏光測定装置は、光の偏光状態が分かるように入射される光を回折させる円形回折格子140と、円形回折格子140で回折された光を受光して、光の偏光状態を表示する検出器150と、を備える。円形回折格子140は、一定した溝を掘って形成された格子を有し、格子の間隔と溝の深さとを調節して光の偏光方向による透過率を調節する。円形回折格子140は、入射光をすべての方向に回折させる。検出器150は、回折された光を受光して、二次元的に検出する。検出器150の検出された二次元画面では、入射光の偏光程度を測定するデータが直接抽出可能である。 (もっと読む)


ラマン散乱分析のために使用される分光器デバイスを較正するために、方法が提供される。分光器デバイスの回折格子またはスペクトログラフに対する所定の分散曲線が、較正光源からの検出された分散光と関連付けられるスペクトルデータに基づいて修正されることにより、修正された分散曲線を生成する。光検出デバイスにおける、ラマン光源の波長が、決定される。分光器デバイスに対する較正データが、第1の化学物質に対するラマン線のピーク位置と、検出デバイスにおける、ラマン光源の波長と、修正された分散曲線とから計算される。
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【課題】精度の高いスペクトル測定を短時間で行うことができる光学顕微鏡を提供すること。
【解決手段】本発明の第1の態様にかかる光学顕微鏡100は、レーザ光源10と、光ビームをY方向に走査するY走査装置13と、対物レンズ21と、光ビームをX方向に走査するX走査装置13と、Y走査装置13から試料22までの光路中に配置され、試料22に入射された光ビームのうち、異なる波長となって試料22から対物レンズ21側に出射する出射光とレーザ光源10から試料22に入射する光ビームとを分離するビームスプリッタ17と、Y方向に対応する方向に沿って配置された入射スリット30を有し、入射スリット30を通過した出射光を波長に応じて空間的に分散させる分光器31と、分光器31で分散させた出射光を検出する検出器32とを備えるものである。 (もっと読む)


【課題】同一のアレイを構成する複数個のセル間での不均質性による検知結果の相違を補償する。
【解決手段】その部位毎に光子放出量が異なる経路からの光子検知を、行102内にある基準セル及び行104内にあるサブレンジセル106からなりそれら基準セル及びその近傍のサブレンジセル106との対を1個又は複数個含むフォトセンサアレイ100を備える集積回路(IC)68により、経路を構成する複数個のセグメントにて個別に行う。基準セルは適用対象光子エネルギレンジのほぼ全体(λmin〜λmax)を通し入射光子を受け取り、サブレンジセル106は当該適用対象光子エネルギレンジのサブレンジのうち対応するサブレンジ(λp)内の入射光子をその上方の透過構造を介して受け取る。周辺回路110にて前者に基づき後者を調整して出力する。 (もっと読む)


【課題】少ないフォトダイオードで、光信号の測定を行なうことができるWDM信号モニタを実現することにある。
【解決手段】波長分割多重された光信号の測定を行なうWDM信号モニタに改良を加えたものである。本装置は、フォトダイオードが所定の方向に複数個配置され、光信号を所定の方向に波長分散して、各光信号あたり2素子のフォトダイオードで受光する分光器と、分光器からの出力される2素子を組とした測定データから、光信号の波長または光パワーの少なくとも一方を演算する演算部とを設けたことを特徴とするものである。 (もっと読む)


【課題】低解像度と高解像度の両方で分光分析を行うことが可能な、各種用途の要求に柔軟に対応できる分光分析のためのシステムと技術を提供する。
【解決手段】分光分析用のシステムにおいて、モノクロメータシステムのための機械的及び/または光学的ズームメカニズムを用いて検出器と分散要素の相対位置を変えられるようにする。例えば、可動検出器システムが、検出器を分散要素に対して動かして、第1の解像度を得るための第1の位置に配置させ、次に、検出器を、第2の解像度を得るための第2の位置に配置させる。別の態様では、あるサンプルの領域の分光分析を複数の励起波長を用いて行う。この場合、複数の励起波長のそれぞれに関連する光を受光する位置に対応する検出器を複数配置して各励起波長の光を同時に検出可能とし得る。 (もっと読む)


【課題】波長モニタにおける多重干渉ノイズを低減し、波長測定精度の向上を図ると共に、装置の小型化や低コスト化を実現することを目的とする。
【解決手段】第1の分岐光を伝送する第1の光路と、第2の分岐光を伝送する第2の光路と、第1の出射端と、第2の出射端とを有する光分岐手段と、第1の分岐光及び第2の分岐光を各々平行光に変換して出射する第1のレンズと、各平行光を直交方向に選択的に集光して出射する第2のレンズと、各平行光を受光すると共に、2つの平行光の干渉によって生じる干渉縞の一周期分を4等分して受光するように各々配置された少なくとも4つの受光素子を備える光電変換手段と、受光素子から出力される電気信号に所定の信号処理を行うことで被測定光の波長を算出する信号処理手段とを備え、前記光電変換手段は各受光素子の受光面が直交方向に対して所定の傾きを有するように配置される。 (もっと読む)


【課題】コンパクトでなお且つ移動鏡の傾きによる誤差や大きな摩擦力を生じることのない干渉計を提供する。
【解決手段】干渉計の移動鏡駆動機構として、長尺状のガイドレール40と、ガイドレール40に嵌着され、該ガイドレール40上を摺動するスライダ30と、前記スライダ30に固定された移動鏡16と、該スライダを駆動する複数のボイスコイルモータ50とを備えた移動鏡駆動機構を用いる。ここで、駆動源である複数のボイスコイル51を、前記スライダ30の移動方向に垂直な面内においてスライダ30の移動中心に対して対称な位置に配置する。これにより、左右のコイル51に加わる電磁力を合成した力の作用点をスライダ30の移動中心と一致させ、移動鏡の移動時における回転モーメントの発生を防止することができる。 (もっと読む)


マルチウェーハ構造体を有する光学分光計(10、20、30、40、50)を提供する。構造体は、MEMS技術を用いて製造可能である。分光計は、流体アナライザー(110)と統合可能である。発光点(17)及び検出器(19)と共にローランド円(15)の円周上に位置する回折格子やホログラフィー格子のような反射型格子(14)は、分光計の構成体である。いくつかの構成体は、円上の発光点(17)に光を光学的に搬送しうる場合、外部光源を使用可能である。流体アナライザーにおける光(48)とチャネル中のサンプル又は相互作用フィルム(49)との相互作用が分光計の発光点である場合、ラマン構成体が利用可能である。分光計のいくつかの構成体では、格子(14、55)及び/又はフィルムは、反射型又は透過型である。
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【課題】時間分解分光器に対して改善された検出器の配置を提供する。
【解決手段】時間分解分光器は任意の原因のために時間と共に変化するスペクトルを分析するものである。スペクトルの時間変化は、例えば、(i)(放射減衰のためなど)時間と共に所定のサンプルスペースからのスペクトルの変化、(ii)(レーザ走査分光器など)サンプルスペースの連続部分がサンプリングされるときのスペクトルの変化のためである。CCDデバイスは、時間変化するスペクトルを検出し、スペクトルを表す信号電荷を生成するように配置されるフォトサイトのアレイと、信号電荷を受信し、電荷増倍を提供するように配置される1又は複数のCCD増倍レジスタとを備えている。速度及び感度の強化は、1又は複数の増倍レジスタに直列に電荷を提供するために、フォトサイトのアレイから並列に信号電荷を受信する記憶領域によって与えられる。 (もっと読む)


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