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Fターム[2G020CC23]の内容

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Fターム[2G020CC23]に分類される特許

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【課題】本発明は、分光フィルタ光学系は、分光特性を正確に検出することができ、小型化が可能である分光フィルタ光学系を提供する。
【解決手段】 分光フィルタ光学系は、複数個の光学系により構成されるアレイ光学系(40)と、透過位置により透過する光束の波長領域が異なるリニア波長可変フィルタ(13)と、を備え、光学系は、正パワーを有する正レンズ(122)と、正レンズ(122)を透過したまたは透過する光束を他の光束と交わらないように限定する遮光部(23)と、を有し、アレイ光学系(40)の複数個の光学系はリニア波長可変フィルタ(13)に対してそれぞれ異なる位置に配置される。 (もっと読む)


【課題】小型でありながら広い測定波長帯域にわたって連続的なスペクトルを高い信頼性をもって得られるようにする。
【解決手段】第1および第2の2つのミラー111,112を互いに平行として所定厚の空気層を介して対向的に配置してなるファブリペローフィルタ110を用いた分光測定器において、ファブリペローフィルタ110と、ファブリペローフィルタ110を透過した赤外線を受光してその受光量に応じた受光信号を出力する赤外線検知素子122とを1対1の関係で備える複数個のセンサユニット10を含み、各ファブリペローフィルタ110の赤外線透過帯域をそれぞれ異なる帯域として、各センサユニット10を同一の支持基板上に並置する。 (もっと読む)


【課題】対向する基板の接合強度を向上するとともにミラーに対するダメージを防止することができる波長可変フィルター、その製造方法、測色センサーおよび測色モジュールを提供すること。
【解決手段】第一基板51には、エッチングにより電極形成用溝511、ミラー固定部512および溝部としての接着剤用溝513が形成される。接着剤用溝513は、第一基板51の四隅にそれぞれ凹状に形成される。また、接着剤用溝513は、平面略三角形状に形成され、隣接する2辺(第一形成辺513A、第二形成辺513B)が第一基板51の隣接する2辺に沿って略直角に形成されるとともに、これら2辺に対向する内周縁部513Cはギャップ形成部55の外縁に平行な円弧状に形成される。接着剤用溝513の内部には接着剤53が配置される。 (もっと読む)


【課題】分光精度の高い干渉フィルター、光センサー、および光モジュールを提供する。
【解決手段】エタロン5は、互いに対向する固定基板51および可動基板52と、これらの固定基板51および可動基板52間にそれぞれ設けられる一対の反射膜56,57と、備える。可動基板52には、第一ギャップ形成領域、および、その外周側に形成される可動側接合面523が形成され、固定基板51には、第二ギャップ形成領域、その外周側に形成される固定側接合面513、固定側接合面513内に形成され、接着剤515が塗布される接着用溝514、接着用溝514および第二ギャップ形成領域の間に形成される撓み低減溝516が設けられる。そして、固定基板51および可動基板52は、固定側接合面513および可動側接合面523を接合させた状態で、接着用溝514に塗布される接着剤515により接着接合される。 (もっと読む)


イメージングシステム用の集積回路が、光学センサアレイ(40)と、ある波長帯域を1つ又はそれ以上のセンサに向けて通過させるようにそれぞれ構成された光学フィルタアレイ(10)とを有する。光学フィルタアレイは、センサアレイと一体化されている。集積回路は、センサアレイから画素値を読み出して画像を表現する読み出し回路(30)を有する。光学フィルタの異なるものが異なる厚さを有するように構成され、干渉を用いて異なる波長帯域を通過させて、波長スペクトルの検出を可能にしている。読み出し回路は、1つの光学フィルタ下にある複数の画素が並列で読み出し可能である。厚さは、アレイ全体で非単調的に変化してもよい。読み出しまたは後の画像処理は、厚さ誤差を補償するために、スペクトルのサンプリングまたはシフト(shift)を実行する波長間の選択または補間(interpolation)を含んでもよい。
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【課題】正確な分光特性を測定可能な分光測定装置、および分析装置を提供する。
【解決手段】分光測定装置3は、互いに対向する固定基板および可動基板と、可動基板に設けられる変位部と、変位部を初期位置に向かって付勢する連結保持部と、変位部および固定基板にギャップを介して対向配置される反射膜と、ギャップを調整する静電アクチュエーターと、ギャップ間隔を演算するギャップ演算手段823と、反射膜を透過した光の受光量を測定する受光部6と、変位部を予め設定された第一変位位置まで変位させるギャップ制御手段821と、変位部が初期位置に戻る復元過程で、透過光の光量測定、およびギャップの間隔の演算を同時に実施させる測定制御手段825と、を具備した。 (もっと読む)


本発明は、マイクロメカニカル(MEMS)技術を用いて製造される制御可能なファブリー・ペロー干渉計に関する。先行技術におけるマイクロメカニカル干渉計は、著しく、赤外光の放射が減衰するといった欠点を有する。本発明の解決策において、少なくとも1つのミラーに間隙(104、114)があり、ミラー層の役割を担う。ミラーのその他の層は、多結晶質シリコンで作製され、赤外域において軽微な減衰を有する。また、干渉計の光学領域にある基板に孔(125)または凹部を具備することも好ましい。 (もっと読む)


【課題】ラインセンサ上の各センサのうち、斜めに入射された光を受光したセンサにおいて波長分解能の悪化を抑えること。
【解決手段】フィルタが形成される面内の第1の方向に沿って透過波長が異なる透過波長可変フィルタであって、所定位置から第1の方向の両端へ向かってそれぞれ透過波長が短く変化する透過波長可変フィルタ、および該透過波長可変フィルタと、複数のセンサが配列されたセンサアレイであって、該透過波長可変フィルタを透過した光を受光するセンサアレイと、を備える分光測光装置。 (もっと読む)


【課題】射出光の波長を可変させた場合でも、高透過率および高分解能を実現可能な波長可変干渉フィルター、測色センサー、および測色モジュールを提供する。
【解決手段】エタロン5は、第一基板51と、第一基板51に接合され、可動部522、およびこの可動部522を基板対向方向に移動可能に保持する連結保持部523を有する変位部521を備えた第二基板52と、第一基板51に固定される固定ミラー56と、可動面522Aに固定される可動ミラー57と、固定ミラー56および前記可動ミラー57を囲う位置に設けられ、静電引力により可動部522を基板対向方向に変位させる第一静電アクチュエーター54と、第一静電アクチュエーター54の内側で、固定ミラー56および可動ミラー57を囲う位置に設けられ、可動部522に変位方向と逆方向に応力を付与する第二静電アクチュエーター55と、を具備した。 (もっと読む)


【課題】信号光の波長と局発光の波長との相対値を安定的に制御する。
【解決手段】入力した信号光を透過させる第1共振器と、信号光を入力した方向と直交する方向に入力した局部発振光を透過させる第2共振器とが同一のバルクで構成される。フィルタ調整部は、第1基準強度と第1共振器を透過した信号光の強度との相対値および第1共振器の透過特性に基づいて、第1共振器の透過特性を調整するためのフィルタ調整信号を生成する。外部調整部は、第2基準強度と第2共振器を透過した局部発振光の強度との相対値および第2共振器の透過特性に基づいて、外部制御信号を外部へ出力する。変更部は、フィルタ調整信号に応じて、第1共振器の透過特性および第2共振器の透過特性を変更する。 (もっと読む)


【課題】従来のスペクトラムアナライザは高いQのフィルタを使用していないので、極短の電磁パルスの周波数スペクトラムは測定できなかった。
【解決手段】高いQ値のファブリペロー共振器を用いることによって、1波長のQ倍の波長まで信号が持続することを利用して、極短パルスの周波数スペクトラムが測定できる。 (もっと読む)


被検物質の存在を検出するための方法及び装置が本明細書で開示される。そのような方法及び装置は、少なくとも高被検物質反応性サブ層と低被検物質反応性サブ層とを含む、少なくとも1層の光学的反応性層を含んだ、少なくとも1つの検出エレメントを含むことができる。そのような検出エレメントの製造及び使用方法も開示される。
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【課題】分光装置の光源がスペクトル線の幅の狭い光を発している状態で、分光手段の校正を行うことで、測定用の光源と校正用の光源を併用可能にし、測定用の光源とは別に校正用の光源を用意しなくても校正作業を行うことができるようにした分光装置の校正方法を提供する。
【解決手段】分光手段2の校正を行う校正方法であって、分光装置に備えられた測定用と校正用を兼ねた1つの光源1がスペクトル線の幅の狭い光を発している状態で、前記光について測光を行い、前記測光した結果に基づいて、前記分光手段2の校正を行なうようにした。 (もっと読む)


【課題】温度等の周辺環境によらず、正確に一対の基板の対向する面の間隔を制御することのできるエタロン装置及びそれを備えた光学ユニットを提供する。
【解決手段】空間を隔てて対向するように配置された一対の基板2,3と、該一対の基板の対向する面の間隔を調整するために該一対の基板の少なくともいずれか一方を駆動させる駆動手段4とを備えたエタロン装置であって、前記一対の基板の対向する面の間隔を測定するための検出用面間隔測定手段5と、前記検出用面間隔測定手段の近傍に配置された参照用面間隔測定手段6と、周辺環境の変化により形状が変化しにくい材料を用いて形成されていて所定の間隔を測定するように前記参照用面間隔測定手段を保持する面間隔固定部材7とを備える。 (もっと読む)


【課題】スぺクトラムの波長とパワーの値付けや補正等の校正が簡単な構成で行う。
【解決手段】波長検出部200は、エタロン11が可変波長光源から出力される掃引光を受けて所定波長間隔で透過させることにより、所定波長間隔を検出するともにその波長間隔に対応する透過光。測定部100は前記パワーが測定された被測定光の波長を前記波長検出部で検出されたスペクトラムを校正する。そして、さらに補正部10は、波長検出部から出力される所定波長間隔に対応する各ピークパワーを基に、測定部で測定されたスペクトラムのパワーを補正する。 (もっと読む)


【課題】分光帯域が広く、透過波長の半値幅が小さいファブリペロー干渉計及びその製造方法を提供する。
【解決手段】第1ミラーと第2ミラーを備え、両ミラー間の空隙の幅が変化するように構成されたファブリペロー干渉計であって、各ミラーは、高屈折率下層と高屈折率上層との間に空気層が介在された光学多層膜構造のエアミラーと、エアミラーを複数個に分割するとともに各エアミラーを連結する連結部とを含むミラー領域、及び、幅方向に垂直な少なくとも一方向において、ミラー領域を間に挟む周辺領域を有している。そして、第1ミラー及び第2ミラーの少なくとも一方には、対応する高屈折率下層及び高屈折率上層と電気的に絶縁分離されてなる配線が設けられ、対応する電極は高屈折率下層及び高屈折率上層と電気的に接続されずに配線と電気的に接続されており、配線は、対応するミラー領域において、エアミラーには配置されず、連結部に配置されている。 (もっと読む)


【課題】改変されたリットマン構成を有する周波数ステップ・レーザー・システム及び当該システムを用いる方法を提供する。
【解決手段】共通の光軸を有するレーザー共振器104及び外部共振器110を有するレーザーと、外部共振器110内に固定された反射回折格子214と、レーザー共振器104及び反射回折格子間のコリメータ・レンズ112と、外部共振器110の一端を画定し、該固定された反射回折格子214に光学的に結合され、該固定された反射回折格子214の位置のまわりにピボット回転する調整可能な反射ミラー220と、を有する波長チューナブル・システム及びその使用方法。 (もっと読む)


【課題】透過または反射スペクトルが測定可能であり、上述の制約を受けない波長分光装置を提供する。
【解決手段】本発明は、基板上に、スペーサ膜によって離間された2つのミラーで構成されるフィルタ・セルCFを備え、該フィルタ・セルが複数の干渉フィルタで構成される波長分光装置に関する。さらに、上記装置は複数の放射源を備える放射セルCEをさらに備え、上記放射源が各々上記干渉フィルタの1つと関連付けられる。
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【課題】周波数ディザによって電磁信号を伝搬する際のノイズを抑制するシステムおよび方法を提供する。
【解決手段】周波数ディザによってノイズを抑制するためのシステム10であって、送信機12、受信機30および周波数ディザ回路40を含むほか、送信機12と受信機30の間の電磁信号の伝搬経路に沿ったキャビティ26も含む。送信機12は1つ以上の選択可能な周波数の各周波数で電磁信号を受信機30へ送信するように構成される。周波数ディザ回路40は各選択可能な周波数で送信機12から受信機30へ送信された電磁信号に周波数ディザを適用するように構成される。この点に関し、適用される周波数ディザは、当該システムにおける予測される定在波の最小周波数周期の関数として選択されているスパンと、前記1つ以上の選択可能な周波数を含む周波数スペクトルをサンプリングするための信号処理帯域幅の関数として選択されているレートとを有する。 (もっと読む)


【課題】狭帯域光源、特に狭帯域化レーザのスペクトルを高分解能で測定可能にする。
【解決手段】狭帯域化レーザによって放射された光ビーム(64)のスペクトルを測定するための分光計装置(10)は1つのエタロン(16)と光ビーム(64)を第1の部分ビーム(66)と第2の部分ビーム(68)とに分けるビームスプリッタ(18)と、n及びkは1以上の整数として第1の部分ビーム(66)はエタロン(16)を経てn回、第2の部分ビーム(68)は(n+k)回指向させるための光指向素子(20)と、光感知検出器(22)と、検出器(22)によって記録され、エタロン(16)をn回通過した第1の部分ビーム(66)とエタロン(16)を(n+k)回通過した第2の部分ビーム(68)とのスペクトルを評価してエタロン(16)の装置関数に対して補正された光スペクトルを決定する、スペクトル評価デバイス(28)とを有する。 (もっと読む)


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